測量平板透明介質(zhì)折射率的實驗裝置與實驗方法
【專利摘要】一種測量平板透明介質(zhì)折射率的實驗裝置與實驗方法，在底座上設(shè)置有半導(dǎo)體激光器，底座上半導(dǎo)體激光器光出射方向設(shè)置有中心線與半導(dǎo)體激光器中心線相垂直的柱透鏡，待測平板透明介質(zhì)的光入射面上設(shè)置有坐標(biāo)紙，坐標(biāo)紙的標(biāo)度面粘貼在平板透明介質(zhì)光入射方向的一側(cè)面。測量平板透明介質(zhì)折射率的實驗測量方法步驟為：坐標(biāo)紙的標(biāo)度面貼在已知厚度的平板透明介質(zhì)光入射面上，半導(dǎo)體激光器出射的激光束入射到柱透鏡，出射的線光源垂直入射于平板透明介質(zhì)上坐標(biāo)紙的背面，從平板透明介質(zhì)的另一側(cè)面迎光觀察到以坐標(biāo)紙上的線狀光帶為中心線對稱的暗帶，按公式計算出平板透明介質(zhì)的折射率?？捎糜谟趯W(xué)生光學(xué)實驗、課堂演示實驗以及工程現(xiàn)場測量。
【專利說明】測量平板透明介質(zhì)折射率的實驗裝置與實驗方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于折射率測量設(shè)備或裝置【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及測量平板透明介質(zhì)折射率的實驗裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]透明介質(zhì)的折射率是其最重要的光學(xué)參數(shù)之一，折射率的精確、簡便、快速測量技術(shù)的研究一直是本【技術(shù)領(lǐng)域】的熱點問題，也是大學(xué)物理光學(xué)實驗中的基本內(nèi)容。幾何光學(xué)測量法是透明固體折射率的主要測量方法，其中最常用的方法是利用分光計的最小偏向角法、V棱鏡折射法和阿貝折射儀，雖然其測量精度都較高，但都要求將待測量的固體透明介質(zhì)加工成所要求的確定形狀，其加工成本高、難度大，影響了在一般條件下的使用。專利
【發(fā)明者】張宗權(quán), 苗潤才, 劉志存, 楊宗立, 魯百佐, 姚志, 王文成 申請人:陜西師范大學(xué)