專利名稱：一種自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點的裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測試領(lǐng)域，更確切地說，涉及一種自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點的裝置及方法。
背景技術(shù)：
邊界掃描技術(shù)通過在器件輸入輸出管腳與內(nèi)核電路之間置入邊界掃描單元來提高器件的可控性和可觀察性，革新了器件及其外圍電路的測試方式。它的提出是為了解決電路板上互連測試的問題，后來發(fā)展到應(yīng)用于邏輯芯片的在板編程和FLASH的在板編程等多種場合。目前，絕大多數(shù)芯片都支持邊界掃描測試。
為便于敘述，將與本發(fā)明有關(guān)的邊界掃描相關(guān)縮略語和術(shù)語列舉如下JTAGJoint Test Action Group，聯(lián)合測試行動組；BSBoundary Scan，邊界掃描；BSCBoundary Scan Cell，邊界掃描單元；TCKTest ClocK，測試時鐘；TAPTest Access Port，測試存取端口；TDITest Data Input，測試數(shù)據(jù)輸入；TDOTest Data Output，測試數(shù)據(jù)輸出；TMSTest Mode Select，測試模式選擇；TRSTTest Reset，測試復(fù)位；BSDLBoundary-Scan Description Language，邊界掃描描述語言。
如圖1所示，一個邊界掃描測試系統(tǒng)通常由計算機11、邊界掃描測試控制器12和被測電路板13三部分組成。其中計算機11可以是個人計算機、便攜機、工作站等。邊界掃描測試控制器12通過PCI、ISA、USB等接口與計算機11通信，將計算機11發(fā)送的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為邊界掃描所需的數(shù)據(jù)格式，并產(chǎn)生TCK信號；同時，邊界掃描測試控制器12通過測試存取端口(TAP)與被測電路板13相連進行邊界掃描測試相關(guān)的數(shù)據(jù)傳輸，傳輸?shù)臄?shù)據(jù)包括測試模式選擇(TMS)、測試時鐘(TCK)、測試數(shù)據(jù)輸入(TDI)、測試復(fù)位(TRST)、測試數(shù)據(jù)輸出(TDO)數(shù)據(jù)等。
在邊界掃描測試系統(tǒng)中，在對多個邊界掃描芯片進行測試時，通常將它們連成一條邊界掃描鏈，如圖2所示。其中測試激勵的數(shù)據(jù)通過TDI端口輸入，測試響應(yīng)的數(shù)據(jù)通過測試數(shù)據(jù)輸出端口回收。由于測試信號從被測電路板13的輸出端到邊界掃描測試控制器12之間存在較大的傳輸延遲，因此邊界掃描測試控制器12在對回收的數(shù)據(jù)進行采樣時要進行適當(dāng)?shù)难訒r，以獲得對應(yīng)測試數(shù)據(jù)輸入的測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)同步采樣點。測試控制器一般來說至少延遲半個TCK周期采樣，此時的測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)時序如圖3所示，邊界掃描測試控制器12在第一個時鐘周期的下降沿開始采樣。
但是當(dāng)被測板上最后一個器件的測試數(shù)據(jù)輸出端口到邊界掃描測試控制器12之間的傳輸距離較遠時，傳輸延遲將會增大。如果在上述傳輸鏈路中存在驅(qū)動芯片，還會進一步產(chǎn)生延遲。在這種情況下，繼續(xù)使用延遲半個TCK周期采樣將會導(dǎo)致采樣數(shù)據(jù)錯誤。為避免錯誤，應(yīng)將采樣點進行調(diào)整，向后延遲相應(yīng)的時間。圖4和圖5分別為測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)被延遲了半個周期和一個半周期時，為保證正確采得輸出數(shù)據(jù)所需的測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點位置。由圖4和圖5可見，如果采樣點選擇錯誤，將無法獲得正確的測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)。
上述圖3、圖4、圖5都是針對采樣時鐘為TCK的情況，實際應(yīng)用中也可以利用其它時鐘信號進行采樣，只要令采樣時鐘與測試時鐘TCK為倍頻的關(guān)系即可。采樣時鐘的頻率越高，采樣點的調(diào)整就越精確。
目前測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點的調(diào)整都是人工完成的，過程通常為將延遲半個TCK周期的采樣點作為初始的采樣點，發(fā)現(xiàn)測試或編程失敗時就人工將測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)同步采樣點向后延遲一定時間，再失敗再延遲一些，直至成功為止?，F(xiàn)有技術(shù)的這種人工干預(yù)方法的缺點是顯而易見的效率低下、使用成本高、不利于大規(guī)模自動測試的實現(xiàn)。

發(fā)明內(nèi)容
為避免邊界掃描測試過程中的人工干預(yù)，提高效率，降低測試人力和時間成本，實現(xiàn)自動測試，本發(fā)明實施例創(chuàng)造性地提出了一種自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點的裝置，包括有掃描單元，用于使用測試數(shù)據(jù)對掃描鏈路進行掃描，并根據(jù)掃描結(jié)果判斷采樣點是否可靠，并在采樣點可靠時輸出測試成功信息；調(diào)整單元，用于設(shè)置掃描單元的初始采樣點，并在掃描單元確定采樣點不可靠時使所設(shè)置的采樣點延遲預(yù)定時間；第一判斷單元，用于判斷所述調(diào)整單元設(shè)置的采樣點時間值是否低于預(yù)定的下限并在確定采樣點時間值不低于預(yù)定的下限時將所述設(shè)置的采樣點發(fā)送到掃描單元，并在確定延遲預(yù)定時間后的采樣點時間值低于預(yù)定采樣點下限時，輸出測試失敗的信息。
本發(fā)明的實施例還提供一種自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點的方法，包括以下步驟(a)采樣點設(shè)置為測試數(shù)據(jù)輸出同步采樣點；(b)在向被測鏈路輸入測試數(shù)據(jù)，執(zhí)行測試操作并在當(dāng)前采樣點下判斷當(dāng)前采樣點是否可靠，若當(dāng)前采樣點可靠，則執(zhí)行步驟(c)；若當(dāng)前采樣點不可靠，則執(zhí)行步驟(d)；(c)輸出測試成功消息；(d)使當(dāng)前采樣點延遲預(yù)定時間，并判斷判斷延遲預(yù)定時間后的當(dāng)前采樣點是否低于預(yù)定的下限，若當(dāng)前采樣點低于下限則執(zhí)行步驟(e)；若當(dāng)前采樣點不低于下限，執(zhí)行步驟(b)；(e)輸出測試失敗消息。
通過使用本方法，避免了測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)同步采樣點調(diào)整過程中的人工干預(yù)，提高了應(yīng)用效率，增加了芯片測試的自動化程度；在生產(chǎn)中可以提高生產(chǎn)效率，降低人力投入和人工干預(yù)的時間成本。


下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明實施例作進一步說明，附圖中圖1是現(xiàn)有邊界掃描測試系統(tǒng)構(gòu)成示意圖；圖2是現(xiàn)有的由三個個邊界掃描芯片組成的一條邊界掃描鏈路示意圖；圖3是在第一個時鐘周期的TCK下降沿采樣圖2中鏈路測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)的示意圖；圖4是在第二個時鐘周期的TCK上升沿采樣圖2中鏈路測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)的示意圖；圖5是在第三個時鐘周期的TCK下降沿采樣圖2中鏈路測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)的示意圖；圖6是現(xiàn)有的邊界掃描芯片結(jié)構(gòu)示意圖。
圖7是本發(fā)明自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點裝置的實施例的結(jié)構(gòu)框圖；圖8是圖7中掃描單元的第一實施例的結(jié)構(gòu)框圖；圖9是圖7中掃描單元的第二實施例的結(jié)構(gòu)框圖；圖10是圖7中掃描單元的第三實施例的結(jié)構(gòu)框圖；圖11是本發(fā)明自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點方法的第一實施例的流程圖。
具體實施例方式
測試中涉及的邊界掃描芯片構(gòu)成的掃描鏈路如圖2所示，圖2只有三個芯片，有一個或多個芯片的掃描鏈路與此類似，每個芯片的測試數(shù)據(jù)輸出信號作為鏈路中相鄰下一個芯片的測試數(shù)據(jù)輸入(如果下一個芯片存在的話)。其中每個芯片的結(jié)構(gòu)示意圖如圖6所示。
從圖6的芯片結(jié)構(gòu)可以看出，測試數(shù)據(jù)從輸入到輸出可以有兩條路徑一條路徑經(jīng)過指令寄存器，即測試數(shù)據(jù)輸入端口→指令寄存器→測試數(shù)據(jù)輸出端口，各芯片均采用此路徑構(gòu)成的鏈路稱為指令寄存器鏈路；
另一條路徑經(jīng)過邊界掃描單元(BSC)，即測試數(shù)據(jù)輸入端口→BSC→……→BSC→測試數(shù)據(jù)輸出端口，各芯片均采用此路徑構(gòu)成的鏈路稱為邊界掃描單元鏈路。
這兩條路徑的長度也就是指令寄存器的長度和BSC的個數(shù)都可以從BSDL(Boundary-Scan Description Language，邊界掃描描述語言)文件中自動獲取。
如圖7所示，是本發(fā)明自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點的裝置實施例的結(jié)構(gòu)框圖。在本實施例中，自動調(diào)整測試測試數(shù)據(jù)輸出采樣點的裝置包括有掃描單元73、設(shè)置單元74、第一判斷單元76。
掃描單元73，用于對掃描鏈路進行掃描，并根據(jù)掃描結(jié)果判斷采樣點是否可靠，并在采樣點可靠時輸出測試成功信息。在本實施例中，掃描單元73使用測試數(shù)據(jù)在同一采樣點下對掃描鏈路進行多次掃描。若掃描單元73在多次掃描時，在同一采樣點下每次測試數(shù)據(jù)輸出端口輸出的數(shù)據(jù)等于輸入的測試數(shù)據(jù)，則表示當(dāng)前采樣點可靠；若任一次測試數(shù)據(jù)輸出端口輸出的數(shù)據(jù)不等于輸入的測試數(shù)據(jù)，則表示該采樣點不可靠。對于在同一采樣點下判斷的次數(shù)可以根據(jù)系統(tǒng)對可靠性的要求和測試時間進行選擇，例如10次，也可以是其它自然數(shù)。通常可靠性要求越高，掃描次數(shù)越多；測試時間越長，進行掃描次數(shù)可以越多。
在本實施例中，掃描單元73通過一個連接裝置連接到掃描鏈路上的測試存取端口(Test Access Port，TAP)，從而將測試數(shù)據(jù)及TCK頻率輸入到掃描鏈路的測試數(shù)據(jù)輸入端口和測試時鐘，并通過該測試數(shù)據(jù)輸出端口獲得輸出數(shù)據(jù)。在實際應(yīng)用中，連接裝置可以為JTAG控制器。
調(diào)整單元74，用于設(shè)置掃描單元73的初始采樣點，并在掃描單元73確定當(dāng)前采樣點不可靠時將所設(shè)置的采樣點延遲預(yù)定時間。調(diào)整單元74將掃描單元73的采樣點的初始值設(shè)置為測試數(shù)據(jù)輸入端口數(shù)據(jù)延遲半個時鐘周期Ts，并在掃描單元73確定采樣點不可靠時，將采樣點延遲預(yù)定時間，生成新的采樣點，并將新的采樣點發(fā)送到第一判斷單元76。
調(diào)整單元74對采樣點每次延遲時間的幅度，即上述的預(yù)定時間值，可以根據(jù)測試的需要進行調(diào)節(jié)，例如每次延遲半個TCK周期或者1/4個TCK周期，也可以是任何相應(yīng)的數(shù)值。通?？煽啃砸笤礁?，每次延遲時間的幅度越小。
第一判斷單元76，用于判斷所述調(diào)整單元74設(shè)置的采樣點的時間值是否低于預(yù)定的下限并在確定采樣點時間值不低于預(yù)定的下限時將所述設(shè)置的采樣點發(fā)送到掃描單元73，并在確定延遲預(yù)定時間后的采樣點時間值低于預(yù)定采樣點下限時，輸出測試失敗的信息。該預(yù)定下限為預(yù)定的邊界掃描測試可以接受的采樣點時間下限。上述的預(yù)定下限是根據(jù)掃描鏈路長度、信號傳輸距離、芯片類型和性能等共同確定的一個可接受的延遲范圍，可預(yù)先設(shè)定，當(dāng)遲于這個時間點仍沒有可靠的測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點時，繼續(xù)尋找將無意義。
如圖8所示，是圖7中掃描單元73第一實施例的詳細結(jié)構(gòu)示意圖。在本實施例中，掃描單元73用于掃描指令寄存器鏈路，其具體包括第一指令單元81、第二判斷單元82及第三判斷單元83。
第一指令單元81用于掃描指令寄存器鏈路，也就是將數(shù)據(jù)由測試數(shù)據(jù)輸入端口輸入，經(jīng)由指令寄存器，并由測試數(shù)據(jù)輸出端口輸出。第二判斷單元82用于在調(diào)整單元74設(shè)置的采樣點下，根據(jù)測試數(shù)據(jù)輸出端口的輸出數(shù)據(jù)，判斷當(dāng)前采樣點是否可靠，即判斷測試數(shù)據(jù)輸出端口輸出的數(shù)據(jù)是否與輸入的測試數(shù)據(jù)相同(在本實施例中，第四判斷單元92的初始采樣點為Ts)，若不相同，則向調(diào)整單元74發(fā)送信號，由調(diào)整單元74使當(dāng)前采樣點延遲預(yù)定時間，并使第一指令單元81繼續(xù)掃描指令寄存器鏈路，第二判斷單元82判斷延遲預(yù)定時間后的采樣點是否可靠；若相同則由第三判斷單元83進一步判斷第一指令單元81在當(dāng)前采樣點下掃描的次數(shù)是否達到預(yù)定次數(shù)，若達到則輸出測試成功信息，否則由第二判斷單元82繼續(xù)在當(dāng)前采樣點下判斷當(dāng)前采樣點是否可靠。
如圖9所示，是圖7中掃描單元73第二實施例的詳細結(jié)構(gòu)示意圖。在本實施例中，掃描單元73具體包括第一數(shù)據(jù)單元91、第四判斷單元92及第五判斷單元93。
第一數(shù)據(jù)單元91用于進行邊界掃描鏈路掃描，也就是將數(shù)據(jù)由測試數(shù)據(jù)輸入端口輸入，依次經(jīng)由各個邊界掃描單元，并由測試數(shù)據(jù)輸出端口輸出。第四判斷單元92用于在調(diào)整單元74設(shè)置的采樣點下根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)單元91的掃描結(jié)果判斷該采樣點是否可靠，即判斷在當(dāng)前采樣點下測試數(shù)據(jù)輸出端口輸出的數(shù)據(jù)是否等于輸入的測試數(shù)據(jù)(在本實施例中，第四判斷單元92的初始采樣點為Ts)，若不等于，則向調(diào)整單元74發(fā)送信號，由調(diào)整單元74使當(dāng)前采樣點延遲預(yù)定時間，并使第一數(shù)據(jù)單元91繼續(xù)掃描指令寄存器鏈路，第四判斷單元92判斷延遲預(yù)定時間后的采樣點是否可靠；若等于由第五判斷單元93進一步判斷第一數(shù)據(jù)單元91在當(dāng)前采樣點下掃描的次數(shù)是否達到預(yù)定次數(shù)，若達到則輸出測試成功信息，否則由第四判斷單元92繼續(xù)在當(dāng)前采樣點下判斷當(dāng)前采樣點是否可靠。
如圖10所示，是圖7中掃描單元73第三實施例的詳細結(jié)構(gòu)示意圖。在本實施例中，掃描單元73用于掃描指令寄存器鏈路及邊界掃描單元鏈路，其具體包括第二指令單元101、第六判斷單元102、第七判斷單元103、第二數(shù)據(jù)單元105、第八判斷單元104及第九判斷單元106。
第二指令單元101用于掃描指令寄存器鏈路，也就是將測試數(shù)據(jù)由測試數(shù)據(jù)輸入端口輸入，經(jīng)由指令寄存器，并由測試數(shù)據(jù)輸出端口輸出。第六判斷單元62用于在調(diào)整單元74設(shè)置的采樣點下根據(jù)第二指令單元101的掃描結(jié)果判斷當(dāng)前采樣點是否可靠，即判斷測試數(shù)據(jù)輸出端口輸出的數(shù)據(jù)是否等于輸入的測試數(shù)據(jù)(在本實施例中，第四判斷單元92的初始采樣點為Ts)，若不等于，則向調(diào)整單元74發(fā)送信號，由調(diào)整單元74使當(dāng)前采樣點延遲預(yù)定時間，并由第二指令單元101繼續(xù)掃描指令寄存器鏈路，第六判斷單元102判斷延遲預(yù)定時間后的采樣點是否可靠；若等于則由第七判斷單元103進一步判斷第二指令單元101在當(dāng)前采樣點下掃描的次數(shù)是否達到預(yù)定次數(shù)，若達到則由第二數(shù)據(jù)單元105進行邊界掃描單元鏈路掃描；否則向第二指令單元101發(fā)送信號，第二指令單元101繼續(xù)掃描指令寄存器鏈路。
第二數(shù)據(jù)單元105用于掃描邊界掃描單元鏈路。該第二數(shù)據(jù)單元105在第七判斷單元103判斷指令掃描達到預(yù)定次數(shù)后，將測試數(shù)據(jù)由測試數(shù)據(jù)輸入端口輸入，經(jīng)由各個邊界掃描單元，并由測試數(shù)據(jù)輸出端口輸出。第八判斷單元104根據(jù)第二數(shù)據(jù)單元105的掃描結(jié)果，判斷第七判斷單元103確定達到預(yù)定次數(shù)指令掃描的采樣點是否可靠，即判斷測試數(shù)據(jù)輸出端口輸出的數(shù)據(jù)是否與輸入的測試數(shù)據(jù)相同，若不相同，則由調(diào)整單元74使采樣點延遲預(yù)定時間，并由第二指令單元101掃描指令寄存器鏈路；若相同則由第九判斷單元106進一步判斷第二數(shù)據(jù)單元105在當(dāng)前采樣點下掃描的次數(shù)是否達到預(yù)定次數(shù)，若達到則輸出測試成功信息，否則向第二數(shù)據(jù)單元105發(fā)送信號，第二數(shù)據(jù)單元105繼續(xù)在當(dāng)前采樣點下掃描邊界掃描單元鏈路。
同樣地，上述實施例中在同一采樣點下掃描的次數(shù)可以根據(jù)系統(tǒng)對可靠性的要求和測試時間進行選擇。
如圖7所示，是本發(fā)明自動調(diào)整測試時鐘頻率方法的第一實施例的流程圖。在本實施例中，聯(lián)合使用指令掃描和數(shù)據(jù)掃描對采樣點是否可靠進行判斷，具體包括以下步驟步驟701，獲取邊界掃描鏈路總的指令鏈路長度和總的邊界掃描單元長度。在該步驟中，可通過分析邊界掃描鏈路上各個邊界掃描芯片的BSDL文件或類似描述各邊界掃描芯片性能參數(shù)的文件實現(xiàn)，其中總的指令鏈路長度為各邊界掃描芯片的指令寄存器的長度的總和，總的邊界掃描單元長度為各邊界掃描芯片的BSC個數(shù)的總和。
步驟702，將采樣點設(shè)置為測試數(shù)據(jù)輸入端口數(shù)據(jù)延遲半個時鐘周期Ts。
步驟703，在設(shè)置的采樣點下使用測試數(shù)據(jù)執(zhí)行m次指令掃描，并判斷當(dāng)前采樣點是否可靠，即判斷測試數(shù)據(jù)輸出接口輸出的數(shù)據(jù)與測試數(shù)據(jù)輸入接口輸入的數(shù)據(jù)是否一致，其中輸入的掃描用數(shù)據(jù)可以是特定的數(shù)據(jù)如0x55AA等，也可以是隨機數(shù)據(jù)。如果任一次結(jié)果不一致則判定當(dāng)前采樣點不可靠，執(zhí)行步驟707；如果m次結(jié)果都一致則執(zhí)行步驟704。
上述的m次指令掃描可通過以下步驟實現(xiàn)(b11)將測試數(shù)據(jù)從測試數(shù)據(jù)輸入接口輸入，經(jīng)指令寄存器鏈路從測試數(shù)據(jù)輸出接口輸出；(b12)在當(dāng)前采樣點下判斷所述輸出數(shù)據(jù)與所述輸入數(shù)據(jù)是否一致，如果輸出數(shù)據(jù)與輸入數(shù)據(jù)不一致，則確定當(dāng)前采樣點不可靠，執(zhí)行步驟707；否則執(zhí)行步驟(b13)；
(b13)將當(dāng)前采樣點下使用測試數(shù)據(jù)掃描的次數(shù)加1，并判斷當(dāng)前采樣點下掃描的次數(shù)是否達到m次，如果當(dāng)前采樣點下的掃描次數(shù)達到m次，則確定當(dāng)前采樣點可靠，執(zhí)行步驟704；否則執(zhí)行步驟(b11)。
步驟704，在當(dāng)前采樣點下使用測試數(shù)據(jù)執(zhí)行n次數(shù)據(jù)掃描操作，并對從測試數(shù)據(jù)輸出接口輸出的數(shù)據(jù)與從測試數(shù)據(jù)輸入接口數(shù)據(jù)是否一致進行判斷，其中輸入的測試數(shù)據(jù)可以是特定的數(shù)據(jù)如0x55AA等，也可以是隨機數(shù)據(jù)。如果n次結(jié)果都一致則執(zhí)行步驟705；如果任一次結(jié)果不一致，則確定當(dāng)前采樣點不可靠，執(zhí)行步驟707。
上述的n次數(shù)據(jù)掃描可通過以下步驟實現(xiàn)(b21)將測試數(shù)據(jù)從測試數(shù)據(jù)輸入接口輸入，經(jīng)邊界掃描單元鏈路從測試數(shù)據(jù)輸出接口輸出；(b22)在當(dāng)前采樣點下判斷所述輸出數(shù)據(jù)與所述輸入數(shù)據(jù)是否一致，如果輸出數(shù)據(jù)與輸入數(shù)據(jù)不一致，則確定當(dāng)前采樣點不可靠，執(zhí)行步驟707；否則執(zhí)行步驟(b23)；(b23)將當(dāng)前采樣點下使用測試數(shù)據(jù)掃描的次數(shù)加1，并判斷掃描的次數(shù)是否達到n次，如果當(dāng)前采樣點下的掃描次數(shù)達到n次，則確定當(dāng)前采樣點可靠，執(zhí)行步驟705；否則執(zhí)行步驟(b21)。
步驟705，確定當(dāng)前采樣點為可靠，報告調(diào)整成功；步驟707，使當(dāng)前采樣點延遲預(yù)定時間，然后執(zhí)行步驟708；步驟708，判斷延遲預(yù)定時間后的采樣點是否已經(jīng)低于預(yù)定的下限，如果低于則說明在設(shè)定范圍內(nèi)沒有可靠的采樣點，報告失敗并結(jié)束調(diào)整過程；如果延遲預(yù)定時間后的采樣點不低于預(yù)定下限則執(zhí)行步驟703。
上述的m和n是預(yù)先設(shè)定的循環(huán)次數(shù)，根據(jù)對可靠性的要求和測試時間進行選擇，例如m＝n＝10，也可以是其它自然數(shù)。通?？煽啃砸筝^高越高，m、n的值越大；測試時間越長，m、n的值越大。
在本發(fā)明自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出采樣點的方法的第二實施例中，只使用指令掃描判斷采樣點是否可靠。與上述實施例類似，本實施例中，在獲取邊界掃描鏈路總的指令鏈路長度后進行指令掃描，并判斷當(dāng)前采樣點是否可靠。若當(dāng)前采樣點可靠，即在m次指令掃描中每次測試數(shù)據(jù)輸出接口輸出的數(shù)據(jù)與測試數(shù)據(jù)輸入接口輸入的數(shù)據(jù)一致，則報告成功；否則依次使當(dāng)前采樣點延遲預(yù)定時間，并使用延遲預(yù)定時間后的采樣點進行指令掃描，直到降低后采樣點低于下限，報告失敗。
在本發(fā)明自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出采樣點的方法的第三實施例中，只使用數(shù)據(jù)掃描判斷采樣點是否可靠。與上述實施例類似，本實施例中，在獲取總的邊界掃描單元長度后進行數(shù)據(jù)掃描，并判斷當(dāng)前采樣點是否可靠。若當(dāng)前采樣點可靠，即在n次數(shù)據(jù)掃描中每次測試數(shù)據(jù)輸出接口輸出的數(shù)據(jù)與測試數(shù)據(jù)輸入接口輸入的數(shù)據(jù)一致，則報告成功；否則依次使當(dāng)前采樣點延遲預(yù)定時間，并使用延遲預(yù)定時間后的采樣點進行數(shù)據(jù)掃描，直到延遲預(yù)定時間后采樣點的低于下限，報告失敗。
上述實施例中的指令掃描和數(shù)據(jù)掃描是所有支持邊界掃描的芯片都支持的操作，因此具有通用性，實現(xiàn)了自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出采樣點，從而提高了測試效率，并減少了測試過程中的人力投入。
以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實施方式
，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護范圍應(yīng)該以權(quán)利要求的保護范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點的裝置，其特征在于，包括有掃描單元，用于使用測試數(shù)據(jù)對掃描鏈路進行掃描，并根據(jù)掃描結(jié)果判斷采樣點是否可靠，并在采樣點可靠時輸出測試成功信息；調(diào)整單元，用于設(shè)置掃描單元的初始采樣點，并在掃描單元確定采樣點不可靠時使所設(shè)置的采樣點延遲預(yù)定時間；第一判斷單元，用于判斷所述調(diào)整單元設(shè)置的采樣點時間值是否低于預(yù)定的下限并在確定采樣點時間值不低于預(yù)定的下限時將所述設(shè)置的采樣點發(fā)送到掃描單元，并在確定延遲預(yù)定時間后的采樣點時間值低于預(yù)定采樣點下限時，輸出測試失敗的信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點的裝置，其特征在于，所述掃描單元包括第一指令單元，用于掃描指令寄存器鏈路；第二判斷單元，用于在調(diào)整單元設(shè)置的采樣點下，根據(jù)測試數(shù)據(jù)輸出端口的輸出數(shù)據(jù)判斷當(dāng)前采樣點是否可靠，并在確定當(dāng)前采樣點不可靠時由調(diào)整單元使當(dāng)前采樣點延遲預(yù)定時間；第三判斷單元，用于判斷第一指令單元在當(dāng)前采樣點下掃描的次數(shù)是否達到預(yù)定次數(shù)，并在達到預(yù)定次數(shù)時輸出測試成功信息、在未達到預(yù)定次數(shù)時由第二判斷單元繼續(xù)在當(dāng)前采樣點下判斷當(dāng)前采樣點是否可靠。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點的裝置，其特征在于，所述掃描單元包括第一數(shù)據(jù)單元，用于進行邊界掃描鏈路掃描；第四判斷單元，用于在調(diào)整單元設(shè)置的采樣點下根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)單元的掃描結(jié)果判斷當(dāng)前采樣點是否可靠，并在確定當(dāng)前采樣點不可靠時由調(diào)整單元使當(dāng)前采樣點延遲預(yù)定時間；第五判斷單元，用于判斷第一數(shù)據(jù)單元在當(dāng)前采樣點下掃描的次數(shù)是否達到預(yù)定次數(shù)，并在達到預(yù)定次數(shù)時輸出測試成功信息、在未達到預(yù)定次數(shù)時由第四判斷單元繼續(xù)在當(dāng)前采樣點下判斷當(dāng)前采樣點是否可靠。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點的裝置，其特征在于，所述掃描單元包括第二指令單元，用于掃描指令寄存器鏈路；第六判斷單元，用于在調(diào)整單元設(shè)置的采樣點下，根據(jù)測試數(shù)據(jù)輸出端口的輸出數(shù)據(jù)判斷當(dāng)前采樣點是否可靠，并在確定當(dāng)前采樣點不可靠時由調(diào)整單元使當(dāng)前采樣點延遲預(yù)定時間；第七判斷單元，用于判斷第二指令單元在當(dāng)前采樣點下掃描的次數(shù)是否達到預(yù)定次數(shù)，并在未達到預(yù)定次數(shù)時由第六判斷單元繼續(xù)在當(dāng)前采樣點下判斷當(dāng)前采樣點是否可靠；第二數(shù)據(jù)單元，用于在第七判斷單元確定指令掃描達到預(yù)定次數(shù)時掃描邊界掃描單元鏈路；第八判斷單元，用于在第七判斷單元確定指令掃描達到預(yù)定次數(shù)時的采樣點下，根據(jù)測試數(shù)據(jù)輸出端口的輸出數(shù)據(jù)判斷當(dāng)前采樣點是否可靠，并在確定當(dāng)前采樣點不可靠時由調(diào)整單元使當(dāng)前采樣點延遲預(yù)定時間；第九判斷單元，用于判斷第二數(shù)據(jù)單元在當(dāng)前采樣點下掃描的次數(shù)是否達到預(yù)定次數(shù)，并在達到預(yù)定次數(shù)時輸出測試成功信息、在未達到預(yù)定次數(shù)時由第八判斷單元繼續(xù)在當(dāng)前采樣點下判斷當(dāng)前采樣點是否可靠。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項所述的自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點的裝置，其特征在于，所述掃描單元包括有連接裝置，所述連接裝置連接到掃描鏈路上的測試存取接口。
6.一種自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點的方法，其特征在于，包括以下步驟(a)采樣點設(shè)置為測試數(shù)據(jù)輸出同步采樣點；(b)在向被測鏈路輸入測試數(shù)據(jù)，執(zhí)行測試操作并在當(dāng)前采樣點下判斷當(dāng)前采樣點是否可靠，若當(dāng)前采樣點可靠，則執(zhí)行步驟(c)；若當(dāng)前采樣點不可靠，則執(zhí)行步驟(d)；(c)輸出測試成功消息；(d)使當(dāng)前采樣點延遲預(yù)定時間，并判斷判斷延遲預(yù)定時間后的當(dāng)前采樣點是否低于預(yù)定的下限，若當(dāng)前采樣點低于下限則執(zhí)行步驟(e)；若當(dāng)前采樣點不低于下限，執(zhí)行步驟(b)；(e)輸出測試失敗消息。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點的方法，其特征在于，所述步驟(b)包括步驟(b11)將測試數(shù)據(jù)從輸出數(shù)據(jù)輸入接口輸入，經(jīng)指令寄存器鏈路從測試數(shù)據(jù)輸出接口輸出；(b12)在當(dāng)前采樣點下判斷所述輸出數(shù)據(jù)與所述輸入數(shù)據(jù)是否一致，如果輸出數(shù)據(jù)與輸入數(shù)據(jù)不一致，則確定當(dāng)前采樣點不可靠，執(zhí)行步驟(d)；否則執(zhí)行步驟(b13)；(b13)判斷當(dāng)前采樣點下掃描的次數(shù)是否達到預(yù)定次數(shù)，如果當(dāng)前采樣點下的掃描次數(shù)達到預(yù)定次數(shù)，則確定當(dāng)前采樣點可靠，執(zhí)行步驟(c)；否則執(zhí)行步驟(b11)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點的方法，其特征在于，所述步驟(b)包括步驟(b21)將測試數(shù)據(jù)從測試數(shù)據(jù)輸入接口輸入，經(jīng)邊界掃描單元鏈路從測試數(shù)據(jù)輸出接口輸出；(b22)在當(dāng)前采樣點下判斷所述輸出數(shù)據(jù)與所述輸入數(shù)據(jù)是否一致，如果輸出數(shù)據(jù)與輸入數(shù)據(jù)不一致，則確定當(dāng)前采樣點不可靠，執(zhí)行步驟(d)；否則執(zhí)行步驟(b23)；否則執(zhí)行步驟(b23)；(b23)判斷當(dāng)前采樣點下掃描的次數(shù)是否達到預(yù)定次數(shù)，如果在當(dāng)前采樣點的掃描次數(shù)達到預(yù)定次數(shù)，則確定當(dāng)前采樣點可靠，執(zhí)行步驟(c)；否則執(zhí)行步驟(b21)。
全文摘要
本發(fā)明涉及自動調(diào)整測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點的裝置，包括有掃描單元，用于使用測試數(shù)據(jù)對掃描鏈路進行掃描，并根據(jù)掃描結(jié)果判斷采樣點是否可靠，并在采樣點可靠時輸出測試成功信息；調(diào)整單元，用于設(shè)置掃描單元的初始采樣點，并在掃描單元確定采樣點不可靠時使所設(shè)置的采樣點延遲預(yù)定時間；第一判斷單元，用于判斷采樣點時間值是否低于下限并在確定采樣點時間值不低于預(yù)定的下限時將所述設(shè)置的采樣點發(fā)送到掃描單元，并在確定延遲預(yù)定時間后的采樣點時間值低于預(yù)定采樣點下限時，輸出測試失敗的信息。本發(fā)明還提供一種對應(yīng)的方法。本發(fā)明避免了測試數(shù)據(jù)輸出端口數(shù)據(jù)采樣點調(diào)整過程中的人工干預(yù)，提高了應(yīng)用效率。
文檔編號G06F11/267GK1971529SQ20061012388
公開日2007年5月30日 申請日期2006年11月24日 優(yōu)先權(quán)日2006年11月24日
發(fā)明者滑思真, 李穎悟, 徐光曉 申請人:華為技術(shù)有限公司