本發(fā)明涉及通信技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種基于多天線的降低比吸收率SAR的方法及電子裝置。

背景技術(shù)：

隨著通信技術(shù)的不斷發(fā)展，越來越多的電子裝置采用多天線模式，以提高電子裝置的信號收發(fā)能力。眾所周知，天線工作過程中會有一定的電磁輻射，通常，在國際上采用SAR(Specific Absorption Rate，比吸收率)指標(biāo)來衡量電磁暴露環(huán)境下人體吸收的能量，許多國家制定了相應(yīng)法規(guī)，通過限定電子裝置的SAR值的上限，確保電磁輻射對人體的安全。

對于相同的傳導(dǎo)功率，不同的天線可能具有不同的SAR值，也就是說，在相同傳導(dǎo)功率下，多天線中可能只有部分天線存在SAR問題?，F(xiàn)有技術(shù)中，在多天線模式下降低天線SAR的方式通常是直接降低所有天線的最大傳導(dǎo)功率，如此一來，降低了不存在SAR問題的天線的最大傳導(dǎo)功率，影響其傳導(dǎo)指標(biāo)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明實(shí)施例提供一種基于多天線的降低SAR的方法及電子裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)在降低天線SAR時會減低影響傳導(dǎo)指標(biāo)的問題。

第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種基于多天線的降低SAR的方法，應(yīng)用于具有多天線的電子設(shè)備，所述方法包括：

檢測當(dāng)前開關(guān)電平，根據(jù)所述當(dāng)前開關(guān)電平查詢預(yù)置的狀態(tài)列表，得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果，所述狀態(tài)列表中記錄有多個開關(guān)電平以及對應(yīng)的SAR測試結(jié)果，其中，不同的開關(guān)電平對應(yīng)不同的天線；

當(dāng)查找到的SAR測試結(jié)果為未通過測試，或者查找到的SAR測試結(jié)果大于預(yù)設(shè)閾值時，降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。

第二方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種電子裝置，所述電子裝置包括多個天線，所述電子裝置還包括：

查詢模塊，用于檢測當(dāng)前開關(guān)電平，根據(jù)所述當(dāng)前開關(guān)電平查詢預(yù)置的狀態(tài)列表，得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果，所述狀態(tài)列表中記錄有多個開關(guān)電平以及對應(yīng)的SAR測試結(jié)果，其中，不同的開關(guān)電平對應(yīng)不同的天線；

調(diào)節(jié)模塊，用于當(dāng)查找到的SAR測試結(jié)果為未通過測試，或者查找到的SAR測試結(jié)果大于預(yù)設(shè)閾值時，降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。

在本發(fā)明實(shí)施例中，所述方法檢測當(dāng)前開關(guān)電平，根據(jù)所述當(dāng)前開關(guān)電平查詢預(yù)置的狀態(tài)列表，得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果，所述狀態(tài)列表中記錄有多個開關(guān)電平以及對應(yīng)的SAR測試結(jié)果，其中，不同的開關(guān)電平對應(yīng)不同的天線；當(dāng)查找到的SAR測試結(jié)果為未通過測試，或者查找到的SAR測試結(jié)果大于預(yù)設(shè)閾值時，降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。這樣，所述方法能夠確定SAR測試結(jié)果為未通過測試的天線，并降低該天線的最大傳導(dǎo)功率，從而能夠保證其他天線的傳導(dǎo)指標(biāo)不受到影響。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案，下面將對本發(fā)明實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發(fā)明第一實(shí)施例提供的一種基于多天線的降低比吸收率SAR的方法的流程圖；

圖2是本發(fā)明第二實(shí)施例提供的另一種基于多天線的降低比吸收率SAR的方法的流程圖；

圖3是本發(fā)明第三實(shí)施例提供的另一種基于多天線的降低比吸收率SAR的方法的流程圖；

圖4是本發(fā)明第四實(shí)施例提供的另一種基于多天線的降低比吸收率SAR的方法的流程圖；

圖5是本發(fā)明第五實(shí)施例提供的一種電子裝置的結(jié)構(gòu)圖；

圖6是本發(fā)明第五實(shí)施例提供的另一種電子裝置的結(jié)構(gòu)圖；

圖7是本發(fā)明第五實(shí)施例提供的另一種電子裝置的結(jié)構(gòu)圖；

圖8是本發(fā)明第五實(shí)施例提供的另一種電子裝置的結(jié)構(gòu)圖；

圖9是本發(fā)明第五實(shí)施例提供的另一種電子裝置的結(jié)構(gòu)圖；

圖10是本發(fā)明第六實(shí)施例提供的另一種電子裝置的結(jié)構(gòu)圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

第一實(shí)施例

參見圖1，圖1是本發(fā)明第一實(shí)施例提供的一種基于多天線的降低SAR的方法的流程圖，所述方法應(yīng)用于包括多個天線的電子裝置中，如圖1所示，所述方法包括：

步驟101、檢測當(dāng)前開關(guān)電平，根據(jù)所述當(dāng)前開關(guān)電平查詢預(yù)置的狀態(tài)列表，得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果，所述狀態(tài)列表中記錄有多個開關(guān)電平以及對應(yīng)的SAR測試結(jié)果，其中，不同的開關(guān)電平對應(yīng)不同的天線。

該步驟中，所述方法檢測當(dāng)前開關(guān)電平，根據(jù)所述當(dāng)前開關(guān)電平查詢預(yù)置的狀態(tài)列表，得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果。在本發(fā)明實(shí)施例中，所述預(yù)置的狀態(tài)列表中記錄有多個開關(guān)電平以及每個開關(guān)電平對應(yīng)的SAR測試結(jié)果，其中，不同的開關(guān)電平對應(yīng)不同的天線。具體地，所述方法可以通過檢測當(dāng)前開關(guān)電平確定當(dāng)前天線(例如當(dāng)前處于測試狀態(tài)的天線)，并根據(jù)所述當(dāng)前開關(guān)電平從所述預(yù)置的狀態(tài)列表中確定所述當(dāng)前開關(guān)電平對應(yīng)的SAR測試結(jié)果，從而得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果。

在本發(fā)明實(shí)施例中，所述電子裝置的多個天線可以由一個開關(guān)控制完成切換，所述一個開關(guān)的多個不同開關(guān)電平對應(yīng)不同的天線處于測試狀態(tài)。所述多個天線也可以分別由多個開關(guān)控制完成切換，其中，每一開關(guān)對應(yīng)一個天線。

對于多個天線由一個開關(guān)控制完成切換的情況，所述方法根據(jù)所述一個開關(guān)的當(dāng)前開關(guān)電平確定當(dāng)前天線。舉例而言，當(dāng)A、B、C、D四個天線的一個開關(guān)的狀態(tài)為“001”時，對應(yīng)所述天線A為當(dāng)前天線；當(dāng)所述一個開關(guān)的狀態(tài)為“010”時，對應(yīng)所述天線B為當(dāng)前天線；當(dāng)所述一個開關(guān)的狀態(tài)為“011”時，對應(yīng)所述天線C為當(dāng)前天線；當(dāng)所述一個開關(guān)的狀態(tài)為“100”時，對應(yīng)所述天線D為當(dāng)前天線。

對于所述多個天線分別由多個開關(guān)控制完成切換的情況，所述方法通過獲取每一開關(guān)的開關(guān)電平確定每一天線的狀態(tài)。舉例而言，對于天線A、B、C、D，分別設(shè)置有四個開關(guān)a、b、c、d，每一開關(guān)均有“0”、“1”兩種電平，可以預(yù)先定義“1”代表該開關(guān)對應(yīng)的天線為當(dāng)前天線。例如，若所述方法讀取到開關(guān)c的電平為“1”，則確定天線C為當(dāng)前天線?？梢岳斫獾氖?，也可以預(yù)先定義“0”代表該開關(guān)對應(yīng)的天線為當(dāng)前天線。在本實(shí)施例中，所述多個天線的個數(shù)為兩個。

在本發(fā)明一些實(shí)施例中，所述狀態(tài)列表可以包括第一狀態(tài)列表，所述第一狀態(tài)列表中記錄有SAR測試結(jié)果為通過測試或者SAR測試結(jié)果不大于預(yù)設(shè)閾值的天線對應(yīng)的開關(guān)電平。所述方法可以通過判斷所述當(dāng)前開關(guān)電平是否記錄在所述第一狀態(tài)列表中得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果。具體地，若所述第一狀態(tài)列表中記錄有所述當(dāng)前開關(guān)電平，所述方法確定所述當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果為通過測試或者SAR測試結(jié)果不大于所述預(yù)設(shè)閾值。相反地，若所述第一狀態(tài)列表中沒有記錄所述當(dāng)前開關(guān)電平，所述方法確定所述當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果為未通過測試或者SAR測試結(jié)果大于所述預(yù)設(shè)閾值。

在本發(fā)明其他實(shí)施例中，所述狀態(tài)列表可以包括第二狀態(tài)列表，所述第二狀態(tài)列表中記錄有SAR測試結(jié)果為未通過測試或者SAR測試結(jié)果大于所述預(yù)設(shè)閾值的天線對應(yīng)的開關(guān)電平。所述方法可以通過判斷所述當(dāng)前開關(guān)電平是否記錄在所述第二狀態(tài)列表中得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果。具體地，若所述第二狀態(tài)列表中記錄有所述當(dāng)前開關(guān)電平，所述方法確定所述當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果為未通過測試或者SAR測試結(jié)果大于所述預(yù)設(shè)閾值。相反地，若所述第二狀態(tài)列表中沒有記錄所述當(dāng)前開關(guān)電平，所述方法確定所述當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果為通過測試或者SAR測試結(jié)果不大于所述預(yù)設(shè)閾值。

可以理解的是，在本發(fā)明的實(shí)施例中，所述狀態(tài)列表可以只包括上述的第一狀態(tài)列表，也可以只包括上述的第二狀態(tài)列表，還可以同時包括上述的第一狀態(tài)列表以及第二狀態(tài)列表。

步驟102、當(dāng)查找到的SAR測試結(jié)果為未通過測試，或者查找到的SAR測試結(jié)果大于預(yù)設(shè)閾值時，降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。

該步驟中，當(dāng)查找到的SAR測試結(jié)果為未通過測試，或者查找到的SAR測試結(jié)果大于預(yù)設(shè)閾值，所述方法降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。也就是說，當(dāng)當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果為未通過測試，或者查找到的SAR測試結(jié)果大于所述預(yù)設(shè)閾值時，所述方法降低所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。

在本發(fā)明實(shí)施例中，所述降低所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率的方式可以是將所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率降低預(yù)設(shè)值(例如將所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率降低2dBm)；也可以將所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率降低到某一傳導(dǎo)功率，例如使得當(dāng)前天線的SAR值不大于所述預(yù)設(shè)閾值的傳導(dǎo)功率。

本發(fā)明實(shí)施例中，上述電子裝置可以是任何具有天線的電子裝置，例如：手機(jī)、平板電腦(Tablet Personal Computer)、膝上型電腦(Laptop Computer)、個人數(shù)字助理(personal digital assistant，簡稱PDA)、移動上網(wǎng)裝置(Mobile Internet Device，MID)或可穿戴式設(shè)備(Wearable Device)等。

本發(fā)明第一實(shí)施例的基于多天線的降低SAR的方法，檢測當(dāng)前開關(guān)電平，根據(jù)所述當(dāng)前開關(guān)電平查詢預(yù)置的狀態(tài)列表，得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果，所述狀態(tài)列表中記錄有多個開關(guān)電平以及對應(yīng)的SAR測試結(jié)果，其中，不同的開關(guān)電平對應(yīng)不同的天線；當(dāng)查找到的SAR測試結(jié)果為未通過測試，或者查找到的SAR測試結(jié)果大于預(yù)設(shè)閾值時，降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。這樣，所述方法能夠根據(jù)當(dāng)前開關(guān)電平確定SAR測試結(jié)果為未通過測試的天線，并降低該天線的最大傳導(dǎo)功率，從而能夠在不引入多余器件和電路的情況下保證其他天線的傳導(dǎo)指標(biāo)不受到影響。

可選地，所述降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率，包括：

從一預(yù)設(shè)關(guān)系表中獲取使得當(dāng)前天線的SAR值不大于所述預(yù)設(shè)閾值的傳導(dǎo)功率作為所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率；或者

檢測所述當(dāng)前天線分別以相對于預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率遞減的傳導(dǎo)功率工作時的SAR值；

確定使得所述當(dāng)前天線的SAR值不大于所述預(yù)設(shè)閾值的傳導(dǎo)功率作為所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。

在該實(shí)施例中，所述方法可以從預(yù)先存儲的對應(yīng)關(guān)系表中獲取一個使得所述當(dāng)前天線的SAR值不大于所述預(yù)設(shè)閾值的傳導(dǎo)功率作為所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。具體地，所述電子裝置中預(yù)先存儲有所述每個天線以多個不同的傳導(dǎo)功率工作時的對應(yīng)的SAR值，所述方法從所述對應(yīng)關(guān)系表中獲取使得所述當(dāng)前天線的SAR值不大于所述預(yù)設(shè)閾值的傳導(dǎo)功率作為所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。所述獲取的傳導(dǎo)功率可以是所述對應(yīng)關(guān)系表中使得所述當(dāng)前天線的SAR值不大于所述預(yù)設(shè)閾值的最大傳導(dǎo)功率，也可以是使得所述當(dāng)前天線的SAR值不大于所述預(yù)設(shè)閾值的其他傳導(dǎo)功率。需要說明的是，在本實(shí)施例中，所述獲取的傳導(dǎo)功率為所述對應(yīng)關(guān)系表中使得所述當(dāng)前天線的SAR值不大于所述預(yù)設(shè)閾值的最大傳導(dǎo)功率。在本實(shí)施例中，所述對應(yīng)關(guān)系表可以是所述方法分別檢測所述電子裝置的多個天線以不同傳導(dǎo)功率工作時的SAR值并存儲的一個列表。這樣，所述方法能夠直接從所述對應(yīng)關(guān)系表中獲取使得所述當(dāng)前天線的SAR值小于所述預(yù)設(shè)閾值的傳導(dǎo)功率，不需要檢測所述當(dāng)前天線在不同的傳導(dǎo)功率下的SAR值，節(jié)省了確定所述最大傳導(dǎo)功率的時間，提高效率。

所述方法也可以檢測所述當(dāng)前天線分別以相對于所述預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率遞減的傳導(dǎo)功率工作時的SAR值，然后確定使得所述當(dāng)前天線的SAR值不大于所述預(yù)設(shè)閾值的傳導(dǎo)功率作為所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。舉例而言，假設(shè)所述預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率為23dBm，若所述當(dāng)前天線以所述預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率23dBm工作時的SAR值超過所述預(yù)設(shè)閾值，所述方法控制與所述當(dāng)前天線連接的芯片輸出小于所述預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率的其他功率(例如21dBm)供所述當(dāng)前天線工作，并檢測所述當(dāng)前天線的SAR值。若所述當(dāng)前天線以21dBm工作時的SAR沒有超過所述預(yù)設(shè)閾值，所述方法確定21dBm為所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。若所述當(dāng)前天線以21dBm工作時的SAR值超過所述預(yù)設(shè)閾值，所述方法控制與所述當(dāng)前天線連接的芯片輸出小于21dBm(例如19dBm)的傳導(dǎo)功率供所述當(dāng)前天線工作，并檢測所述當(dāng)前天線的SAR值，以此類推，直到檢測到所述當(dāng)前天線的SAR小于所述預(yù)設(shè)閾值，確定對應(yīng)的傳導(dǎo)功率為所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。需要說明的是，所述方法每次控制所述芯片輸出的傳導(dǎo)功率可以是等差數(shù)列，也可以是非等差數(shù)列，在此不做限定。這樣，所述方法能夠?qū)⑺霎?dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率降低到使得SAR值小于所述預(yù)設(shè)閾值的傳導(dǎo)功率，能夠保證當(dāng)前天線工作時的電磁輻射對人體的安全。

第二實(shí)施例

參見圖2，圖2是本發(fā)明第一實(shí)施例提供的一種基于多天線的降低SAR的方法的流程圖，如圖2所示，所述方法包括：

步驟201、在預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率下，對多個天線分別進(jìn)行SAR測試，得到多個天線的SAR測試結(jié)果，并獲取多個天線分別對應(yīng)的開關(guān)電平。

所述預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率可以是天線設(shè)計時規(guī)定的能夠使得所述電子裝置正常工作的天線的最大傳導(dǎo)功率。所述方法控制與所述多個天線連接的芯片輸出所述預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率供每個天線工作，然后檢測每個天線以所述預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率工作時的SAR值，并進(jìn)一步每個天線的SAR測試結(jié)果是否通過測試或者是否大于預(yù)設(shè)閾值。

步驟202、將所述多個天線分別對應(yīng)的開關(guān)電平和SAR測試結(jié)果對應(yīng)記錄到所述狀態(tài)列表中。

該步驟中，所述方法可以將所述每個天線對應(yīng)的開關(guān)電平以及對應(yīng)的SAR測試結(jié)果記錄到所述狀態(tài)列表中。

在本發(fā)明的實(shí)施例中，所述方法可以只是將SAR測試結(jié)果為通過測試，或者SAR測試結(jié)果為不大于預(yù)設(shè)閾值的天線對應(yīng)的開關(guān)電平記錄在所述狀態(tài)列表中；也可以只是將SAR測試結(jié)果為未通過測試，或者SAR測試結(jié)果為大于預(yù)設(shè)閾值的天線對應(yīng)的開關(guān)電平記錄在所述狀態(tài)列表中；還可以將SAR測試結(jié)果為通過測試或者為未通過測試的天線對應(yīng)的開關(guān)電平分別記錄在不同的列表中。

步驟203、檢測當(dāng)前開關(guān)電平，根據(jù)所述當(dāng)前開關(guān)電平查詢預(yù)置的狀態(tài)列表，得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果，所述狀態(tài)列表中記錄有多個開關(guān)電平以及對應(yīng)的SAR測試結(jié)果，其中，不同的開關(guān)電平對應(yīng)不同的天線。

步驟204、當(dāng)查找到的SAR測試結(jié)果為未通過測試，或者查找到的SAR測試結(jié)果大于預(yù)設(shè)閾值時，降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。

所述步驟203及步驟204與本發(fā)明第一實(shí)施例中的步驟101及步驟102相同，在此不再贅述。

本發(fā)明第二實(shí)施例的基于多天線的降低SAR的方法，在預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率下，對多個天線分別進(jìn)行SAR測試，得到多個天線的SAR測試結(jié)果，并獲取多個天線分別對應(yīng)的開關(guān)電平；將所述多個天線分別對應(yīng)的開關(guān)電平和SAR測試結(jié)果對應(yīng)記錄到所述狀態(tài)列表中；檢測當(dāng)前開關(guān)電平，根據(jù)所述當(dāng)前開關(guān)電平查詢預(yù)置的狀態(tài)列表，得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果，所述狀態(tài)列表中記錄有多個開關(guān)電平以及對應(yīng)的SAR測試結(jié)果，其中，不同的開關(guān)電平對應(yīng)不同的天線；當(dāng)查找到的SAR測試結(jié)果為未通過測試，或者查找到的SAR測試結(jié)果大于預(yù)設(shè)閾值時，降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。這樣，所述方法能夠確定SAR測試結(jié)果為未通過測試的天線，并降低該天線的最大傳導(dǎo)功率，從而能夠保證其他天線的傳導(dǎo)指標(biāo)不受到影響。

第三實(shí)施例

參見圖3，圖3是本發(fā)明第一實(shí)施例提供的一種基于多天線的降低SAR的方法的流程圖，如圖3所示，所述方法包括：

步驟301、在預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率下，對多個天線分別進(jìn)行SAR測試，得到多個天線的SAR測試結(jié)果，并獲取多個天線分別對應(yīng)的開關(guān)電平。

該步驟301與本發(fā)明第二實(shí)施例中的步驟201相同，在此不再贅述。

步驟302、將SAR測試結(jié)果為通過測試或者不大于預(yù)設(shè)閾值的天線的開關(guān)電平記錄在第一狀態(tài)列表中。

該實(shí)施例中，所述方法不會將每個天線對應(yīng)的開關(guān)電平以及SAR測試結(jié)果記錄在狀態(tài)列表中，而是僅僅將SAR測試結(jié)果為通過測試或者不大于預(yù)設(shè)閾值的天線對應(yīng)的開關(guān)電平記錄在第一狀態(tài)列表中?？梢岳斫獾氖?，記錄在所述第一狀態(tài)列表中的開關(guān)電平對應(yīng)的天線的SAR測試結(jié)果為通過測試或者不大于所述預(yù)設(shè)閾值，沒有記錄在所述第一狀態(tài)列表中的開關(guān)電平對應(yīng)的天線的SAR測試結(jié)果為未通過測試或者大于所述預(yù)設(shè)閾值。

步驟303、檢測當(dāng)前開關(guān)電平，判斷所述第一狀態(tài)列表中是否記錄有所述當(dāng)前開關(guān)電平。

該實(shí)施例中，所述方法通過判斷所述第一狀態(tài)列表中是否記錄有所述當(dāng)前開關(guān)電平確定所述當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果。具體地，若所述第一狀態(tài)列表中記錄有當(dāng)前開關(guān)電平，說明當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果為通過測試或者不大于所述預(yù)設(shè)閾值，流程結(jié)束；相反地，若所述第一狀態(tài)列表中沒有記錄所述當(dāng)前開關(guān)電平，說明當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果為未通過測試，或者大于所述預(yù)設(shè)閾值，執(zhí)行步驟304。

步驟304、降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。

需要說明的是，該步驟304中降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率的方式與本發(fā)明第一實(shí)施例中步驟102中降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率的方式相同，在此不再贅述。

本發(fā)明第三實(shí)施例的基于多天線的降低SAR的方法，能夠確定SAR測試結(jié)果為未通過測試的天線，并降低該天線的最大傳導(dǎo)功率，從而能夠保證其他天線的傳導(dǎo)指標(biāo)不受到影響。

第四實(shí)施例

參見圖4，圖4是本發(fā)明第一實(shí)施例提供的一種基于多天線的降低SAR的方法的流程圖，如圖4所示，所述方法包括：

步驟401、在預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率下，對多個天線分別進(jìn)行SAR測試，得到多個天線的SAR測試結(jié)果，并獲取多個天線分別對應(yīng)的開關(guān)電平。

該步驟401與本發(fā)明第二實(shí)施例中的步驟201相同，在此不再贅述。

步驟402、將SAR測試結(jié)果為未通過測試或者大于預(yù)設(shè)閾值的天線的開關(guān)電平記錄在二狀態(tài)列表中。

該實(shí)施例中，所述方法不會將每個天線對應(yīng)的開關(guān)電平以及SAR測試結(jié)果記錄在狀態(tài)列表中，而是僅僅將SAR測試結(jié)果為未通過測試或者大于預(yù)設(shè)閾值的天線對應(yīng)的開關(guān)電平記錄在第二狀態(tài)列表中?？梢岳斫獾氖?，記錄在所述第二狀態(tài)列表中的開關(guān)電平對應(yīng)的天線的SAR測試結(jié)果為未通過測試或者大于所述預(yù)設(shè)閾值，沒有記錄在所述第二狀態(tài)列表中的開關(guān)電平對應(yīng)的天線的SAR測試結(jié)果為通過測試或者不大于所述預(yù)設(shè)閾值。

步驟403、檢測當(dāng)前開關(guān)電平，判斷所述第二狀態(tài)列表中是否記錄有所述當(dāng)前開關(guān)電平。

該實(shí)施例中，所述方法通過判斷所述第二狀態(tài)列表中是否記錄有所述當(dāng)前開關(guān)電平確定所述當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果。具體地，若所述第二狀態(tài)列表中記錄有當(dāng)前開關(guān)電平，說明當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果為未通過測試或者大于所述預(yù)設(shè)閾值，執(zhí)行步驟404；相反地，若所述第二狀態(tài)列表中沒有記錄所述當(dāng)前開關(guān)電平，說明當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果為通過測試，或者不大于所述預(yù)設(shè)閾值，流程結(jié)束。

步驟404、降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。

需要說明的是，該步驟404中降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率的方式與本發(fā)明第一實(shí)施例中步驟102中降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率的方式相同，在此不再贅述。

本發(fā)明第四實(shí)施例的基于多天線的降低SAR的方法，能夠確定SAR測試結(jié)果為未通過測試的天線，并降低該天線的最大傳導(dǎo)功率，從而能夠保證其他天線的傳導(dǎo)指標(biāo)不受到影響。

第五實(shí)施例

參見圖5，圖5是本發(fā)明第五實(shí)施例提供的一種電子裝置的結(jié)構(gòu)圖，所述電子裝置500包括：

查詢模塊501，用于檢測當(dāng)前開關(guān)電平，根據(jù)所述當(dāng)前開關(guān)電平查詢預(yù)置的狀態(tài)列表，得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果，所述狀態(tài)列表中記錄有多個開關(guān)電平以及對應(yīng)的SAR測試結(jié)果，其中，不同的開關(guān)電平對應(yīng)不同的天線；

調(diào)節(jié)模塊502，用于當(dāng)查找到的SAR測試結(jié)果為未通過測試，或者查找到的SAR測試結(jié)果大于預(yù)設(shè)閾值時，降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。

本發(fā)明第五實(shí)施例提供的電子裝置500能夠確定SAR測試結(jié)果為未通過測試的天線，并降低該天線的最大傳導(dǎo)功率，從而能夠保證其他天線的傳導(dǎo)指標(biāo)不受到影響。

可選地，參見圖6，圖6是本發(fā)明第五實(shí)施例提供的另一種電子裝置的結(jié)構(gòu)圖，如圖6所示，所述電子裝置500還包括：

測試模塊503，用于在預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率下，對多個天線分別進(jìn)行SAR測試，得到多個天線的SAR測試結(jié)果，并獲取多個天線分別對應(yīng)的開關(guān)電平；

記錄模塊504，用于將所述多個天線分別對應(yīng)的開關(guān)電平和SAR測試結(jié)果對應(yīng)記錄到所述狀態(tài)列表中。

可選地，所述狀態(tài)列表包括第一狀態(tài)列表；

所述記錄504模塊，用于將SAR測試結(jié)果為通過測試或者SAR測試結(jié)果不大于所述預(yù)設(shè)閾值的天線的開關(guān)電平記錄在所述第一狀態(tài)列表中；

參見圖7，圖7是本發(fā)明第五實(shí)施例提供的另一種電子裝置的結(jié)構(gòu)圖，如圖7所示，所述查詢模塊501包括：

第一判斷單元5011，用于檢測當(dāng)前開關(guān)電平，并判斷所述第一狀態(tài)列表中是否記錄有所述當(dāng)前開關(guān)電平；

第一確定單元5012，用于若所述第一狀態(tài)列表中沒有記錄所述當(dāng)前開關(guān)電平，確認(rèn)當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果為未通過測試或者SAR測試結(jié)果大于所述預(yù)設(shè)閾值。

可選地，所述狀態(tài)列表包括第二狀態(tài)列表；

所述記錄模塊504，用于將SAR測試結(jié)果為未通過測試或者SAR測試結(jié)果大于所述預(yù)設(shè)閾值的天線的開關(guān)電平記錄在所述第二狀態(tài)列表中；

參見圖8，圖8是本發(fā)明第五實(shí)施例提供的另一種電子裝置的結(jié)構(gòu)圖，如圖7所示，所述查詢模塊501包括：

第二判斷單元5013，用于檢測當(dāng)前開關(guān)電平，并判斷所述第二狀態(tài)列表中是否記錄有所述當(dāng)前開關(guān)電平；

第二確定單元5014，用于若所述第二狀態(tài)列表中記錄有所述當(dāng)前開關(guān)電平，確認(rèn)當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果為未通過測試或者SAR測試結(jié)果大于所述預(yù)設(shè)閾值。

可選地，所述調(diào)節(jié)模塊502，

用于從一預(yù)設(shè)關(guān)系表中獲取使得當(dāng)前天線的SAR值不大于所述預(yù)設(shè)閾值的傳導(dǎo)功率作為所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率；或者

參見圖9，圖9是本發(fā)明第五實(shí)施例提供的另一種電子裝置的結(jié)構(gòu)圖，如圖9所示，所述調(diào)節(jié)模塊502，可以包括：

檢測單元5021，用于檢測所述當(dāng)前天線分別以相對于預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率遞減的傳導(dǎo)功率工作時的SAR值；

第三確定單元5022，用于確定使得所述當(dāng)前天線的SAR值不大于所述預(yù)設(shè)閾值的傳導(dǎo)功率作為所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。

電子裝置500能夠?qū)崿F(xiàn)圖1至圖4的方法實(shí)施例中電子裝置實(shí)現(xiàn)的各個過程，為避免重復(fù)，在此不再贅述。

第六實(shí)施例

參見圖10，圖10是本發(fā)明提供的另一種電子裝置1000的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖10所示，電子裝置1000包括：至少一個處理器1001、存儲器1002、至少一個網(wǎng)絡(luò)接口1003、用戶接口1004及至少一個天線1006。電子裝置1000中的各個組件通過總線系統(tǒng)1005耦合在一起、可以理解的是，總線系統(tǒng)1005用于實(shí)現(xiàn)這些組件之間的連接通信?？偩€系統(tǒng)1005除包括數(shù)據(jù)線之外，還包括電源總線、控制總線及狀態(tài)信號總線。但是為了清楚說明起見，在圖10中將各種總線都標(biāo)為總線系統(tǒng)1005。所述至少一個天線1006能夠?qū)崿F(xiàn)所述電子裝置1000與其他電子設(shè)備之間的通信連接，所述至少一個天線1006的個數(shù)可以是一個，也可以是多個。

其中，用戶接口1004可以包括顯示器、鍵盤或者點(diǎn)擊設(shè)備，例如鼠標(biāo)，軌跡球(trackball)、觸感板或者觸摸屏等。

可以理解，本發(fā)明實(shí)施例中的存儲器1002可以是易失性存儲器或非易失性存儲器，或可包括易失性和非易失性存儲器兩者。其中，非易失性存儲器可以是只讀存儲器(Read-Only Memory，ROM)、可編程只讀存儲器(Programmable ROM，PROM)、可擦除可編程只讀存儲器(Erasable PROM，EPROM)、電可擦除可編程只讀存儲器(Electrically EPROM，EEPROM)或閃存。易失性存儲器可以是隨機(jī)存取存儲器(Random Access Memory，RAM)，其用作外部高速緩存。通過示例性但不是限制性說明，許多形式的RAM可用，例如靜態(tài)隨機(jī)存取存儲器(Static RAM，SRAM)、動態(tài)隨機(jī)存取存儲器(Dynamic RAM，DRAM)、同步動態(tài)隨機(jī)存取存儲器(Synchronous DRAM，SDRAM)、雙倍數(shù)據(jù)速率同步動態(tài)隨機(jī)存取存儲器(Double Data Rate SDRAM，DDRSDRAM)、增強(qiáng)型同步動態(tài)隨機(jī)存取存儲器(Enhanced SDRAM，ESDRAM)、同步連接動態(tài)隨機(jī)存取存儲器(Synchlink DRAM，SLDRAM)和直接內(nèi)存總線隨機(jī)存取存儲器(Direct Rambus RAM，DRRAM)。本文描述的系統(tǒng)和方法的存儲器1002旨在包括但不限于這些和任意其它適合類型的存儲器。

在一些實(shí)施方式中，存儲器1002存儲了如下的元素，可執(zhí)行模塊或者數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，或者他們的子集，或者他們的擴(kuò)展集：操作系統(tǒng)10021和應(yīng)用程序10022。

其中，操作系統(tǒng)10021，包含各種系統(tǒng)程序，例如框架層、核心庫層、驅(qū)動層等，用于實(shí)現(xiàn)各種基礎(chǔ)業(yè)務(wù)以及處理基于硬件的任務(wù)。應(yīng)用程序10022，包含各種應(yīng)用程序，例如媒體播放器(Media Player)、瀏覽器(Browser)等，用于實(shí)現(xiàn)各種應(yīng)用業(yè)務(wù)。實(shí)現(xiàn)本發(fā)明實(shí)施例方法的程序可以包含在應(yīng)用程序10022中。

在本發(fā)明實(shí)施例中，通過調(diào)用存儲器1002存儲的程序或指令，具體的，可以是應(yīng)用程序10022中存儲的程序或指令，處理器1001用于：

檢測當(dāng)前開關(guān)電平，根據(jù)所述當(dāng)前開關(guān)電平查詢預(yù)置的狀態(tài)列表，得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果，所述狀態(tài)列表中記錄有多個開關(guān)電平以及對應(yīng)的SAR測試結(jié)果，其中，不同的開關(guān)電平對應(yīng)不同的天線；

當(dāng)查找到的SAR測試結(jié)果為未通過測試，或者查找到的SAR測試結(jié)果大于預(yù)設(shè)閾值時，降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。

上述本發(fā)明實(shí)施例揭示的方法可以應(yīng)用于處理器1001中，或者由處理器1001實(shí)現(xiàn)。處理器1001可能是一種集成電路芯片，具有信號的處理能力。在實(shí)現(xiàn)過程中，上述方法的各步驟可以通過處理器1001中的硬件的集成邏輯電路或者軟件形式的指令完成。上述的處理器1001可以是通用處理器、數(shù)字信號處理器(Digital Signal Processor，DSP)、專用集成電路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、現(xiàn)成可編程門陣列(Field Programmable Gate Array，F(xiàn)PGA)或者其他可編程邏輯器件、分立門或者晶體管邏輯器件、分立硬件組件?？梢詫?shí)現(xiàn)或者執(zhí)行本發(fā)明實(shí)施例中的公開的各方法、步驟及邏輯框圖。通用處理器可以是微處理器或者該處理器也可以是任何常規(guī)的處理器等。結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例所公開的方法的步驟可以直接體現(xiàn)為硬件譯碼處理器執(zhí)行完成，或者用譯碼處理器中的硬件及軟件模塊組合執(zhí)行完成。軟件模塊可以位于隨機(jī)存儲器，閃存、只讀存儲器，可編程只讀存儲器或者電可擦寫可編程存儲器、寄存器等本領(lǐng)域成熟的存儲介質(zhì)中。該存儲介質(zhì)位于存儲器1002，處理器1001讀取存儲器1002中的信息，結(jié)合其硬件完成上述方法的步驟。

可以理解的是，本文描述的這些實(shí)施例可以用硬件、軟件、固件、中間件、微碼或其組合來實(shí)現(xiàn)。對于硬件實(shí)現(xiàn)，處理單元可以實(shí)現(xiàn)在一個或多個專用集成電路(Application Specific Integrated Circuits，ASIC)、數(shù)字信號處理器(Digital Signal Processing，DSP)、數(shù)字信號處理設(shè)備(DSP Device，DSPD)、可編程邏輯設(shè)備(Programmable Logic Device，PLD)、現(xiàn)場可編程門陣列(Field-Programmable Gate Array，F(xiàn)PGA)、通用處理器、控制器、微控制器、微處理器、用于執(zhí)行本申請所述功能的其它電子單元或其組合中。

對于軟件實(shí)現(xiàn)，可通過執(zhí)行本文所述功能的模塊(例如過程、函數(shù)等)來實(shí)現(xiàn)本文所述的技術(shù)。軟件代碼可存儲在存儲器中并通過處理器執(zhí)行。存儲器可以在處理器中或在處理器外部實(shí)現(xiàn)。

可選地，所述處理器1001根據(jù)所述開關(guān)當(dāng)前電平查詢預(yù)置的狀態(tài)列表之前，還用于：

在預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率下，對多個天線分別進(jìn)行SAR測試，得到多個天線的SAR測試結(jié)果，并獲取多個天線分別對應(yīng)的開關(guān)電平；

將所述多個天線分別對應(yīng)的開關(guān)電平和SAR測試結(jié)果對應(yīng)記錄到所述狀態(tài)列表中。

可選地，所述狀態(tài)列表包括第一狀態(tài)列表，所述處理器1001將所述多個天線分別對應(yīng)的開關(guān)電平和SAR測試結(jié)果對應(yīng)記錄到所述狀態(tài)列表中，包括：

將SAR測試結(jié)果為通過測試或者SAR測試結(jié)果不大于所述預(yù)設(shè)閾值的天線的開關(guān)電平記錄在所述第一狀態(tài)列表中；

所述處理器1001根據(jù)開關(guān)當(dāng)前電平查詢預(yù)置的狀態(tài)列表，得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果，包括：

判斷所述第一狀態(tài)列表中是否記錄有所述當(dāng)前開關(guān)電平；

若所述第一狀態(tài)列表中沒有記錄所述當(dāng)前開關(guān)電平，確認(rèn)當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果為未通過測試或者SAR測試結(jié)果大于所述預(yù)設(shè)閾值。

可選地，所述狀態(tài)列表包括第二狀態(tài)列表，所述處理器1001將所述多個天線分別對應(yīng)的開關(guān)電平和SAR測試結(jié)果對應(yīng)記錄到所述狀態(tài)列表中，包括：

將SAR測試結(jié)果為未通過測試或者SAR測試結(jié)果大于所述預(yù)設(shè)閾值的天線的開關(guān)電平記錄在所述第二狀態(tài)列表中；

所述處理器1001根據(jù)開關(guān)當(dāng)前電平查詢預(yù)置的狀態(tài)列表，得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果，包括：

判斷所述第二狀態(tài)列表中是否記錄有所述當(dāng)前開關(guān)電平；

若所述第二狀態(tài)列表中記錄有所述當(dāng)前開關(guān)電平，確認(rèn)當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果為未通過測試或者SAR測試結(jié)果大于所述預(yù)設(shè)閾值。

可選地，所述處理器1001降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率，包括：

從一預(yù)設(shè)關(guān)系表中獲取使得當(dāng)前天線的SAR值不大于所述預(yù)設(shè)閾值的傳導(dǎo)功率作為所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率；或者

檢測所述當(dāng)前天線分別以相對于預(yù)設(shè)傳導(dǎo)功率遞減的傳導(dǎo)功率工作時的SAR值；

確定使得所述當(dāng)前天線的SAR值不大于所述預(yù)設(shè)閾值的傳導(dǎo)功率作為所述當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。

電子裝置1000能夠?qū)崿F(xiàn)前述實(shí)施例中電子裝置實(shí)現(xiàn)的各個過程，為避免重復(fù)，這里不再贅述。

本發(fā)明實(shí)施例的電子裝置1000，檢測當(dāng)前開關(guān)電平，根據(jù)所述當(dāng)前開關(guān)電平查詢預(yù)置的狀態(tài)列表，得到當(dāng)前天線的SAR測試結(jié)果，所述狀態(tài)列表中記錄有多個開關(guān)電平以及對應(yīng)的SAR測試結(jié)果，其中，不同的開關(guān)電平對應(yīng)不同的天線；當(dāng)查找到的SAR測試結(jié)果為未通過測試，或者查找到的SAR測試結(jié)果大于預(yù)設(shè)閾值時，降低當(dāng)前天線的最大傳導(dǎo)功率。這樣，所述方法能夠確定SAR測試結(jié)果為未通過測試的天線，并降低該天線的最大傳導(dǎo)功率，從而能夠保證其他天線的傳導(dǎo)指標(biāo)不受到影響。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以意識到，結(jié)合本文中所公開的實(shí)施例描述的各示例的單元及算法步驟，能夠以電子硬件、或者計算機(jī)軟件和電子硬件的結(jié)合來實(shí)現(xiàn)。這些功能究竟以硬件還是軟件方式來執(zhí)行，取決于技術(shù)方案的特定應(yīng)用和設(shè)計約束條件。專業(yè)技術(shù)人員可以對每個特定的應(yīng)用來使用不同方法來實(shí)現(xiàn)所描述的功能，但是這種實(shí)現(xiàn)不應(yīng)認(rèn)為超出本發(fā)明的范圍。

所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到，為描述的方便和簡潔，上述描述的系統(tǒng)、裝置和單元的具體工作過程，可以參考前述方法實(shí)施例中的對應(yīng)過程，在此不再贅述。

在本申請所提供的實(shí)施例中，應(yīng)該理解到，所揭露的裝置和方法，可以通過其它的方式實(shí)現(xiàn)。例如，以上所描述的裝置實(shí)施例僅僅是示意性的，例如，所述單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實(shí)際實(shí)現(xiàn)時可以有另外的劃分方式，例如多個單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另一點(diǎn)，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，裝置或單元的間接耦合或通信連接，可以是電性，機(jī)械或其它的形式。

所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個網(wǎng)絡(luò)單元上?？梢愿鶕?jù)實(shí)際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實(shí)現(xiàn)本發(fā)明實(shí)施例方案的目的。

另外，在本發(fā)明各個實(shí)施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中，也可以是各個單元單獨(dú)物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。

所述功能如果以軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)并作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷售或使用時，可以存儲在一個計算機(jī)可讀取存儲介質(zhì)中?；谶@樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分或者該技術(shù)方案的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計算機(jī)軟件產(chǎn)品存儲在一個存儲介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一臺計算機(jī)設(shè)備(可以是個人計算機(jī)，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個實(shí)施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質(zhì)包括：U盤、移動硬盤、ROM、RAM、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。

以上所述，僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。