本發(fā)明涉及紅外探測(cè)領(lǐng)域,具體涉及一種紅外超材料吸收器及其制備方法。
背景技術(shù):
中遠(yuǎn)紅外的吸收器可以用于制造紅外探測(cè)器,在生物傳感、熱成像、醫(yī)療診斷方面具有廣泛應(yīng)用。傳統(tǒng)的紅外探測(cè)材料需要低溫環(huán)境,不僅高成本,還犧牲了它們的便捷性;iv-vi族的探測(cè)器材料已經(jīng)得到廣泛研究,但它們的機(jī)械性能較差,介電常數(shù)大;iii-v族的元素的材料已經(jīng)有很成熟的技術(shù),并可制成單片集成電路,但它們?cè)谛纬僧愘|(zhì)外延時(shí)會(huì)形成晶格失配;量子點(diǎn)和量子阱也被應(yīng)用在光探測(cè)器上,但常溫下量子點(diǎn)弱吸收限制了其大規(guī)模應(yīng)用。
人工超材料由于其具有如負(fù)折射率的獨(dú)特性質(zhì),顯示出在紅外探測(cè)上的應(yīng)用前景。人工超材料吸收器展現(xiàn)出了自然材料沒(méi)有的優(yōu)點(diǎn),例如高吸收特性、共振頻率可調(diào)性、易生產(chǎn)性、高品質(zhì),因此超材料探測(cè)器的優(yōu)良性能日益凸顯。雖然在太赫茲領(lǐng)域有了高速的發(fā)展,但大多數(shù)的超材料吸收器仍停留在單峰吸收上,與單邊吸收器相比,雙邊吸收有很多的優(yōu)勢(shì),比如更好的影像對(duì)比特性,更長(zhǎng)的測(cè)距和在特定波段上更高的空間分辨率。但是,傳統(tǒng)雙邊帶探測(cè)器由于存在復(fù)雜的材料部件和表面結(jié)構(gòu),使它的信號(hào)響應(yīng)效率很低。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
有鑒于此,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N紅外超材料吸收器及其制備方法,能夠應(yīng)用于紅外探測(cè)上,能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)不同紅外波段雙峰或多峰的吸收,可提高其吸收效率至98%以上。
為解決以上技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供的技術(shù)方案是一種紅外超材料吸收器,所述超材料吸收器包括依次設(shè)置的基底、薄膜層、電介質(zhì)層、共振圈結(jié)構(gòu)層,所述共振圈結(jié)構(gòu)層包括至少一個(gè)金屬納米環(huán),所述金屬納米環(huán)的半徑不大于2000nm,所述金屬納米環(huán)的寬度不大于100nm。
具體的,當(dāng)金屬納米環(huán)的個(gè)數(shù)為1時(shí),優(yōu)選的,所述金屬納米環(huán)的半徑為450nm或1050nm,所述金屬納米環(huán)的寬度為100nm。
優(yōu)選的,所述共振圈結(jié)構(gòu)層包括至少2個(gè)金屬納米環(huán),每個(gè)所述金屬納米環(huán)的圓心重合,相鄰所述金屬納米環(huán)的環(huán)距不小于100nm。
更為優(yōu)選的,相鄰所述金屬納米環(huán)的半徑差值為300~600nm。
具體的,當(dāng)金屬納米環(huán)的個(gè)數(shù)為2時(shí),優(yōu)選的,沿半徑方向由內(nèi)到外的第一金屬納米環(huán)的半徑為450nm,第二金屬納米環(huán)半徑為1050nm,所述第一金屬納米環(huán)和所述第二金屬納米環(huán)的寬度為100nm。
具體的,當(dāng)金屬納米環(huán)的個(gè)數(shù)為3時(shí),優(yōu)選的,沿半徑方向由內(nèi)到外的第一金屬納米環(huán)的半徑為450nm,第二金屬納米環(huán)的半徑為750nm,所述第三金屬納米環(huán)的半徑為1050nm,所述第一金屬納米環(huán)、所述第二金屬納米環(huán)、所述第三金屬納米環(huán)的寬度為100nm。
優(yōu)選的,所述基底的材料為硅或砷化鎵,所述薄膜層的材料為金、銀、銅、鋁中的任意一種。
更為優(yōu)選的,所述基底的材料為p型摻雜硅、n型摻雜硅、未摻雜硅中的任意一種。
優(yōu)選的,所述電介質(zhì)層的材料為氮化硅、氧化硅、氧化鋁、氟化鎂中的任意一種。
優(yōu)選的,所述金屬納米環(huán)的材料為金、銀、銅、鋁中的任意一種。
優(yōu)選的,所述薄膜層的厚度不大于200nm。
優(yōu)選的,所述電介質(zhì)層的厚度不大于300nm。
優(yōu)選的,所述金屬納米環(huán)的厚度為50~200nm。
本申請(qǐng)技術(shù)方案還提供一種紅外超材料吸收器的制備方法,所述制備方法包括以下步驟:
(1)提供一基底,所述基底的材料為硅或砷化鎵;
(2)在所述基底上生長(zhǎng)薄膜層,所述薄膜層的材料為金、銀、銅鋁中的任意一種;
(3)在所述薄膜層上生長(zhǎng)電介質(zhì)層,所述電介質(zhì)層的材料為氮化硅、氧化硅、氧化鋁、氟化鎂中的任意一種;
(4)在所述電介質(zhì)層上形成共振圈結(jié)構(gòu)層,所述共振圈結(jié)構(gòu)層包括至少一個(gè)金屬納米環(huán),所述金屬納米環(huán)的半徑不大于2000nm,所述金屬納米環(huán)的寬度不大于100nm,所述金屬納米環(huán)的材料為金、銀、銅、鋁中的任意一種;
(5)封裝后得到所述紅外超材料吸收器成品。
優(yōu)選的,所述薄膜層采用電子束蒸發(fā)或磁控濺射方法形成;所述電介質(zhì)層采用電子束蒸發(fā)、磁控濺射、原子層沉積、等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積方法中的任意一種形成;所述金屬納米環(huán)采用深紫外光刻或電子束曝光方法形成。
優(yōu)選的,所述薄膜層的厚度不大于200nm。
優(yōu)選的,所述電介質(zhì)層的厚度不大于300nm。
優(yōu)選的,所述金屬納米環(huán)的厚度為50~200nm。
優(yōu)選的,所述的封裝后得到所述紅外超材料吸收器成品具體為:通過(guò)連接外圍電路,封裝測(cè)試,制作成紅外超材料吸收器成品。
另外,也可以連接外圍的光電轉(zhuǎn)換電路,制作成探測(cè)器。
在本申請(qǐng)技術(shù)方案中,所述的紅外超材料吸收器,能夠應(yīng)用于紅外探測(cè)上,通過(guò)共振圈結(jié)構(gòu)層的金屬納米環(huán)的個(gè)數(shù)、不同的半徑、金屬納米環(huán)的間距等,可以增加紅外超材料吸收器的吸收峰數(shù),從而增加其在用于紅外探測(cè)時(shí)的分辨率、敏感度以及測(cè)距,同時(shí)通過(guò)調(diào)節(jié)以上不同參數(shù)制備出的紅外超材料吸收器,能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)不同紅外波段雙峰或多峰的吸收,可提高其吸收效率至98%以上。
具體來(lái)說(shuō),所述超材料吸收器包括了基底、薄膜層、電介質(zhì)層、共振圈結(jié)構(gòu)層,其中,共振圈結(jié)構(gòu)層包括了至少一個(gè)金屬納米環(huán),金屬納米環(huán)的個(gè)數(shù)可以為1,2,3,4……,金屬納米環(huán)的半徑不大于2000nm,寬度不大于100nm,當(dāng)金屬納米環(huán)的個(gè)數(shù)大于1時(shí),各金屬納米環(huán)的圓心重合,各金屬納米環(huán)的半徑不同,且具有一定的環(huán)間距,通過(guò)調(diào)節(jié)金屬納米環(huán)的數(shù)量、半徑的大小、環(huán)間距的大小,可以實(shí)現(xiàn)雙峰或多峰的吸收,此外,通過(guò)增加多環(huán),可以實(shí)現(xiàn)中遠(yuǎn)紅外任意波長(zhǎng)的全吸收。此外,通過(guò)調(diào)整不同的電介質(zhì)層的材料,以調(diào)整電介質(zhì)層的折射率或者是電介質(zhì)常數(shù),可使實(shí)現(xiàn)不同紅外波段雙峰或多峰的吸收,同時(shí)通過(guò)以上設(shè)置,可以提高紅外超材料吸收器的吸收率。
因此,與現(xiàn)有技術(shù)相比,本申請(qǐng)所述技術(shù)方案的有益效果在于:
(1)通過(guò)環(huán)狀的對(duì)稱(chēng)結(jié)構(gòu)可降低材料對(duì)入射波偏振的敏感度,從而吸收任意偏振的紅外電磁波。
(2)通過(guò)改變環(huán)狀結(jié)構(gòu)的環(huán)數(shù),改變吸收的峰數(shù),一個(gè)單元可實(shí)現(xiàn)多峰的吸收。
(3)通過(guò)改變環(huán)狀大小及環(huán)間距可以改變吸收峰所處的波段,實(shí)現(xiàn)一個(gè)單元的可調(diào)節(jié)性。
(4)相對(duì)于現(xiàn)有的結(jié)構(gòu)式吸收材料,本申請(qǐng)技術(shù)方案的吸收峰值發(fā)生在中和遠(yuǎn)紅外波段。
(5)具有多個(gè)窄帶頻譜特性,在紅外探測(cè)、紅外成像以及熱輻射器等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。
(6)對(duì)于寬角度入射和不同偏振特性的紅外電磁波都具有完美的吸收效果,易于很好的適應(yīng)復(fù)雜的電磁環(huán)境。
(7)由于環(huán)狀結(jié)構(gòu)易于制作和排列,簡(jiǎn)化了工藝過(guò)程。
(8)由于環(huán)狀結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性,可以適應(yīng)一定的惡劣環(huán)境而其性能并不發(fā)生偏離。
附圖說(shuō)明
圖1是本申請(qǐng)所述紅外超材料吸收器的結(jié)構(gòu)示意圖,其中金屬納米環(huán)的個(gè)數(shù)為2;
圖2是圖1的俯視圖。
具體實(shí)施方式
為了使本領(lǐng)域的技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案,下面結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。
本申請(qǐng)所述的一種紅外超材料吸收器,如圖1、圖2所示,包括依次設(shè)置的基底1、薄膜層2、電介質(zhì)層3、共振圈結(jié)構(gòu)層4,所述共振圈結(jié)構(gòu)層4包括至少一個(gè)金屬納米環(huán)5,每個(gè)金屬納米環(huán)5的半徑不大于2000nm,寬度不大于100nm,厚度為50~200nm,每個(gè)金屬納米環(huán)5的圓心重合,相鄰金屬納米環(huán)5的半徑差值不小于100nm。
其中,基底1的材料為硅或砷化鎵,薄膜層2的材料為金、銀、銅、鋁中的任意一種,所述電介質(zhì)層3的材料為氮化硅、氧化硅、氧化鋁、氟化鎂中的任意一種。
其中,所述薄膜層2的厚度不大于200nm,所述電介質(zhì)層3的厚度不大于300nm。
其制備方法包括以下步驟:
(1)提供一基底1,所述基底1的材料為硅或砷化鎵;
(2)在所述基底1上生長(zhǎng)薄膜層2,所述薄膜層2的材料為金、銀、銅鋁中的任意一種,厚度不大于200nm,采用電子束蒸發(fā)或磁控濺射方法形成;
(3)在所述薄膜層2上生長(zhǎng)電介質(zhì)層3,所述電介質(zhì)層3的材料為氮化硅、氧化硅、氧化鋁、氟化鎂中的任意一種,厚度不大于300nm,采用電子束蒸發(fā)、磁控濺射、原子層沉積、等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積方法中的任意一種形成;
(4)在所述電介質(zhì)層3上形成共振圈結(jié)構(gòu)層4,所述共振圈結(jié)構(gòu)層4包括至少一個(gè)金屬納米環(huán)5,所述金屬納米環(huán)5的半徑不大于2000nm,所述金屬納米環(huán)5的寬度不大于100nm,厚度為50~200nm,采用深紫外光刻或電子束曝光方法形成;
(5)封裝后得到所述紅外超材料吸收器成品。
為了驗(yàn)證本申請(qǐng)技術(shù)方案的技術(shù)效果,在上述具體實(shí)施方式要求的基礎(chǔ)上,采用具體參數(shù)進(jìn)行試驗(yàn)驗(yàn)證,得到以下具體實(shí)施例。
實(shí)施例1
如圖1、圖2所示,本實(shí)施例所述的一種紅外超材料吸收器,包括依次設(shè)置的基底1、薄膜層2、電介質(zhì)層3、共振圈結(jié)構(gòu)層4,所述共振圈結(jié)構(gòu)層4包括至少一個(gè)金屬納米環(huán)5。
其具體制備方法如下:
(1)提供一基底1,所述基底1的材料為硅或砷化鎵;
(2)在所述基底1上生長(zhǎng)薄膜層2,采用電子束蒸發(fā)或磁控濺射方法形成;
(3)在所述薄膜層2上生長(zhǎng)電介質(zhì)層3,采用電子束蒸發(fā)、磁控濺射、原子層沉積、等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積方法中的任意一種形成;
(4)在所述電介質(zhì)層3上形成共振圈結(jié)構(gòu)層4,所述共振圈結(jié)構(gòu)層4包括至少一個(gè)金屬納米環(huán)5,采用深紫外光刻或電子束曝光方法形成圖案,進(jìn)一步形成圖形;
(5)封裝后得到所述紅外超材料吸收器成品。
實(shí)施例2
根據(jù)實(shí)施例1,本實(shí)施例所述的一種紅外超材料吸收器,基底1采用p型摻雜硅為材料,薄膜層2采用金為材料,厚度為100nm;電介質(zhì)層3采用氧化硅為材料,厚度為250nm;金屬納米環(huán)5的數(shù)量為1,采用金為材料,厚度為100nm,金屬納米環(huán)5的半徑為450nm,寬度為100nm;周期p為2400nm,采用實(shí)施例1所述的制備方法進(jìn)行制備成為成品。通過(guò)此實(shí)施例,能實(shí)現(xiàn)在中紅外的4300nm附近的波的全吸收。
實(shí)施例3
根據(jù)實(shí)施例1,本實(shí)施例所述的一種紅外超材料吸收器,基底1采用n型摻雜硅為材料,薄膜層2采用銀為材料,厚度為150nm;電介質(zhì)層3采用氮化硅為材料,厚度為200nm;金屬納米環(huán)5的數(shù)量為1,采用銀為材料,厚度為50nm,金屬納米環(huán)5的半徑為450nm,寬度為100nm;周期p為2400nm,采用實(shí)施例1所述的制備方法進(jìn)行制備成為成品。通過(guò)此實(shí)施例,能實(shí)現(xiàn)在4300nm(中紅外)波段97.1%的吸收。
實(shí)施例4
根據(jù)實(shí)施例1,本實(shí)施例所述的一種紅外超材料吸收器,基底1采用未摻雜硅為材料,薄膜層5采用銅為材料,厚度為200nm;電介質(zhì)層3采用氧化鋁為材料,厚度為300nm;金屬納米環(huán)5的數(shù)量為1,采用銅為材料,厚度為200nm,金屬納米環(huán)5的半徑為450nm,寬度為100nm;周期p為2400nm,采用實(shí)施例1所述的制備方法進(jìn)行制備成為成品。通過(guò)此實(shí)施例,能實(shí)現(xiàn)在4300nm(中紅外)波段97.3%的吸收。
實(shí)施例5
根據(jù)實(shí)施例1,本實(shí)施例所述的一種紅外超材料吸收器,基底1采用砷化鎵為材料,薄膜層2采用鋁為材料,厚度為100nm;電介質(zhì)層3采用氟化鎂為材料,厚度為250nm;金屬納米環(huán)5的數(shù)量為1,采用鋁為材料,厚度為100nm,金屬納米環(huán)5的半徑為450nm,寬度為100nm;周期p為2400nm,采用實(shí)施例1所述的制備方法進(jìn)行制備成為成品。通過(guò)此實(shí)施例,能實(shí)現(xiàn)在4300nm(中紅外)波段95.2%的吸收。
實(shí)施例6
根據(jù)實(shí)施例1,本實(shí)施例所述的一種紅外超材料吸收器,基底1采用未摻雜硅為材料,薄膜層2采用金為材料,厚度為100nm;電介質(zhì)層3采用氧化硅為材料,厚度為250nm;金屬納米環(huán)5的數(shù)量為1,采用金為材料,厚度為100nm,金屬納米環(huán)5的半徑為2000nm,寬度為100nm;周期p為2400nm,采用實(shí)施例1所述的制備方法進(jìn)行制備成為成品。通過(guò)此實(shí)施例,能實(shí)現(xiàn)在4300nm(中紅外)波段99.1%的吸收。
實(shí)施例7
根據(jù)實(shí)施例1,本實(shí)施例所述的一種紅外超材料吸收器,基底1采用未摻雜硅為材料,薄膜層2采用金為材料,厚度為100nm;電介質(zhì)層3采用氧化硅為材料,厚度為250nm;金屬納米環(huán)5的數(shù)量為1,采用金為材料,厚度為100nm,金屬納米環(huán)5的半徑為1050nm,寬度為100nm;周期p為2400nm,采用實(shí)施例1所述的制備方法進(jìn)行制備成為成品。通過(guò)此實(shí)施例,能實(shí)現(xiàn)在9800nm(遠(yuǎn)紅外)波段94.3%的吸收。
實(shí)施例8
根據(jù)實(shí)施例1,本實(shí)施例所述的一種紅外超材料吸收器,基底1采用未摻雜硅為材料,薄膜層2采用金為材料,厚度為100nm;電介質(zhì)層3采用氧化硅為材料,厚度為250nm;金屬納米環(huán)5的數(shù)量為2,采用金為材料,厚度為100nm,沿半徑方向由內(nèi)到外的第一金屬納米環(huán)的半徑為450nm,第二金屬納米環(huán)半徑為1050nm,寬度均為100nm;周期p為2400nm,采用實(shí)施例1所述的制備方法進(jìn)行制備成為成品。通過(guò)此實(shí)施例,能實(shí)現(xiàn)在中紅外(4300nm)和遠(yuǎn)紅外(9800nm)附近波的雙邊吸收,平均最大吸收效率為96.7%。
實(shí)施例9
根據(jù)實(shí)施例1,本實(shí)施例所述的一種紅外超材料吸收器,基底1采用未摻雜硅為材料,薄膜層2采用金為材料,厚度為100nm;電介質(zhì)層3采用氧化硅為材料,厚度為250nm;金屬納米環(huán)5的數(shù)量為2,采用金為材料,厚度為100nm,沿半徑方向由內(nèi)到外的第一金屬納米環(huán)的半徑為450nm,第二金屬納米環(huán)半徑為750nm,第三納米環(huán)的半徑為1050nm,寬度均為100nm;周期p為2400nm,采用實(shí)施例1所述的制備方法進(jìn)行制備成為成品。通過(guò)此實(shí)施例,能實(shí)現(xiàn)在中紅外(4300nm,6400nm)和遠(yuǎn)紅外(9800nm)附近波的雙邊吸收,其平均最大吸收效率為94.5%。
以上僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出的是,上述優(yōu)選實(shí)施方式不應(yīng)視為對(duì)本發(fā)明的限制,本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)當(dāng)以權(quán)利要求所限定的范圍為準(zhǔn)。對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō),在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi),還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾,這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。