測(cè)試支架、掃描儀橫梁及藝術(shù)品鑒定方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本申請(qǐng)涉及測(cè)試儀器技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種測(cè)試支架、掃描儀橫梁及藝術(shù)品鑒定方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著藝術(shù)品市場(chǎng)的繁榮興盛，越來越多的投資者開始關(guān)注藝術(shù)品投資領(lǐng)域，藝術(shù)品投資不僅能滿足大眾精神文化的需要，還能起到保值和財(cái)富傳承的作用?？墒请S之而來卻是假貨、仿品等的盛行，造假、作偽涉及藝術(shù)品收藏的各個(gè)門類，陶瓷、玉器、錢幣、青銅器、字畫及各類雜項(xiàng)都有，尤其在歷史上出產(chǎn)相關(guān)資源的地域，造假興盛，形成產(chǎn)業(yè)。因此，藝術(shù)品的防偽鑒定就顯得尤為重要。
[0003]目前，一種對(duì)藝術(shù)品的防偽鑒定方法是預(yù)先利用高清掃描儀對(duì)原作進(jìn)行科技備案，在驗(yàn)證待檢測(cè)物品是否為原作時(shí)，通過待檢測(cè)物品與原作的圖像比對(duì)得出相似率來鑒定，有時(shí)為了更準(zhǔn)確的鑒定，還會(huì)結(jié)合例如拉曼光譜、能譜等譜圖比對(duì)的方法，這是識(shí)別原作與贗品的有效手段。然而，由于各測(cè)試儀器之間相互獨(dú)立，在驗(yàn)證操作時(shí)效率較低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為解決上述技術(shù)問題，本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種測(cè)試支架、掃描儀橫梁及藝術(shù)品鑒定方法，能夠在一個(gè)測(cè)試儀器上實(shí)現(xiàn)其它測(cè)試儀器的掛接，從而提高測(cè)試效率。技術(shù)方案如下:
[0005]一方面，提供一種測(cè)試支架，包括橫梁、支撐板和活動(dòng)板；所述橫梁連接在第一測(cè)試儀器上，所述橫梁至少一側(cè)連接有所述支撐板，所述支撐板的表面上連接有所述活動(dòng)板，所述活動(dòng)板在所述支撐板上的位置可調(diào)節(jié)，所述活動(dòng)板在遠(yuǎn)離所述支撐板的表面上設(shè)置有安裝第二測(cè)試儀器的安裝孔。
[0006]進(jìn)一步，所述支撐板的表面上安裝有第一控制模塊和與所述第一控制模塊連接的第一電機(jī)，所述第一控制模塊接收控制信號(hào)并控制所述第一電機(jī)的運(yùn)轉(zhuǎn)；所述第一電機(jī)的輸出端連接第一長(zhǎng)螺桿，所述第一電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)帶動(dòng)所述第一長(zhǎng)螺桿沿所述第一長(zhǎng)螺桿的中心軸轉(zhuǎn)動(dòng)；所述活動(dòng)板在靠近所述支撐板的一側(cè)設(shè)置有容許所述第一長(zhǎng)螺桿穿過的通孔，所述通孔內(nèi)壁上具有與所述第一長(zhǎng)螺桿相配合的螺紋。
[0007]進(jìn)一步，所述支撐板的表面上還設(shè)置有第一滑動(dòng)裝置，所述活動(dòng)板在靠近所述支撐板的一側(cè)還設(shè)置有與所述第一滑動(dòng)裝置相匹配的第二滑動(dòng)裝置。
[0008]進(jìn)一步，所述橫梁與橫跨所述橫梁的支撐架連接，所述支撐架至少一側(cè)連接有所述支撐板，且所述支撐架在所述橫梁上的位置可調(diào)節(jié)。
[0009]進(jìn)一步，所述橫梁的一端安裝有第二控制模塊和與所述第二控制模塊連接的第二電機(jī)，所述第二控制模塊接收控制信號(hào)并控制所述第二電機(jī)的運(yùn)轉(zhuǎn)；所述第二電機(jī)的輸出端與所述橫梁的另一端之間連接有第二長(zhǎng)螺桿，所述第二電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)帶動(dòng)所述第二長(zhǎng)螺桿沿所述第二長(zhǎng)螺桿的中心軸轉(zhuǎn)動(dòng)；所述支撐架在靠近所述橫梁的一側(cè)設(shè)置有容許所述第二長(zhǎng)螺桿穿過的通孔，所述通孔內(nèi)壁上具有與所述第二長(zhǎng)螺桿相配合的螺紋。
[0010]進(jìn)一步，所述橫梁上還設(shè)置有第三滑動(dòng)裝置，所述支撐架在靠近所述橫梁的一側(cè)還設(shè)置有與所述第三滑動(dòng)裝置相匹配的第四滑動(dòng)裝置。
[0011]進(jìn)一步，所述活動(dòng)板在遠(yuǎn)離所述支撐板的表面上連接有安裝板，所述安裝板上設(shè)置有安裝所述第二測(cè)試儀器的安裝孔。
[0012]第二方面，提供一種掃描儀橫梁，所述橫梁至少一側(cè)連接有支撐板，所述支撐板的表面上連接有活動(dòng)板，所述活動(dòng)板在所述支撐板上的位置可調(diào)節(jié)，所述活動(dòng)板在遠(yuǎn)離所述支撐板的表面上設(shè)置有安裝第二測(cè)試儀器的安裝孔。
[0013]進(jìn)一步，所述支撐板的表面上安裝有第一控制模塊和與所述第一控制模塊連接的第一電機(jī)，所述第一控制模塊接收控制信號(hào)并控制所述第一電機(jī)的運(yùn)轉(zhuǎn)；所述第一電機(jī)的輸出端連接第一長(zhǎng)螺桿，所述第一電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)帶動(dòng)所述第一長(zhǎng)螺桿沿所述第一長(zhǎng)螺桿的中心軸轉(zhuǎn)動(dòng)；所述活動(dòng)板在靠近所述支撐板的一側(cè)設(shè)置有容許所述第一長(zhǎng)螺桿穿過的通孔，所述通孔內(nèi)壁上具有與所述第一長(zhǎng)螺桿相配合的螺紋。
[0014]進(jìn)一步，所述支撐板的表面上還設(shè)置有第一滑動(dòng)裝置，所述活動(dòng)板在靠近所述支撐板的一側(cè)還設(shè)置有與所述第一滑動(dòng)裝置相匹配的第二滑動(dòng)裝置。
[0015]進(jìn)一步，所述橫梁與橫跨所述橫梁的支撐架連接，所述支撐架至少一側(cè)連接有所述支撐板，且所述支撐架在所述橫梁上的位置可調(diào)節(jié)。
[0016]進(jìn)一步，所述橫梁的一端安裝有第二控制模塊和與所述第二控制模塊連接的第二電機(jī)，所述第二控制模塊接收控制信號(hào)并控制所述第二電機(jī)的運(yùn)轉(zhuǎn)；所述第二電機(jī)的輸出端與所述橫梁的另一端之間連接有第二長(zhǎng)螺桿，所述第二電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)帶動(dòng)所述第二長(zhǎng)螺桿沿所述第二長(zhǎng)螺桿的中心軸轉(zhuǎn)動(dòng)；所述支撐架在靠近所述橫梁的一側(cè)設(shè)置有容許所述第二長(zhǎng)螺桿穿過的通孔，所述通孔內(nèi)壁上具有與所述第二長(zhǎng)螺桿相配合的螺紋。
[0017]進(jìn)一步，所述橫梁上還設(shè)置有第三滑動(dòng)裝置，所述支撐架在靠近所述橫梁的一側(cè)還設(shè)置有與所述第三滑動(dòng)裝置相匹配的第四滑動(dòng)裝置。
[0018]進(jìn)一步，所述活動(dòng)板在遠(yuǎn)離所述支撐板的表面上連接有安裝板，所述安裝板上設(shè)置有安裝所述第二測(cè)試儀器的安裝孔。
[0019]第三方面，提供一種掃描儀，所述掃描儀包括如上所述的掃描儀橫梁。
[0020]第四方面，提供一種藝術(shù)品鑒定方法，包括:
[0021]采用掃描儀對(duì)待檢測(cè)物進(jìn)行粗掃描，獲得第一掃描數(shù)據(jù)；
[0022]調(diào)取預(yù)存儲(chǔ)的與所述第一掃描數(shù)據(jù)匹配的備案數(shù)據(jù)；
[0023]獲取所述備案數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)；
[0024]根據(jù)所述特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)，確定所述待檢測(cè)物上的特定檢測(cè)點(diǎn)；
[0025]根據(jù)所述特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)對(duì)所述特定檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行精細(xì)掃描，獲得第二掃描數(shù)據(jù)；
[0026]當(dāng)所述特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)與所述第二掃描數(shù)據(jù)的相似度大于或等于閾值時(shí)，確定所述待檢測(cè)物為真品。
[0027]進(jìn)一步，所述根據(jù)所述特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)，確定所述待檢測(cè)物上的特定檢測(cè)點(diǎn)，包括:
[0028]在所述第一掃描數(shù)據(jù)與所述備案數(shù)據(jù)中建立相同的坐標(biāo)系；
[0029]根據(jù)所述特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)確定所述特定點(diǎn)的坐標(biāo)；
[0030]根據(jù)所述特定點(diǎn)的坐標(biāo)，確定所述待檢測(cè)物上的特定檢測(cè)點(diǎn)。
[0031]進(jìn)一步，所述根據(jù)所述特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)，確定所述待檢測(cè)物上的特定檢測(cè)點(diǎn)，包括:
[0032]在所述備案數(shù)據(jù)中截取與所述特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的特定點(diǎn)的粗掃描圖像；
[0033]在所述第一掃描數(shù)據(jù)中搜索與所述特定點(diǎn)的粗掃描圖像匹配的圖像；
[0034]根據(jù)搜索到的圖像確定所述待檢測(cè)物上的特定檢測(cè)點(diǎn)。
[0035]進(jìn)一步，所述掃描儀具有如權(quán)利要求8至14中任意一項(xiàng)所述的掃描儀橫梁，所述活動(dòng)板上安裝有測(cè)試儀探頭。
[0036]進(jìn)一步，所述方法還包括:
[0037]當(dāng)所述特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)與所述第二掃描數(shù)據(jù)的相似度小于所述閾值時(shí)，獲取所述備案數(shù)據(jù)中預(yù)存儲(chǔ)的備用檢測(cè)點(diǎn)及其檢測(cè)譜圖；
[0038]在所述待檢測(cè)物上選擇與所述備用檢測(cè)點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的備用測(cè)試點(diǎn)；
[0039]控制所述橫梁在所述掃描儀上的位置，并輸出控制信號(hào)至所述第一控制模塊和所述第二控制模塊，控制所述第一電機(jī)和所述第二電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)，將所述測(cè)試儀探頭調(diào)整至所述備用測(cè)試點(diǎn)上方；
[0040]利用所述測(cè)試儀探頭對(duì)所述備用測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)，獲得所述備用測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試譜圖；
[0041]當(dāng)所述備用測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試譜圖與預(yù)存儲(chǔ)的所述備用檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)譜圖相似度大于閾值時(shí)，確定所述待檢測(cè)物為真品。
[0042]進(jìn)一步，所述測(cè)試儀探頭至少為下列之一:
[0043]拉曼光譜儀探頭、能譜儀探頭、色譜儀探頭。
[0044]第五方面，提供一種藝術(shù)品鑒定系統(tǒng)，包括:
[0045]第一掃描控制單元，用于通過掃描儀對(duì)待檢測(cè)物進(jìn)行粗掃描，獲得第一掃描數(shù)據(jù)；
[0046]數(shù)據(jù)調(diào)取單元，用于調(diào)取預(yù)存儲(chǔ)的與所述第一掃描數(shù)據(jù)匹配的備案數(shù)據(jù)；
[0047]數(shù)據(jù)獲取單元，用于獲取所述備案數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)；
[0048]檢測(cè)點(diǎn)確定單元，用于根據(jù)所述特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)，確定所述待檢測(cè)物上的特定檢測(cè)點(diǎn)；
[0049]第二掃描控制單元，用于根據(jù)所述特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)對(duì)所述特定檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行精細(xì)掃描，獲得第二掃描數(shù)據(jù)；
[0050]鑒定單元，用于當(dāng)所述特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)與所述第二掃描數(shù)據(jù)的相似度大于或等于閾值時(shí)，確定所述待檢測(cè)物為真品。
[0051]進(jìn)一步，所述檢測(cè)點(diǎn)確定單元包括:
[0052]建系子單元，用于在所述第一掃描數(shù)據(jù)與所述備案數(shù)據(jù)中建立相同的坐標(biāo)系；
[0053]坐標(biāo)確定子單元，用于根據(jù)所述特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)確定所述特定點(diǎn)的坐標(biāo)；
[0054]點(diǎn)確定子單元，用于根據(jù)所述特定點(diǎn)的坐標(biāo)，確定所述待檢測(cè)物上的特定檢測(cè)點(diǎn)。
[0055]進(jìn)一步，所述檢測(cè)點(diǎn)確定單元包括:
[0056]截取子單元，用于在所述備案數(shù)據(jù)中截取與所述特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的特定點(diǎn)的粗掃描圖像；
[0057]搜索子單元，用于在所述第一掃描數(shù)據(jù)中搜索與所述特定點(diǎn)的粗掃描圖像匹配的圖像；
[0058]確定子單元，用于根據(jù)搜索到的圖像確定所述待檢測(cè)物上的特定檢測(cè)點(diǎn)。
[0059]進(jìn)一步，所述掃描儀具有如權(quán)利要求8至14中任意一項(xiàng)所述的掃描儀橫梁，所述活動(dòng)板上安裝有測(cè)試儀探頭。
[0060]進(jìn)一步，所述系統(tǒng)還包括:
[0061]譜圖調(diào)取單元，用于當(dāng)所述鑒定單元確定所述特定點(diǎn)圖像數(shù)據(jù)與所述第二掃描數(shù)據(jù)的相似度小于所述閾值時(shí)，獲取所述備案數(shù)據(jù)中預(yù)存儲(chǔ)的備用檢測(cè)點(diǎn)及其檢測(cè)譜圖；
[0062]備用點(diǎn)確定單元，用于在所述待檢測(cè)物上選擇與所述備用檢測(cè)點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的備用測(cè)試點(diǎn)；
[0063]橫梁附件控制單元，用于控制所述橫梁在所述掃描儀上的位置，并輸出控制信號(hào)至所述第一控制模塊和所述第二控制模