一種光電跟蹤性能檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種基于可便攜檢測裝置的光電跟蹤性能檢測方法。它對待測設(shè)備的跟蹤范圍、跟蹤速度和跟蹤精度等指標(biāo)進(jìn)行測試。本發(fā)明為光電跟蹤系統(tǒng)提供了大范圍、機(jī)動(dòng)性強(qiáng)的動(dòng)態(tài)跟蹤靶標(biāo)，同時(shí)可模擬光軸的微振動(dòng)干擾，且測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單，易于搭建和攜帶，可在不同場合下靈活使用。
【專利說明】一種光電跟蹤性能檢測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】:
[0001]本發(fā)明涉及光電設(shè)備的檢測技術(shù)，具體涉及一種光電跟蹤性能檢測方法，可用于空間激光通信等系統(tǒng)中的光電跟蹤終端的性能檢測。
【背景技術(shù)】:
[0002]光電跟蹤設(shè)備廣泛用于非合作目標(biāo)跟蹤、合作目標(biāo)的雙向通信等場景，其跟蹤性能是系統(tǒng)的重要指標(biāo)。以空間平臺(tái)下的用于空地光通信的光電跟蹤終端為例，其面臨平臺(tái)微振動(dòng)等復(fù)雜環(huán)境，同時(shí)又要保證很高的跟蹤精度，因此有必要在地面對其性能進(jìn)行充分的檢測。
[0003]對光電跟蹤設(shè)備進(jìn)行性能檢測的關(guān)鍵在于提供合適的動(dòng)態(tài)靶標(biāo)和模擬真實(shí)的工作環(huán)境。一般認(rèn)為動(dòng)態(tài)靶標(biāo)分為跟蹤靶標(biāo)和測量靶標(biāo)，前者僅模擬動(dòng)態(tài)空間目標(biāo)，后者還可以精確測定任意時(shí)刻靶標(biāo)的空間角度，用來標(biāo)定待測設(shè)備的測量精度。對工作環(huán)境的模擬主要包括對終端所處的平臺(tái)運(yùn)動(dòng)狀態(tài)、熱環(huán)境、大氣湍流、激光的遠(yuǎn)距離傳輸和遠(yuǎn)場分布等因素的模擬。
[0004]目前最常見的光電跟蹤性能檢測方法有兩種，一是旋轉(zhuǎn)靶標(biāo)法，二是利用平行光管加光束偏轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)。旋轉(zhuǎn)祀標(biāo)法由旋轉(zhuǎn)電機(jī)帶動(dòng)平行光管轉(zhuǎn)動(dòng)，通過反射鏡形成旋轉(zhuǎn)光錐，被測設(shè)備位于光錐頂點(diǎn)。這種方法應(yīng)用廣泛，可提供跟蹤和測量靶標(biāo)，但其結(jié)構(gòu)龐大，控制復(fù)雜，且運(yùn)動(dòng) 軌跡單一。第二種方法利用平行光管產(chǎn)生平行光，在光路中間加入雙棱鏡等光束偏轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)使得光束發(fā)生偏折，產(chǎn)生二維運(yùn)動(dòng)軌跡。此方法常用來模擬激光的遠(yuǎn)場分布，檢測系統(tǒng)的光學(xué)性能，但其運(yùn)動(dòng)軌跡范圍較小，機(jī)動(dòng)性差，對跟蹤性能的檢測不夠充分。
[0005]另外一種與本發(fā)明較為接近的方法是利用激光光束在幕墻上的反射作為動(dòng)態(tài)靶標(biāo)。(參見張波，檢測光電跟蹤測量設(shè)備的激光模擬空間目標(biāo)[J].光電子?激光，2003，14(3) =324-326.)這種方法利用激光的準(zhǔn)直特性，直接將激光器產(chǎn)生的激光光束打在幕墻上，模擬空間目標(biāo)。激光器安裝于兩軸轉(zhuǎn)臺(tái)上，轉(zhuǎn)臺(tái)按編程規(guī)律運(yùn)動(dòng)，形成空間目標(biāo)軌跡。待測設(shè)備跟蹤靶標(biāo)后，根據(jù)空間位置關(guān)系來計(jì)算其跟蹤指向精度。由于不考慮光束的遠(yuǎn)場分布，該方法未使用平行光管，因而結(jié)構(gòu)簡單，控制靈活，且目標(biāo)軌跡的動(dòng)態(tài)范圍大，機(jī)動(dòng)性強(qiáng)。但此方法存在以下兩個(gè)問題:
[0006]第一，無法對光電跟蹤設(shè)備所處平臺(tái)的微振動(dòng)干擾進(jìn)行模擬。以星載跟蹤終端為例，衛(wèi)星平臺(tái)的動(dòng)量輪運(yùn)動(dòng)造成的微振動(dòng)會(huì)對跟蹤精度造成一定影響，有必要對其進(jìn)行相應(yīng)的模擬和檢測。
[0007]第二，該方法針對的對象是光電跟蹤測量設(shè)備，因此它將檢測系統(tǒng)作為測量靶標(biāo)，即利用激光器轉(zhuǎn)臺(tái)的測角值和設(shè)備的空間位置關(guān)系來計(jì)算空間目標(biāo)的位置真值，以待測設(shè)備跟蹤時(shí)的自身角度作為測量值，從而對待測設(shè)備的指向精度進(jìn)行檢測。此方法依賴于對空間位置的精確測量與標(biāo)定，以及檢測設(shè)備和被測設(shè)備之間的準(zhǔn)確的時(shí)間同步，并且要求檢測設(shè)備的測角精度高于被測設(shè)備。這使得測試系統(tǒng)難于搭建和標(biāo)定，當(dāng)待測光電跟蹤設(shè)備的自身精度較高時(shí)無法采用該檢測方法。
【發(fā)明內(nèi)容】
:
[0008]本發(fā)明的目的是提出一種光電跟蹤性能檢測方法，它在提供大范圍、機(jī)動(dòng)性強(qiáng)的動(dòng)態(tài)跟蹤靶標(biāo)的同時(shí)，同時(shí)能夠模擬平臺(tái)的微振動(dòng)干擾，解決了對光電跟蹤設(shè)備進(jìn)行動(dòng)態(tài)跟蹤性能檢測的問題。
[0009]本發(fā)明的裝置構(gòu)成如附圖1所示，包括:二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)1，靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)驅(qū)動(dòng)器2，靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)控制計(jì)算機(jī)3，俯仰軸工作平面4，激光器5，激光器電源6，音圈電機(jī)快速指向鏡7，音圈電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制器8，漫反射屏9，待測光電跟蹤設(shè)備10。
[0010]其中:二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)I為雙U型架結(jié)構(gòu)，分別在方位和俯仰兩個(gè)維度轉(zhuǎn)動(dòng)，俯仰軸工作平面4的表面具有孔距25mm的M6螺紋孔陣列；俯仰軸工作平面4上安放激光器5，激光器5的出射光軸與俯仰軸軸線平行；音圈電機(jī)快速指向鏡7固定安放在俯仰軸工作平面4的中心，其基準(zhǔn)法線方向與激光器出射光軸呈45°夾角，激光光束經(jīng)其反射后沿著垂直于俯仰軸軸線的方向出射；在音圈電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制器8的作用下,音圈電機(jī)快速指向鏡7在基準(zhǔn)方向的基礎(chǔ)上產(chǎn)生高頻小角度的二維偏轉(zhuǎn)，使得激光束在原有方向上發(fā)生微小偏折；激光束由快速指向鏡反射后打在漫反射屏9上，形成靶標(biāo)光斑；二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)I和待測光電跟蹤設(shè)備10的中心位置保持同一水平高度，且二者連線與漫反射屏9所在平面平行。
[0011]工作時(shí)，二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)I帶動(dòng)俯仰軸工作平面4及上面安放的激光器5和音圈電機(jī)快速指向鏡7在方位軸和俯仰軸方向進(jìn)行大范圍轉(zhuǎn)動(dòng)，使得漫反射屏9上的靶標(biāo)光斑產(chǎn)生大范圍運(yùn)動(dòng)，模擬動(dòng)態(tài)靶標(biāo)與待測光電跟蹤設(shè)備10之間的相對運(yùn)動(dòng)；在此基礎(chǔ)上，音圈電機(jī)快速指向鏡7進(jìn)行高頻小角度二維偏轉(zhuǎn)，改變激光束出射方向，使得漫反射屏9上的靶標(biāo)光斑產(chǎn)生小范圍抖動(dòng)，模擬待測光電跟蹤設(shè)備10的光軸所受到的微振動(dòng)干擾。
[0012]結(jié)合上述裝置，本發(fā)明的檢測方法如下:
[0013]I)跟蹤范圍測試，具體步驟為:
[0014]1.1令待測光電跟蹤設(shè)備10捕獲漫反射屏9上的激光光斑；
[0015]1.2 二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)I帶動(dòng)激光光斑在方位軸或者俯仰軸方向做低速單向運(yùn)動(dòng)，待測光電跟蹤設(shè)備10跟蹤激光光斑；
[0016]1.3當(dāng)待測光電跟蹤設(shè)備10的運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)達(dá)到邊界而丟失激光光斑時(shí)的角度測量值即為該方向上的跟蹤范圍極限值；
[0017]2)最大瞬時(shí)捕獲角速度測試，具體步驟為:
[0018]2.1令待測光電跟蹤設(shè)備10處于掃描或凝視捕獲狀態(tài)；
[0019]2.2 二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)I帶動(dòng)激光光斑從一側(cè)進(jìn)入待測光電跟蹤設(shè)備10的掃描或凝視范圍，觀察其是否能瞬間捕獲并跟蹤；
[0020]2.3逐漸增大激光光斑運(yùn)行的角速度，當(dāng)待測光電跟蹤設(shè)備10無法瞬間捕獲光斑時(shí)的角速度測量值即為該方向上的瞬時(shí)捕獲角速度極限值；
[0021]3)最大跟蹤角速度測試，具體步驟為:
[0022]3.1令待測光電跟蹤設(shè)備10捕獲漫反射屏9上的激光光斑；
[0023]3.2 二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)I帶動(dòng)激光光斑在方位軸或者俯仰軸方向做單向運(yùn)動(dòng)，待測光電跟蹤設(shè)備10跟蹤激光光斑；
[0024]3.3逐漸增大光斑運(yùn)行的角速度，當(dāng)待測光電跟蹤設(shè)備10丟失光斑時(shí)的角速度測量值即為該方向上的跟蹤角速度極限值；
[0025]4)跟蹤帶寬測試，具體步驟為:
[0026]4.1令待測光電跟蹤設(shè)備10捕獲漫反射屏9上的激光光斑；
[0027]4.2 二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)I帶動(dòng)激光光斑按照一定頻率和振幅的正弦曲線運(yùn)動(dòng)，待測光電跟蹤設(shè)備10跟蹤激光光斑；
[0028]4.3逐漸增大正弦曲線的頻率，當(dāng)待測光電跟蹤設(shè)備10丟失光斑時(shí)的正弦曲線頻率值即為其跟蹤帶寬指標(biāo)；
[0029]5)微振動(dòng)干擾測試，具體步驟為:
[0030]5.1令二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)I處于零位位置，并保持靜止；
[0031]5.2開啟音圈電機(jī)快速指向鏡7，令其產(chǎn)生特定頻率和幅度的小角度偏轉(zhuǎn)，使光軸出射方向發(fā)生抖動(dòng)，并令待測光電跟蹤設(shè)備10跟蹤激光光斑；
[0032]5.3記錄待測光電跟蹤設(shè)備10的跟蹤探測器脫靶量，計(jì)算跟蹤誤差，改變音圈電機(jī)快速指向鏡7的工作頻率，通過掃頻方式得到跟蹤誤差與干擾頻率的關(guān)系；
[0033]5.4當(dāng)跟蹤誤差 的幅度與擾動(dòng)幅度相等時(shí)，此時(shí)的擾動(dòng)頻率為待測光電跟蹤設(shè)備10的干擾抑制帶寬；
[0034]6)跟蹤精度測試，具體步驟為:
[0035]6.1令待測光電跟蹤設(shè)備10捕獲漫反射屏9上的激光光斑；
[0036]6.2 二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)I帶動(dòng)激光光斑按照特定軌跡運(yùn)動(dòng)，待測光電跟蹤設(shè)備
[0037]6.3跟蹤激光光斑，并依據(jù)跟蹤探測器的脫靶量指標(biāo)來計(jì)算待測光電跟蹤設(shè)備10的跟蹤精度，測試特定的相對運(yùn)動(dòng)對跟蹤精度的影響；
[0038]6.4在上述基礎(chǔ)上令音圈電機(jī)快速指向鏡7產(chǎn)生符合特定振動(dòng)功率譜的微振動(dòng)干擾，依據(jù)跟蹤探測器的脫靶量指標(biāo)來計(jì)算待測光電跟蹤設(shè)備10的跟蹤精度，測試特定功率譜下的微振動(dòng)對跟蹤精度的影響。
[0039]本發(fā)明有如下有益效果:
[0040]采用漫反射屏上的激光光斑作為動(dòng)態(tài)跟蹤靶標(biāo)，利用二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)產(chǎn)生大范圍、機(jī)動(dòng)性強(qiáng)的運(yùn)動(dòng)軌跡，同時(shí)利用音圈電機(jī)快速指向鏡使光束產(chǎn)生高頻小角度抖動(dòng)，不僅可以模擬靶標(biāo)與待測設(shè)備的相對運(yùn)動(dòng)，還可模擬光軸的微振動(dòng)干擾，充分測試了光電跟蹤設(shè)備的跟蹤范圍、跟蹤帶寬、跟蹤精度等指標(biāo)。由于僅將動(dòng)態(tài)目標(biāo)作為跟蹤靶標(biāo)，無需對測試系統(tǒng)的位置標(biāo)定、時(shí)間同步和測量精度提出較高要求，從而使得測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單，易于搭建和攜帶，可在不同場合下靈活使用。
【專利附圖】

【附圖說明】:
[0041 ] 圖1是本發(fā)明的檢測裝置構(gòu)成示意圖。
[0042]圖中:1.二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)；2.靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)驅(qū)動(dòng)器；3.靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)控制計(jì)算機(jī)；
4.俯仰軸工作平面5.激光器；
[0043]6.激光器電源； 7.音圈電機(jī)快速指向鏡；
[0044]8.音圈電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制器；9.漫反射屏；
[0045]10.待測光電跟蹤設(shè)備?！揪唧w實(shí)施方式】:
[0046]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步的詳細(xì)說明:
[0047]以某星地光通信的星載跟瞄終端作為待測設(shè)備，其采用復(fù)合軸跟蹤結(jié)構(gòu):使用二維轉(zhuǎn)臺(tái)作為大范圍轉(zhuǎn)動(dòng)執(zhí)行機(jī)構(gòu)，與大視場CMOS探測器構(gòu)成粗跟蹤系統(tǒng)，用于目標(biāo)光的初始捕獲和大范圍跟蹤指向；粗跟蹤系統(tǒng)通過望遠(yuǎn)鏡將光束引入后光路，由壓電陶瓷二維偏轉(zhuǎn)鏡和小視場CMOS探測器構(gòu)成精跟蹤系統(tǒng)，用于光束的高精度跟瞄和高頻擾動(dòng)抑制。
[0048]二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)采用雙U型架結(jié)構(gòu)，其中俯仰軸U型架作為工作面來固定激光器等部件。方位軸和俯仰軸均采用步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)，并使用Renishaw圓光柵作為測角傳感器進(jìn)行位置閉環(huán)，達(dá)到角秒量級的控制精度。方位軸可在360°范圍內(nèi)連續(xù)旋轉(zhuǎn)，俯仰軸的轉(zhuǎn)動(dòng)范圍為±90°，均大于待測設(shè)備的跟蹤范圍指標(biāo)。另外通過選型和設(shè)計(jì)保證其最大轉(zhuǎn)動(dòng)角速度也大于待測設(shè)備的最大跟蹤角速度。激光器采用671nm紅光激光器，功率為10mW,發(fā)散角為lmrad。音圈電機(jī)快速指向鏡及其控制驅(qū)動(dòng)器采用Newport公司的FSM系列產(chǎn)品,其偏轉(zhuǎn)范圍為正負(fù)1.5°，閉環(huán)帶寬可達(dá)800Hz，分辨率在urad量級，可以有效模擬衛(wèi)星平臺(tái)的微振動(dòng)干擾。
[0049]漫反射屏利用實(shí)驗(yàn)室的平整白色墻壁，高度3m，寬度6m，與待測設(shè)備的距離為3m，可測試的方位軸角度范圍為90°，俯仰軸角度范圍為53度。
[0050]檢測時(shí)應(yīng)首先搭建測試系統(tǒng)，對各設(shè)備的位置進(jìn)行測量標(biāo)定，并對靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)進(jìn)行編程，生成所需要的測試曲線。檢測在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行，應(yīng)確保沒有明顯的振動(dòng)干擾源，另外激光器開啟時(shí)應(yīng)處于暗室環(huán)境，以防止雜光干擾。
[0051]按照發(fā)明所述方法的步驟對星載跟瞄終端的跟蹤性能進(jìn)行檢測。其中跟蹤范圍測試針對粗跟蹤系統(tǒng)的執(zhí)行機(jī)構(gòu)運(yùn)動(dòng)范圍進(jìn)行檢測；最大瞬時(shí)捕獲角速度測試和最大跟蹤角速度測試主要檢測粗跟蹤系統(tǒng)對目標(biāo)的捕獲跟蹤能力；跟蹤帶寬測試反映了待測設(shè)備對大幅度低頻率干擾的承受能力，主要取決于粗跟蹤系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)性能；跟蹤精度測試可反映粗跟蹤系統(tǒng)和整個(gè)設(shè)備的跟蹤性能，其結(jié)果直接影響了終端的光通信性能；微振動(dòng)干擾模擬測試則考察了衛(wèi)星平臺(tái)的高頻微振動(dòng)對跟蹤精度的影響，主要反映了精跟蹤系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)性倉泛。
[0052]對待測設(shè)備進(jìn)行全面檢測后，可以根據(jù)檢測結(jié)果判斷設(shè)備的跟蹤性能是否滿足指標(biāo)要求；并可以依據(jù)其在模擬衛(wèi)星微振動(dòng)干擾下的工作性能，對系統(tǒng)設(shè)計(jì)、控制算法進(jìn)行相應(yīng)優(yōu)化。
【權(quán)利要求】
1.一種光電跟蹤性能檢測方法，它基于包括有二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)(1)，靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)驅(qū)動(dòng)器(2)，靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)控制計(jì)算機(jī)(3)，俯仰軸工作平面(4)，激光器(5)，激光器電源(6)，音圈電機(jī)快速指向鏡(7)，音圈電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制器(8)和漫反射屏(9)的便攜的光電跟蹤性能檢測裝置實(shí)現(xiàn)的，其特征在于檢測方法如下: . 1)跟蹤范圍測試，具體步驟為: .1.1令待測光電跟蹤設(shè)備(10)捕獲漫反射屏(9)上的激光光斑；. 1.2 二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)(I)帶動(dòng)激光光斑在方位軸或者俯仰軸方向做低速單向運(yùn)動(dòng)，待測光電跟蹤設(shè)備(10)跟蹤激光光斑； . 1.3當(dāng)待測光電跟蹤設(shè)備(10)的運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)達(dá)到邊界而丟失激光光斑時(shí)的角度測量值即為該方向上的跟蹤范圍極 限值； . 2)最大瞬時(shí)捕獲角速度測試，具體步驟為: . 2.1令待測光電跟蹤設(shè)備(10)處于掃描或凝視捕獲狀態(tài)； . 2.2 二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)I帶動(dòng)激光光斑從一側(cè)進(jìn)入待測光電跟蹤設(shè)備(10)的掃描或凝視范圍，觀察其是否能瞬間捕獲并跟蹤； . 2.3逐漸增大激光光斑運(yùn)行的角速度，當(dāng)待測光電跟蹤設(shè)備(10)無法瞬間捕獲光斑時(shí)的角速度測量值即為該方向上的瞬時(shí)捕獲角速度極限值； . 3)最大跟蹤角速度測試，具體步驟為: . 3.1令待測光電跟蹤設(shè)備(10)捕獲漫反射屏9上的激光光斑； . 3.2 二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)(I)帶動(dòng)激光光斑在方位軸或者俯仰軸方向做單向運(yùn)動(dòng)，待測光電跟蹤設(shè)備(10)跟蹤激光光斑； .3.3逐漸增大光斑運(yùn)行的角速度，當(dāng)待測光電跟蹤設(shè)備(10)丟失光斑時(shí)的角速度測量值即為該方向上的跟蹤角速度極限值； .4)跟蹤帶寬測試，具體步驟為: .4.1令待測光電跟蹤設(shè)備(10)捕獲漫反射屏9上的激光光斑； . 4.2 二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)(I)帶動(dòng)激光光斑按照一定頻率和振幅的正弦曲線運(yùn)動(dòng)，待測光電跟蹤設(shè)備(10)跟蹤激光光斑； .4.3逐漸增大正弦曲線的頻率，當(dāng)待測光電跟蹤設(shè)備(10)丟失光斑時(shí)的正弦曲線頻率值即為其跟蹤帶寬指標(biāo)； . 5)微振動(dòng)干擾測試，具體步驟為: .5.1令二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)(I)處于零位位置，并保持靜止； .5.2開啟音圈電機(jī)快速指向鏡(7)，令其產(chǎn)生特定頻率和幅度的小角度偏轉(zhuǎn)，使光軸出射方向發(fā)生抖動(dòng)，并令待測光電跟蹤設(shè)備(10)跟蹤激光光斑； .5.3記錄待測光電跟蹤設(shè)備(10)的跟蹤探測器脫靶量，計(jì)算跟蹤誤差，改變音圈電機(jī)快速指向鏡(7)的工作頻率，通過掃頻方式得到跟蹤誤差與干擾頻率的關(guān)系； . 5.4當(dāng)跟蹤誤差的幅度與擾動(dòng)幅度相等時(shí)，此時(shí)的擾動(dòng)頻率為待測光電跟蹤設(shè)備(10)的干擾抑制帶寬； . 6)跟蹤精度測試，具體步驟為: . 6.1令待測光電跟蹤設(shè)備(10)捕獲漫反射屏(9)上的激光光斑； . 6.2 二維靶標(biāo)轉(zhuǎn)臺(tái)(I)帶動(dòng)激光光斑按照特定軌跡運(yùn)動(dòng)，待測光電跟蹤設(shè)備(10)跟蹤激光光斑，并依據(jù)跟蹤探測器的脫靶量指標(biāo)來計(jì)算待測光電跟蹤設(shè)備(10)的跟蹤精度，測試特定的相對運(yùn)動(dòng)對跟蹤精度的影響； . 6.3在上述基礎(chǔ)上令音圈電機(jī)快速指向鏡(7)產(chǎn)生符合特定振動(dòng)功率譜的微振動(dòng)干擾，依據(jù)跟 蹤探測器的脫靶量指標(biāo)來計(jì)算待測光電跟蹤設(shè)備(10)的跟蹤精度，測試特定功率譜下的微振動(dòng)對跟蹤精度的影響。
【文檔編號】G01M11/00GK104034511SQ201410258920
【公開日】2014年9月10日 申請日期:2014年6月12日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月12日
【發(fā)明者】賈建軍, 白帥, 石小麗, 王娟娟, 楊明冬, 秦文 申請人:中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所