本申請(qǐng)涉及圖像處理，尤其涉及一種etfe膜透光性評(píng)估方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、etfe膜作為一種新型建筑材料，因其輕質(zhì)、高透光性和耐久性而在現(xiàn)代建筑中得到廣泛應(yīng)用。然而，etfe膜的透光性能在實(shí)際使用過(guò)程中會(huì)受到多種因素的影響，如環(huán)境污染、老化和機(jī)械應(yīng)力等，導(dǎo)致其透光性能逐漸下降。傳統(tǒng)的etfe膜透光性評(píng)估方法主要依賴(lài)于實(shí)驗(yàn)室測(cè)試，不僅耗時(shí)耗力，而且難以實(shí)現(xiàn)對(duì)大面積etfe膜結(jié)構(gòu)的快速、準(zhǔn)確評(píng)估。

2、現(xiàn)有的評(píng)估方法在處理多光譜圖像數(shù)據(jù)時(shí)往往存在特征提取不充分、降維過(guò)程信息損失嚴(yán)重等問(wèn)題，影響了評(píng)估結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。此外，如何有效融合多種特征信息，并構(gòu)建高效的評(píng)估模型，也是當(dāng)前研究面臨的挑戰(zhàn)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环Netfe膜透光性評(píng)估方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)，進(jìn)而提高了etfe膜透光性評(píng)估的準(zhǔn)確率。

2、本申請(qǐng)第一方面提供了一種etfe膜透光性評(píng)估方法，所述etfe膜透光性評(píng)估方法包括：

3、對(duì)多個(gè)樣本etfe膜進(jìn)行多波段光譜掃描和透光率分析，得到標(biāo)準(zhǔn)化透光率向量；

4、對(duì)待測(cè)etfe膜進(jìn)行多光譜成像，得到多波段圖像，并對(duì)所述多波段圖像進(jìn)行配準(zhǔn)和預(yù)處理，得到預(yù)處理圖像和目標(biāo)頻域系數(shù)；

5、對(duì)所述目標(biāo)頻域系數(shù)進(jìn)行四元數(shù)離散余弦變換和二值化處理，得到目標(biāo)二值特征矩陣，并對(duì)所述預(yù)處理圖像進(jìn)行局部二值模式和熵計(jì)算，得到紋理熵特征；

6、對(duì)所述目標(biāo)二值特征矩陣和所述紋理熵特征進(jìn)行特征降維，得到降維特征向量，并對(duì)所述降維特征向量和所述標(biāo)準(zhǔn)化透光率向量進(jìn)行特征融合，得到目標(biāo)融合特征向量；

7、將所述目標(biāo)融合特征向量輸入預(yù)訓(xùn)練的梯度提升決策樹(shù)評(píng)估模型進(jìn)行透光性評(píng)估，得到所述待測(cè)etfe膜的透光性評(píng)估結(jié)果。

8、本申請(qǐng)第二方面提供了一種etfe膜透光性評(píng)估裝置，所述etfe膜透光性評(píng)估裝置包括：

9、分析模塊，用于對(duì)多個(gè)樣本etfe膜進(jìn)行多波段光譜掃描和透光率分析，得到標(biāo)準(zhǔn)化透光率向量；

10、成像模塊，用于對(duì)待測(cè)etfe膜進(jìn)行多光譜成像，得到多波段圖像，并對(duì)所述多波段圖像進(jìn)行配準(zhǔn)和預(yù)處理，得到預(yù)處理圖像和目標(biāo)頻域系數(shù)；

11、計(jì)算模塊，用于對(duì)所述目標(biāo)頻域系數(shù)進(jìn)行四元數(shù)離散余弦變換和二值化處理，得到目標(biāo)二值特征矩陣，并對(duì)所述預(yù)處理圖像進(jìn)行局部二值模式和熵計(jì)算，得到紋理熵特征；

12、融合模塊，用于對(duì)所述目標(biāo)二值特征矩陣和所述紋理熵特征進(jìn)行特征降維，得到降維特征向量，并對(duì)所述降維特征向量和所述標(biāo)準(zhǔn)化透光率向量進(jìn)行特征融合，得到目標(biāo)融合特征向量；

13、評(píng)估模塊，用于將所述目標(biāo)融合特征向量輸入預(yù)訓(xùn)練的梯度提升決策樹(shù)評(píng)估模型進(jìn)行透光性評(píng)估，得到所述待測(cè)etfe膜的透光性評(píng)估結(jié)果。

14、本申請(qǐng)第三方面提供了一種電子設(shè)備，包括：存儲(chǔ)器和至少一個(gè)處理器，所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有指令；所述至少一個(gè)處理器調(diào)用所述存儲(chǔ)器中的所述指令，以使得所述電子設(shè)備執(zhí)行上述的etfe膜透光性評(píng)估方法。

15、本申請(qǐng)的第四方面提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有指令，當(dāng)其在計(jì)算機(jī)上運(yùn)行時(shí)，使得計(jì)算機(jī)執(zhí)行上述的etfe膜透光性評(píng)估方法。

16、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本申請(qǐng)具有以下有益效果：通過(guò)對(duì)多個(gè)樣本etfe膜進(jìn)行多波段光譜掃描和標(biāo)準(zhǔn)化處理，得到標(biāo)準(zhǔn)化透光率向量，采用多光譜成像技術(shù)獲取待測(cè)etfe膜的多波段圖像，并進(jìn)行配準(zhǔn)和預(yù)處理，有效提取了etfe膜的光譜特征信息，對(duì)頻域系數(shù)進(jìn)行四元數(shù)離散余弦變換和二值化處理，得到二值特征矩陣，有效捕捉了etfe膜的紋理和結(jié)構(gòu)特征，增強(qiáng)了特征的表達(dá)能力。對(duì)預(yù)處理圖像進(jìn)行局部二值模式和熵計(jì)算，得到紋理熵特征，進(jìn)一步提取了etfe膜表面的微觀結(jié)構(gòu)信息，豐富了特征表示。通過(guò)特征降維和融合技術(shù)，將二值特征矩陣和紋理熵特征進(jìn)行降維和融合，得到目標(biāo)融合特征向量，有效降低了數(shù)據(jù)維度，同時(shí)保留了關(guān)鍵信息。采用預(yù)訓(xùn)練的梯度提升決策樹(shù)評(píng)估模型進(jìn)行透光性評(píng)估，充分利用了機(jī)器學(xué)習(xí)算法的優(yōu)勢(shì)，提高了評(píng)估的準(zhǔn)確性和泛化能力。通過(guò)構(gòu)建多層決策樹(shù)結(jié)構(gòu)，逐層提取和利用特征信息，實(shí)現(xiàn)了對(duì)etfe膜透光性能的精細(xì)化評(píng)估，提高了模型的表達(dá)能力和預(yù)測(cè)精度。

技術(shù)特征：

1.一種etfe膜透光性評(píng)估方法，其特征在于，所述etfe膜透光性評(píng)估方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的etfe膜透光性評(píng)估方法，其特征在于，所述對(duì)多個(gè)樣本etfe膜進(jìn)行多波段光譜掃描和透光率分析，得到標(biāo)準(zhǔn)化透光率向量，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的etfe膜透光性評(píng)估方法，其特征在于，所述對(duì)待測(cè)etfe膜進(jìn)行多光譜成像，得到多波段圖像，并對(duì)所述多波段圖像進(jìn)行配準(zhǔn)和預(yù)處理，得到預(yù)處理圖像和目標(biāo)頻域系數(shù)，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的etfe膜透光性評(píng)估方法，其特征在于，所述對(duì)所述目標(biāo)頻域系數(shù)進(jìn)行四元數(shù)離散余弦變換和二值化處理，得到目標(biāo)二值特征矩陣，并對(duì)所述預(yù)處理圖像進(jìn)行局部二值模式和熵計(jì)算，得到紋理熵特征，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的etfe膜透光性評(píng)估方法，其特征在于，所述對(duì)所述目標(biāo)二值特征矩陣和所述紋理熵特征進(jìn)行特征降維，得到降維特征向量，并對(duì)所述降維特征向量和所述標(biāo)準(zhǔn)化透光率向量進(jìn)行特征融合，得到目標(biāo)融合特征向量，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的etfe膜透光性評(píng)估方法，其特征在于，所述將所述目標(biāo)融合特征向量輸入預(yù)訓(xùn)練的梯度提升決策樹(shù)評(píng)估模型進(jìn)行透光性評(píng)估，得到所述待測(cè)etfe膜的透光性評(píng)估結(jié)果，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的etfe膜透光性評(píng)估方法，其特征在于，所述根據(jù)所述最終層輸入特征，對(duì)所述預(yù)訓(xùn)練的梯度提升決策樹(shù)評(píng)估模型的最終層決策樹(shù)集合進(jìn)行特征分割、節(jié)點(diǎn)遍歷和預(yù)測(cè)值累加，得到所述待測(cè)etfe膜的透光性評(píng)估結(jié)果，包括：

8.一種etfe膜透光性評(píng)估裝置，其特征在于，用于執(zhí)行如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的etfe膜透光性評(píng)估方法，所述etfe膜透光性評(píng)估裝置包括：

9.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括：存儲(chǔ)器和至少一個(gè)處理器，所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有指令；

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有指令，其特征在于，所述指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的etfe膜透光性評(píng)估方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域，公開(kāi)了一種ETFE膜透光性評(píng)估方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)，該方法包括：對(duì)多個(gè)樣本ETFE膜進(jìn)行多波段光譜掃描和透光率分析，得到標(biāo)準(zhǔn)化透光率向量；對(duì)待測(cè)ETFE膜進(jìn)行多光譜成像，得到多波段圖像并進(jìn)行配準(zhǔn)和預(yù)處理，得到預(yù)處理圖像和目標(biāo)頻域系數(shù)；進(jìn)行四元數(shù)離散余弦變換和二值化處理，得到目標(biāo)二值特征矩陣并進(jìn)行局部二值模式和熵計(jì)算，得到紋理熵特征；進(jìn)行特征降維，得到降維特征向量，并對(duì)降維特征向量和標(biāo)準(zhǔn)化透光率向量進(jìn)行特征融合，得到目標(biāo)融合特征向量；將目標(biāo)融合特征向量輸入預(yù)訓(xùn)練的梯度提升決策樹(shù)評(píng)估模型進(jìn)行透光性評(píng)估，得到待測(cè)ETFE膜的透光性評(píng)估結(jié)果，進(jìn)而提高了ETFE膜透光性評(píng)估的準(zhǔn)確率。

技術(shù)研發(fā)人員：王維強(qiáng),賴(lài)華娟,賴(lài)華海,彭友法
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市燁興智能空間技術(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/9/29