一種Spee曲線深度測量裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于口腔正畸醫(yī)療器械領(lǐng)域，具體涉及一種口腔下頒牙列Spee曲線深度測量裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]從牙齒排列的垂直向位置關(guān)系特征可以看出，上下牙列的牙尖(下頒牙弓最低點)高度并不一致，牙列的形態(tài)也具有一定的曲度，曲線就是用以描述這一牙列形態(tài)特征的重要概念，矢狀方向的曲線稱為縱曲線，口腔中下頒牙列中，連接切牙的切嵴、尖牙牙尖、前磨尖牙及磨牙頰尖構(gòu)成的一條連續(xù)的凹向上的縱曲線也稱Spee曲線，正常牙列該曲線的切牙段較平直，從尖牙向后經(jīng)前磨牙至第一磨牙的遠(yuǎn)中頰尖逐漸降低，然后第二、第三磨牙的頰尖又逐漸升高。Spee曲線是正畸診斷和治療計劃制定的重要參考指標(biāo)，Spee曲線深度是指下頒Spee曲線最低點到下頒平面的垂直距離，下頒平面是由下頒中切牙中點及兩側(cè)下頒最后一個磨牙遠(yuǎn)中頰尖所構(gòu)成的一個假想平面。Spee曲線深度是臨床正畸治療設(shè)計中計算下頒牙列擁擠度的重要參考因素，研宄表明整平Imm Spee曲線需要1.5mm的間隙，臨床上測量Spee曲線的常規(guī)方法是:將直尺放置在下切牙切端與最后一個下磨牙的牙尖上，醫(yī)生通過肉眼估測兩側(cè)Spee曲線最低點至直尺的距離，牙弓兩側(cè)各測量一次，取兩側(cè)平均值加0.5mm，即為排平牙弓或改正頒曲線所需的間隙。Spee曲線是否正確測量，將影響牙列擁擠度的測量，影響矯治方案的選擇，影響錯牙合畸形設(shè)計時是否需要拔牙來提供間隙。因此，Spee曲線的精確估計具有重要的臨床意義。
[0003]目前臨床沒有專門裝置測量Spee曲線，臨床常用直尺放置在下切牙切端與最后一個下磨牙的牙尖上，由于下頒牙弓呈弓形，而直尺呈長條直形，故直尺并不能蓋過下頒所有牙尖，尤其是Spee曲線中其最低位“牙尖”(最低位“牙尖”可以代表Spee曲線最低點，以下均用最低位“牙尖”來表述)，因此用直尺法測量下頒牙列最低位“牙尖”到直尺的距離，勢必會由于視線偏斜等，造成較大誤差。而且，錯牙合畸形牙列常較復(fù)雜，如牙列左右不對稱，下頒中線偏斜，高位錯牙合尖牙等等，都影響著下頒牙弓Spee曲線深度的測量。因此，設(shè)計一種適合各種復(fù)雜下頒牙列的Spee曲線深度測量裝置具有重要的臨床意義。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為了解決【背景技術(shù)】中提到的技術(shù)問題，本發(fā)明的目的在于提供一種Spee曲線深度測量裝置。
[0005]本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:
[0006]一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于其由定位裝置及用于測量下頒Spee曲線最低位牙尖到定位裝置所在平面垂直距離的測量裝置構(gòu)成；所述定位裝置包括用于定位在牙列中線的主定位桿，用于分別放置在左、右牙列上方的兩塊測量板，測量板的前端或后端設(shè)有可以轉(zhuǎn)動的副定位桿，測量板上設(shè)有若干測量孔；所述測量板通過連桿與主定位桿活動連接；所述測量板、主定位桿、副定位桿位于同一平面；所述測量裝置包括設(shè)有刻度的測量尺和位于測量尺內(nèi)且可上下滑動的測量筆。
[0007]所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于:所述測量筆的上端對準(zhǔn)起始刻度線，下端伸出測量尺，其伸出測量尺的長度等于測量板的的厚度。
[0008]所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于:所述測量裝置還包括平板，所述平板位于測量尺的最下端，且與測量尺垂直。
[0009]所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于:所述測量裝置包括設(shè)有刻度的測量尺，所述測量尺內(nèi)設(shè)有可以上下滑動的測量筆，所述測量筆的上端對準(zhǔn)起始刻度線，下端伸出測量尺，其伸出測量尺的長度等于測量板的的厚度。
[0010]所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于:所述測量板為網(wǎng)板。
[0011]所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于:所述測量板上的測量孔為圓孔。
[0012]所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于:所述主定位桿為可伸縮桿。
[0013]所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于:所述副定位桿的形狀為T型。
[0014]所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于:所述測量板的前端和后端均設(shè)有可以轉(zhuǎn)動的副定位桿。
[0015]所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于:所述平板的性狀為矩形。
[0016]所述的一種Spee曲線深度測量裝置，其特征在于:所述平板位于測量尺的一側(cè)。
[0017]本發(fā)明設(shè)計合理，結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，且具有如下有益效果:(1)可以根據(jù)對稱牙弓情況，調(diào)整寬度、長度，從而可以精確測量Spee曲線深度；(2)對于不對稱牙弓，可以調(diào)整測量板，使之與牙列弓形相稱，從而可以精確測量Spee曲線深度；(3)對于帶有復(fù)雜Spee曲線的牙弓，如尖牙高出牙合平面，用直尺或者平板由于尖牙的干擾無法確切估計Spee曲線深度，則用本裝置可以調(diào)整測量板、副定位桿，使測量板整體向后調(diào)整，繞過高位尖牙的干擾，從而可以精確測量Spee曲線深度；(4)對于下頒中線偏斜的牙弓，可以調(diào)整主定位桿前端的方向，使本裝置主定位桿定位在牙列中線上，從而可以精確測量Spee曲線深度；(5)對于雙側(cè)牙弓長度不對稱的牙弓，通過調(diào)整本裝置的主定位桿及副定位桿，可以使雙側(cè)副定位桿精確定位在兩側(cè)最遠(yuǎn)端磨牙的頰尖上，從而可以精確測量Spee曲線深度；(6)對于個別狹長的牙弓，本裝置可以壓縮主定位桿的長度，及調(diào)整副定位桿的角度，滿足下切牙中點及后牙區(qū)的定位；(7)在測量Spee曲線深度時，本裝置可為口腔下頒牙列提供一個由主、副定位桿及測量板構(gòu)成的具體的下頒平面，將原先的假想平面變成可以定位測量的具體的平面，保證了每一次測量時，下頒平面的穩(wěn)定性和確定性，便于醫(yī)生精確測量；(8)在測量Spee曲線深度時，本裝置可以完整定位下頒平面，且完整地蓋過下頒“牙尖”正上方，由于假想平面變成具體可以測量的平面，可以避免運用普通直尺測量左右兩側(cè)Spee曲線深度時其兩側(cè)的參考平面不一致的問題，提升了醫(yī)生測量的精度；(9)測量尺下端設(shè)置平板，在測量時測量尺下面與測量板貼合，即可保證測量到Spee曲線最低位“牙尖”到測量板的垂直距離，而非傾斜的長度。保證了測量的精確性；(10)在不確定最低位“牙尖”時，醫(yī)生可以通過反復(fù)測量，比對多次測量后的數(shù)據(jù)，直到找到左右兩側(cè)的最低點，這也是在參考平面確定的前提下得以實現(xiàn)的；(11)本裝置所設(shè)計的測量尺子帶有高精度的測量刻度，可以精確測量，避免了醫(yī)生運用直尺充當(dāng)下頒平面然后肉眼粗略估計Spee曲線最低位“牙尖”到下頒平面的距離所造成的誤差。
【附圖說明】
[0018]圖1、圖2和圖3分別是本發(fā)明定位裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；其中:圖1測量板為網(wǎng)板；圖2測量板上的測量孔為圓孔；圖3的測量板前后兩端均設(shè)置副定位桿；
[0019]圖4和圖5是本發(fā)明測量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；其中:圖4為測量筆伸出測量板外進(jìn)行測量時的結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為測量筆的上端對準(zhǔn)測量板上起始刻度線時的正視結(jié)構(gòu)示意圖；
[0020]圖中:1-測量板；2_主定位桿；3_副定位桿；4-連桿；K1-測量尺；Κ2_測量筆；Κ3-刻度；Κ4-平板。
【具體實施方式】
[0021]下面結(jié)合