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質(zhì)譜儀中探測(cè)器移動(dòng)輔助裝置的制作方法

文檔序號(hào):5895742閱讀:245來源:國(guó)知局
專利名稱:質(zhì)譜儀中探測(cè)器移動(dòng)輔助裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及質(zhì)譜儀領(lǐng)域,具體的涉及一種質(zhì)譜儀中探測(cè)器移動(dòng)輔助裝置。
背景技術(shù)
隨著質(zhì)譜技術(shù)的發(fā)展,質(zhì)譜技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域也越來越廣。質(zhì)譜儀是一種用于檢測(cè) 物質(zhì)化學(xué)成分的高靈敏度、高分辨率的儀器,它首先將樣品轉(zhuǎn)換成氣態(tài)離子,然后通過電場(chǎng) 或磁場(chǎng)將離子按照質(zhì)荷比(m/z)的大小進(jìn)行分離,再測(cè)量出離子的強(qiáng)度形成質(zhì)譜圖,根據(jù) 質(zhì)譜圖可以定性或定量的得到物質(zhì)化學(xué)成分。質(zhì)譜分析法主要是通過對(duì)樣品的離子的質(zhì)荷比的分析而實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品進(jìn)行定性和 定量的一種方法。因此,質(zhì)譜儀都必須有電離裝置把樣品電離為離子,有質(zhì)量分析裝置把不 同質(zhì)荷比的離子分開,經(jīng)探測(cè)器檢測(cè)之后可以得到樣品的質(zhì)譜圖,由于有機(jī)樣品,無機(jī)樣品 和同位素樣品等具有不同形態(tài)、性質(zhì)和不同的分析要求,所以,所用的電離裝置、質(zhì)量分析 裝置和檢測(cè)裝置有所不同。但是,不管是哪種類型的質(zhì)譜儀,其基本組成是相同的。都包括 離子源、質(zhì)量分析器、探測(cè)器和真空系統(tǒng)。質(zhì)譜儀的原理是用電場(chǎng)和磁場(chǎng)將運(yùn)動(dòng)的離子(帶電荷的原子、分子或分子碎片) 按它們的質(zhì)荷比分離后進(jìn)行檢測(cè)的方法。測(cè)出了離子的準(zhǔn)確質(zhì)量,就可以確定離子的化合 物組成。這是由于核素的準(zhǔn)確質(zhì)量是一多位小數(shù),決不會(huì)有兩個(gè)核素的質(zhì)量是一樣的,而且 決不會(huì)有一種核素的質(zhì)量恰好是另一核素質(zhì)量的整數(shù)倍。離子通過四級(jí)桿這個(gè)質(zhì)量分析器將離子束按質(zhì)荷比進(jìn)行分離。經(jīng)過分析器分離的 同質(zhì)量離子可用照相底板、法拉第筒或電子倍增器收集檢測(cè)。進(jìn)入樣品的多少直接關(guān)系到 探測(cè)器的靈敏度,關(guān)系到能否等到理想的譜圖。這里我們用到的是電子倍增管,因此電子倍 增管接收到離子的多少起到極其重要的作用,這就是說從四級(jí)桿分析器出來的離子要盡可 能的通過擋板進(jìn)入電子倍增管中,如圖1中所示,四級(jí)桿分析器和擋板之間的距離A就顯得 極為重要,同樣從擋板到電子倍增管之間的距離B也起到很關(guān)系到離子進(jìn)入的數(shù)量。這樣探測(cè)器在整個(gè)裝置中就起到非常重要的作用。而探測(cè)器到質(zhì)量分析器的距離 就顯得非常的重要。而現(xiàn)有技術(shù)中卻無任何移動(dòng)輔助裝置來調(diào)節(jié)探測(cè)器與質(zhì)量分析器。
實(shí)用新型內(nèi)容為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,本實(shí)用新型的目的在于提供一種質(zhì)譜儀中探測(cè)器移動(dòng) 輔助裝置,該裝置可以方便調(diào)整探測(cè)器的位置,使得探測(cè)器與質(zhì)量分析器之間的距離調(diào)整 到最佳。為解決上述技術(shù)問題,實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)效果,本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案一種質(zhì)譜儀中探測(cè)器移動(dòng)輔助裝置,包括一固定板,所述固定板一端安裝有一擋 板,所述固定板另一端通過一探測(cè)器支架安裝有一探測(cè)器,所述擋板通過一第二滑軌與所 述固定板連接,所述探測(cè)器支架通過一第一滑軌與所述固定板連接。[0011]進(jìn)一步的,所述第一滑軌具有一鎖定功能的結(jié)構(gòu)。進(jìn)一步的,所述第二滑軌具有一鎖定功能的結(jié)構(gòu)。優(yōu)選的,所述探測(cè)器支架左右兩端都安裝有所述第一滑軌。本實(shí)用新型的工作原理及其優(yōu)點(diǎn)如下通過調(diào)節(jié)所述第一滑軌、固定所述第二滑軌就可以所述調(diào)節(jié)擋板和探測(cè)器(電子 倍增器)之間的距離B ;通過調(diào)節(jié)所述第二滑軌,固定所述第一滑軌就可以改變所述質(zhì)量分 析器和所述擋板之間的距離A。本實(shí)用新型的機(jī)構(gòu)制作簡(jiǎn)易方便,成本低廉,操作容易,可易于推廣使用。
圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本實(shí)用新型的俯視圖。圖中標(biāo)號(hào)說明1.固定板,2.擋板,3.探測(cè)器,4.第一滑軌,5.第二滑軌,6.探測(cè) 器支架,7.質(zhì)量分析器。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖,對(duì)本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)的介紹。請(qǐng)參見圖1、圖2所示,一種質(zhì)譜儀中探測(cè)器移動(dòng)輔助裝置,包括一固定板1,所述 固定板1 一端安裝有一擋板2,所述固定板1另一端通過一探測(cè)器支架6安裝有一探測(cè)器 3,所述擋板2通過一第二滑軌5與所述固定板1連接,所述探測(cè)器支架6通過一第一滑軌 4與所述固定板1連接。進(jìn)一步的,所述第一滑軌4具有一鎖定功能的結(jié)構(gòu)。進(jìn)一步的,所述第二滑軌5具有一鎖定功能的結(jié)構(gòu)。優(yōu)選的,所述探測(cè)器支架6左右兩端都安裝有所述第一滑軌4。通過調(diào)節(jié)第一滑軌4、固定第二滑軌5就可以調(diào)節(jié)擋板2和探測(cè)器3 (電子倍增器) 之間的距離B ;通過調(diào)節(jié)第二滑軌5,固定第一滑軌4就可以改變質(zhì)量分析器7和擋板2之 間的距離A。以上對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例所提供的裝置進(jìn)行了詳細(xì)介紹,對(duì)于本領(lǐng)域的一般技術(shù) 人員,依據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的思想,在具體實(shí)施方式
及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處,因此 凡依本實(shí)用新型設(shè)計(jì)思想所做的任何改變都在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種質(zhì)譜儀中探測(cè)器移動(dòng)輔助裝置,包括一固定板(1),所述固定板(1) 一端安裝有 一擋板(2),所述固定板(1)另一端通過一探測(cè)器支架(6)安裝有一探測(cè)器(3),其特征在 于所述擋板(2)通過一第二滑軌(5)與所述固定板(1)連接,所述探測(cè)器支架(6)通過一 第一滑軌(4)與所述固定板(1)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的質(zhì)譜儀中探測(cè)器移動(dòng)輔助裝置,其特征在于所述第一滑軌(4)具有一鎖定功能的結(jié)構(gòu)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的質(zhì)譜儀中探測(cè)器移動(dòng)輔助裝置,其特征在于所述第二滑軌(5)具有一鎖定功能的結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的質(zhì)譜儀中探測(cè)器移動(dòng)輔助裝置,其特征在于所述探測(cè) 器支架(6)左右兩端都安裝有所述第一滑軌(4)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種質(zhì)譜儀中探測(cè)器移動(dòng)輔助裝置,包括一固定板,所述固定板一端安裝有一擋板,所述固定板另一端通過一探測(cè)器支架安裝有一探測(cè)器,所述擋板通過一第二滑軌與所述固定板連接,所述探測(cè)器支架通過一第一滑軌與所述固定板連接。本實(shí)用新型的機(jī)構(gòu)制作簡(jiǎn)易方便,成本低廉,操作簡(jiǎn)便,通過調(diào)節(jié)第一滑軌和/或第二滑軌就可實(shí)現(xiàn)調(diào)節(jié)探測(cè)器與質(zhì)量分析器之間的距離。
文檔編號(hào)G01N27/62GK201788942SQ20102028132
公開日2011年4月6日 申請(qǐng)日期2010年8月4日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月4日
發(fā)明者劉召貴, 周春彗, 潘翔 申請(qǐng)人:江蘇天瑞儀器股份有限公司
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