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一種熔斷器技術(shù)參數(shù)檢測裝置及其檢測方法與流程

文檔序號:12456363閱讀:515來源:國知局
一種熔斷器技術(shù)參數(shù)檢測裝置及其檢測方法與流程

本發(fā)明涉及電氣設(shè)備檢測領(lǐng)域,特別涉及一種熔斷器技術(shù)參數(shù)檢測裝置及其檢測方法。



背景技術(shù):

根據(jù)不同規(guī)格熔斷器的技術(shù)參數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測試要求,需要對熔斷器進(jìn)行電壓降、耐久性、時間/電流特性的檢測,電壓降基本的檢測過程為:對熔斷器通以額定電流,持續(xù)時間為足以使熔斷器溫度達(dá)到穩(wěn)定(每隔1min電壓降的變化不大于前一次測量值的2%時,則認(rèn)為溫度已達(dá)到穩(wěn)定),然后通過測試電壓降來檢驗其是否合格。耐久性基本檢測過程為:對熔斷器通以相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格單規(guī)定的電流1h,然后切斷電流15min,如此循環(huán)100次,然后對熔斷器通以相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格單規(guī)定的電流1h,測量熔斷器兩端的電壓降是否滿足標(biāo)準(zhǔn)要求。時間/電流特性基本的檢測過程為:檢測電流分別為額定電流的2.1倍、2.75倍、4倍和10倍,通過測量預(yù)飛弧時間來檢驗其是否合格,對于大電流等級預(yù)飛弧時間很短,恒定電流不能持續(xù)較長時間的情況下,應(yīng)測量I2t值,并計算有效時間。

根據(jù)目前的實驗室條件,沒有一種可以同時滿足三個檢測要求的設(shè)備,很多廠家的檢測儀器都是只能完成一種檢測,而且是簡單的通過組合直流電源、數(shù)采設(shè)備或者示波器、直流負(fù)載等進(jìn)行測試,由檢測人員讀數(shù)后,手動記錄試驗數(shù)據(jù)到紙板試驗報告上,再根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判定檢測數(shù)據(jù)是否合格。



技術(shù)實現(xiàn)要素:

針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明旨在提供一種操作簡單,可以同時滿足熔斷器電壓降、耐久性以及時間/電流特性三種檢測的裝置及其檢測方法。

為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:

一種熔斷器技術(shù)參數(shù)檢測裝置,包括監(jiān)控上位機(jī)、PLC控制器、接觸器、分壓電阻、熔斷器安裝座組、數(shù)據(jù)采集器、直流穩(wěn)壓穩(wěn)流電源和示波器,所述熔斷器安裝座組上安裝有熔斷器;

所述接觸器分別與所述直流穩(wěn)壓穩(wěn)流電源、分壓電阻以及PLC控制器連接;

所述分壓電阻分別與所述接觸器、熔斷器安裝座組以及示波器連接;

所述熔斷器安裝座組分別與所述分壓電阻、直流穩(wěn)壓穩(wěn)流電源以及數(shù)據(jù)采集器連接;

所述數(shù)據(jù)采集器分別與熔斷器安裝座組以及監(jiān)控上位機(jī)連接;

所述監(jiān)控上位機(jī)分別與所述PLC控制器以及數(shù)據(jù)采集器連接;

所述PLC控制器分別與所述監(jiān)控上位機(jī)以及接觸器連接。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述接觸器包括直流接觸器。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述接觸器還包括交流接觸器。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述PLC控制系統(tǒng)包括控制器、操作按鈕以及指示燈。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述熔斷器安裝座組包括24個熔斷器安裝座。

一種熔斷器技術(shù)參數(shù)檢測裝置的檢測方法,包括:

進(jìn)行電壓降檢測或耐久性檢測時的步驟,

所述PLC控制系統(tǒng)控制接觸器中的直流接觸器閉合,檢測回路導(dǎo)通;

所述數(shù)據(jù)采集器采集所述熔斷器兩端的電壓降,并將電壓降數(shù)據(jù)傳輸?shù)奖O(jiān)控上位機(jī)中;

所述監(jiān)控上位機(jī)接收到所述電壓降數(shù)據(jù)后,使用數(shù)據(jù)處理程序?qū)λ鲭妷航禂?shù)據(jù)進(jìn)行處理;

所述監(jiān)控上位機(jī)在組態(tài)界面顯示檢測結(jié)果,并導(dǎo)出電子版試驗報告;

和進(jìn)行時間/電流特性檢測時的步驟,

所述PLC控制系統(tǒng)控制接觸器中的直流接觸器閉合,檢測回路導(dǎo)通;

所述示波器采集所述分壓電阻上的電壓,根據(jù)所述電壓計算電流持續(xù)時間,并通過所述電流持續(xù)時間來判定預(yù)飛弧時間是否符合規(guī)定要求。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述進(jìn)行電壓降檢測或耐久性檢測時的步驟,還包括:

所述監(jiān)控上位機(jī)中的易控組態(tài)軟件根據(jù)采集到所述電壓降數(shù)據(jù)判定熔斷器是否出現(xiàn)異常狀態(tài),并顯示在組態(tài)界面上。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述進(jìn)行電壓降檢測或耐久性檢測時的步驟,還包括:

當(dāng)檢測通過后或需要中途停止檢測時,所述監(jiān)控上位機(jī)發(fā)送停止檢測命令到所述PLC控制系統(tǒng);

所述PLC控制系統(tǒng)控制所述接觸器中的直流接觸器斷開,切斷檢測回路。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述進(jìn)行電壓降檢測或耐久性檢測時的步驟,還包括:

所述示波器采集所述分壓電阻上的電壓,通過所述電壓驗證回路電流值是否滿足規(guī)定要求。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述進(jìn)行時間/電流特性檢測時的步驟,還包括:

當(dāng)大電流等級預(yù)飛弧時間很短,恒定電流不能維持較長時間時,所述示波器測量I2t值,并計算有效時間。

相比于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明熔斷器技術(shù)參數(shù)檢測裝置及其檢測方法通過對檢測設(shè)備的重新整合,可以同時滿足熔斷器電壓降、耐久性以及時間/電流特性三種檢測,解決了不同檢測需要不同檢測設(shè)備的問題,降低了對檢測人員的技術(shù)要求,提高了檢測效率。

上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述,為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段,而可依照說明書的內(nèi)容予以實施,并且為了讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點能夠更明顯易懂,以下特舉較佳實施例,并配合附圖,詳細(xì)說明如下。

附圖說明

圖1是本發(fā)明實施例中熔斷器技術(shù)參數(shù)檢測裝置示意圖。

圖2是本發(fā)明實施例中熔斷器技術(shù)參數(shù)檢測方法示意圖。

標(biāo)記說明:10、監(jiān)控上位機(jī);20、PLC控制器;30、接觸器;40、分壓電阻;50、熔斷器安裝座組;60、數(shù)據(jù)采集器;70、直流穩(wěn)壓穩(wěn)流電源;80示波器。

具體實施方式

下面,結(jié)合附圖以及具體實施方式,對本發(fā)明做進(jìn)一步描述:

如圖1所示,為本發(fā)明實施例熔斷器技術(shù)參數(shù)檢測裝置。所述裝置包括監(jiān)控上位機(jī)10、PLC控制器20、接觸器30、分壓電阻40、熔斷器安裝座組50、數(shù)據(jù)采集器60、直流穩(wěn)壓穩(wěn)流電源70、示波器80。所述接觸器30分別與所述直流穩(wěn)壓穩(wěn)流電源70、分壓電阻40以及PLC控制器20連接;所述分壓電阻40分別與所述接觸器30、熔斷器安裝座組50以及示波器80連接;所述熔斷器安裝座組50分別與所述分壓電阻40、直流穩(wěn)壓穩(wěn)流電源70以及數(shù)據(jù)采集器60連接;所述數(shù)據(jù)采集器60分別與熔斷器安裝座組50以及監(jiān)控上位機(jī)10連接;所述監(jiān)控上位機(jī)10分別與所述PLC控制器20以及數(shù)據(jù)采集器60連接;所述PLC控制器20分別與所述監(jiān)控上位機(jī)10以及接觸器30連接。

所述直流穩(wěn)壓穩(wěn)流電源70包括電源WY305,所述直流穩(wěn)壓穩(wěn)流電源70用于輸出電流,所述接觸器30包括直流接觸器,所述直流接觸器用于在檢測時接通和切斷電流,防止檢測回路產(chǎn)生電弧,所述分壓電阻40為大功率無感精密電阻,當(dāng)電流經(jīng)過所述分壓電阻40時產(chǎn)生電壓降,所述示波器80用于采集所述電壓降,所述熔斷器安裝座組50包括24個熔斷器安裝座,可以同時進(jìn)行24個熔斷器檢測,大大縮短了檢測周期,提高了檢測效率。用于安放檢測用的熔斷器,所述數(shù)據(jù)采集器60為安捷倫數(shù)據(jù)采集儀34972A,所述數(shù)據(jù)采集器60用于采集所述熔斷器的電壓降,所述數(shù)據(jù)采集器60安裝有兩個數(shù)據(jù)采集板卡,每個數(shù)據(jù)采集辦卡使用12個通道,共24個通道,用于采集24個熔斷器的電壓降。所述監(jiān)控上位機(jī)10安裝有易控(INSPEC)組態(tài)軟件,所述組態(tài)軟件中編輯有檢測操作主界面、報告數(shù)據(jù)顯示界面、通訊程序、數(shù)據(jù)采集程序、數(shù)據(jù)處理程序、檢測控制程序、報警程序,用于完成檢測參數(shù)設(shè)置、熔斷器電壓降數(shù)據(jù)的顯示與處理、檢測狀態(tài)的顯示、檢測異常狀態(tài)報警、報告的生成等功能,所述PLC控制系統(tǒng)20包括三菱FX3u-48MR控制器、操作按鈕以及指示燈,所述PLC控制系統(tǒng)20用于控制檢測開始和停止、檢測程序選擇、指示檢測狀態(tài)、執(zhí)行監(jiān)控上位機(jī)10發(fā)來的控制命令以及檢測回路保護(hù)等功能。

進(jìn)一步的,所述接觸器還包括交流接觸器,所述直流穩(wěn)壓穩(wěn)流電源電源還包括電源KXN-30100D,所述交流接觸器用于切換電源WY305和電源KXN-30100D,當(dāng)進(jìn)行電壓降檢測、耐久性檢測、檢測電流不大于5A的時間/電流特性檢測時,切換電源WY305作為直流電源,當(dāng)進(jìn)行檢測電流大于5A的時間/電流特性檢測時,切換電源KXN-30100D作為直流電源,可以使得到的檢測參數(shù)更加精確。

如圖2所示,為本發(fā)明實施例熔斷器技術(shù)參數(shù)檢測方法,所述方法包括:

進(jìn)行電壓降檢測或耐久性檢測時的步驟,

步驟211、所述PLC控制系統(tǒng)20控制所述接觸器30中的直流接觸器閉合,檢測回路導(dǎo)通;

步驟212、所述數(shù)據(jù)采集器60采集所述熔斷器兩端的電壓降,并將電壓降數(shù)據(jù)傳輸?shù)奖O(jiān)控上位機(jī)10中;

步驟213、所述監(jiān)控上位機(jī)10接收到所述電壓降數(shù)據(jù)后,使用數(shù)據(jù)處理程序?qū)λ鲭妷航禂?shù)據(jù)進(jìn)行處理。

步驟214、所述監(jiān)控上位機(jī)10在組態(tài)界面顯示測試結(jié)果,并導(dǎo)出電子版試驗報告。

通過直接把數(shù)據(jù)記錄在試驗報告上,自動打印試驗報告,避免了試驗員手抄試驗數(shù)據(jù),減少試驗人員工作量的同時,提高了試驗報告的規(guī)范性。

優(yōu)選的,所述進(jìn)行電壓降檢測或耐久性檢測時的步驟還包括:

所述監(jiān)控上位機(jī)10中的易控組態(tài)軟件根據(jù)采集到所述電壓降數(shù)據(jù)判定所述熔斷器是否出現(xiàn)異常狀態(tài),并顯示在組態(tài)界面上。

優(yōu)選的,所述進(jìn)行電壓降檢測或耐久性檢測時的步驟還包括:

當(dāng)檢測通過后或需要中途停止檢測時,所述監(jiān)控上位機(jī)10發(fā)送停止檢測命令到所述PLC控制系統(tǒng)20;

所述PLC控制系統(tǒng)20控制所述接觸器中的直流接觸器斷開,切斷檢測回路。

優(yōu)選的,所述進(jìn)行電壓降檢測或耐久性檢測時的步驟還包括:

所述示波器80采集所述分壓電阻40上的電壓,通過所述電壓驗證回路電流值是否滿足規(guī)定要求。

具體的,根據(jù)I=U/R驗證回路電流值與規(guī)定要求的檢測電流值是否相同。

進(jìn)行時間/電流特性檢測時的步驟,

步驟221、所述PLC控制系統(tǒng)20控制所述接觸器30中的直流接觸器閉合,檢測回路導(dǎo)通;

步驟222、所述示波器80采集所述分壓電阻40上的電壓,根據(jù)所述電壓計算電流持續(xù)時間,并通過所述電流持續(xù)時間來判定預(yù)飛弧時間是否符合規(guī)定要求。

優(yōu)選的,所述進(jìn)行時間/電流特性檢測時的步驟還包括:

當(dāng)大電流等級預(yù)飛弧時間很短,恒定電流不能維持較長時間時,所述示波器測量I2t值,并計算有效時間。

相比于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明熔斷器技術(shù)參數(shù)檢測裝置機(jī)器檢測方法通過對檢測設(shè)備的重新整合,可以同時滿足熔斷器電壓降、耐久性以及時間/電流特性三種檢測,解決了不同檢測需要不同檢測設(shè)備的問題,降低了對檢測人員的技術(shù)要求,提高了檢測效率。

對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說,可根據(jù)以上描述的技術(shù)方案以及構(gòu)思,做出其它各種相應(yīng)的改變以及變形,而所有的這些改變以及變形都應(yīng)該屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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