技術(shù)編號(hào):6112432
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種遠(yuǎn)距離面內(nèi)小位移測(cè)量系統(tǒng)。背景技術(shù) 現(xiàn)有的測(cè)量建筑物沉降等的位移的系統(tǒng)可分為接觸測(cè)量系統(tǒng)和非接觸測(cè)量系統(tǒng)兩類。接觸測(cè)量系統(tǒng)的做法是在待測(cè)位置粘貼應(yīng)變片,直接測(cè)量應(yīng)變,再轉(zhuǎn)換為位移。在野外作業(yè)中,這種方法實(shí)施起來(lái)比較麻煩,要得到高精度的結(jié)果,對(duì)貼片技術(shù)的要求很高。非接觸測(cè)量系統(tǒng)是用光測(cè)的方法。其中一種是使用全站儀。全站儀能同時(shí)讀出目標(biāo)的方位和距離,因而能得到待測(cè)目標(biāo)的三維位移量。但要達(dá)到遠(yuǎn)距離測(cè)量的高精度,需要使用激光全站儀等高檔設(shè)備,不僅價(jià)格...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。