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一種示波器探頭輔助測試裝置以及測試方法與流程

文檔序號:39561774發(fā)布日期:2024-09-30 13:36閱讀:80來源:國知局
一種示波器探頭輔助測試裝置以及測試方法與流程

本發(fā)明涉及測試裝置,尤其涉及一種示波器探頭輔助測試裝置以及測試方法。


背景技術(shù):

1、示波器是一種用途十分廣泛的電子測量儀器。它能把肉眼看不見的電信號變換成看得見的圖像,便于人們研究各種電現(xiàn)象的變化過程。示波器利用狹窄的、由高速電子組成的電子束,打在涂有熒光物質(zhì)的屏面上,就可產(chǎn)生細(xì)小的光點(這是傳統(tǒng)的模擬示波器的工作原理)。在被測信號的作用下,電子束就好像一支筆的筆尖,可以在屏面上描繪出被測信號的瞬時值的變化曲線;

2、示波器通常有四個通道,而且每個通道由四種顏色表示,探頭一端與通道連接,另一端與集成電路輸入端連接,能夠?qū)崿F(xiàn)被測集成電路測試;

3、為降低信號干擾,公開號為cn109521232b的發(fā)明創(chuàng)造公開了一種示波器探頭輔助測試裝置,包括雙極端子、探頭聯(lián)合器及保護(hù)殼。探頭聯(lián)合器及保護(hù)殼內(nèi)開設(shè)有空腔,探頭聯(lián)合器收容于保護(hù)殼的空腔中;雙極端子包括依次相連的測試段、中間段和連接段;測試段遠(yuǎn)離中間段的一端設(shè)有第一信號端和第一參考地端。通過雙極端子能夠避免出現(xiàn)飛線引起干擾和影響回路完整性,但是,如果被測集成電路輸入端導(dǎo)線裸露在空氣中,導(dǎo)線表面會形成氧化層,由于集成電路屬于弱電,受氧化層干擾,會引起集成電路與探頭接觸不良,影響測試準(zhǔn)確性;

4、另外,示波器通道眾多,測試現(xiàn)場電路復(fù)雜,由于采用的探頭一致,導(dǎo)致探頭應(yīng)用的哪個示波器通道不好判斷,容易造成示波器出現(xiàn)錯誤調(diào)試,給測試工作帶來難度。


技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明為了克服現(xiàn)有技術(shù)中不能去除氧化層,探頭與被測電路接觸不良,以及不便于工作人員識別探頭應(yīng)用的示波器通道,測試工作難度大的缺點,本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是一種示波器探頭輔助測試裝置以及測試方法。

2、為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:一種示波器探頭輔助測試裝置,包括探頭握把、開關(guān)、接地線和筆頭,所述開關(guān)設(shè)置在探頭握把頂部,所述接地線夾持在探頭握把接地端外壁,所述筆頭設(shè)置在探頭握把左端,還包括打磨機(jī)構(gòu)和識別機(jī)構(gòu),所述打磨機(jī)構(gòu)內(nèi)嵌在探頭握把右側(cè),所述識別機(jī)構(gòu)安裝在探頭握把左端。

3、優(yōu)選的,目的在于對被測集成電路輸入端導(dǎo)線打磨,去除導(dǎo)線表面氧化層,防止測試時接觸不良,所述打磨機(jī)構(gòu)包括盒體、滑槽、第一夾板、第二夾板、齒條、打磨片、第一轉(zhuǎn)軸、第一齒輪、扭簧和撥塊,盒體內(nèi)嵌在所述探頭握把右端,所述盒體正面開設(shè)有滑槽;第一夾板數(shù)量為兩個,分別固定連接在所述盒體左右內(nèi)壁;第二夾板數(shù)量為兩個,分別插接在所述盒體內(nèi)腔左右兩側(cè);齒條安裝在所述第二夾板內(nèi)側(cè);打磨片數(shù)量為若干個,安裝在所述第一夾板和第二夾板相對面,打磨片為弧形;第一轉(zhuǎn)軸通過軸承能夠繞自身軸線旋轉(zhuǎn)的安裝在所述盒體內(nèi)腔中心位置;第一齒輪安裝在所述第一轉(zhuǎn)軸外壁底端,且第一齒輪與齒條嚙合連接;扭簧套接在所述第一轉(zhuǎn)軸外壁,扭簧兩端分別與盒體內(nèi)壁頂部和第一齒輪頂部連接,在扭簧扭力作用下驅(qū)使第一齒輪順時針旋轉(zhuǎn);撥塊一端安裝在位于左側(cè)的所述第二夾板正面,另一端貫穿滑槽內(nèi)腔,通過撥塊與滑槽配合對第二夾板移動進(jìn)行限位。

4、優(yōu)選的,左右兩側(cè)兩組所述第一夾板與第二夾板構(gòu)成的兩個圓形空腔直徑不同。

5、優(yōu)選的,兩個所述齒條相對于第一齒輪中心點旋轉(zhuǎn)180度重合。

6、優(yōu)選的,目的在于能夠改變探頭握把顏色,讓其與示波器通道顏色一致,防止示波器調(diào)試出現(xiàn)錯誤,所述識別機(jī)構(gòu)包括外殼、定位塊、色盤、內(nèi)齒環(huán)、蓋板、第二轉(zhuǎn)軸、彈簧、旋鈕、第二齒輪和定位槽,外殼安裝在所述探頭握把左端,且外殼頂部為開口狀;定位塊安裝在所述外殼右側(cè)壁頂部;色盤能夠旋轉(zhuǎn)的插接在所述外殼內(nèi)腔;內(nèi)齒環(huán)安裝在所述色盤內(nèi)側(cè);蓋板通過螺釘連接在所述外殼左側(cè)壁;第二轉(zhuǎn)軸通過軸承能夠繞自身軸線旋轉(zhuǎn)的安裝在所述蓋板外壁頂部;彈簧套接在所述第二轉(zhuǎn)軸外壁;旋鈕安裝在所述第二轉(zhuǎn)軸左端;第二齒輪套接在所述第二轉(zhuǎn)軸外壁右端,在彈簧彈力作用下推動第二齒輪右移,所述第二齒輪右側(cè)壁開設(shè)有定位槽,定位塊與定位槽插接對第二齒輪定位。

7、優(yōu)選的,所述定位塊外壁形狀為半圓形。

8、優(yōu)選的,所述色盤外壁由四種顏色等分。

9、優(yōu)選的,所述第二轉(zhuǎn)軸為花鍵軸,讓第二齒輪能夠在第二轉(zhuǎn)軸外壁左右滑動。

10、優(yōu)選的,所述第二齒輪與內(nèi)齒環(huán)傳動比為4:1。

11、一種示波器探頭輔助測試裝置的測試方法,包括以下步驟:

12、步驟一,將筆頭與被測集成電路輸入端連接,通過開關(guān)調(diào)整倍數(shù),在示波器配合下對被測集成電路實現(xiàn)檢測;

13、步驟二,當(dāng)需要去除被測集成電路輸入端導(dǎo)線氧化層時,右拉撥塊,促使位于左側(cè)的第二夾板右移,在第一齒輪與齒條傳動下,兩個第二夾板同時向內(nèi)側(cè)移動,第二夾板與第一夾板之間遠(yuǎn)離,將導(dǎo)線插入相對應(yīng)的第一夾板與第二夾板組成的空腔中,松開撥塊,在扭簧扭力作用下第一齒輪順時針旋轉(zhuǎn),第二夾板向外側(cè)移動,打磨片與導(dǎo)線接觸,拉動探頭握把,讓打磨片與導(dǎo)線發(fā)生摩擦,破壞導(dǎo)線表面氧化層,保證筆頭與被測集成電路輸入端信號穩(wěn)定;

14、步驟三,當(dāng)需要對探頭握把與選擇的示波器通道保持一致時,根據(jù)插入的示波器通道顏色,旋轉(zhuǎn)旋鈕,在定位塊曲面阻擋下,第二齒輪沿著第二轉(zhuǎn)軸外壁左移后,第二齒輪驅(qū)使內(nèi)齒環(huán)順時針或逆時針旋轉(zhuǎn),色盤在外殼上顯示的顏色發(fā)生變化,直至色盤上顯示的顏色與示波器通道一致,彈簧在自身彈力作用下推動第二齒輪右移,定位塊插入定位槽中對第二齒輪定位,完成色盤調(diào)整,防止在測試集成電路時造成混淆。

15、與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有如下有益效果:

16、1、本發(fā)明通過旋鈕右拉,在第一齒輪與齒條的傳動下,兩個第二夾板同時向內(nèi)側(cè)移動,第二夾板與第一夾板間距變大,將集成電路輸入端導(dǎo)線插入第一夾板與第二夾板之間,在扭簧扭力作用下驅(qū)使第一齒輪順時針旋轉(zhuǎn),讓兩個第二夾板同時向外側(cè)移動,讓打磨片對導(dǎo)線夾持,拉動探頭握把,打磨片在導(dǎo)線上摩擦,打磨掉氧化層,實現(xiàn)集成電路輸入端除氧化,提升筆頭與集成電路連接穩(wěn)定性,保證被測集成電路測試準(zhǔn)確性。

17、2、本發(fā)明通過旋鈕讓第二轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn),第二齒輪跟隨第二轉(zhuǎn)軸順時針或逆時針旋轉(zhuǎn),第二齒輪驅(qū)使色盤旋轉(zhuǎn),第二齒輪旋轉(zhuǎn)一周,色盤完成一個顏色的切換,直至外殼上能夠看到的色盤顏色與所使用的示波器通道保持一致,彈簧彈力推動第二齒輪右移,定位塊插入定位槽中,對第二齒輪定位,能夠?qū)P頭實現(xiàn)識別,防止示波器與筆頭混淆,避免示波器出現(xiàn)錯誤調(diào)試,降低測量難度。



技術(shù)特征:

1.一種示波器探頭輔助測試裝置,包括探頭握把(1)、開關(guān)(2)、接地線(3)和筆頭(4),所述開關(guān)(2)設(shè)置在探頭握把(1)頂部,所述接地線(3)夾持在探頭握把(1)接地端外壁,所述筆頭(4)設(shè)置在探頭握把(1)左端,其特征在于,所述示波器探頭輔助測試裝置還包括打磨機(jī)構(gòu)(5)和識別機(jī)構(gòu)(6),所述打磨機(jī)構(gòu)(5)內(nèi)嵌在探頭握把(1)右側(cè),所述識別機(jī)構(gòu)(6)安裝在探頭握把(1)左端;

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種示波器探頭輔助測試裝置,其特征在于,左右兩側(cè)兩組所述第一夾板(53)與第二夾板(54)構(gòu)成的兩個圓形空腔直徑不同。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種示波器探頭輔助測試裝置,其特征在于,兩個所述齒條(55)相對于第一齒輪(58)中心點旋轉(zhuǎn)180度重合。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種示波器探頭輔助測試裝置,其特征在于,所述識別機(jī)構(gòu)(6)包括:

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種示波器探頭輔助測試裝置,其特征在于,所述定位塊(62)外壁形狀為半圓形。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種示波器探頭輔助測試裝置,其特征在于,所述色盤(63)外壁由四種顏色等分。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種示波器探頭輔助測試裝置,其特征在于,所述第二轉(zhuǎn)軸(66)為花鍵軸,讓第二齒輪(69)能夠在第二轉(zhuǎn)軸(66)外壁左右滑動。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種示波器探頭輔助測試裝置,其特征在于,所述第二齒輪(69)與內(nèi)齒環(huán)(64)傳動比為4:1。

9.一種示波器探頭輔助測試方法,其應(yīng)用于如權(quán)利要求8所述的一種示波器探頭輔助測試裝置中,其特征在于,包括以下步驟:


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及測試裝置技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種示波器探頭輔助測試裝置以及測試方法,包括探頭握把、開關(guān)、接地線和筆頭,所述開關(guān)設(shè)置在探頭握把頂部,所述接地線夾持在探頭握把接地端外壁,所述筆頭設(shè)置在探頭握把左端,還包括打磨機(jī)構(gòu)和識別機(jī)構(gòu),所述打磨機(jī)構(gòu)內(nèi)嵌在探頭握把右側(cè),所述識別機(jī)構(gòu)安裝在探頭握把左端;盒體內(nèi)嵌在所述探頭握把右端,所述盒體正面開設(shè)有滑槽;第一夾板數(shù)量為兩個,分別固定連接在所述盒體左右內(nèi)壁。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)集成電路輸入端除氧化,提升筆頭與集成電路連接穩(wěn)定性,保證被測集成電路測試準(zhǔn)確性,能夠?qū)P頭實現(xiàn)識別,防止示波器與筆頭混淆,避免示波器出現(xiàn)錯誤調(diào)試,降低測量難度。

技術(shù)研發(fā)人員:張濤,駱仁德,岳雷
受保護(hù)的技術(shù)使用者:深圳市視聯(lián)卓創(chuàng)科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2024/9/29
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