一種高頻微波印制板的介電常數(shù)測(cè)量方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種高頻微波印制板的介電常數(shù)測(cè)量方法，包括以下步驟：(1)通過(guò)機(jī)械臂將高頻微波印制板的相對(duì)兩個(gè)角夾住，再將測(cè)試裝置的兩個(gè)電纜探頭分別固定在高頻微波印制板的兩面的中央；(2)測(cè)量出微波印制板電容上的電壓Vc和標(biāo)準(zhǔn)電阻上的電壓Vr,計(jì)算出所述高頻微波印制板的電容c(PF)；(3)通過(guò)機(jī)械臂將所述高頻微波印制板旋轉(zhuǎn)，在旋轉(zhuǎn)的過(guò)程中通過(guò)光學(xué)測(cè)量?jī)x測(cè)量出高頻微波印制板的面積A(CM2)、介質(zhì)厚度d(CM)和周長(zhǎng)L(CM)；(4)所述測(cè)試裝置根據(jù)電容c(PF)、面積A(CM2)、介質(zhì)厚度d(CM)和周長(zhǎng)L(CM)計(jì)算出介電常數(shù)，本發(fā)明所述方法測(cè)量的介電常數(shù)準(zhǔn)確度高，并且成本低，適合廣大廠商推廣使用。
【專利說(shuō)明】一種高頻微波印制板的介電常數(shù)測(cè)量方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種高頻微波印制板的介電常數(shù)測(cè)量方法，涉及電變量的測(cè)量領(lǐng)域。

【背景技術(shù)】
[0002] 確定人的身份現(xiàn)在主要使用身份證，隨著微波數(shù)字電路的發(fā)展，信號(hào)的傳輸速率 越來(lái)越高，當(dāng)信號(hào)速率升高至上百兆比特每秒設(shè)置上吉比特每秒時(shí)，印刷版（PCB)電路上 信號(hào)的傳輸將出現(xiàn)高頻效應(yīng)，對(duì)信號(hào)線傳輸線上的色散效應(yīng)、趨膚效應(yīng)等高頻效應(yīng)的估計(jì) 就變得十分必要，高頻性能不好的傳輸線將導(dǎo)致信號(hào)的完整性變差，因此就要精準(zhǔn)的知道 介質(zhì)基片的介電常數(shù)，以便設(shè)計(jì)的電路能夠?qū)崿F(xiàn)預(yù)期的性能，因此，需要一種普通廠商能普 遍應(yīng)用的方法能準(zhǔn)確地測(cè)出高頻微波印制板的介電常數(shù)。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是：為克服上述問(wèn)題，提供一種能普遍應(yīng)用的高頻微波 印制板的介電常數(shù)測(cè)量方法。
[0004] 本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是：
[0005] -種高頻微波印制板的介電常數(shù)測(cè)量方法，包括以下步驟：
[0006] (1)通過(guò)機(jī)械臂將高頻微波印制板的相對(duì)兩個(gè)角夾住，再將測(cè)試裝置的兩個(gè)電纜 探頭分別固定在高頻微波印制板的兩面的中央；
[0007] (2)測(cè)量出微波印制板電容上的電壓V。和標(biāo)準(zhǔn)電阻上的電壓L根據(jù)測(cè)試儀頻率 和量程電阻計(jì)算出所述高頻微波印制板的電容C(PF);
[0008] (3)通過(guò)機(jī)械臂將所述高頻微波印制板旋轉(zhuǎn)，在旋轉(zhuǎn)的過(guò)程中通過(guò)光學(xué)測(cè)量?jī)x測(cè) 量出高頻微波印制板的面積A(CM2)、介質(zhì)厚度d(CM)和周長(zhǎng)L(CM);
[0009] (4)所述測(cè)試裝置根據(jù)所述高頻微波印制板的電容c (PF)、面積A (CM2)、介質(zhì)厚度 d(CM)和周長(zhǎng)L(CM)計(jì)算出高頻微波印制板的介電常數(shù)。
[0010] 優(yōu)選地，所述測(cè)試裝置內(nèi)預(yù)先輸入以下公式：

【權(quán)利要求】
1. 一種高頻微波印制板的介電常數(shù)測(cè)量方法，其特征在于，包括以下步驟： (1) 通過(guò)機(jī)械臂將高頻微波印制板的相對(duì)兩個(gè)角夾住，再將測(cè)試裝置的兩個(gè)電纜探頭 分別固定在高頻微波印制板的兩面的中央； (2) 測(cè)量出微波印制板電容上的電壓V。和標(biāo)準(zhǔn)電阻上的電壓^根據(jù)測(cè)試儀頻率和量 程電阻計(jì)算出所述高頻微波印制板的電容c (PF); (3) 通過(guò)機(jī)械臂將所述高頻微波印制板旋轉(zhuǎn)，在旋轉(zhuǎn)的過(guò)程中通過(guò)光學(xué)測(cè)量?jī)x測(cè)量出 高頻微波印制板的面積A (CM2)、介質(zhì)厚度d (CM)和周長(zhǎng)L(CM); (4) 所述測(cè)試裝置根據(jù)所述高頻微波印制板的電容C(PF)、面積A(CM2)、介質(zhì)厚度 d(CM)和周長(zhǎng)L(CM)計(jì)算出高頻微波印制板的介電常數(shù)。
2. 如權(quán)利要求1所述的高頻微波印制板的介電常數(shù)測(cè)量方法，其特征在于，所述測(cè)試 裝置內(nèi)預(yù)先輸入以下公式：
通過(guò)該公式計(jì)算出高頻微波印制板的相對(duì)介電常數(shù)
3. 如權(quán)利要求1或2所述的高頻微波印制板的介電常數(shù)測(cè)量方法，其特征在于，測(cè)試儀 頻率為IOKHz。
4. 如權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的高頻微波印制板的介電常數(shù)測(cè)量方法，其特征在于， 所述兩個(gè)電纜探頭內(nèi)分別設(shè)置有磁鐵并且其磁性相反。
5. 如權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的高頻微波印制板的介電常數(shù)測(cè)量方法，其特征在于， 所述兩個(gè)測(cè)試探頭的探頭接觸面積為14_40mm2。
6. 如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的高頻微波印制板的介電常數(shù)測(cè)量方法，其特征在于， 所述量程電阻設(shè)置 6 個(gè)，分別是 1000KQ、800KQ、400KQ、200KQ、100KQ、IOKQ。
【文檔編號(hào)】G01R27/26GK104360169SQ201410597783
【公開(kāi)日】2015年2月18日 申請(qǐng)日期:2014年10月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月30日
【發(fā)明者】程林海, 丁健, 徐亞芬 申請(qǐng)人:昆山金鵬電子有限公司