專利名稱：光信息記錄介質(zhì)、介質(zhì)特性規(guī)定方法、介質(zhì)特性檢查方法、信號檢測方法、信號檢測電路 ...的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及如CD-R/RW的雙層版、DVD±R/RW的雙層版、進(jìn)而將來的多層記錄介質(zhì)的具有大于等于雙層的多層結(jié)構(gòu)的可記錄的光信息記錄介質(zhì)，其介質(zhì)特性規(guī)定方法、介質(zhì)特性檢查方法、以及信號檢測方法、信號檢測電路、及光信息記錄再生裝置。
背景技術(shù)：
近年來，CD-R/RW或DVD±R/RW可以說作為PC的外部存儲裝置已經(jīng)固定了。此外，CD-R/RW或DVD±R/RW今后希望更加大容量化，雙層化、將來進(jìn)一步的多層化也在研究中。
在這樣的多層介質(zhì)中，一般設(shè)定層間距離，以便從存取中以外的記錄層反射的光不漏入來自存取中的記錄層的反射光。這是由于如果從焦點(diǎn)位置離開很遠(yuǎn)，則來自介質(zhì)的反射光不由透鏡進(jìn)行聚光而發(fā)散，因此成為作為信號強(qiáng)度可以忽略的電平。但是，作為光學(xué)上的限制，必需在可以得到良好的各種特性的焦點(diǎn)允許范圍(焦點(diǎn)深度)以內(nèi)設(shè)定多層的全部，層間距離無法如理想的那樣擴(kuò)大。因此，也不少發(fā)生來自其它層的反射光的漏入。
這里，作為實(shí)用化的多層的例子，有DVD-ROM的雙層版。因?yàn)閮蓪佣际窃诠S壓制(stamp)的再生專用，所以對于各種變動的余量(margin)也大，追蹤采用使用從稱為DPD(Differential Phase Detection，微分相位檢測)的再生信號的邊緣(edge)得到的相位差的方式，對來自其它層的反射光漏入引起的光量(信號強(qiáng)度)變化確保了強(qiáng)的抗性。當(dāng)然，由于是再生專用，所以不必檢測軌道(槽)或軌道的彎曲引起的擺動(wobble)，來自其它層的反射光的漏入引起的缺陷少。
此外，具有多個可記錄的層的介質(zhì)例如公開在專利文獻(xiàn)1、2等中。這些發(fā)明中，已經(jīng)確定可多層記錄的介質(zhì)的記錄膜特性、特別是記錄膜的厚度、材料等，從而提高多層記錄的實(shí)現(xiàn)性。此外，專利文獻(xiàn)3中，公開了對多層記錄介質(zhì)的各層配置擺動，并在該擺動中插入地址信息。
進(jìn)而，作為基礎(chǔ)研究，多層記錄的實(shí)現(xiàn)性不斷提高，與此相伴也指出、發(fā)明了必需的技術(shù)。當(dāng)然，在多層介質(zhì)中，必需各種伺服信號或擺動信號，為了提高互換性或保持穩(wěn)定的質(zhì)量，重要的是管理這些信號特性，或者作為標(biāo)準(zhǔn)來確定。
專利文獻(xiàn)1特開2000-235733號公報(bào)專利文獻(xiàn)1特開2003-091874號公報(bào)專利文獻(xiàn)1特開2001-052342號公報(bào)但是，在多層記錄介質(zhì)的情況下，來自其它層的反射光的漏入成為大的問題。例如，在鄰接的記錄層為未記錄區(qū)的情況下，由于反射率高，所以反射光大。由于該反射光的焦點(diǎn)偏離，因此不會在光接收元件上完全聚光，但由于漏入到來自存取中的記錄層的本來的反射光，所以反射光不表示正確的值。反之，在鄰接的記錄層為已記錄區(qū)的情況下，由于反射率低，所以漏入量小。此外，在多層的情況下，從任何層都發(fā)生漏入，但特別來自鄰接的記錄層的漏入的惡劣影響最大。
從而，記錄介質(zhì)的各種信號特性由記錄膜組成、記錄膜厚、槽深、槽寬等多個參數(shù)調(diào)整。如專利文獻(xiàn)1、2所示，記錄特性中記錄膜材料的調(diào)整是主要的。但是，兩個專利文獻(xiàn)1、2都未示出各種信號規(guī)格。這里，本說明書以及權(quán)利要求的范圍所示的‘各種信號’有光束在介質(zhì)上橫切由稱作凹槽的槽刻的軌道時得到的軌道交叉(track cross)信號和追蹤誤差(tracking error)信號等伺服信號、通過其它軌道的彎曲而刻的包含介質(zhì)的轉(zhuǎn)速或地址信息的擺動信號等。當(dāng)然，不僅這些，再生(RF)信號的振幅也可以說同樣。這些信號特性基本上通過振幅的規(guī)定而決定，從吸收光束強(qiáng)度或電路放大率等測定條件的不同的目的出發(fā)，由和信號歸一化后進(jìn)行處理。但是，來自鄰接的記錄層的反射光漏入而在和信號中產(chǎn)生誤差時，產(chǎn)生這些誤差的規(guī)定變得不正確的缺陷。
此外，來自這些鄰接的記錄層的反射光的漏入根據(jù)光學(xué)系統(tǒng)而變化很大，因此缺乏可靠性、互換性差。
在鄰接的記錄層是已記錄區(qū)的情況下，由于反射率低，所以反射光小，對存取中的記錄層的漏入引起的缺陷可以減小。
另一方面，在鄰接的記錄層是已記錄區(qū)的情況下，雖然很弱，但其反射光的記錄數(shù)據(jù)分量漏入存取中的記錄層的反射光中。對于伺服信號，由于信號頻帶不同，因而不成問題，但由于擺動信號接近記錄數(shù)據(jù)頻帶，因此需要注意。從而，期望在擺動信號的質(zhì)量規(guī)定中，規(guī)定鄰接的記錄層為已記錄的情況下的C/N(載波噪聲比)比。
這樣，各種信號規(guī)格根據(jù)鄰接的記錄層的記錄狀態(tài)(未記錄或已記錄)而不同，因此在考慮記錄層僅為1層(單層)的現(xiàn)有的規(guī)定方法中，無法進(jìn)行穩(wěn)定的特性管理或標(biāo)準(zhǔn)數(shù)值的決定。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于抑制來自鄰接的記錄層的漏入光引起的各種信號特性的測定偏差、誤差，從而可以進(jìn)行可靠性和互換性、再生性高的特性值的介質(zhì)參數(shù)的管理、規(guī)定、檢查。
本發(fā)明為了實(shí)現(xiàn)上述目的提供如下的光信息記錄介質(zhì)。
一種光信息記錄介質(zhì)，在具有可記錄的多個記錄層的光信息記錄介質(zhì)中，所述多個記錄層中、某記錄層A的某一區(qū)域X中的各種信號特性，由在照射到所述區(qū)域X的光束的光線軸上對于所述記錄層A鄰接到入射端的記錄層B的區(qū)域Y是已記錄區(qū)的條件來決定。由此，抑制來自鄰接的記錄層的漏入光引起的各種信號特性的測定偏差、誤差，從而可以進(jìn)行可靠性和互換性、再生性高的特性值的介質(zhì)參數(shù)的管理、規(guī)定。
此外，所述各種信號特性的值也可以在所述多個記錄層中以相等的值作為目標(biāo)值。由此，不必在每層變更各種檢測電路的特性，可以采用廉價(jià)的評價(jià)裝置、記錄再生裝置進(jìn)行處理。
此外，所述各種信號特性由所述區(qū)域Y也是未記錄區(qū)的條件決定，并且，與在所述區(qū)域Y是已記錄區(qū)的條件決定的所述區(qū)域X中的各種信號特性不同也可以。由此，不需要用于在未記錄條件和已記錄條件兩方滿足信號特性的各種參數(shù)的復(fù)雜的調(diào)整，可以縮短開發(fā)期間，此外，可以進(jìn)行重點(diǎn)在于對記錄再生動作不利的已記錄條件的特性改善的調(diào)整。
此外，所述各種信號特性中的一個也可以是在光束橫切軌道時得到的軌道交叉信號的振幅。由此，軌道交叉信號的振幅偏差少，可以得到良好的信號質(zhì)量，并可以應(yīng)對存取速度快的記錄再生裝置。
此外，所述各種信號特性中的一個也可以是在光束橫切軌道時得到的軌道誤差信號的振幅。由此，軌道誤差信號的振幅偏差少，可以得到良好的信號質(zhì)量，并可以應(yīng)對存取速度快且穩(wěn)定的追蹤性能的記錄再生裝置。
此外，所述各種信號特性中的一個也可以是作為軌道的彎曲分量的擺動信號的振幅。由此，軌道誤差信號的振幅偏差少，可以得到良好的信號質(zhì)量，并可以應(yīng)對存取速度快且穩(wěn)定的追蹤性能的記錄再生裝置。
此外，所述各種信號特性中的一個也可以是作為軌道的彎曲分量的擺動信號的相對噪聲質(zhì)量。由此，可以得到良好的擺動信號質(zhì)量，并可以應(yīng)對存取速度快且穩(wěn)定的介質(zhì)旋轉(zhuǎn)以及地址檢測性能的記錄再生裝置。
進(jìn)而，也提供如下的介質(zhì)特性規(guī)定方法。
一種介質(zhì)特性規(guī)定方法，對于具有可記錄的多個記錄層的光信息記錄介質(zhì)，所述多個記錄層中、某記錄層A的某一區(qū)域X中的各種信號特性，由在照射到所述區(qū)域X的光束的光線軸上對于所述記錄層A鄰接到入射端的記錄層B的區(qū)域Y是已記錄區(qū)的條件來決定。由此，抑制來自鄰接的記錄層的漏入光引起的各種信號特性的測定偏差、誤差，從而可以進(jìn)行可靠性和互換性、再生性高的特性值的介質(zhì)參數(shù)的管理、規(guī)定。
此外，所述各種信號特性的值也可以在所述多個記錄層中以相等的值作為目標(biāo)值。由此，不必在每層變更各種檢測電路的特性，可以采用廉價(jià)的評價(jià)裝置、記錄再生裝置進(jìn)行處理。
此外，所述各種信號特性由所述區(qū)域Y是未記錄區(qū)的條件決定，并且，在所述區(qū)域Y是已記錄區(qū)的條件決定的所述區(qū)域X中的各種信號特性不同也可以。由此，不需要用于在未記錄條件和已記錄條件兩方滿足信號特性的各種參數(shù)的復(fù)雜的調(diào)整，可以縮短開發(fā)期間，此外，可以進(jìn)行重點(diǎn)在于對記錄再生動作不利的已記錄條件的特性改善的調(diào)整。
此外，所述各種信號特性中的一個也可以是在光束橫切軌道時得到的軌道交叉信號的振幅。由此，軌道交叉信號的振幅偏差少，可以得到良好的信號質(zhì)量，并可以應(yīng)對存取速度快的記錄再生裝置。
此外，所述各種信號特性中的一個也可以是在光束橫切軌道時得到的軌道誤差信號的振幅。由此，軌道誤差信號的振幅偏差少，可以得到良好的信號質(zhì)量，并可以應(yīng)對存取速度快且穩(wěn)定的追蹤性能的記錄再生裝置。
此外，所述各種信號特性中的一個也可以是作為軌道的彎曲分量的擺動信號的振幅。由此，軌道誤差信號的振幅偏差少，可以得到良好的信號質(zhì)量，并可以應(yīng)對存取速度快且穩(wěn)定的追蹤性能的記錄再生裝置。
此外，所述各種信號特性中的一個也可以是作為軌道的彎曲分量的擺動信號的相對噪聲質(zhì)量。由此，可以得到良好的擺動信號質(zhì)量，并可以應(yīng)對存取速度快且穩(wěn)定的介質(zhì)旋轉(zhuǎn)以及地址檢測性能的記錄再生裝置。
進(jìn)而，也提供如下的信號檢測方法以及信號檢測電路。
一種信號檢測方法，比較在照射到光信息記錄介質(zhì)具有的可記錄的多個記錄層中、某記錄層A的某一區(qū)域X的光束的光線軸上對于所述記錄層A連接到入射端的記錄層B的區(qū)域Y是未記錄區(qū)的條件中的所述區(qū)域X的反射信號電平，和所述區(qū)域Y是已記錄區(qū)的條件中的所述區(qū)域X的反射信號電平，并基于該比較結(jié)果，根據(jù)所述區(qū)域Y的記錄狀態(tài)，進(jìn)行所述區(qū)域X中的各種信號的放大率或偏移(offset)的變更。
一種信號檢測電路，包括采樣電路，保持光信息記錄介質(zhì)具有的可記錄的多個記錄層中、某記錄層A的某一區(qū)域X的反射信號電平；記錄狀態(tài)判別電路，判別在照射到所述區(qū)域X的光束的光線軸上對于記錄層A鄰接到入射端的記錄層B的區(qū)域Y是未記錄區(qū)還是已記錄區(qū)；存儲電路，在所述區(qū)域Y是未記錄區(qū)以及已記錄區(qū)的各個情況下，存儲保持在所述采樣電路中保持的采樣電路的輸出；比較電路，求從該存儲電路輸出的、所述區(qū)域Y為未記錄區(qū)時和已記錄區(qū)時的信號的差；信號校正電路，將該比較電路的輸出以及所述區(qū)域X的反射信號電平作為控制信號，變更各種信號的放大率或偏移；以及選擇部件，根據(jù)所述記錄狀態(tài)判別電路的輸出，選擇是否作為所述信號校正電路的控制信號使用所述比較電路的輸出。由此，與鄰接的記錄層的記錄狀態(tài)無關(guān)，可以檢測振幅變動、偏移變動少的良好的質(zhì)量的各種信號。
進(jìn)而，也提供如下的光信息記錄再生裝置。
一種光信息記錄再生裝置，具有旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)，旋轉(zhuǎn)驅(qū)動光信息記錄介質(zhì)；以及拾取器(pickup)，具有光源、物鏡，對所述光信息記錄介質(zhì)照射光束，同時接收來自所述光信息記錄介質(zhì)的反射光，以技術(shù)方案1記載的光信息記錄介質(zhì)為對象，進(jìn)行信息的記錄或再生。由此，由于對上述光信息記錄介質(zhì)進(jìn)行信息的記錄再生，所以與鄰接的記錄層的記錄狀態(tài)無關(guān)，可以穩(wěn)定地實(shí)現(xiàn)具有可靠性高的伺服性能、高速的存取性能的信息記錄再生裝置。
此外，上述光信息記錄再生裝置也可以裝載上述信號檢測電路。由此，與鄰接的記錄層的記錄狀態(tài)無關(guān)，可以穩(wěn)定地實(shí)現(xiàn)具有可靠性高的伺服性能、高速的存取性能的信息記錄再生裝置。
進(jìn)而，也提供如下的介質(zhì)特性檢查方法。
一種介質(zhì)特性檢查方法，是具有可記錄的多個記錄層的光信息記錄介質(zhì)的介質(zhì)特性檢查方法，通過在所述區(qū)域X中成為聚焦點(diǎn)的光束的光線軸上對于該記錄層A鄰接到入射端的記錄層B的區(qū)域Y是已記錄區(qū)的條件，來檢查所述多個記錄層中、某記錄層A的某一區(qū)域X中的各種信號特性。由此，抑制來自鄰接的記錄層的漏入光引起的各種信號特性的測定偏差、誤差，從而可以進(jìn)行可靠性和互換性、再生性高的特性值的介質(zhì)參數(shù)的檢查。
此外，所述各種信號特性的值也可以在所述多個記錄層中以相等的值作為目標(biāo)值。由此，不必在每層變更各種檢測電路的特性，可以采用廉價(jià)的評價(jià)裝置、記錄再生裝置進(jìn)行處理。
此外，所述各種信號特性由所述區(qū)域Y是未記錄區(qū)的條件決定，并且，在所述區(qū)域Y是已記錄區(qū)的條件決定的所述區(qū)域X中的各種信號特性不同也可以。由此，不需要用于在未記錄條件和已記錄條件兩方滿足信號特性的各種參數(shù)的復(fù)雜的調(diào)整，可以縮短開發(fā)期間，此外，可以進(jìn)行重點(diǎn)在于對記錄再生動作不利的已記錄條件的特性改善的調(diào)整。
此外，所述各種信號特性中的一個也可以是在光束橫切軌道時得到的軌道交叉信號的振幅。由此，軌道交叉信號的振幅偏差少，可以得到良好的信號質(zhì)量，并可以應(yīng)對存取速度快的記錄再生裝置。
此外，所述各種信號特性中的一個也可以是在光束橫切軌道時得到的軌道誤差信號的振幅。由此，軌道誤差信號的振幅偏差少，可以得到良好的信號質(zhì)量，并可以應(yīng)對存取速度快且穩(wěn)定的追蹤性能的記錄再生裝置。
此外，所述各種信號特性中的一個也可以是作為軌道的彎曲分量的擺動信號的振幅。由此，軌道誤差信號的振幅偏差少，可以得到良好的信號質(zhì)量，并可以應(yīng)對存取速度快且穩(wěn)定的追蹤性能的記錄再生裝置。
此外，所述各種信號特性中的一個也可以是作為軌道的彎曲分量的擺動信號的相對噪聲質(zhì)量。由此，可以得到良好的擺動信號質(zhì)量，并可以應(yīng)對存取速度快且穩(wěn)定的介質(zhì)旋轉(zhuǎn)以及地址檢測性能的記錄再生裝置。
根據(jù)本發(fā)明，抑制來自鄰接的記錄層的漏入光引起的各種信號特性的測定偏差、誤差，從而可以進(jìn)行可靠性和互換性、再生性高的特性值的介質(zhì)參數(shù)的管理、規(guī)定、檢查。


圖1是表示一般的且本實(shí)施方式中也應(yīng)用的光信息記錄介質(zhì)的圖。
圖2是表示提取各種信號的信號處理塊的基本結(jié)構(gòu)例的方框圖。
圖3是用于說明雙層記錄介質(zhì)的記錄、再生原理的示意圖。
圖4是用于說明雙層記錄介質(zhì)的情況下的來自各層的反射光的影響的示意圖。
圖5是用于以信號電平說明來自雙層記錄介質(zhì)的情況下的來自各層的反射光的影響的示意圖。
圖6是表示各種信號的歸一化處理用的結(jié)構(gòu)例的方框圖。
圖7是表示軌道交叉信號以及軌道誤差信號的波形例的圖。
圖8是表示擺動信號的波形例的圖。
圖9是表示從已記錄區(qū)檢測的擺動信號的波形例的圖。
圖10是表示信號檢測電路的一例的方框圖。
圖11是表示信號檢測電路的其它例的方框圖。
圖12是表示光盤裝置的一結(jié)構(gòu)例的方框圖。
標(biāo)號的說明1光信息記錄介質(zhì)2凹槽(槽)3岸(land)4軌道11四分割PD(photo decetor，光檢測器)(光接收元件)12I/V電路13伺服以及擺動檢測電路21LPF22、25～28放大器23振幅檢測電路24增益電路29、42信號校正電路31、41信號檢測電路
32記錄狀態(tài)判別電路33采樣電路34存儲電路35比較電路36開關(guān)電路(選擇部件)37、43加法器37選擇部件51光盤裝置(光信息記錄再生裝置)52拾取器53電機(jī)驅(qū)動電路54半導(dǎo)體激光器(光源)55物鏡56致動器57激光器驅(qū)動部58策略(strategy)發(fā)生部59激光器驅(qū)動電路60RF檢測電路具體實(shí)施方式
參照

用于實(shí)施本發(fā)明的最佳的方式。
圖1是表示一般的且本實(shí)施方式中也應(yīng)用的光信息記錄介質(zhì)(media)1的一結(jié)構(gòu)例的圖。這里，圖1(a)是介質(zhì)1的概略平面圖，圖1(b)是提取介質(zhì)1的一部分進(jìn)行表示的概略透視圖。
在介質(zhì)1中以同心圓狀或螺旋狀形成有由凹槽(槽)和岸3構(gòu)成的軌道4。該軌道4由介質(zhì)形成裝置預(yù)先形成。信息記錄再生裝置沿該軌道4進(jìn)行信息的記錄、再生。此外，在介質(zhì)1中，作為旋轉(zhuǎn)信息，在以線速度一定或角速度一定旋轉(zhuǎn)的情況下，軌道4進(jìn)行彎曲，以便可檢測一定頻率(周期)的信號(參照圖1(b))。在CD-RW或DVD+R/RW中，將該軌道4的彎曲設(shè)為大概一定頻率，同時設(shè)置稍微改變頻率或相位的部分，從而記錄地址信息。此外，也有僅軌道的一側(cè)彎曲的情況，或彎曲間斷地中斷的情況。
圖2表示接收照射到介質(zhì)1的光束的反射光，并提取各種信號的信號處理塊的一例。由四分割PD(光接收元件)11接收來自介質(zhì)1的反射光。該四分割接光收元件11由光學(xué)上對應(yīng)于介質(zhì)面的軌道切線方向和與其垂直方向的分割線區(qū)分為四個光接收區(qū)域。為了方便而將各光接收區(qū)域從左前開始按順時針設(shè)為A～D。I/V電路12將作為電流信號的光接收元件輸出變換為電壓信號。此外，通過伺服以及擺動檢測電路13的加法放大器、減法放大器、LPF(低通濾波器)或HPF(高通濾波器)，從被電壓變換的信號中提取各種信號。軌道交叉信號是(A+B+C+D)的運(yùn)算結(jié)果的低頻信號。軌道誤差信號是(A+D)-(B+C)的低頻信號。擺動信號是與軌道誤差信號相同的運(yùn)算，但是高頻信號。聚焦誤差信號是(A+C)-(B+D)的低頻信號。此外，再生(RF)信號最好由高頻帶的其它電路運(yùn)算，因此這里沒有記載，但運(yùn)算為(A+B+C+D)。
這里圖示的是各種信號的最簡單的運(yùn)算方法，但當(dāng)然光接收元件(PD)的分割形狀不限于此，也可以進(jìn)一步細(xì)分割，反之也可以減少2、3分割。即，只要對應(yīng)于各個光接收方式而使信號運(yùn)算最佳化就可以。此外，軌道誤差信號也可以是DPD(微分相位檢測)法。此外，也可以是從由主(main)和副(sub)構(gòu)成的多個光束檢測各種信號的情況。例如，軌道誤差信號是接收三個光束來進(jìn)行運(yùn)算的三光束法或DPP(Differential push-pull，微分推挽)法等的情況。另外，軌道交叉信號也可以通過三光束進(jìn)行運(yùn)算。此外，聚焦系統(tǒng)也可以是光接收元件。
此外，擺動信號可以由與軌道誤差信號不同的電路運(yùn)算，也可以在減法放大器之前插入各種校正電路。
即，只要通過檢測法而使運(yùn)算法適當(dāng)就可以，不依靠從該介質(zhì)1引出信號的方法、部件。
圖3是作為多層結(jié)構(gòu)表示雙層記錄介質(zhì)1的示意圖的圖。記錄層有第一層(相當(dāng)于記錄層B)和第二層(相當(dāng)于記錄層A)的兩個，光束入射到第一層。在第一層，以吸收率“A1”吸收光束的能量并進(jìn)行記錄。此外，由于反射率“R1”在標(biāo)記(已記錄區(qū))和空間(space)(未記錄區(qū))不同，因此可以從第一層的反射光中讀取記錄的數(shù)據(jù)。同時，以第一層記錄膜的透過率“T1”透過的光束到達(dá)第二層。在第二層通過以吸收率“A2”吸收的能量進(jìn)行記錄。然后，與第一層同樣，由于第二層的反射率“R2”在標(biāo)記和空間不同，因此可以從第二層的反射光中讀取記錄的數(shù)據(jù)。詳細(xì)地說，在來自第二層的反射光再次透過第一層時，進(jìn)行吸收以及反射，但在第二層中的反射時刻，由于光束強(qiáng)度充分減弱，因此在第二次到達(dá)第一層的時刻不進(jìn)行記錄。只要考慮為在多層的情況下也發(fā)生同樣的現(xiàn)象就可以。此外，與記錄膜的類型為追記型(R)還是重寫型(RW)無關(guān)，只要考慮為發(fā)生同樣的現(xiàn)象就可以。
圖4是用于以雙層記錄介質(zhì)1為例說明光束的流向的圖。圖4(a)是使光束的焦點(diǎn)聚焦在第一層記錄膜的情況。此外，從光源到介質(zhì)1的光(去路)以實(shí)線表示，來自介質(zhì)1的反射光(歸路)以虛線表示。此外，在圖4中，為了簡化而僅表示從物鏡一側(cè)入射的光的路徑。光束從物鏡向介質(zhì)存取位置(焦點(diǎn))聚光。該光束的光線軸以點(diǎn)劃線表示。由第一層反射的大部分的光束再次返回物鏡，這里雖未圖示，但經(jīng)過周圍的光學(xué)系統(tǒng)而會聚在光接收元件(PD)上。另一方面，由第二層反射的光束中通過物鏡中央部分的光束的反射光返回物鏡外側(cè)，或者即使返回到物鏡也在光接收元件之前的光學(xué)系統(tǒng)中發(fā)散，被引導(dǎo)到光接收元件的情況少。即，來自第二層的反射光漏入來自第一層的反射光的情況比較少。
另一方面，在圖4(b)是在第二層上聚焦的情況。與第一層時同樣，來自焦點(diǎn)聚焦的第二層的反射光返回到物鏡，聚光到光接收元件上。從第一層反射的光束中物鏡中央的光也返回物鏡，所以聚光在光接收元件上。但是，在圖4(a)中，關(guān)于通過不返回光接收元件的物鏡的一端的光，大部分返回物鏡，所以可以說在光接收元件之前的光學(xué)系統(tǒng)中發(fā)散，被引導(dǎo)到光接收元件的光比圖4(a)的情況多。另外，在焦點(diǎn)附近的部分放大圖中，將第一層記錄膜表示為記錄層B，將第二層記錄膜表示為記錄層A。此外，將光線軸上的記錄層A、B的點(diǎn)設(shè)為X點(diǎn)、Y點(diǎn)。另外，各點(diǎn)的大小具體是基于各層中的光束徑的區(qū)域(X區(qū)域、Y區(qū)域)。
這樣，在光束的焦點(diǎn)聚焦到第一層上的情況和焦點(diǎn)聚焦到第二層上的情況下，來自其它層的漏入的情況變化。具體來說，在從入射面存取里面的層(第二層)的情況下，近前的層(第一層)的反射光漏入并產(chǎn)生惡劣影響的情況多。此外，可以說在近前的層為已記錄狀態(tài)且反射光量少的情況下，惡劣影響減少。
圖5以信號電平對其進(jìn)行說明。上側(cè)表示從第一層的記錄膜反射光得到的信號電平，下側(cè)表示從第二層的記錄膜反射光得到的信號電平。此外，圖5(a)表示第一層(記錄層B)未記錄的情況，圖5(b)表示第一層(記錄層B)已記錄的情況下的信號電平。此外，圖5中的粗線是基準(zhǔn)(GND)電平，SIN波是以軌道交叉信號為例的信號電平。進(jìn)而，圖5中的小的虛線表示漏入引起的信號電平的偏移。
在圖5(a)所示的第一層未記錄的情況下，由于反射光大，所以在對第二層進(jìn)行存取并接收了反射光的情況下，來自第一層的反射光漏入的大，信號電平變大。一般地，由于漏入光進(jìn)入光接收元件整體，因此和光量變大。由于軌道交叉信號是和信號，所以產(chǎn)生信號電平增大的現(xiàn)象。
反之，如圖5(b)所示，在第一層已記錄的情況下，由于反射光小，所以在檢測第二層的信號時，不成為大的漏入，影響小。由此可知，第二層的信號電平較大地受第一層的記錄狀態(tài)(未記錄或已記錄)支配。另外，如圖5所示，第一層的信號電平和第一層已記錄的狀態(tài)中的第二層的信號電平大致相等。
在上述說明中，以軌道交叉信號為例簡單地進(jìn)行了說明。但是，在實(shí)用上，光束的光量變化、檢測電路的增益(放大率)等根據(jù)測定系統(tǒng)而不同，因此各種信號的規(guī)定通常由和信號(四分割光接收元件的情況下四個的相加)歸一化。圖6表示該電路塊的一例。和信號由LPF21平均化，通過放大器22。該輸出的振幅或信號電平由振幅檢測電路23測定，并由增益電路24決定放大率，以便成為目標(biāo)的電壓(目標(biāo)值)。放大器22以該放大率放大信號。通過該一系列的動作，歸一化和信號被保持在目標(biāo)的電壓。其它的信號(聚焦差錯信號、軌道交叉信號、軌道差錯信號、擺動信號等)也以與其相同的放大率(增益電路的輸出)由放大器25～28放大，生成各種歸一化信號。這樣的振幅的調(diào)整電路稱為AGC(自動增益控制)電路(信號校正電路)29。當(dāng)然，這些處理在由A/D轉(zhuǎn)換器數(shù)字化之后，即使數(shù)據(jù)處理地進(jìn)行也能得到同樣的效果。
由AGC電路29歸一化了的各種信號，在通過來自其它層的反射光的漏入而在和信號中產(chǎn)生了誤差的情況下，放大率變得不正確，信號規(guī)定中產(chǎn)生誤差。從而，期望沒有來自其它層的反射信號的漏入的狀態(tài)下的信號特性的規(guī)定。
因此，本實(shí)施方式中的第二層(記錄層A)的信號規(guī)定(振幅等)中，在第一層(記錄層B)已記錄的情況下(更一般地說，在鄰接層已記錄的情況下)確定各種信號特性的規(guī)格。此外，本實(shí)施方式中的第二層(記錄層A)的信號檢查(振幅等)中，在第一層(記錄層B)已記錄的情況下(更一般地說在鄰接層已記錄的情況下)進(jìn)行各種信號特性的檢查。另外，各種信號特性也可以在多個記錄層中以相等的值為目標(biāo)值。
此外，即使在實(shí)際進(jìn)行記錄再生動作的情況下，來自其它層的反射光漏入也產(chǎn)生惡劣影響，所以期望可以進(jìn)行鄰接層已記錄的狀態(tài)下的再生以及記錄。在所述的說明中，期望在近前的層為已記錄的狀態(tài)下，以對里面的層進(jìn)行存取的順序?qū)橘|(zhì)進(jìn)行記錄。
圖7是以與介質(zhì)1的軌道4的關(guān)系表示軌道交叉信號和軌道誤差信號的波形的圖。軌道交叉信號是在記錄信息(由標(biāo)記和空間構(gòu)成)的岸3的中心信號電平降低的波形。此外，軌道誤差信號是在凹槽中心零交(zero-cross)信號波形。具體來說，作為特性值由于與記錄密度的關(guān)系不同，因此難以確定，最好為“歸一化軌道交叉信號＞0.1”或“0.22＜?xì)w一化軌道誤差信號＜0.8”左右。特別適于以藍(lán)色激光為光源的記錄密度，這是考慮在擴(kuò)大凹槽寬并推進(jìn)窄軌道化的方面，在“歸一化軌道交叉信號＞0”或“0.2＜?xì)w一化軌道誤差信號＜0.5”左右。
圖8是表示擺動信號的波形例的圖。這里，圖8(a)是沒有調(diào)制的單調(diào)。此外，圖8(b)是重疊了FM調(diào)制的擺動波形。為了包含地址等信息而插入調(diào)制。同樣，圖8(c)是重疊了PM調(diào)制的擺動波形，圖8(d)是重疊了鋸齒調(diào)制的擺動波形，圖8(e)是重疊了MSK調(diào)制的擺動波形，圖8(f)是重疊了ON-OFF調(diào)制的擺動波形。當(dāng)然不限于這些例子，擺動信號的特性也通常由振幅確定。不是直接從和信號規(guī)定，而是從軌道誤差信號(也稱為推挽信號)規(guī)定的情況較多，由于軌道誤差信號自身由和信號規(guī)定，因此和信號由于來自鄰接層的反射光而具有誤差，擺動信號的規(guī)定也不能信賴。因此，與伺服信號相同，由于來自多層的反射光的漏入而需要不發(fā)生誤差的特性值的規(guī)定。具體來說，作為特性值，最好為“0.05＜?xì)w一化擺動信號＜0.3”左右。
圖9是表示從已記錄區(qū)檢測的擺動信號的波形例的圖。A+D、B+C是圖2的方框圖中的伺服以及擺動檢測電路13中的加法器輸出，(A+D)-(B+C)是擺動信號。A+D以及B+C信號與擺動信號相比，是在信號強(qiáng)度強(qiáng)的數(shù)據(jù)信號中埋入擺動分量的狀態(tài)。這里，通過計(jì)算兩者的差分，除了作為同相分量重疊到兩信號上的數(shù)據(jù)信號之外，還可以檢測擺動信號。但是，由于光學(xué)偏差或介質(zhì)傾斜、記錄標(biāo)記的形狀等的影響，A+D和B+C的兩信號上重疊的數(shù)據(jù)信號的強(qiáng)度產(chǎn)生差時，不能從擺動信號中完全除去數(shù)據(jù)信號，而作為噪聲殘留。一般地，擺動質(zhì)量由C/N(載波比噪聲)來規(guī)定。在現(xiàn)有的單層記錄的情況下，具體來說，雖然根據(jù)擺動頻率而不同，但最好為“擺動C/N值＞31dB”左右。這是在從已記錄的鄰接記錄層漏入反射光的情況下，由于反射光上重疊了數(shù)據(jù)信號分量，因此對于擺動信號成為噪聲，質(zhì)量降低。對鄰接記錄層的光束不完全聚光，因此數(shù)據(jù)信號等高頻分量的強(qiáng)度不那么強(qiáng)，但是擺動信號與數(shù)據(jù)信號相比，僅能得到非常小的振幅，因此不能忽略。因此，擺動信號質(zhì)量的規(guī)定也與振幅規(guī)定同樣，期望在鄰接記錄層已記錄的狀態(tài)下進(jìn)行。
另外，如果是僅在鄰接的記錄層全部已記錄的情況下進(jìn)行記錄再生，只要根據(jù)其規(guī)定設(shè)計(jì)電路特性就可以。但是，盡可能要在未記錄的情況下也進(jìn)行記錄再生。因此，在鄰接的記錄層未記錄的情況下和已記錄的情況下，考慮預(yù)先測定漏入的反射光的量，并根據(jù)鄰接的記錄層的記錄狀態(tài)校正其差。另外，在第一層(記錄層B)未記錄的條件下也確定各種信號特性，并且也可以使其與由第一層(記錄層B)已記錄的條件確定的第二層(記錄層A)中的各種信號特性不同。
圖10以及圖11表示用于預(yù)先取得來自其它層的反射光漏入級別(level)，并對其進(jìn)行校正從而正確地檢測各種信號的信號檢測電路31、41的電路結(jié)構(gòu)。圖10是表示包含AGC電路的信號檢測電路的一例的圖，圖11表示在圖10的AGC電路的結(jié)構(gòu)簡化了的信號檢測電路的一例。此外，兩圖中以虛線表示的各種信號用的部分都可以與圖2同樣以相同的結(jié)構(gòu)連接多個，并可以與各種信號(聚焦誤差信號、軌道交叉信號等)對應(yīng)。在說明上由于是相同的電路，所以省略。
首先，記錄狀態(tài)判別電路32判別目的的存取記錄層的鄰接記錄層是未記錄區(qū)還是已記錄區(qū)。這可以預(yù)先再生介質(zhì)管理區(qū)，并在其外部信息和當(dāng)前的存取位置的比較中進(jìn)行推測。當(dāng)然也可以將由其它的部件檢測出的結(jié)果作為外部信息。在該記錄狀態(tài)判別電路32中，確認(rèn)鄰接記錄層的記錄狀態(tài)，同時采樣電路33以鄰接的記錄層未記錄和已記錄的兩條件保持和信號的反射信號電平(可以是最大振幅或平均值)，并由存儲電路34存儲該電平的結(jié)果。此時，存取中的記錄層需要將兩條件都設(shè)為未記錄或已記錄的相同條件。存儲電路34將存儲的鄰接的記錄層是未記錄的情況的和信號電平，和已記錄的情況的和信號電平輸出到比較電路35。比較電路35運(yùn)算兩個和信號電平的差。根據(jù)記錄狀態(tài)判別電路32的輸出，通過使開關(guān)電路(選擇部件)36接通-關(guān)斷來決定是否經(jīng)由加法器37使用該比較電路35的輸出信號作為信號校正電路(AGC電路)29的控制線。
作為具體的例子，在鄰接的記錄層未記錄的情況下，由于反射光的漏入大，因此控制線接通，作為信號校正電路29的控制線使用，而在已記錄的情況下關(guān)斷控制線而不使用。圖10中的信號校正電路(點(diǎn)劃線)29構(gòu)成與由圖6所示的和信號歸一化的AGC電路同樣的電路。進(jìn)行將和信號的電壓設(shè)為目標(biāo)值的動作，但通過由加法器37對該和信號加上(或減去)比較電路35的輸出，可以除去和信號電平由于來自鄰接的記錄層的漏入而偏移的部分。此外，不僅偏移而且增益也可以進(jìn)行同樣的動作。即，通過根據(jù)比較電路35的輸出變更增益電路24的目標(biāo)電壓，只要設(shè)定為除去和信號偏移的部分的目標(biāo)電壓就可以。與圖6的說明同樣，如果由用于將各種信號的放大率設(shè)為與和信號的放大率相同的放大器25～28構(gòu)成，則由和信號進(jìn)行歸一化。
圖11所示的信號檢測電路41也同樣，但圖11中的信號校正電路42不是由和信號歸一化的AGC，而是獨(dú)立地校正各種信號的偏移或增益。與所述說明相同，比較電路35的輸出通過記錄狀態(tài)判別電路32由開關(guān)部件36接通-關(guān)斷。通過該比較電路35的輸出，經(jīng)由加法器43直接校正各種信號的偏移或增益。
圖12是表示光盤裝置(光信息記錄再生裝置)51的一結(jié)構(gòu)例的圖。光盤裝置51可以分為裝載了光學(xué)系統(tǒng)的拾取器52、拾取器52的移動或旋轉(zhuǎn)光信息記錄介質(zhì)(media)1的電機(jī)驅(qū)動電路53、各種電路。
另外，拾取器52包括作為光束的光源的半導(dǎo)體激光器54、將光束導(dǎo)入各元件的光學(xué)部件、是光束聚光到介質(zhì)1上的物鏡55、控制為了使光點(diǎn)追蹤要求的位置的透鏡位置的致動器56、接收來自光盤1的反射光的光接收元件(PD)11。
此外，電路是由決定使半導(dǎo)體激光器54發(fā)光的電流的激光器驅(qū)動部57和決定記錄以及再生發(fā)光波形的策略發(fā)生部58構(gòu)成的激光器驅(qū)動電路59。半導(dǎo)體激光器54的電流相對光輸出特性根據(jù)溫度而變化大，因此一般裝載有檢測由激光器驅(qū)動部57輸出的光強(qiáng)度并使輸出穩(wěn)定的輸出控制功能。光強(qiáng)度的檢測可以使用半導(dǎo)體激光器54中內(nèi)置的光接收元件，也可以構(gòu)筑未圖示的專用的光學(xué)系統(tǒng)。作為記錄數(shù)據(jù)從外部傳輸?shù)挠脩魯?shù)據(jù)在由CPU等控制的編碼器中被變換為記錄信息之后，從編碼器傳送到激光器驅(qū)動電路59并被記錄在介質(zhì)1中。
作為其它的電路，由光接收元件11接收的來自介質(zhì)1的反射信號通過I/V電路12進(jìn)行電流/電壓變換，并被傳送到RF檢測電路60或伺服以及擺動檢測電路13。該I/V電路12在初級電路的位置，最好在再生時和記錄時分別設(shè)定適合的變換效率(增益)。RF檢測電路60提取記錄在介質(zhì)1中的信息分量，并將提取的信息分量傳送到解碼器。此外，被傳送的信息分量由解碼器變換為用戶數(shù)據(jù)。
在包含如所述的信號檢測電路31、41等的伺服以及擺動檢測電路13的伺服系統(tǒng)中提取點(diǎn)的位置信息，并對為了使光點(diǎn)追蹤要求的位置的電機(jī)驅(qū)動電路53發(fā)出指示，使拾取器52或致動器56移動。多層間的聚焦(焦點(diǎn))移動也通過致動器56的移動進(jìn)行。此外，在擺動系統(tǒng)中，基于由介質(zhì)1上的軌道切線方向的分割線二分割的光接收元件11中的輸出的差分的推挽信號來提取刻在軌道4上的擺動信號分量，并傳送到例如地址檢測電路或時鐘生成電路等，用于介質(zhì)1上的絕對位置的管理或與介質(zhì)旋轉(zhuǎn)同步的時鐘生成、介質(zhì)旋轉(zhuǎn)控制。
權(quán)利要求
1.一種光信息記錄介質(zhì)，具有可記錄的多個記錄層，其特征在于，所述多個記錄層中、某記錄層A的某一區(qū)域X中的各種信號特性，由在照射到所述區(qū)域X的光束的光線軸上對于所述記錄層A鄰接到入射端的記錄層B的區(qū)域Y是已記錄區(qū)的條件來進(jìn)行決定。
2.如權(quán)利要求1所述的光信息記錄介質(zhì)，其特征在于，所述各種信號特性的值在所述多個記錄層中以相等的值作為目標(biāo)值。
3.如權(quán)利要求1所述的光信息記錄介質(zhì)，其特征在于，所述各種信號特性也由所述區(qū)域Y是未記錄區(qū)的條件決定，并且，與在所述區(qū)域Y是已記錄區(qū)的條件決定的所述區(qū)域X中的各種信號特性不同。
4.如權(quán)利要求1所述的光信息記錄介質(zhì)，其特征在于，所述各種信號特性的一個是在光束橫切軌道時得到的軌道交叉信號的振幅。
5.如權(quán)利要求1所述的光信息記錄介質(zhì)，其特征在于，所述各種信號特性的一個是在光束橫切軌道時得到的軌道誤差信號的振幅。
6.如權(quán)利要求1所述的光信息記錄介質(zhì)，其特征在于，所述各種信號特性的一個是作為軌道的彎曲分量的擺動信號的振幅。
7.如權(quán)利要求1所述的光信息記錄介質(zhì)，其特征在于，所述各種信號特性的一個是作為軌道的彎曲分量的擺動信號的相對噪聲質(zhì)量。
8.一種介質(zhì)特性規(guī)定方法，其特征在于，對于具有可記錄的多個記錄層的光信息記錄介質(zhì)，所述多個記錄層中、某記錄層A的某一區(qū)域X中的各種信號特性，由在照射到所述區(qū)域X的光束的光線軸上對于所述記錄層A鄰接到入射端的記錄層B的區(qū)域Y是已記錄區(qū)的條件來進(jìn)行決定。
9.如權(quán)利要求8所述的介質(zhì)特性規(guī)定方法，其特征在于，所述各種信號特性的值在所述多個記錄層中以相等的值作為目標(biāo)值。
10.如權(quán)利要求8所述的介質(zhì)特性規(guī)定方法，其特征在于，所述各種信號特性也在所述區(qū)域Y是未記錄區(qū)的條件下決定，并且，與在所述區(qū)域Y是已記錄區(qū)的條件決定的所述區(qū)域X中的各種信號特性不同。
11.如權(quán)利要求8所述的介質(zhì)特性規(guī)定方法，其特征在于，所述各種信號特性的一個是在光束橫切軌道時得到的軌道交叉信號的振幅。
12.如權(quán)利要求8所述的介質(zhì)特性規(guī)定方法，其特征在于，所述各種信號特性的一個是在光束橫切軌道時得到的軌道誤差信號的振幅。
13.如權(quán)利要求8所述的介質(zhì)特性規(guī)定方法，其特征在于，所述各種信號特性的一個是作為軌道的彎曲分量的擺動信號的振幅。
14.如權(quán)利要求8所述的介質(zhì)特性規(guī)定方法，其特征在于，所述各種信號特性的一個是作為軌道的彎曲分量的擺動信號的相對噪聲質(zhì)量。
15.一種信號檢測方法，比較在照射到光信息記錄介質(zhì)具有的可記錄的多個記錄層中、某記錄層A的某一區(qū)域X的光束的光線軸上對于所述記錄層A連接到入射端的記錄層B的區(qū)域Y是未記錄區(qū)的條件中的所述區(qū)域X的反射信號電平，和所述區(qū)域Y是已記錄區(qū)的條件中的所述區(qū)域X的反射信號電平，并基于該比較結(jié)果，根據(jù)所述區(qū)域Y的記錄狀態(tài)，進(jìn)行所述區(qū)域X中的各種信號的放大率或偏移的變更。
16.一種信號檢測電路，其特征在于包括采樣電路，保持光信息記錄介質(zhì)具有的可記錄的多個記錄層中、或者記錄層A的某一區(qū)域X的反射信號電平；記錄狀態(tài)判別電路，判別在照射到所述區(qū)域X的光束的光線軸上對于記錄層A鄰接到入射端的記錄層B的區(qū)域Y是未記錄區(qū)還是已記錄區(qū)；存儲電路，在所述區(qū)域Y是未記錄區(qū)以及已記錄區(qū)的各個情況下，存儲保持在所述采樣電路中保持的采樣電路的輸出；比較電路，求從該存儲電路輸出的、所述區(qū)域Y為未記錄區(qū)時和已記錄區(qū)時的信號的差；信號校正電路，將該比較電路的輸出以及所述區(qū)域X的反射信號電平作為控制信號，變更各種信號的放大率或偏移；以及選擇部件，根據(jù)所述記錄狀態(tài)判別電路的輸出，選擇是否作為所述信號校正電路的控制信號使用所述比較電路的輸出。
17.一種光信息記錄再生裝置，其特征在于，具有旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)，旋轉(zhuǎn)驅(qū)動光信息記錄介質(zhì)；以及拾取器，具有光源、物鏡，對所述光信息記錄介質(zhì)照射光束，同時接收來自所述光信息記錄介質(zhì)的反射光，以權(quán)利要求1記載的光信息記錄介質(zhì)為對象，進(jìn)行信息的記錄或再生。
18.如權(quán)利要求17所述的光信息記錄再生裝置，其特征在于，裝載有權(quán)利要求16所述的信號檢測電路。
19.一種介質(zhì)特性檢查方法，是具有可記錄的多個記錄層的光信息記錄介質(zhì)的介質(zhì)特性檢查方法，其特征在于，所述多個記錄層中、某記錄層A的某一區(qū)域X中的各種信號特性，根據(jù)在所述區(qū)域X中成為聚焦點(diǎn)的光束的光線軸上對于該記錄層A鄰接到入射端的記錄層B的區(qū)域Y是已記錄區(qū)的條件來進(jìn)行檢查。
20.如權(quán)利要求19所述的介質(zhì)特性檢查方法，其特征在于，所述各種信號特性的值在所述多個記錄層中以相等的值作為目標(biāo)值。
21.如權(quán)利要求19所述的介質(zhì)特性檢查方法，其特征在于，所述各種信號特性也在所述區(qū)域Y是未記錄區(qū)的條件下檢查，并且，與在所述區(qū)域Y是已記錄區(qū)的條件檢查的所述區(qū)域X中的各種信號特性不同。
22.如權(quán)利要求19所述的介質(zhì)特性檢查方法，其特征在于，所述各種信號特性的一個是在光束橫切軌道時得到的軌道交叉信號的振幅。
23.如權(quán)利要求19所述的介質(zhì)特性檢查方法，其特征在于，所述各種信號特性的一個是在光束橫切軌道時得到的軌道誤差信號的振幅。
24.如權(quán)利要求19所述的介質(zhì)特性檢查方法，其特征在于，所述各種信號特性的一個是作為軌道的彎曲分量的擺動信號的振幅。
25.如權(quán)利要求19所述的介質(zhì)特性檢查方法，其特征在于，所述各種信號特性的一個是作為軌道的彎曲分量的擺動信號的相對噪聲質(zhì)量。
全文摘要
一種具有可記錄的多個記錄層的光信息記錄介質(zhì)，其中所述多個記錄層中、記錄層A(第二層)的某一區(qū)域X中的各種信號特性，由在照射到所述區(qū)域X的光束的光線軸上對于所述記錄層A(第二層)鄰接到入射端的記錄層B(第一層)的區(qū)域Y是已記錄區(qū)的條件來決定。由此，抑制來自鄰接的記錄層的漏入光引起的各種信號特性的測定偏差、誤差，從而可以進(jìn)行可靠性和互換性、再生性高的特性值的介質(zhì)參數(shù)的管理、規(guī)定。
文檔編號G11B7/24GK1774743SQ200480009780
公開日2006年5月17日 申請日期2004年7月29日 優(yōu)先權(quán)日2003年8月22日
發(fā)明者前川博史 申請人:株式會社理光