本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域，特別涉及一種電子設(shè)備測試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

電子設(shè)備在應(yīng)用過程中，不可避免會出現(xiàn)意外斷電的問題，在這種情況下，對設(shè)備的可靠性提出了較高的要求，如何測試驗證設(shè)備具備這種在意外失去電力的情況下，還能保持可靠性等特點，這需要模擬掉電環(huán)境和條件。

現(xiàn)有的電子設(shè)備測試方法中，一般有兩種，第一種方法：通過單片機來控制待測設(shè)備的通斷電，具體的，采用一個單片機，對單片機編程，通過單片機中的運行邏輯配合單片機周圍的外圍電路來執(zhí)行待測設(shè)備的通斷電操作；第二種方法：采用繼電器電路，通過繼電器設(shè)置定時值，根據(jù)設(shè)置的定時值對待測設(shè)備進行通斷電操作。

然而，目前的方案不僅電路復(fù)雜，操作繁瑣，而且只能適應(yīng)特定的測試需求，可靠性低。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明實施例提供一種電子設(shè)備測試系統(tǒng)及方法，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中電路復(fù)雜、操作繁瑣以及可靠性不高的問題。

本發(fā)明實施例提供的具體技術(shù)方案如下：

一種電子設(shè)備測試系統(tǒng)，包括：測試設(shè)備、電源適配器和電源控制電路；其中，

電源適配器，與電源控制電路相連接，用于為待測設(shè)備供電；

電源控制電路，與所述待測設(shè)備相連接，用于控制所述待測設(shè)備的開關(guān)狀 態(tài)；

測試設(shè)備，分別與所述電源控制電路和所述待測設(shè)備相連接，用于通過控制所述電源控制電路，對所述待測設(shè)備進行上電操作和掉電操作，并與所述待測設(shè)備進行通信，分別記錄上電操作和掉電操作時的數(shù)據(jù)。

這樣，不僅操作方法簡單，成本很低，而且一臺測試設(shè)備可以控制多臺待測設(shè)備，可以同時記錄多臺待測設(shè)備的測試結(jié)果。

較佳的，進一步包括：

至少三根地線GND，分別位于所述電源適配器與所述電源控制電路之間、所述電源適配器與所述待測設(shè)備之間，以及所述測試設(shè)備與所述待測設(shè)備之間。

較佳的，所述電源控制電路具體包括：

第一電阻，一端連接所述測試設(shè)備，另一端連接三極管的基極；

第二電阻，一端連接所述三極管的基極，另一端接地；

三極管，通過集電極連接第三電阻，通過發(fā)射極接地；

第三電阻，一端連接所述電源適配器；

MOS管，通過源極連接所述電源適配器，通過漏極連接第四電阻，通過柵極連接所述三極管的集電極；

第四電阻，一端連接所述待測設(shè)備。

一種電子設(shè)備測試的方法，包括：

對待測設(shè)備執(zhí)行上電操作并進行性能測試；

在預(yù)設(shè)時間范圍內(nèi)，判斷是否接收到所述待測設(shè)備返回的串口數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述串口數(shù)據(jù)確定所述待測設(shè)備的工作狀態(tài)，以及將測試產(chǎn)生的所有數(shù)據(jù)保存在指定存儲空間中；

對待測設(shè)備執(zhí)行掉電操作，然后進入下一輪測試。

這樣，不僅操作方法簡單，成本很低，而且一臺測試設(shè)備可以控制多臺待測設(shè)備，可以同時記錄多臺待測設(shè)備的測試結(jié)果。

較佳的，對待測設(shè)備執(zhí)行上電操作，并進行性能測試，包括：

根據(jù)上電串口指令，將串口的RTS信號設(shè)置為高電平，并通過RTS信號線將高電平信號傳輸?shù)诫娫纯刂齐娐?，對待測設(shè)備執(zhí)行上電操作并進行性能測試；

對待測設(shè)備執(zhí)行掉電操作，包括：

根據(jù)掉電串口指令，將串口的RTS信號設(shè)置為低電平，并通過RTS信號線將低電平信號發(fā)送到電源控制電路，對待測設(shè)備執(zhí)行掉電操作。

較佳的，將測試產(chǎn)生的所有數(shù)據(jù)保存在指定存儲空間中，包括：

先將測試產(chǎn)生的數(shù)據(jù)記錄在串口緩沖區(qū)中；

依次讀取所述串口緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)，并將讀取的所有數(shù)據(jù)保存在指定存儲空間中。

較佳的，在預(yù)設(shè)時間范圍內(nèi)，判斷是否接收到待測設(shè)備發(fā)送的串口數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述串口數(shù)據(jù)確定所述待測設(shè)備的工作狀態(tài)，包括：

在預(yù)設(shè)時間范圍內(nèi)，當(dāng)接收到所述待測設(shè)備發(fā)送的指定串口數(shù)據(jù)時，確定所述待測設(shè)備處于正常工作狀態(tài)，否則，確定所述待測設(shè)備處于異常工作狀態(tài)。

較佳的，確定所述待測設(shè)備處于正常工作狀態(tài)之后，執(zhí)行掉電操作之前，進一步包括：

確定執(zhí)行掉電操作的預(yù)設(shè)周期，并判定能夠按照所述預(yù)設(shè)周期執(zhí)行后續(xù)掉電操作；其中，所述預(yù)設(shè)周期大于所述預(yù)設(shè)時間范圍；

確定所述待測設(shè)備處于異常工作狀態(tài)之后，執(zhí)行掉電操作之前，進一步包括：

判定能夠直接執(zhí)行掉電操作。

較佳的，確定所述待測設(shè)備的工作狀態(tài)之后，執(zhí)行掉電操作之前，進一步包括：

根據(jù)用戶的指令向所述待測設(shè)備發(fā)送指定附加性能測試的參數(shù)，并接收所述待測設(shè)備基于所述參數(shù)反饋的數(shù)據(jù)。

較佳的，執(zhí)行掉電操作之后，進入下一輪測試之前，進一步包括：

清空當(dāng)前串口緩沖區(qū)保留的數(shù)據(jù)以及記錄當(dāng)前測試次數(shù)的序號；

向用戶彈出詢問界面，當(dāng)接收到用戶選擇的繼續(xù)測試指令時，確定可以進入下一輪測試。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實施例中電子設(shè)備測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明實施例中電源控制電路的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本發(fā)明實施例中電子設(shè)備測試的概述流程示意圖；

圖4為本發(fā)明實施例中電子設(shè)備測試的具體流程示意圖。

具體實施方式

為了測試設(shè)備在意外掉電的情況下，仍然保持可靠性等特點。本發(fā)明實施例中，采用串口的RTS信號，從測試設(shè)備直接控制待測設(shè)備的上電和掉電狀態(tài)，通過簡便的模擬掉電環(huán)境和條件對待測設(shè)備進行性能測試。

下面結(jié)合附圖對本發(fā)明優(yōu)選的實施方式進行詳細說明。

參閱圖1所示，本發(fā)明實施例中，電子設(shè)備測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

一種電子設(shè)備測試系統(tǒng)，包括：測試設(shè)備、電源適配器和電源控制電路；其中，

電源適配器，與電源控制電路相連接，用于為待測設(shè)備供電；

電源控制電路，與待測設(shè)備相連接，用于控制待測設(shè)備的開關(guān)狀態(tài)；

測試設(shè)備，分別與電源控制電路和待測設(shè)備相連接，用于通過控制電源控制電路，對待測設(shè)備進行上電操作和掉電操作，并與待測設(shè)備進行通信，分別記錄上電操作和掉電操作時的數(shù)據(jù)。

其中，該電路至少有三根地線(Ground，GND)，分別位于電源適配器與電源控制電路之間、電源適配器與待測設(shè)備之間，以及測試設(shè)備與待測設(shè)備之 間。

該系統(tǒng)還包括：USB轉(zhuǎn)串口線(這里用的是USB轉(zhuǎn)RS232串口線)，至少包括4個分支，分別位于測試設(shè)備與電源控制電路之間(串口的RTS信號線)、測試設(shè)備與待測設(shè)備之間、以及測試設(shè)備與地線之間；其中，在測試設(shè)備與待測設(shè)備之間有USB轉(zhuǎn)串口線的兩個分支，一個分支用于測試設(shè)備向待測設(shè)備發(fā)送數(shù)據(jù)，另一個分支用于待測設(shè)備向測試設(shè)備發(fā)送數(shù)據(jù)。

此外，本發(fā)明實施例中，測試設(shè)備有多個接口，用于同時進行多臺待測設(shè)備的測試。

其中，參閱圖2所示，電源控制電路包括：

第一電阻，一端連接測試設(shè)備，另一端連接三極管的基極；

第二電阻，一端連接三極管的基極，另一端接地；

三極管，通過集電極連接第三電阻，通過發(fā)射極接地；

第三電阻，一端連接電源適配器；

MOS管，通過源極連接電源適配器，通過漏極連接第四電阻，通過柵極連接三極管的集電極；

第四電阻，一端連接待測設(shè)備。

在該電源控制電路中，當(dāng)三極管處于導(dǎo)通狀態(tài)時，MOS管的柵極是低電平，該電路處于導(dǎo)通狀態(tài)，當(dāng)三極管處于斷開狀態(tài)時，MOS管的柵極是高電平，該電路處于斷開狀態(tài)。

參閱圖3所示，基于上述電子設(shè)備的測試系統(tǒng)，其對應(yīng)的方法的具體流程為：

步驟300：對待測設(shè)備執(zhí)行上電操作并進行性能測試。

本發(fā)明實施例中，在執(zhí)行步驟300時，根據(jù)上電串口指令，將串口的RTS信號設(shè)置為高電平，并通過RTS信號線將高電平信號傳輸?shù)诫娫纯刂齐娐罚瑢Υ郎y設(shè)備執(zhí)行上電操作并進行性能測試。

具體的，當(dāng)通過RTS信號線將高電平信號傳輸?shù)诫娫纯刂齐娐窌r，電源控 制電路中的三極管處于導(dǎo)通狀態(tài)，MOS管的柵極處于低電平，此時MOS管就處于導(dǎo)通狀態(tài)，待測設(shè)備就處于上電狀態(tài)。

步驟310：在預(yù)設(shè)時間范圍內(nèi)，判斷是否接收到待測設(shè)備返回的串口數(shù)據(jù)，并根據(jù)串口數(shù)據(jù)確定待測設(shè)備的工作狀態(tài)，以及將測試產(chǎn)生的所有數(shù)據(jù)保存在指定存儲空間中。

具體的，在執(zhí)行步驟320時，在預(yù)設(shè)時間范圍內(nèi)，當(dāng)接收到待測設(shè)備發(fā)送的指定串口數(shù)據(jù)時，確定待測設(shè)備處于正常工作狀態(tài)，否則，確定待測設(shè)備處于異常工作狀態(tài)。

例如，預(yù)設(shè)時間范圍是5秒，只要在5秒之內(nèi)接收到待測設(shè)備發(fā)送的指定串口數(shù)據(jù)時，則確定該設(shè)備是處于正常的工作狀態(tài)，超過5秒，或者在5秒之內(nèi)沒有收到指定的串口數(shù)據(jù)時，則確定該設(shè)備是處于異常的工作狀態(tài)。

這里，指定的串口數(shù)據(jù)是：“The device has intered into the launcher”。

在數(shù)據(jù)保存時，先將測試產(chǎn)生的數(shù)據(jù)記錄在串口緩沖區(qū)中；依次讀取串口緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)，并將讀取的所有數(shù)據(jù)保存在指定存儲空間中。

進一步的，確定待測設(shè)備處于正常工作狀態(tài)之后，執(zhí)行掉電操作之前，確定執(zhí)行掉電操作的預(yù)設(shè)周期，并判定能夠按照預(yù)設(shè)周期執(zhí)行后續(xù)掉電操作；其中，預(yù)設(shè)周期大于預(yù)設(shè)時間范圍。

例如，需要進行100次測試，預(yù)設(shè)周期是10秒，每一次測試開始時，假設(shè)在5秒之內(nèi)收到指定的串口數(shù)據(jù)時，在10秒的時候測試設(shè)備判定能夠執(zhí)行掉電操作。

確定待測設(shè)備處于異常工作狀態(tài)之后，執(zhí)行掉電操作之前，判定能夠直接執(zhí)行掉電操作。

例如，需要進行100次測試，預(yù)設(shè)周期是10秒，每一次測試開始時，假設(shè)在5秒之內(nèi)沒有收到指定的串口數(shù)據(jù)，則測試設(shè)備判定能夠直接執(zhí)行掉電操作。

此外，確定待測設(shè)備的工作狀態(tài)之后，執(zhí)行掉電操作之前，可以根據(jù)用戶 的指令向待測設(shè)備發(fā)送指定附加性能測試的參數(shù)，并接收待測設(shè)備基于參數(shù)反饋的數(shù)據(jù)。

例如，測試設(shè)備根據(jù)用戶的指令“Write_Nand”向待測設(shè)備發(fā)送參數(shù)，用于指示待測設(shè)備在“Nand Flash”中寫入數(shù)據(jù)，待測設(shè)備接收到該指令以后，向測試設(shè)備發(fā)送數(shù)據(jù)“BeginWrite Nand Flash?。?！”，然后開始在“Nand Flash”中寫入數(shù)據(jù)，測試設(shè)備收到該數(shù)據(jù)之后進行分析，假設(shè)指示待測設(shè)備在寫入數(shù)據(jù)5秒鐘后，進行斷電操作，這個數(shù)據(jù)用于檢查待測設(shè)備在寫入數(shù)據(jù)的時候，突然掉電，對文件系統(tǒng)完整性的影響。

步驟320：對待測設(shè)備執(zhí)行掉電操作，然后進入下一輪測試。

本發(fā)明實施例中，在執(zhí)行步驟320時，根據(jù)掉電串口指令，將串口的RTS信號設(shè)置為低電平，并通過RTS信號線將低電平信號發(fā)送到電源控制電路，對待測設(shè)備執(zhí)行掉電操作。

具體的，當(dāng)通過RTS信號線將低電平信號傳輸?shù)诫娫纯刂齐娐窌r，電源控制電路中的的三極管處于關(guān)閉狀態(tài)，MOS管的柵極處于高電平，此時MOS管就處于斷開狀態(tài)，待測設(shè)備就處于掉電狀態(tài)。

進一步地，進行掉電操作之后，進入下一輪測試之前，清空當(dāng)前串口緩沖區(qū)保留的數(shù)據(jù)以及記錄當(dāng)前測試次數(shù)的序號；向用戶彈出詢問界面，當(dāng)接收到用戶的繼續(xù)測試指令時，確定可以進入下一輪測試。

例如，每進行下一輪測試前，需要向用戶彈出詢問界面，如果用戶選擇退出測試，則直接可以按下CTRL+C，退出測試操作，如果用戶選擇繼續(xù)測試，則重復(fù)上述測試操作。

基于上述實施例，下面結(jié)合一個具體的應(yīng)用場景對上述實施例作出進一步詳細的說明，請參閱圖4所示。

步驟400：打開測試設(shè)備。

步驟401：測試設(shè)備詢問是否需要退出測試。

若是，則執(zhí)行步驟402，否則，執(zhí)行步驟404。

這里，測試設(shè)備可以提前預(yù)設(shè)信號，監(jiān)控按鍵信息。例如，當(dāng)接收到CTRL+C的時候，可以退出測試流程。每進行下一輪測試前，都會向用戶彈出詢問界面。

步驟402：測試設(shè)備退出測試流程。

步驟403：測試設(shè)備對待測設(shè)備執(zhí)行掉電操作，打印完成測試的提示信息。

步驟404：測試設(shè)備清空串口緩沖區(qū)中的數(shù)據(jù)，并且打印當(dāng)前測試的次數(shù)。

步驟405：測試設(shè)備通過串口的RTS信號線對待測設(shè)備執(zhí)行上電操作。

步驟406：測試設(shè)備等待待測設(shè)備的串口信息。

步驟407：測試設(shè)備判斷等待是否超時。

具體的，在待測設(shè)備上電后，判斷是否在預(yù)設(shè)時間范圍內(nèi)收到指定的串口信息，如果是，則執(zhí)行步驟408，否則，執(zhí)行步驟410。

步驟408：測試設(shè)備對待測設(shè)備執(zhí)行掉電操作。

步驟409：測試設(shè)備打印出錯信息。

步驟410：測試設(shè)備按照預(yù)設(shè)周期進行掉電操作。

步驟411：測試設(shè)備打印本次操作的測試時間。

通過每一次測試時間的記錄有助于對待測設(shè)備的性能測試數(shù)據(jù)的分析。

綜上所述，本發(fā)明實施例中，提出了一種電子設(shè)備測試系統(tǒng)及方法，該方法為：對待測設(shè)備執(zhí)行上電操作并進行性能測試；在預(yù)設(shè)時間范圍內(nèi)，判斷是否接收到待測設(shè)備返回的串口數(shù)據(jù)，并根據(jù)串口數(shù)據(jù)確定待測設(shè)備的工作狀態(tài)，以及將測試產(chǎn)生的所有數(shù)據(jù)保存在指定存儲空間中；對待測設(shè)備執(zhí)行掉電操作，然后進入下一輪測試。這樣，利用串口的RTS信號，從測試設(shè)備直接控制待測設(shè)備的上電和掉電狀態(tài)，不僅操作方法簡單，成本很低，而且一臺測試設(shè)備可以控制多臺待測設(shè)備，可以同時記錄多臺待測設(shè)備的測試結(jié)果。

本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員應(yīng)明白，本發(fā)明的實施例可提供為方法、系統(tǒng)、或計算機程序產(chǎn)品。因此，本發(fā)明可采用完全硬件實施例、完全軟件實施例、或結(jié)合軟件和硬件方面的實施例的形式。而且，本發(fā)明可采用在一個或多個其中包 含有計算機可用程序代碼的計算機可用存儲介質(zhì)(包括但不限于磁盤存儲器、CD-ROM、光學(xué)存儲器等)上實施的計算機程序產(chǎn)品的形式。

本發(fā)明是參照根據(jù)本發(fā)明實施例的方法、設(shè)備(系統(tǒng))、和計算機程序產(chǎn)品的流程圖和/或方框圖來描述的。應(yīng)理解可由計算機程序指令實現(xiàn)流程圖和/或方框圖中的每一流程和/或方框、以及流程圖和/或方框圖中的流程和/或方框的結(jié)合?？商峁┻@些計算機程序指令到通用計算機、專用計算機、嵌入式處理機或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理器以產(chǎn)生一個機器，使得通過計算機或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理器執(zhí)行的指令產(chǎn)生用于實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能的系統(tǒng)。

這些計算機程序指令也可存儲在能引導(dǎo)計算機或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備以特定方式工作的計算機可讀存儲器中，使得存儲在該計算機可讀存儲器中的指令產(chǎn)生包括指令系統(tǒng)的制造品，該指令系統(tǒng)實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能。

這些計算機程序指令也可裝載到計算機或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備上，使得在計算機或其他可編程設(shè)備上執(zhí)行一系列操作步驟以產(chǎn)生計算機實現(xiàn)的處理，從而在計算機或其他可編程設(shè)備上執(zhí)行的指令提供用于實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能的步驟。

盡管已描述了本發(fā)明的優(yōu)選實施例，但本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員一旦得知了基本創(chuàng)造性概念，則可對這些實施例作出另外的變更和修改。所以，所附權(quán)利要求意欲解釋為包括優(yōu)選實施例以及落入本發(fā)明范圍的所有變更和修改。

顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對本發(fā)明實施例進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明實施例的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明實施例的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。