專利名稱：液晶屏的rgb接口測試方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種液晶屏測試方法，尤其涉及一種液晶屏的RGB接口測試方法。
背景技術：
液晶顯示器為平面超薄的顯示設備，它由一定數量的彩色或黑白像素組成，放置于光源或者反射面前方。液晶顯示器具有薄型化、功耗低、適用面廣等特點，備受工程師青睞?，F有中小尺寸的液晶屏最常用的連接模式，一般是MCU模式和RGB模式，MCU模式控制簡單方便，無需時鐘和同步信號，但要耗費GRAM，難以做到大屏幕，常用于顯示靜止圖片；RGB模式無需GRAM，傳輸速度較快，但操作復雜，需要時鐘及同步信號控制，常用于顯示視頻或動畫。現有的液晶屏測試治具采用51單片機設計，系統(tǒng)時鐘最高僅達到48MHZ，在測試 WVGA的液晶屏時，測試效率大大降低，無法滿足生產，隨著3G智能手機快速發(fā)展，更難以滿足客戶對移動設備智能化要求，達到快速傳輸數據和支持高分辨率等要求。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于提供一種液晶屏的RGB接口測試方法，該方法按照MPU模式初始化待測液晶屏，顯示數據無需寫入DDRAM，直接寫入液晶屏，不耗費GRAM，傳輸速度快，支持高分辨率，滿足生產和客戶的需求。為實現上述目的，本發(fā)明提供一種液晶屏的RGB接口測試方法，其包括以下步驟步驟I、提供測試治具，所述測試治具包括測試模塊、電性相連于該測試模塊的控制模塊、及電性相連于該測試模塊的背光源驅動模塊，所述測試模塊包括微處理器及電性連接于該微處理器的存儲模塊，所述存儲模塊預先燒錄有測試程序，所述控制模塊包括電性連接于該微處理器的液晶驅動模塊，所述液晶驅動模塊具有一 SPI接口，所述背光源驅動模塊電性連接于該微處理器；步驟2、將待測液晶屏與控制模塊及背光源驅動模塊電性連接；步驟3、接通該測試治具電源，微處理器運行測試程序并對電性連接于該微處理器的背光源驅動模塊及液晶驅動模塊進行檢測；步驟4、若該微處理器檢測到背光源驅動模塊或液晶驅動模塊異常，則發(fā)出報警提示，若該微處理器檢測到背光源驅動模塊及液晶驅動模塊無異常，則對背光源驅動模塊及液晶驅動1旲塊進行初始化；步驟5、微處理器控制背光源驅動模塊驅動液晶屏的背光源工作，所述液晶驅動模塊根據該微處理器傳送過來的控制命令，通過該SPI接口按照MCU模式初始化待測液晶屏；步驟6、所述液晶驅動模塊將所述微處理器的傳送過來的測試信號直接傳送給待測待測液晶屏，所述待測液晶屏根據該測試信號顯示對應圖像；
步驟7、判斷圖像是否異常，無異常，則該待測液晶屏為合格，異常，則該待測液晶屏為不合格。所述測試治具設有一 JTAG接口，該JTAG接口電性連接于該存儲模塊，通過該JTAG 接口將測試程序燒錄到測試模塊的存儲模塊中。所述步驟6中待測液晶屏根據測試信號依次顯示黑、白、紅、綠、藍、灰階、彩色圖像。所述測試治具還包括一接口模塊及一蜂鳴器，該接口模塊與背光源驅動模塊及控制模塊電性連接，測試時該待測液晶屏安裝及電性連接于該接口模塊上，該蜂鳴器電性連接于所述微處理器。所述步驟7中圖像無異常，該微處理器發(fā)出該待測液晶屏合格的信號，所述信號為該待測液晶屏顯示PASS畫面及蜂鳴器發(fā)出合格提示音。所述測試治具還設有一電性連接于所述微處理器的中斷開關，當所述步驟7中圖像異常時，通過該中斷開關中斷待測液晶屏上圖像的轉換，以便對該異常畫面進行分析。所述測試治具數據傳輸位為8位、16位或18位。所述待測液晶屏初始化后，該微處理器通過控制模塊不停地往待測液晶屏寫數據。所述測試模塊為LPC2138芯片，所述控制模塊為SSD1963芯片。所述背光源驅動模塊為CP2123芯片本發(fā)明的有益效果本發(fā)明提供的液晶屏的RGB接口測試方法，其通過把液晶屏直接接在存儲器的總線上，并按照MCU模式初始化待測液晶屏，顯示數據不寫入DDRAM，直接寫屏，不耗費GRAM，數據傳輸速度快，測試速度快，還支持高分辨率，容易做到大屏。為了能更進一步了解本發(fā)明的特征以及技術內容，請參閱以下有關本發(fā)明的詳細說明與附圖，然而附圖僅提供參考與說明用，并非用來對本發(fā)明加以限制。


下面結合附圖，通過對本發(fā)明的具體實施方式
詳細描述，將使本發(fā)明的技術方案及其它有益效果顯而易見。附圖中，圖I為本發(fā)明液晶屏的RGB接口測試方法的流程圖；圖2為本發(fā)明液晶屏的RGB接口測試方法的模塊圖。
具體實施例方式為更進一步闡述本發(fā)明所采取的技術手段及其效果，以下結合本發(fā)明的優(yōu)選實施例及其附圖進行詳細描述。請參閱圖I至2，本發(fā)明提供一種液晶屏的RGB接口測試方法，其包括以下步驟步驟I、提供測試治具20，所述測試治具20包括測試模塊22、電性相連于該測試模塊22的控制模塊26、及電性相連于該測試模塊22的背光源驅動模塊25，所述測試模塊 22包括微處理器224及電性連接于該微處理器224的存儲模塊222，所述存儲模塊222預先燒錄有測試程序，所述控制模塊26包括電性連接于該微處理器224的液晶驅動模塊262，所述液晶驅動模塊262具有一 SPI接口 2622，所述控制模塊26及背光源驅動模塊25均與該微處理器224電性連接；所述測試治具20還設有一 JTAG接口 23，該JTAG接口 23電性相連于該存儲模塊 222，通過該JTAG接口 23可以將測試程序燒錄到存儲模塊222中，及更換測試程序。進而可根據不同產品燒錄不同的測試程序，使得該測試治具20適用于多種產品，擴大了適用范圍，進而降低了成本。步驟2、該待測液晶屏40與控制模塊262及背光源驅動模塊25電性連接；所述測試治20還包括一接口模塊27，該接口模塊27與背光源驅動模塊25及控制模塊26電性連接，測試時該待測液晶屏40安裝及電性連接于該接口模塊27上。將該待測液晶屏40安裝于該接口模塊27上，所述待測液晶屏40通過該接口模塊 27直接接在存儲器總線上，取消內部RAM的設置，顯示數據不保存到內部RAM中，直接往屏上寫，測試速度快。通過該接口模塊27，該待測液晶屏40與該測試治具20的連線有VSYNC、 HSYNC, DOTCLK, ENABLE及數據線，數據傳輸位可分為8位、16位及18位。步驟3、接通該測試治具20電源，所述微處理器224運行測試程序并對電性連接于該微處理器224的背光源驅動模塊25及液晶驅動模塊262進行檢測；步驟4、若該微處理器224檢測到背光源驅動模塊25或液晶驅動模塊262異常，則發(fā)出報警提示，若該微處理器224檢測到背光源驅動模塊25及液晶驅動模塊262無異常， 則對背光源驅動模塊25及液晶驅動模塊262進行初始化；所述測試治具20還包括一蜂鳴器21，該蜂鳴器21電性連接于該微處理器222。在本較佳實施例中，所述微處理器224檢測外圍電路異常時,控制該蜂鳴器21發(fā)出報警提示音，提示用戶背光源驅動模塊25或液晶驅動模塊262存在異常，這大大提高了該測試治具20的準確度，避免了使用不良測試治具得出不準確的測試結果，在一定程度上提高工作效率。所述報警提示音為“滴”的報警提示音。步驟5、所述微處理器224控制背光源驅動模塊25驅動液晶屏的背光源(未圖示) 工作，液晶驅動模塊262根據微處理器224傳送過來的控制命令，通過該SPI接口 2622按照MCU模式初始化待測液晶屏40 ；背光源驅動模塊25及液晶驅動模塊262初始化完畢后，微處理器224控制背光源驅動模塊25驅動待測液晶屏40的背光源工作。液晶驅動模塊262開始輸出HSYNC、VSYNC、 DEN、PCLK信號，通過該SPI接口 2622按照MCU模式初始化待測液晶屏40。步驟6、該液晶驅動模塊262將該微處理器224的傳送過來的測試信號直接傳送給待測液晶屏40，待測液晶屏40根據該測試信號顯示圖像；所述待測液晶屏40直接接在存儲器的總線上，顯示數據不寫入DDRAM，直接寫屏， 不耗費GRAM，測試速度快，容易做到大屏。所述待測液晶屏40初始化后，該微處理器224通過液晶驅動模塊262不停地往待測液晶屏40寫數據。待測液晶屏40根據測試信號依次顯示黑，白，紅，綠，藍，灰階，彩色圖像。步驟7、判斷圖像是否異常，無異常，則該待測液晶屏40為合格，異常，則該待測液晶屏40為不合格。所述測試治具20還設有一電性連接于所述微處理器224的中斷開關24，當所述步驟7中圖像異常時，通過該中斷開關24中斷待測液晶屏40上圖像的轉換，以便對該異常畫面進行分析。若測試過程沒有發(fā)現圖像異常，則判斷該待測液晶屏40合格，該微處理器224發(fā)出該待測液晶屏40合格的信號，若測試過程中某個圖像出現異常，則判斷待測液晶屏40不合格，并觸發(fā)該中斷開關24，中斷待測液晶屏40上圖像的轉換，并對該異常畫面進行分析。所述信號為該待測液晶屏40顯示PASS畫面及蜂鳴器21發(fā)出“滴”的提示音，為了將所述蜂鳴器21所發(fā)出的報警提示音與合格提示音予以區(qū)別，可設置合格提示音為短音， 而報警提示音為長音。在本較佳實施例中，所述測試模塊22為LPC2138芯片，所述控制模塊26為 SSD1963芯片，所述背光源驅動模塊25為CP2123芯片。值得一提的是，該方法在初始化待測液晶屏40時，采用MCU模式，使得測試操作控制方便，無需時鐘信號和同步信號，待測液晶屏40直接接于存儲器的總線上，采用RGB模式顯示圖像數據，顯示數據不寫入DDRAM，直接寫屏，不耗費GRAM，測試速度快，支持高分辨率，最高支持WVGA分辨率。綜上所述，本發(fā)明提供的液晶屏的RGB接口測試方法，其通過把液晶屏直接接在存儲器的總線上，并按照MCU模式初始化待測液晶屏，顯示數據不寫入DDRAM，直接寫屏，不耗費GRAM，數據傳輸速度快，測試速度快，還支持高分辨率，容易做到大屏。以上所述，對于本領域的普通技術人員來說，可以根據本發(fā)明的技術方案和技術構思作出其他各種相應的改變和變形，而所有這些改變和變形都應屬于本發(fā)明權利要求的保護范圍。
權利要求
1.一種液晶屏的RGB接口測試方法，其特征在于，包括以下步驟步驟I、提供測試治具，所述測試治具包括測試模塊、電性相連于該測試模塊的控制模塊、及電性相連于該測試模塊的背光源驅動模塊，所述測試模塊包括微處理器及電性連接于該微處理器的存儲模塊，所述存儲模塊預先燒錄有測試程序，所述控制模塊包括電性連接于該微處理器的液晶驅動模塊，所述液晶驅動模塊具有一 SPI接口，所述背光源驅動模塊電性連接于該微處理器；步驟2、將待測液晶屏與控制模塊及背光源驅動模塊電性連接；步驟3、接通該測試治具電源，微處理器運行測試程序并對電性連接于該微處理器的背光源驅動模塊及液晶驅動模塊進行檢測；步驟4、若該微處理器檢測到背光源驅動模塊或液晶驅動模塊異常，則發(fā)出報警提示， 若該微處理器檢測到背光源驅動模塊及液晶驅動模塊無異常，則對背光源驅動模塊及液晶驅動模塊進行初始化；步驟5、微處理器控制背光源驅動模塊驅動液晶屏的背光源工作，所述液晶驅動模塊根據該微處理器傳送過來的控制命令，通過該SPI接口按照MCU模式初始化待測液晶屏；步驟6、所述液晶驅動模塊將所述微處理器的傳送過來的測試信號直接傳送給待測待測液晶屏，所述待測液晶屏根據該測試信號顯示對應圖像；步驟7、判斷圖像是否異常，無異常，則該待測液晶屏為合格，異常，則該待測液晶屏為不合格。
2.如權利要求I所述的液晶屏的RGB接口測試方法，其特征在于，所述測試治具設有一 JTAG接口，該JTAG接口電性連接于該存儲模塊，通過該JTAG接口將測試程序燒錄到測試模塊的存儲模塊中。
3.如權利要求I所述的液晶屏的RGB接口測試方法，其特征在于，所述步驟6中待測液晶屏根據測試信號依次顯示黑、白、紅、綠、藍、灰階、彩色圖像。
4.如權利要求I所述的液晶屏的RGB接口測試方法，其特征在于，所述測試治具還包括一接口模塊及一蜂鳴器，該接口模塊與背光源驅動模塊及控制模塊電性連接，測試時該待測液晶屏安裝及電性連接于該接口模塊上，該蜂鳴器電性連接于所述微處理器。
5.如權利要求I所述的液晶屏的RGB接口測試方法，其特征在于，所述步驟7中圖像無異常，該微處理器發(fā)出該待測液晶屏合格的信號，所述信號為該待測液晶屏顯示PASS畫面及蜂鳴器發(fā)出合格提示音。
6.如權利要求I所述的液晶屏的RGB接口測試方法，其特征在于，所述測試治具還設有一電性連接于所述微處理器的中斷開關，當所述步驟7中圖像異常時，通過該中斷開關中斷待測液晶屏上圖像的轉換，以便對該異常畫面進行分析。
7.如權利要求I所述的液晶屏的RGB接口測試方法，其特征在于，所述測試治具數據傳輸位為8位、16位或18位。
8.如權利要求I所述的液晶屏的RGB接口測試方法，其特征在于，所述待測液晶屏初始化后，該微處理器通過控制模塊不停地往待測液晶屏寫數據。
9.如權利要求I所述的液晶屏的RGB接口測試方法，其特征在于，所述測試模塊為 LPC2138芯片，所述控制模塊為SSD1963芯片。
10.如權利要求I所述的液晶屏的RGB接口測試方法，其特征在于，所述背光源驅動模塊為CP2123芯片。
全文摘要
本發(fā)明提供一種液晶屏的RGB接口測試方法，包括以下步驟步驟1、提供測試治具；步驟2、將待測液晶屏與控制模塊及背光源驅動模塊電性連接；步驟3、接通該測試治具電源，微處理器檢測背光源驅動模塊及液晶驅動模塊；步驟4、若該微處理器檢測到背光源驅動模塊或液晶驅動模塊異常，則發(fā)出報警提示，若該微處理器檢測到背光源驅動模塊及液晶驅動模塊無異常，則對背光源驅動模塊及液晶驅動模塊進行初始化；步驟5、微處理器控制背光源驅動模塊驅動液晶屏的背光源工作，液晶驅動模塊初始化液晶屏；步驟6、液晶屏根據該測試信號顯示對應圖像；步驟7、判斷圖像是否異常，無異常，則該待測液晶屏為合格，異常，則該待測液晶屏為不合格。
文檔編號G02F1/13GK102591046SQ201210060098
公開日2012年7月18日 申請日期2012年3月8日 優(yōu)先權日2012年3月8日
發(fā)明者喬偉雄 申請人:無錫博一光電科技有限公司