技術(shù)編號：5843414
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種掃描探針顯微鏡中納米線/微米線原位彎曲下力電性能測試方法，屬于納米/微米材料性能原位檢測領(lǐng)域。 背景技術(shù)實現(xiàn)對單個納米/微米結(jié)構(gòu)的操縱和原位性能測量，是一直以來納米/微米材料 以及基于這些材料的新型器件研究的瓶頸性關(guān)鍵科學技術(shù)問題。 一維納米/微米材料作為 微納機電系統(tǒng)中的基本功能單元，充分理解單根一維納米/微米材料的電學性能、力學性 能和力電耦合性能是設(shè)計新型納米/微米功能器件的前提。目前對于單個一維納米/微米 材料在彎曲下的力電性能的測試...
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