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一種織物處理設(shè)備及織物檢測方法和電子設(shè)備與流程

文檔序號:39727761發(fā)布日期:2024-10-22 13:29閱讀:來源:國知局

技術(shù)特征:

1.一種織物處理設(shè)備,其特征在于,包括織物處理筒、發(fā)光組件、感光組件、控制裝置;

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的織物處理設(shè)備,其特征在于,所述控制裝置根據(jù)所述第一感光件檢測的環(huán)境照度值調(diào)整所述第二感光件的靈敏度和所述發(fā)光組件的發(fā)光參數(shù)時,所述第一感光件檢測的環(huán)境照度值越低,調(diào)整所述第二感光件的靈敏度越高;

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的織物處理設(shè)備,其特征在于,所述第一感光件的設(shè)置位置位于所述第二感光件的設(shè)置位置的斜下方且更靠近織物處理筒的投放口。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的織物處理設(shè)備,其特征在于,所述發(fā)光組件包括發(fā)光件和支架;

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的織物處理設(shè)備,其特征在于,所述第二感光件設(shè)置在所述支架上。

6.一種應(yīng)用于如權(quán)利要求1至5任一項所述的織物處理設(shè)備的織物檢測方法,其特征在于,所述織物檢測方法包括:

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的織物處理設(shè)備的織物檢測方法,其特征在于,

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的織物處理設(shè)備的織物檢測方法,其特征在于,所述根據(jù)所述當(dāng)前反光閾值,調(diào)整所述第二感光件的所述靈敏度,包括:

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的織物處理設(shè)備的織物檢測方法,其特征在于,所述基于所述第二感光件的所述靈敏度對所述織物處理筒內(nèi)的織物進(jìn)行檢測,控制發(fā)光組件對所述第二感光件的檢測位置進(jìn)行照射,包括:

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的織物處理設(shè)備的織物檢測方法,其特征在于,所述控制所述發(fā)光件轉(zhuǎn)動并以預(yù)定燈光參數(shù)照射所述當(dāng)前位置,包括:

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的織物處理設(shè)備的織物檢測方法,其特征在于,所述則根據(jù)所述當(dāng)前天氣、所述日落時間和所述亮度信息對所述發(fā)光件的預(yù)定燈光參數(shù)進(jìn)行調(diào)整,包括:

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的織物處理設(shè)備的織物檢測方法,其特征在于,所述預(yù)定燈光參數(shù)至少包括所述發(fā)光件的亮度等級參數(shù)、色調(diào)參數(shù)和燈照時間參數(shù);

13.根據(jù)權(quán)利要求6至12任一項所述的織物處理設(shè)備的織物檢測方法,其特征在于,在所述基于所述靈敏度對所述織物處理筒內(nèi)的織物進(jìn)行檢測,并引導(dǎo)用戶取走織物的步驟之后,所述織物檢測方法還包括:

14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的織物處理設(shè)備的織物檢測方法,其特征在于,所述根據(jù)所述織物處理筒內(nèi)各個位置處的當(dāng)前反光值與當(dāng)前反光閾值的大小關(guān)系,選擇性地發(fā)出織物遺漏的提醒信息,包括:

15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的織物處理設(shè)備的織物檢測方法,其特征在于,所述當(dāng)監(jiān)測所述機(jī)門開啟時間大于設(shè)定時間和/或所述機(jī)門被關(guān)閉時,基于所述第二感光件獲取所述織物處理筒內(nèi)各個位置處的當(dāng)前反光值,包括:

16.一種電子設(shè)備,其特征在于,所述電子設(shè)備包括:


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及織物處理設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種織物處理設(shè)備及織物檢測方法和電子設(shè)備。該織物處理設(shè)備包括織物處理筒、發(fā)光組件、感光組件、控制裝置;發(fā)光組件用于提供織物處理筒內(nèi)部的照明;感光組件中的第一感光件設(shè)置在織物處理筒內(nèi)位置相對較低的區(qū)域,用于檢測織物處理筒內(nèi)部的環(huán)境照度;感光組件中的第二感光件設(shè)置在織物處理筒內(nèi)位置相對較高的區(qū)域,用于檢測織物處理筒內(nèi)遺落的織物;控制裝置根據(jù)第一感光件檢測的環(huán)境照度值控制第二感光件的靈敏度和發(fā)光組件的發(fā)光參數(shù),并根據(jù)第二感光件所檢測的筒內(nèi)織物的遺落位置調(diào)整發(fā)光組件對遺落位置的照射。本發(fā)明能有效提高織物取出的精確性,防止遺漏織物,提高了用戶的使用體驗感。

技術(shù)研發(fā)人員:肖金花,陳伯建,程海松,趙梓晨,潘宇
受保護(hù)的技術(shù)使用者:珠海格力電器股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2024/10/21
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