專利名稱：用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種支撐裝置，特別涉及一種用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架。
背景技術(shù)：
校準瞬變電磁場的場均勻性時，通常需要應(yīng)用校準系統(tǒng)來測試多個位置點。校準瞬變電磁場的場均勻性時，不但需要支架支撐和固定測試探頭，而且需要通過支架調(diào)節(jié)測試探頭的位置。具體地，校準瞬變電磁場的場均勻性時，通常需要通過調(diào)節(jié)支架來改變探頭的高度，甚至需要通過移動支架實現(xiàn)探頭位置的改變?，F(xiàn)有技術(shù)中的支架在用于校準瞬變電磁場的場均勻性時非常不便，校準速度緩慢。
目前，非常需要一種用于快速校準瞬變電磁場的場均勻性的新型支架。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架。本發(fā)明提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架包括支撐桿、定位環(huán)、旋轉(zhuǎn)盤、旋鈕和測試桿，所述定位環(huán)設(shè)于所述支撐桿的頂端，所述定位環(huán)的內(nèi)周側(cè)設(shè)有多個凹槽，所述定位環(huán)的中心設(shè)有至少ー個連接鍵，每個所述連接鍵的一端與所述旋鈕固接，每個所述連接鍵的另一端與定位鍵鉸接，所述旋轉(zhuǎn)盤的ー側(cè)設(shè)有外徑小于所述定位環(huán)內(nèi)徑的凸緣，所述凸緣上設(shè)有與所述定位鍵配合的缺ロ，所述旋轉(zhuǎn)盤的設(shè)有所述凸緣的一側(cè)的中心設(shè)有轉(zhuǎn)軸，所述凸緣穿進所述定位環(huán)，且所述定位鍵能夠穿過所述缺ロ，所述旋鈕安裝于所述轉(zhuǎn)軸上，且所述旋鈕能夠繞所述轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動，所述測試桿固接于所述旋轉(zhuǎn)盤的與所述凸緣相対的ー側(cè)，所述測試桿上設(shè)有至少ー個探頭固定裝置。優(yōu)選地，所述連接鍵的一端設(shè)有第一螺孔，所述旋鈕上設(shè)有與所述第一螺孔配合的第二螺孔，所述連接鍵通過所述第一螺孔和所述第二螺孔與所述旋鈕固接。優(yōu)選地，所述連接鍵的另一端設(shè)有不帶螺紋的通孔，所述連接鍵通過所述通孔與所述定位鍵鉸接。優(yōu)選地，所述定位環(huán)上設(shè)有固定座，所述定位環(huán)通過所述固定座固定于所述支撐桿的頂端。優(yōu)選地，所述支架還包括與支撐桿的底端固接的底座。優(yōu)選地，所述支撐桿的高度可調(diào)。 優(yōu)選地，所述測試桿的長度可調(diào)。優(yōu)選地，所述探頭固定裝置設(shè)于所述測試桿的末端和/或中間。本發(fā)明具有如下有益效果(I)當校準瞬變電磁場的場均勻性的系統(tǒng)中采用所述支架時，能夠使校準速度明顯加快；(2)所述支架對探頭的位置和角度的調(diào)節(jié)精度高；
(3)所述支架制作成本低，使用方便。


圖I為本發(fā)明實施例提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架的示意圖；圖2為本發(fā)明實施例提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架的定位環(huán)2、旋轉(zhuǎn)盤3和旋鈕4的連接示意圖；圖3為旋鈕4被沿逆時針方向旋轉(zhuǎn)時定位環(huán)2的俯視圖；圖4為停止旋轉(zhuǎn)旋鈕4且測試桿5的位置固定時定位環(huán)2的俯視圖。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖及實施例對本發(fā)明的發(fā)明內(nèi)容作進ー步的描述。本發(fā)明提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架包括支撐桿I、定位環(huán)2、旋轉(zhuǎn)盤3、旋鈕4、測試桿5和底座6，如圖I所示。定位環(huán)2設(shè)于支撐桿I的頂端。在本實施例中，定位環(huán)2上設(shè)有固定座24,定位環(huán)2通過固定座24固定于支撐桿I的頂端。支撐桿I的底端與底座6固接。定位環(huán)2的內(nèi)周側(cè)設(shè)有多個凹槽21，定位環(huán)2的中心設(shè)有至少ー個連接鍵22，每個連接鍵22的一端與旋鈕4固接，每個連接鍵22的另一端與定位鍵23鉸接，如圖2所示。在本實施例中，定位環(huán)2的中心設(shè)有例如對稱分布的四個連接鍵22。在本實施例中，每個連接鍵22的一端設(shè)有第一螺孔221，旋鈕4上設(shè)有與第一螺孔221配合的第二螺孔41，連接鍵22通過第一螺孔221和第二螺孔41與旋鈕4固接。每個連接鍵22的另一端設(shè)有不帶螺紋的通孔222，連接鍵22通過通孔222與定位鍵23鉸接。旋轉(zhuǎn)盤3的一側(cè)設(shè)有外徑小于定位環(huán)2內(nèi)徑的凸緣31，凸緣31上設(shè)有與定位鍵23配合的缺ロ32。旋轉(zhuǎn)盤3的設(shè)有凸緣31的ー側(cè)的中心設(shè)有轉(zhuǎn)軸33，凸緣31穿進定位環(huán)2，且定位鍵23能夠穿過缺ロ 32，旋鈕4安裝于轉(zhuǎn)軸33上，且旋鈕4能夠繞轉(zhuǎn)軸33轉(zhuǎn)動。測試桿5固接于旋轉(zhuǎn)盤3的與凸緣31相対的ー側(cè)，測試桿5上設(shè)有至少ー個探頭固定裝置51。探頭固定裝置51設(shè)于測試桿5的末端和/或中間，用于固定探頭。在本實施例中，測試桿5的末端設(shè)有例如一個探頭固定裝置51。在本實施例中，支撐桿I的高度例如可調(diào)，測試桿5的長度例如可調(diào)。如圖3所示，當旋鈕4被沿例如逆時針方向旋轉(zhuǎn)時,旋鈕4帶動連接鍵22沿逆時針方向轉(zhuǎn)動，連接鍵22進而帶動定位鍵23從凹槽21內(nèi)脫出并向靠近定位環(huán)2中心的方向穿過旋轉(zhuǎn)盤3的缺ロ 32，之后，旋鈕4帶動旋轉(zhuǎn)盤3沿逆時針方向轉(zhuǎn)動，旋轉(zhuǎn)盤3進而帶動測試桿5沿逆時針方向轉(zhuǎn)動。旋鈕4也可以被沿順時針方向轉(zhuǎn)動。旋鈕4被沿順時針方向旋轉(zhuǎn)時的情況與旋鈕4被沿逆時針方向旋轉(zhuǎn)時的情況類似。當通過旋轉(zhuǎn)旋鈕4使測試桿5到達測試位置時，停止旋轉(zhuǎn)旋鈕4，定位鍵23向遠離定位環(huán)2中心的方向穿過旋轉(zhuǎn)盤3的缺ロ 32進入凹槽21內(nèi)，且定位鍵23與連接鍵22成一條直線，旋轉(zhuǎn)盤3的位置被定位鍵23固定，進而使得測試桿5的位置被固定。當校準瞬變電磁場的場均勻性的系統(tǒng)中采用所述支架時，能夠使校準速度明顯加快。所述支架對探頭的位置和角度的調(diào)節(jié)精度高。所述支架制作成本低，使用方便。應(yīng)當理解，以上借助優(yōu)選實施例對本發(fā)明的技術(shù)方案進行的詳細說明是示意性的而非限制性的。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在閱讀本發(fā)明說明書的基礎(chǔ)上可以對各實施例所記載的技術(shù)方案進行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實施例技術(shù)方案的精神和范圍?！?br> 權(quán)利要求
1.用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，該支架包括支撐桿(I)、定位環(huán)(2)、旋轉(zhuǎn)盤(3)、旋鈕(4)和測試桿(5)，所述定位環(huán)(2)設(shè)于所述支撐桿(I)的頂端，所述定位環(huán)(2)的內(nèi)周側(cè)設(shè)有多個凹槽(21)，所述定位環(huán)(2)的中心設(shè)有至少ー個連接鍵(22)，每個所述連接鍵(22)的一端與所述旋鈕(4)固接，每個所述連接鍵(22)的另一端與定位鍵(23)鉸接，所述旋轉(zhuǎn)盤(3)的一側(cè)設(shè)有外徑小于所述定位環(huán)(2)內(nèi)徑的凸緣(31)，所述凸緣(31)上設(shè)有與所述定位鍵(23)配合的缺ロ(32)，所述旋轉(zhuǎn)盤(3)的設(shè)有所述凸緣(31)的ー側(cè)的中心設(shè)有轉(zhuǎn)軸(33)，所述凸緣(31)穿進所述定位環(huán)(2)，且所述定位鍵(23)能夠穿過所述缺ロ(32)，所述旋鈕(4)安裝于所述轉(zhuǎn)軸(33)上，且所述旋鈕(4)能夠繞所述轉(zhuǎn)軸(33)轉(zhuǎn)動，所述測試桿(5)固接于所述旋轉(zhuǎn)盤(4)的與所述凸緣(31)相對的ー側(cè)，所述測試桿(5)上設(shè)有至少ー個探頭固定裝置(51)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，所述連接鍵(22)的一端設(shè)有第一螺孔(221)，所述旋鈕(4)上設(shè)有與所述第一螺孔(221)配合的第二螺孔(41)，所述連接鍵(22)通過所述第一螺孔(221)和所述第二螺孔(41)與所述旋鈕(4)固接。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，所述連接鍵(22)的另一端設(shè)有不帶螺紋的通孔(222)，所述連接鍵(22)通過所述通孔(222)與所述定位鍵(23)鉸接。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，所述定位環(huán)(2)上設(shè)有固定座(24)，所述定位環(huán)(2)通過所述固定座(24)固定于所述支撐桿⑴的頂端。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，所述支架還包括與支撐桿(I)的底端固接的底座(6)。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，所述支撐桿(I)的高度可調(diào)。
7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，所述測試桿(5)的長度可調(diào)。
8.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，所述探頭固定裝置(51)設(shè)于所述測試桿(5)的末端和/或中間。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，該支架包括支撐桿(1)、定位環(huán)(2)、旋轉(zhuǎn)盤(3)、旋鈕(4)和測試桿(5)，定位環(huán)(2)設(shè)于支撐桿(1)的頂端，定位環(huán)(2)的內(nèi)周側(cè)設(shè)有多個凹槽(21)，定位環(huán)(2)的中心設(shè)有至少一個連接鍵(22)，每個連接鍵(22)的一端與旋鈕(4)固接，每個連接鍵(22)的另一端與定位鍵(23)鉸接，旋轉(zhuǎn)盤(3)的一側(cè)設(shè)有外徑小于定位環(huán)(2)內(nèi)徑的凸緣(31)，凸緣(31)上設(shè)有與定位鍵(23)配合的缺口(32)，旋轉(zhuǎn)盤(3)的中心設(shè)有轉(zhuǎn)軸(33)，凸緣(31)穿進定位環(huán)(2)，且定位鍵(23)能夠穿過缺口(32)，旋鈕(4)安裝于轉(zhuǎn)軸(33)上，且旋鈕(4)能夠繞轉(zhuǎn)軸(33)轉(zhuǎn)動，測試桿(5)固接于旋轉(zhuǎn)盤(4)的一側(cè)。當校準瞬變電磁場的場均勻性的系統(tǒng)中采用所述支架時，能夠使校準速度明顯加快。
文檔編號F16M11/16GK102840429SQ20121030864
公開日2012年12月26日 申請日期2012年8月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月27日
發(fā)明者姚利軍, 沈濤, 黃建領(lǐng) 申請人:北京無線電計量測試研究所