一種測試方法及檢測終端的制作方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及電子技術領域，尤其涉及一種測試方法及檢測終端。
【背景技術】
[0002]隨著互聯(lián)網(wǎng)的快速發(fā)展以及終端的迅速普及，終端的功能日益完善，終端給用戶帶來的便利也日益增多。例如，用戶可以利用終端訪問外部網(wǎng)絡數(shù)據(jù)資源、拍照以及與好友進行通信聯(lián)系等等。在實際生產中，為了保證用戶可以正常使用終端的各項功能，在將其發(fā)售至市場之前，應對終端的各項功能進行測試。
[0003]目前，在對待測終端進行功能測試時，應先將待測終端放置帶有耦合單向測試天線的屏蔽箱中，再將待測終端在該屏蔽箱中慢慢移動，以尋找到耦合單向天線中每一根天線都能接收到待測終端發(fā)射的射頻信號的位置，并在該位置上對待測終端進行功能測試。由于在測試前需要反復移動待測終端，方可找到上述位置，從而降低了測試終端功能的效率。

【發(fā)明內容】

[0004]本發(fā)明實施例提供了一種測試方法及檢測終端，能夠提高測試終端功能的效率。
[0005]第一方面，本發(fā)明實施例公開了一種測試方法，包括:
[0006]檢測終端檢測是否接收到針對待測終端的測試啟動指令，所述測試啟動指令包括待測功能的標識，所述待測終端放置于帶有耦合球面天線陣列的屏蔽箱中；
[0007]若所述檢測終端接收到所述測試啟動指令，所述檢測終端根據(jù)所述待測功能的標識從預設天線集合中選取用于測試所述待測功能的測試天線的標識，并根據(jù)所述測試天線的標識獲取所述屏蔽箱中所述測試天線對所述待測終端的所述待測功能的測試參數(shù)；
[0008]所述檢測終端檢測所述測試參數(shù)與預設的與所述待測功能對應的正常參數(shù)是否匹配，若匹配，則所述待測終端的所述待測功能正常。
[0009]結合第一方面的實現(xiàn)方式，在第一方面的第一種可能的實現(xiàn)方式中，所述測試參數(shù)包括射頻信號強度，所述檢測終端檢測所述測試參數(shù)與預設的與所述待測功能對應的正常參數(shù)是否匹配，包括:
[0010]所述檢測終端檢測所述射頻信號強度是否超過預設的與所述待測功能對應的信號強度閾值，若超過，則所述測試參數(shù)與所述正常參數(shù)匹配。
[0011 ] 結合第一方面的實現(xiàn)方式或者第一方面的第一種可能的實現(xiàn)方式，在第一方面的第二種可能的實現(xiàn)方式中，所述檢測終端檢測是否接收到針對待測終端的測試啟動指令之前，所述方法還包括:
[0012]所述檢測終端獲取所述屏蔽箱中每根天線接收參考終端的所述待測功能對應的天線發(fā)送的射頻信號的射頻信號強度，所述參考終端放置在所述屏蔽箱，且所述參考終端的所述待測功能正常；
[0013]所述檢測終端在所述屏蔽箱的耦合球面天線陣列中選擇所述射頻信號強度最大的天線作為在所述屏蔽箱中用于測試所述待測功能的測試天線；
[0014]所述檢測終端將所述用于測試所述待測功能的測試天線的標識和所述待測功能的標識綁定存儲至預設天線集合中。
[0015]結合第一方面的第二種可能的實現(xiàn)方式，在第一方面的第三種可能的實現(xiàn)方式中，所述檢測終端接收到所述測試啟動指令之后，所述檢測終端根據(jù)所述待測功能的標識從預設天線集合中選取用于測試所述待測功能的測試天線的標識之前，所述方法還包括:
[0016]所述檢測終端檢測所述待測終端是否處于所述屏蔽箱中用于測試功能的預設位置，若是，則執(zhí)行步驟根據(jù)所述待測功能的標識從預設天線集合中選擇用于測試所述待測功能的測試天線的標識。
[0017]結合第一方面的第三種可能的實現(xiàn)方式，在第一方面的第四種可能的實現(xiàn)方式中，所述耦合球面天線陣列的立體結構為半橢球型結構。
[0018]第二方面，本發(fā)明實施例還公開了一種檢測終端，包括:
[0019]檢測單元，用于檢測是否接收到針對待測終端的測試啟動指令，所述測試啟動指令包括待測功能的標識，所述待測終端放置于帶有耦合球面天線陣列的屏蔽箱中；
[0020]選取單元，用于若接收到所述測試啟動指令，根據(jù)所述待測功能的標識從預設天線集合中選取用于測試所述待測功能的測試天線的標識；
[0021]獲取單元，用于根據(jù)所述測試天線的標識獲取所述屏蔽箱中所述測試天線對所述待測終端的所述待測功能的測試參數(shù)；
[0022]所述檢測單元，還用于檢測所述測試參數(shù)與預設的與所述待測功能對應的正常參數(shù)是否匹配，若匹配，則所述待測終端的所述待測功能正常。
[0023]結合第二方面的檢測終端，在第二方面的第一種可能的檢測終端中，所述測試參數(shù)包括射頻信號強度，所述檢測單元具體用于檢測所述射頻信號強度是否超過預設的與所述待測功能對應的信號強度閾值，若超過，則所述測試參數(shù)與所述正常參數(shù)匹配。
[0024]結合第二方面的檢測終端或者第二方面的第一種可能的檢測終端，在第二方面的第二種可能的檢測終端中，所述獲取單元還用于在所述檢測單元檢測是否接收到針對待測終端的測試啟動指令之前，獲取所述屏蔽箱中每根天線接收參考終端的所述待測功能對應的天線發(fā)送的射頻信號的射頻信號強度，所述參考終端放置在所述屏蔽箱，且所述參考終端的所述待測功能正常；
[0025]所述檢測終端還包括:
[0026]選擇單元，用于在所述屏蔽箱的耦合球面天線陣列中選擇所述射頻信號強度最大的天線作為在所述屏蔽箱中用于測試所述待測功能的測試天線；
[0027]存儲單元，用于將所述用于測試所述待測功能的測試天線的標識和所述待測功能的標識綁定存儲至預設天線集合中。
[0028]結合第二方面的第二種可能的檢測終端，在第二方面的第三種可能的檢測終端中，所述檢測單元還用于在接收到所述測試啟動指令之后，所述選取單元根據(jù)所述待測功能的標識從預設天線集合中選取用于測試所述待測功能的測試天線的標識之前，檢測所述待測終端是否處于所述屏蔽箱中用于測試功能的預設位置；
[0029]所述選擇單元用于若所述檢測單元檢測所述待測終端處于所述屏蔽箱中用于測試功能的預設位置，根據(jù)所述待測功能的標識從預設天線集合中選擇用于測試所述待測功能的測試天線的標識。
[0030]結合第二方面的第三種可能的檢測終端，在第二方面的第四種可能的檢測終端中，所述耦合球面天線陣列的立體結構為半橢球型結構。
[0031]本發(fā)明實施例中，在檢測終端接收到測試啟動指令之后，檢測終端根據(jù)待測功能的標識從預設天線集合中選擇用于測試待測功能的測試天線的標識，并根據(jù)測試天線的標識獲取屏蔽箱中測試天線對待測終端的待測功能的測試參數(shù)；檢測終端檢測測試參數(shù)與預設的與待測功能對應的正常參數(shù)是否匹配，若匹配，則待測終端的待測功能正常。在本發(fā)明實施例中，當需要測試終端的功能時，無需用戶反復移動終端，以尋找最佳位置，而只需要檢測獲取到的屏蔽箱中測試天線對待測終端的待測功能的測試參數(shù)是否匹配，匹配，則待測終端的待測功能正常，不匹配，則待測終端述待測功能不正常。由此可見，實施本發(fā)明實施例，能夠提高測試終端功能的效率。
【附圖說明】
[0032]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0033]圖1是本發(fā)明實施例公開的一種用于實施測試方法的系統(tǒng)結構圖；
[0034]圖2是本發(fā)明實施例公開的一種測試方法的流程示意圖；
[0035]圖3是本發(fā)明實施例公開的另一種測試方法的流程示意圖；
[0036]圖4是本發(fā)明實施例公開的一種檢測終端的結構示意圖；
[0037]圖5是本發(fā)明實施例公開的另一種檢測終端的結構示意圖；
[0038]圖6是本發(fā)明實施例公開的又一種檢測終端的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0039]下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0040]本發(fā)明實施例提供了一種測