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一種聚光式圓二色光譜檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法

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一種聚光式圓二色光譜檢測(cè)系統(tǒng)的制造方法與工藝

本實(shí)用新型涉及一種光譜檢測(cè)系統(tǒng),特別是關(guān)于一種在分析測(cè)試儀器領(lǐng)域中應(yīng)用的聚光式圓二色光譜檢測(cè)系統(tǒng)。



背景技術(shù):

圓二色光譜(CD光譜)是確定手性化合物立體構(gòu)型的有效方法之一;不僅廣泛應(yīng)用于手性化合物的鑒定,手性功能材料、器件等的合成與表征,還可用于化學(xué)生物學(xué)領(lǐng)域,如肽、DNA、蛋白質(zhì)及其組裝體的堆積狀態(tài)等結(jié)構(gòu)和相互作用表征。

在圓二色測(cè)試中因樣品量少經(jīng)常選用微量石英比色皿(狹縫1-4mm),而長(zhǎng)方形光斑寬度約為5mm,致使樣品表面接受入射光的有效面積縮小,光通量減少,從而造成紫外區(qū)(如200nm附近)的譜圖信噪比差。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

針對(duì)上述問(wèn)題,本實(shí)用新型的目的是提供一種聚光式圓二色光譜檢測(cè)系統(tǒng),該系統(tǒng)能滿(mǎn)足多種微量測(cè)試需求,從而可有效提高樣品的CD光譜質(zhì)量。

為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采取以下技術(shù)方案:一種聚光式圓二色光譜檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:該系統(tǒng)包括底座、樣品支架、比色皿、滑軌、聚光鏡、支撐板和光譜檢測(cè)儀;所述底座上設(shè)有凹槽式所述滑軌,且所述滑軌上設(shè)置有刻度;所述樣品支架固定在所述滑軌一端;所述比色皿放置在所述樣品支架上,所述支撐板下部滑動(dòng)設(shè)置在所述滑軌內(nèi),所述聚光鏡安置在所述支撐板上部,遠(yuǎn)離所述聚光鏡的一端,設(shè)置有與所述比色皿位置對(duì)應(yīng)的所述光譜檢測(cè)儀。

進(jìn)一步,位于所述底座上,在所述滑軌端部還設(shè)置有擋板。

進(jìn)一步,所述聚光鏡的中心與所述光譜檢測(cè)儀中心位于同一水平線(xiàn)上。

進(jìn)一步,所述聚光鏡對(duì)入射光聚焦后的光斑大小與所述比色皿的狹縫寬度匹配。

進(jìn)一步,所述比色皿采用微量石英比色皿。

本實(shí)用新型由于采取以上技術(shù)方案,其具有以下優(yōu)點(diǎn):1、本實(shí)用新型將聚光鏡支撐板設(shè)置在滑軌內(nèi),通過(guò)移動(dòng)聚光鏡改變聚光鏡與樣品之間的距離,實(shí)現(xiàn)入射光斑大小的可調(diào),滿(mǎn)足多種微量測(cè)試需求,有效提高樣品的CD光譜質(zhì)量。2、本實(shí)用新型為了提高微量石英比色皿測(cè)試中的信噪比,采用位置可調(diào)的聚光鏡對(duì)入射光進(jìn)行聚焦,使其光斑大小與微量石英比色皿狹縫寬度匹配,進(jìn)而保證所有入射光有效通過(guò)樣品。3、本實(shí)用新型滑道式聚光設(shè)計(jì)對(duì)提高儀器的光譜信噪比有所改進(jìn),能滿(mǎn)足多種微量測(cè)試需求,從而更好地服務(wù)科研,意義重大。

綜上所述,本實(shí)用新型可以廣泛在分析測(cè)試儀器領(lǐng)域中應(yīng)用。

附圖說(shuō)明

圖1是本實(shí)用新型的整體結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)的描述。

如圖1所示,本實(shí)用新型提供一種聚光式圓二色光譜檢測(cè)系統(tǒng),其包括底座1、樣品支架2、滑軌3、比色皿4、聚光鏡5、支撐板6和光譜檢測(cè)儀7。底座1內(nèi)設(shè)置凹槽式滑軌3,滑軌3上設(shè)置有刻度。樣品支架2固定在滑軌3一端,樣品支架2上放置比色皿4;支撐板6下部滑動(dòng)設(shè)置在滑軌3內(nèi),聚光鏡5安置在支撐板6上部,通過(guò)滑軌3上的刻度可以精確改變聚光鏡5與比色皿4之間的距離,實(shí)現(xiàn)對(duì)入射光斑大小的可調(diào),滿(mǎn)足多種微量測(cè)試需求。遠(yuǎn)離聚光鏡5的一端,設(shè)置有與比色皿4位置對(duì)應(yīng)的光譜檢測(cè)儀7。

上述實(shí)施例中,位于底座1上,在滑軌3端部還設(shè)置有擋板8,以有效防止支撐板6滑出滑軌3。

上述各實(shí)施例中,聚光鏡5的中心與光譜檢測(cè)儀7中心位于同一水平線(xiàn)上。

上述各實(shí)施例中,聚光鏡對(duì)入射光聚焦后的光斑大小與比色皿4的狹縫寬度匹配。

上述各實(shí)施例中,比色皿4采用微量石英比色皿。

本實(shí)用新型操作過(guò)程如下:將樣品放置于比色皿4中,通過(guò)比色皿4前部的聚光鏡5對(duì)入射光進(jìn)行聚焦,移動(dòng)聚光鏡5使得其光斑大小與微量石英比色皿狹縫寬度匹配,保證所有入射光有效通過(guò)樣品。改變聚光鏡5的位置可實(shí)現(xiàn)對(duì)入射光斑大小的可調(diào),滿(mǎn)足多種微量測(cè)試需求,從而可有效提高樣品的CD光譜質(zhì)量,進(jìn)而由光譜檢測(cè)儀7對(duì)樣品進(jìn)行有效檢測(cè)。

上述各實(shí)施例僅用于說(shuō)明本實(shí)用新型,各部件的結(jié)構(gòu)、尺寸、設(shè)置位置及形狀都是可以有所變化的,在本實(shí)用新型技術(shù)方案的基礎(chǔ)上,凡根據(jù)本實(shí)用新型原理對(duì)個(gè)別部件進(jìn)行的改進(jìn)或等同變換,均不應(yīng)排除在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之外。

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