技術(shù)編號:10510745
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。隨著UPS電源的測試性能要求逐漸提高,對UPS電源測試設(shè)備的要求也相應(yīng)提升起來,然而針對UPS電源測試的負(fù)載測試設(shè)備卻是良莠不齊,而針對UPS電源測試的負(fù)載箱也很多是采用純電阻。然而現(xiàn)有技術(shù)存在的問題或缺點如下 1、目前行業(yè)內(nèi)很多UPS電源測試設(shè)備都是功率因數(shù)為I,無法滿足0.6-1的功率因數(shù)測試范圍。2、部分UPS電源測試為交流測試負(fù)載,無法滿足國標(biāo)規(guī)定的RCD(電阻-電容-晶體管)型非線性測試負(fù)載。3、部分RCD負(fù)載中僅僅是單純的電阻電容組合控制,沒...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。