023] 在本發(fā)明全文中，在沒(méi)有明確指示與上下文相反的情況下，應(yīng)當(dāng)理解，所述單獨(dú)的 電路元件可以是單數(shù)或復(fù)數(shù)。例如，術(shù)語(yǔ)"電路"可以包括單個(gè)部件或多個(gè)部件，所述部件為 有源和/或無(wú)源，并且連接或換句話講耦合到一起（如成為一個(gè)或多個(gè)集成電路芯片）以 提供所述功能。另外，術(shù)語(yǔ)"信號(hào)"可指一個(gè)或多個(gè)電流、一個(gè)或多個(gè)電壓、或數(shù)據(jù)信號(hào)。在 圖中，相似或有關(guān)的元件將具有相似或有關(guān)的字母、數(shù)字或數(shù)字字母混合的指示。此外，雖 然在具體實(shí)施的上下文中已討論了本發(fā)明使用分立的電子電路（優(yōu)選地為一個(gè)或多個(gè)集 成電路芯片形式），但作為另一種選擇，根據(jù)待處理的信號(hào)頻率或數(shù)據(jù)速率，此類電路的任 何部分的功能可使用一個(gè)或多個(gè)適當(dāng)編程的處理器來(lái)實(shí)現(xiàn)。此外，就示出各種實(shí)施例的功 能區(qū)塊的示意圖的圖示來(lái)說(shuō)，所述功能區(qū)塊未必表征硬件電路之間的分區(qū)。
[0024] 參見(jiàn)圖1，無(wú)線信號(hào)收發(fā)器的典型操作環(huán)境和理想測(cè)試環(huán)境（至少就模擬真實(shí)世 界操作來(lái)說(shuō)）將具有無(wú)線通信的測(cè)試器100和DUT200。典型地，還將使用某種形式的測(cè)試 控制器1〇(例如，個(gè)人計(jì)算機(jī)）以經(jīng)由與測(cè)試器100和DUT 200的有線信號(hào)接口 lla、llb 來(lái)交換測(cè)試命令和數(shù)據(jù)。測(cè)試器100和DUT 200各自具有一個(gè)（或?qū)τ贛頂0裝置而言，多 個(gè)）相應(yīng)的天線102、202,其通過(guò)導(dǎo)電信號(hào)連接器104、204(例如，同軸纜線連接，其許多類 型在本領(lǐng)域中是熟知的）連接。測(cè)試信號(hào)（源和響應(yīng)）在測(cè)試器100與DUT 200之間經(jīng)由 天線102、202無(wú)線傳輸。例如，在DUT 200的發(fā)射（TX)測(cè)試期間，電磁信號(hào)203從DUT天 線202福射。取決于天線射出模式的方向性，該信號(hào)203將在許多方向福射，從而產(chǎn)生由測(cè) 試器天線102接收的入射信號(hào)分量203i和反射信號(hào)分量203r。如上所討論，這些反射信號(hào) 分量203r (通常為多路徑信號(hào)效應(yīng)以及源自其他地方的其他電磁信號(hào)（未示出）的產(chǎn)物） 導(dǎo)致相長(zhǎng)和相消信號(hào)干擾，從而妨礙可靠的且可重復(fù)的信號(hào)接收和測(cè)試結(jié)果。
[0025] 參見(jiàn)圖2,為了避免此類不可靠的測(cè)試結(jié)果，使用導(dǎo)電信號(hào)路徑儲(chǔ)如RF同軸纜線 106來(lái)連接測(cè)試器100和DUT 200的天線連接器104、204,以在測(cè)試器100與DUT 200之間 提供一致的、可靠的且可重復(fù)的導(dǎo)電信號(hào)路徑來(lái)傳輸測(cè)試信號(hào)。然而，如上所討論，由于在 測(cè)試之前和之后連接和斷開(kāi)纜線106所需的時(shí)間，這延長(zhǎng)整體測(cè)試時(shí)間。
[0026] 參見(jiàn)圖3,當(dāng)測(cè)試M頂0 DUT 200a時(shí)，用于連接和斷開(kāi)測(cè)試?yán)|線的額外測(cè)試時(shí)間變 得甚至更長(zhǎng)。在此類情況下，需要多條測(cè)試?yán)|線106來(lái)連接對(duì)應(yīng)的測(cè)試器104和DUT204連 接器，以使得能夠傳輸來(lái)自測(cè)試器l〇〇a內(nèi)的RF信號(hào)源110(例如，VSG)的RF測(cè)試信號(hào)，以 由DUT 200a內(nèi)的RF信號(hào)接收器210接收。例如，在典型的測(cè)試環(huán)境中，用于測(cè)試M頂0裝置 的測(cè)試器將具有一個(gè)或多個(gè)VSG 110a、110b、…、110n，其提供對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)RF測(cè)試信 號(hào)111a、111b、…、llln (例如，具有可變信號(hào)功率、包內(nèi)容和數(shù)據(jù)率的包數(shù)據(jù)信號(hào)）。經(jīng)由 相應(yīng)測(cè)試器104a、104b、."、104n和DUT 204a、204b、."、204n連接器連接的該對(duì)應(yīng)的測(cè)試 纜線106a、106b、…、106n傳輸這些信號(hào)，以將接收到的RF測(cè)試信號(hào)211a、211b、…、211n 提供給在DUT 200a內(nèi)的對(duì)應(yīng)的RF信號(hào)接收器210a、210b、…、210n。因此，連接和斷開(kāi)這 些測(cè)試?yán)|線106所需的額外測(cè)試時(shí)間可增加n倍，其對(duì)應(yīng)于測(cè)試?yán)|線106的數(shù)量。
[0027] 如上所討論，使用連接測(cè)試器100a和DUT 200a的測(cè)試?yán)|線確實(shí)具有提供一致的、 可靠的且可重復(fù)的測(cè)試連接的優(yōu)點(diǎn)。如本領(lǐng)域中熟知的是，這些測(cè)試連接107可被模型化 為特征在于對(duì)角線矩陣20的信道H，其中對(duì)角線矩陣元素22對(duì)應(yīng)于相應(yīng)信道特性（例如， 相應(yīng)測(cè)試?yán)|線106的信號(hào)路徑傳導(dǎo)性或損失）的系數(shù)h n、h22、…、hnn。
[0028] 參見(jiàn)圖4,根據(jù)一個(gè)或多個(gè)示例性實(shí)施例，由對(duì)應(yīng)于測(cè)試器100a與DUT 200a之間 的無(wú)線信號(hào)接口 l〇6a的無(wú)線信道107a代替導(dǎo)電或有線信道107 (圖3)。如上所討論，測(cè) 試器100a和DUT 200a經(jīng)由天線102、202的相應(yīng)陣列傳達(dá)測(cè)試信號(hào)111、211。在這種類 型的測(cè)試環(huán)境中，不再通過(guò)對(duì)角線矩陣20來(lái)表示信道107a，而是通過(guò)矩陣20a來(lái)表示信道 107a，矩陣20a具有對(duì)角線22之外的一個(gè)或多個(gè)非零系數(shù)24a、24b。如本領(lǐng)域的技術(shù)人員 將容易理解的是，這是由于信道l〇7a中有多個(gè)可用的無(wú)線信號(hào)路徑。例如，不同于纜線信 號(hào)環(huán)境，在纜線信號(hào)環(huán)境中，理想的是，每個(gè)DUT連接器204僅接收來(lái)自其對(duì)應(yīng)的測(cè)試器連 接器104的信號(hào)。在該無(wú)線信道107a中，第一 DUT天線202a接收由所有測(cè)試器天線102a、 102b、…、102n福射的測(cè)試信號(hào)，例如，對(duì)應(yīng)于信道H矩陣系數(shù)h n、h12、…和hln。
[0029] 根據(jù)熟知的原理，信道矩陣H的系數(shù)h對(duì)應(yīng)于信道107a影響RF測(cè)試信號(hào)的發(fā)射 和接收的特性。這些系數(shù)h總體限定信道條件數(shù)k (H)，其為H矩陣的范數(shù)與H的反矩陣的 范數(shù)的乘積，如以下方程式所示：
[0030] k(H) = | |H| |*| IH1! |
[0031] 影響這些系數(shù)的因素會(huì)以可產(chǎn)生測(cè)量誤差的方式改變信道條件數(shù)。例如，在條件 不佳的信道中，小誤差可在測(cè)試結(jié)果中造成大誤差。在信道數(shù)低的情況下，信道中的小誤 差可在接收（RX)天線處產(chǎn)生小測(cè)量誤差。然而，在信道數(shù)高的情況下，信道中的小誤差可 在接收天線處產(chǎn)生大測(cè)量誤差。該信道條件數(shù)k(H)還對(duì)DUT在其測(cè)試環(huán)境（例如，屏蔽外 殼）內(nèi)的物理定位和取向及其各種天線204的取向敏感。因此，即使沒(méi)有源自其他地方的 或經(jīng)由反射而到達(dá)并射在接收天線204上的外來(lái)干擾信號(hào)，可重復(fù)精確測(cè)試結(jié)果的可能性 也將較低。
[0032] 參見(jiàn)圖5,根據(jù)一個(gè)或多個(gè)示例性實(shí)施例，測(cè)試器100a與DUT 200a之間的測(cè)試信 號(hào)接口可以為無(wú)線的。DUT 200a置于屏蔽外殼300的內(nèi)部301內(nèi)。此類屏蔽外殼300可實(shí) 現(xiàn)為金屬外殼，例如，在構(gòu)造或至少在效應(yīng)方面類似于法拉第籠。這將DUT 200a與源自外 殼300的外部區(qū)域302的輻射信號(hào)隔離。根據(jù)示例性實(shí)施例，外殼300的幾何形狀為使得 其用作封閉式波導(dǎo)。
[0033] 在別處，例如，在外殼300內(nèi)或外殼300的相對(duì)內(nèi)表面302上設(shè)置多個(gè)（n)天線 陣列102a、102b、…、102n，其中的每一個(gè)輻射源自測(cè)試器100a內(nèi)的測(cè)試信號(hào)源110a、 110b、…、110n的多個(gè)相位受控的RF測(cè)試信號(hào)103a、103b、…、103n(在下文中更詳細(xì)地討 論）。每個(gè)天線陣列包括多個(gè)（M)天線元件。例如，第一天線陣列102a包括m個(gè)天線元件 102aa、102ab、...K^am。這些天線元件102aa、102ab、…、102am中的每一個(gè)由相應(yīng)RF信 號(hào)控制電路130a提供的相應(yīng)相位受控的RF測(cè)試信號(hào)131aa、131ab、…、131am驅(qū)動(dòng)。
[0034] 如在第一RF信號(hào)控制電路130a的例子中所不出，來(lái)自第一RF測(cè)試信號(hào)源110a的 RF測(cè)試信號(hào)111a的幅度通過(guò)信號(hào)幅度控制電路132增加（例如，放大）或減小（例如，衰 減）。所得的幅度受控的測(cè)試信號(hào)133由信號(hào)復(fù)制電路134(例如，信號(hào)分割器）復(fù)制。所 得的幅度受控的、復(fù)制的RF測(cè)試信號(hào)135a、135b- 135m的相應(yīng)信號(hào)相位通過(guò)相應(yīng)的相位控 制電路136a、136b、…、136m進(jìn)行控制（例如，移位），以產(chǎn)生幅度和相位受控的信號(hào)131aa、 131ab、…、131am來(lái)驅(qū)動(dòng)天線陣列102a的天線兀件102aa、102ab、…、102am。
[0035] 其余的天線陣列102b、…、102n及其相應(yīng)的天線元件通過(guò)對(duì)應(yīng)的RF信號(hào)控制電 路130b、…、130m以類似的方式驅(qū)動(dòng)。這產(chǎn)生對(duì)應(yīng)數(shù)量