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安檢設(shè)備和射線探測方法

文檔序號:9546061閱讀:1062來源:國知局
安檢設(shè)備和射線探測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及安檢領(lǐng)域,特別是一種安檢設(shè)備和射線探測方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,目前安全檢查設(shè)備被廣泛應(yīng)用于機場、海關(guān)、地鐵等部門。針對公路安檢方面,利用X射線透射設(shè)備掃描物品比較多見,X射線源出射的X射線通過準(zhǔn)直器形成掃描扇面,探測器接收到照射被檢物品的X射線,通過處理,得到被檢物品的內(nèi)部信息。這種安檢方式使用廣泛,結(jié)構(gòu)簡單,易操作,但是由于利用的是X射線透射原理成像,很難檢測的出密度較低的物質(zhì),比如炸藥,毒品等。
[0003]而X射線背散射技術(shù)能夠很好的檢查出低密度的物質(zhì),現(xiàn)有X射線背散射檢查設(shè)備的飛輪繞射線源靶心旋轉(zhuǎn),形成筆行束,筆行束落在被檢查物體上,形成飛點。背散射探測器收集任一時刻的X射線背散射射線,經(jīng)處理,得到物質(zhì)信息,連續(xù)掃描后,就能處理并得到整個被檢物品的內(nèi)部信息,尤其是可以突出顯示炸藥、毒品等原子數(shù)序較低的物質(zhì)信息。該發(fā)明方便實用,但是,由于該裝置的成像原理是吸收背散射的X射線后成像,因此,對于隱藏在保密物質(zhì)后的炸藥、毒品檢測效果不佳,炸藥被放置于一鋼板之后,背散射X射線被鋼板阻斷,不能到達背散射探測器;對金屬武器的顯示效果也不佳。同時,這種單側(cè)的背散射成像結(jié)果對于觀察被檢物品對側(cè)的內(nèi)部信息效果較差,若要有效觀察被檢物品兩側(cè),需要進行兩趟檢測,比較繁瑣。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的一個目的在于提供一種更加可靠的安檢設(shè)備。
[0005]根據(jù)本發(fā)明的一個方面,提出一種安檢設(shè)備,包括:射線發(fā)射裝置;射線探測器;其中,射線探測器包括:前散射探測器,位于待測物體相對于射線發(fā)射裝置的對側(cè);射線探測器還包括:背散射探測器,位于射線發(fā)射裝置與待測物體之間;和/或透射探測器,位于待測物體相對于射線發(fā)射裝置的對側(cè)。
[0006]可選地,射線發(fā)射裝置用于發(fā)射出扇形射線束和飛點射線束。
[0007]可選地,射線發(fā)射裝置包括:射線源,位于射線發(fā)射裝置的中央;空間調(diào)制器,位于射線源與背散射探測器之間,包括固定屏蔽板,和位于待測物體與固定屏蔽板之間的旋轉(zhuǎn)屏蔽體。
[0008]可選地,旋轉(zhuǎn)屏蔽體上包括一個以上縫隙和一個以上通孔。
[0009]可選地,透射探測器包括多個探測器模塊,根據(jù)每個探測器模塊在透射探測器的位置的不同,每個探測器模塊的安放角度與射線入射方向相適應(yīng)。
[0010]可選地,探測器模塊的安放角度與射線入射方向相適應(yīng)包括:探測器模塊的探測面垂直于射線入射方向。
[0011]可選地,透射探測器包括多個由預(yù)定個探測器模塊平行排列組成的探測器單元;根據(jù)每個探測器模塊在透射探測器的位置的不同,每個探測器模塊的安放角度與射線入射方向相適應(yīng)為:根據(jù)每個探測器單元在透射探測器的位置的不同,每個探測器單元的探測面方向與射線入射方向相適應(yīng)。
[0012]可選地,透射探測器為平板形或向待測物體對側(cè)凸起的弧面形。
[0013]可選地,還包括運輸工具,用于承載和移動射線發(fā)射裝置和射線探測器。
[0014]可選地,還包括懸臂,懸臂的一端連接透射探測器和前散射探測器,另一端與運輸工具連接;運輸工具內(nèi)部承載射線發(fā)射裝置,且運輸工具側(cè)面連接背散射探測器。
[0015]可選地,懸臂包括折疊機構(gòu)和旋轉(zhuǎn)機構(gòu),用于折疊和旋轉(zhuǎn)懸臂。
[0016]可選地,還包括處理器,用于接收來自前散射探測器、背散射探測器和透射探測器的探測信號,分析待測物體。
[0017]可選地,還包括控制器,用于控制懸臂的折疊和旋轉(zhuǎn)。
[0018]這樣的安檢設(shè)備具有前散射探測器,配合背散射探測器一起使用能夠減少探測死角,優(yōu)化對射線源對側(cè)內(nèi)部信息的探測;配合透射探測器一起使用,能夠?qū)崿F(xiàn)同時對高密度和低密度物質(zhì)的探測;將前散射探測器、背散射探測器以及透射探測器一同使用,能夠在減少探測死角的同時,實現(xiàn)同時對高密度和低密度物質(zhì)的探測,進一步優(yōu)化了對待測物體的探測效果,提高了探測的準(zhǔn)確度。
[0019]根據(jù)本發(fā)明的另一個方面,提出一種射線探測方法,包括:利用射線發(fā)射器向待測物體發(fā)射扇形射線束和飛點射線束;通過探測器獲取探測數(shù)據(jù),包括:通過前散射探測器獲取探測待測物體的前散射數(shù)據(jù);還包括:通過透射探測器獲取探測待測物體的透射數(shù)據(jù);和/或,通過背散射探測器獲取探測待測物體的背散射數(shù)據(jù);根據(jù)前散射數(shù)據(jù),以及背散射數(shù)據(jù)和/或透射數(shù)據(jù)獲取探測信息。
[0020]可選地,利用射線發(fā)射器向待測物體發(fā)射扇形射線束和飛點射線束為:利用交替發(fā)射扇形射線束和飛點射線束的射線發(fā)射器,向待測物體發(fā)射射線。
[0021]可選地,還包括:根據(jù)探測信息顯示探測圖像;
[0022]可選地,還包括:根據(jù)所述探測信息標(biāo)注待測物體中的違禁物體或告警。
[0023]通過這樣的方法,獲取前散射數(shù)據(jù)配合背散射數(shù)據(jù),能夠減少探測死角,優(yōu)化對射線源對側(cè)內(nèi)部信息的探測;獲取前散射數(shù)據(jù)配合透射探測器一起使用,能夠?qū)崿F(xiàn)同時對高密度和低密度物質(zhì)的探測;將前散射數(shù)據(jù)、背散射數(shù)據(jù)和透射數(shù)據(jù)綜合考慮,能夠在減少探測死角的同時,實現(xiàn)同時對高密度和低密度物質(zhì)的探測。通過這樣的方式,優(yōu)化了對待測物體的探測效果,提高了探測的準(zhǔn)確度。
【附圖說明】
[0024]此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解,構(gòu)成本申請的一部分,本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明,并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0025]圖1為本發(fā)明的安檢設(shè)備的一個實施例的示意圖。
[0026]圖2為本發(fā)明的安檢設(shè)備中射線發(fā)射裝置的一個實施例的示意圖。
[0027]圖3a為本發(fā)明的透射探測器的一個實施例的示意圖。
[0028]圖3b為本發(fā)明的透射探測器的另一個實施例的示意圖。
[0029]圖3c為本發(fā)明的透射探測器的又一個實施例的示意圖。
[0030]圖3d為本發(fā)明的透射探測器的再一個實施例的示意圖。
[0031]圖4為本發(fā)明的安檢設(shè)備的另一個實施例的示意圖。
[0032]圖5為本發(fā)明的安檢設(shè)備的又一個實施例的示意圖。
[0033]圖6為本發(fā)明的射線探測方法的一個實施例的流程圖。
【具體實施方式】
[0034]下面通過附圖和實施例,對本發(fā)明的技術(shù)方案做進一步的詳細(xì)描述。
[0035]本發(fā)明的安檢設(shè)備的一個實施例的示意圖如圖1所示。其中,1為射線發(fā)射裝置,向待測物體5發(fā)出射線6。安檢設(shè)備的射線探測器包括前散射探測器4,位于待測物體5相對于射線發(fā)射裝置1的對側(cè),能夠獲取前散射數(shù)據(jù)。射線探測器還可以包括透射探測器4,位于待測物體相對于射線發(fā)射裝置的對側(cè),能夠獲取透射數(shù)據(jù)。射線探測器還可以包括背散射探測器2,位于待測物體5與射線發(fā)射裝置1之間,能夠獲取背散射數(shù)據(jù)。
[0036]這樣的安檢設(shè)備具有前散射探測器,配合背散射探測器一起使用能夠減少探測死角,優(yōu)化對射線源對側(cè)內(nèi)部信息的探測;配合透射探測器一起使用,能夠?qū)崿F(xiàn)同時對高密度和低密度物質(zhì)的探測;將前散射探測器、背散射探測器以及透射探測器一同使用,能夠在減少探測死角的同時,實現(xiàn)同時對高密度和低密度物質(zhì)的探測,進一步優(yōu)化了對待測物體的探測效果,提高了探測的準(zhǔn)確度。
[0037]在一個實施例中,射線發(fā)射裝置能夠發(fā)出扇形射線束和飛點射線束。扇形射線束穿過待測物體到達透射探測器,以便透射探測器獲取透射數(shù)據(jù)。飛點射線束經(jīng)待測物體散射后到達前散射探測器、背散射探測器,以便獲取前散射數(shù)據(jù)、背散射數(shù)據(jù)。
[0038]這樣的安檢設(shè)備能夠發(fā)出兩種射線束,分別供獲取透射探測器和散射探測器獲取透射數(shù)據(jù)和散射數(shù)據(jù),提高了檢測速度,優(yōu)化了探測效果。
[0039]本發(fā)明安檢設(shè)備的射線發(fā)射裝置的示意圖如圖2所示。其中,11為射線源,位于射線發(fā)射裝置的中央,向待測物體方向發(fā)射射線。射線發(fā)射裝置還包括空間調(diào)制器,位于射線源與背散射探測器之間,能夠調(diào)整射線源11發(fā)射出的射線,從而控制射線發(fā)射裝置發(fā)射出的射線。在一個實施例中,空間調(diào)制器包括固定屏蔽板12和旋轉(zhuǎn)屏蔽體13。其中,固定屏蔽板12使射線源11產(chǎn)生的射線以預(yù)定角度朝預(yù)定方向發(fā)射,預(yù)定角度可以為120度;旋轉(zhuǎn)屏蔽體位于待測物體與固定屏蔽板之間。旋轉(zhuǎn)屏蔽體上具有縫隙15和通孔14,且旋轉(zhuǎn)屏蔽體以預(yù)定速率旋轉(zhuǎn)。當(dāng)射線通過通孔14時,形成飛點射線束;當(dāng)射線通過縫隙15時,形成扇形射線束。射線發(fā)射裝置發(fā)射出的射線隨時間變化。在一個實施例中,旋轉(zhuǎn)屏蔽體上具有至少一個縫隙和至少一個通孔,可以根據(jù)需要設(shè)置縫隙和通孔的數(shù)量。
[0040]這樣的安檢設(shè)備,其射線發(fā)射裝置能夠周期性的形成扇形射線束和飛點射線束,分別用于透射探測和散射探測,可以使用單個射線發(fā)射裝置實現(xiàn)兩種射線束的發(fā)射,減小了安檢設(shè)備的體積,且為同時獲取透射數(shù)據(jù)和散射數(shù)據(jù)創(chuàng)造了條件。
[0041]在一個實施例中,本發(fā)明的透射探測器包括多個探測器模塊,根據(jù)每個探測器模塊在透射探測器的位置的不同,每個探測器模塊的安放角度與射線入射方向相適應(yīng)。在一個實施例中,調(diào)整探測器模塊的探測面垂直于射線入射方向。這樣的透射探測器與以往的探測器模塊規(guī)整平行的排列不同,不同的探測器模塊的安放角度不同,以便更好的接收穿過待測物體的射線,從而能夠減少探測死角。
[0042]在一個實施例中,透射探測器的示意圖如圖3a所示。平板形的透射探測器3中包括多個探測器模塊31,射線6穿過待測物體到達透射探測器3,每個探測器模塊31的傾斜角度因高度、位置的不同而不同。這樣的透射探測器總體形狀為平板形,便于安裝,內(nèi)部以探測器模塊為單位調(diào)整角度,使
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