本發(fā)明涉及一種具有顯示功能的x射線熒光光譜分析儀，屬于元素分析設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

任何元素的原子都是由原子核和繞核運動的電子組成，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級，因此，一個原子核可以具有多種能級狀態(tài)。能量最低的能級狀態(tài)稱為基態(tài)能級，其余能級稱為激發(fā)態(tài)能級，能量最低的激發(fā)態(tài)則稱為第一激發(fā)態(tài)。正常情況下，原子處于基態(tài)，核外電子在各自能量最低的軌道上運動。如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子，當(dāng)外界光能量e恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級之間的能級差△e時，該原子將吸收這一特征波長的光，外層電子由基態(tài)躍遷到相應(yīng)的激發(fā)態(tài)，形成原子吸收光譜。電子躍遷到較高能級以后處于激發(fā)態(tài)，但激發(fā)態(tài)電子是不穩(wěn)定的，經(jīng)過一較短時間后，激發(fā)態(tài)電子將返回基態(tài)或其它較低能級，并將電子躍遷時所吸收的能量以光的形式釋放出去，這個過程形成原子發(fā)射光譜。可見原子吸收光譜過程吸收輻射能量，而原子發(fā)射光譜過程則釋放輻射能量。x-射線熒光光譜分析儀的分析原理是：光源發(fā)射出原級x-射線，該射線照射樣品，待測元素的原子吸收相應(yīng)的能量形成激發(fā)態(tài)，外層電子向低能級電子層躍遷，同時發(fā)射出次級x-射線，即x-射線熒光，以釋放能量，通過探測器檢測x-射線熒光的強度，進而求得待測元素的含量。

現(xiàn)有技術(shù)中x射線熒光光譜分析儀，x射線源通常設(shè)置在底端，正對樣品，此時，用于拍攝樣品的攝像頭就必須傾斜設(shè)置，傾斜設(shè)置的攝像頭拍攝的樣品圖像必然會出現(xiàn)失真，如梯形失真等，導(dǎo)致無法正確識別出樣品待檢測部位的中心，也就無法給樣品調(diào)整到正確位置提供正確的圖像指示。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是：為解決x射線熒光光譜分析儀中攝像頭拍攝樣品圖像失真的技術(shù)問題，提供一種攝像頭拍攝樣品圖像精確且不影響原有功能的具有顯示功能的x射線熒光光譜分析儀。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：

本發(fā)明提供一種具有顯示功能的x射線熒光光譜分析儀，包括：

殼體；

蓋體，鉸接地設(shè)置在殼體上，能夠關(guān)上或者打開；

樣品臺，設(shè)置在殼體頂部，中間設(shè)置有樣品檢測孔；

檢測倉，密封設(shè)置在樣品臺底部，一側(cè)安裝有觀察窗；

x射線源，設(shè)置在檢測倉底部，x射線源的x射線發(fā)射管沿豎直方向布置；

探測器，設(shè)置在檢測倉另一側(cè)，用于探測樣品發(fā)出的二次x射線；

攝像頭，鏡頭對準(zhǔn)觀察窗；

準(zhǔn)直部件，包括，設(shè)置在檢測倉外的電機；設(shè)置在檢測倉底部的導(dǎo)軌；設(shè)置導(dǎo)軌上的準(zhǔn)直塊；準(zhǔn)直塊上設(shè)置有反射鏡和至少一個豎直布置的準(zhǔn)直孔，準(zhǔn)直塊能夠在直線電機的驅(qū)動下沿導(dǎo)軌運動，準(zhǔn)直塊能夠到達如下位置：1、攝像頭經(jīng)準(zhǔn)直塊上的反射鏡透過檢測孔拍到位于樣品臺上樣品的觀察位置；2、任一準(zhǔn)直孔位于x射線源與檢測孔之間的檢測位置；

顯示屏，設(shè)置殼體前端，用于顯示攝像頭拍攝的圖像及檢測結(jié)果，顯示屏成與水平面30°-60°角傾斜設(shè)置。

優(yōu)選地，本發(fā)明的具有顯示功能的x射線熒光光譜分析儀，準(zhǔn)直孔孔徑為0.1mm-5mm之間的任意值。

優(yōu)選地，本發(fā)明的具有顯示功能的x射線熒光光譜分析儀，準(zhǔn)直孔為成一列排布的若干個。

優(yōu)選地，本發(fā)明的具有顯示功能的x射線熒光光譜分析儀，準(zhǔn)直孔為7個，孔徑分別為0.1mm、0.2mm、0.5mm、1mm、2mm、5mm、5mm。

優(yōu)選地，本發(fā)明的具有顯示功能的x射線熒光光譜分析儀，相鄰兩個準(zhǔn)直孔之間的距離為6-12mm。

優(yōu)選地，本發(fā)明的具有顯示功能的x射線熒光光譜分析儀，除其中一個5mm的準(zhǔn)直孔外，準(zhǔn)直孔內(nèi)設(shè)置有濾光片。

優(yōu)選地，本發(fā)明的具有顯示功能的x射線熒光光譜分析儀，電機為直線電機。

優(yōu)選地，本發(fā)明的具有顯示功能的x射線熒光光譜分析儀，樣品檢測孔411可設(shè)置在一個能夠拆卸的樣品放置板上。

優(yōu)選地，本發(fā)明的具有顯示功能的x射線熒光光譜分析儀，攝像頭水平設(shè)置，反射鏡應(yīng)與水平面成45°夾角設(shè)置。

優(yōu)選地，本發(fā)明的具有顯示功能的x射線熒光光譜分析儀，檢測孔處還設(shè)置有mylar膜。

本發(fā)明的有益效果是：

本發(fā)明的具有顯示功能的x射線熒光光譜分析儀中x射線源設(shè)置在檢測倉底部，x射線源發(fā)射的x射線以垂直角度照射到樣品上，提高了檢測精度。同時，通過設(shè)置具有反射鏡的準(zhǔn)直部件，在需要通過攝像頭觀察樣品位置時，通過直線電機使準(zhǔn)直塊處于觀察位置，此時可通過攝像頭觀察樣品，且拍攝的圖像不產(chǎn)生變形失真，產(chǎn)品成像和位置的調(diào)整更為精確，樣品位置調(diào)整結(jié)束后，再通過直線電機使準(zhǔn)直塊處于檢測位置，此時通過x射線源發(fā)生x射線就可以進行x射線檢測，不影響x射線檢測的功能。設(shè)置顯示屏方便使用者觀察圖像并得到分析結(jié)果。

附圖說明

下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明進一步說明。

圖1是具有本發(fā)明實施例的xrf樣品檢測裝置的立體視圖；

圖2是具有本發(fā)明實施例的無樣品臺時xrf樣品檢測裝置的立體視圖；

圖3是具有本發(fā)明實施例的xrf樣品檢測裝置的側(cè)視圖；

圖4是本發(fā)明實施例的xrf準(zhǔn)直部件的立體視圖；

圖5是本發(fā)明實施例的準(zhǔn)直塊的立體視圖；

圖6是本發(fā)明實施例的具有顯示功能的x射線熒光光譜分析儀的立體視圖。

圖中的附圖標(biāo)記為：

1-殼體；2-蓋體；40-檢測倉；401-觀察窗；41-樣品臺；411-樣品檢測孔；42-x射線源；43-攝像頭；44-探測器；45-準(zhǔn)直部件；451-準(zhǔn)直塊；452-直線電機；453-前擋塊；454-后擋塊；4511-反射鏡；4512-準(zhǔn)直孔；9-顯示屏。

具體實施方式

現(xiàn)在結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步詳細的說明。這些附圖均為簡化的示意圖，僅以示意方式說明本發(fā)明的基本結(jié)構(gòu)，因此其僅顯示與本發(fā)明有關(guān)的構(gòu)成。

實施例

本實施例提供一種具有顯示功能的x射線熒光光譜分析儀，如圖6所示，包括：

殼體1；

蓋體2，鉸接地設(shè)置在殼體1上，能夠關(guān)上或者打開；

樣品臺41，設(shè)置在殼體1頂部，中間設(shè)置有樣品檢測孔411，樣品檢測孔411可設(shè)置在一個能夠拆卸的樣品放置板上，以方便放置板的更換，檢測孔411處還設(shè)置有mylar膜；

檢測倉40，位于樣品臺41底部、殼體1內(nèi)，一側(cè)安裝有觀察窗401；

x射線源42，設(shè)置在檢測倉40底部，x射線源42的x射線發(fā)射管沿豎直方向布置(也即能以豎直方向發(fā)射x射線)；

探測器44，設(shè)置在檢測倉40另一側(cè)，用于探測樣品發(fā)出的二次x射線；

準(zhǔn)直部件45，包括直線電機452，導(dǎo)軌453，設(shè)置導(dǎo)軌453上的準(zhǔn)直塊451，準(zhǔn)直塊451上設(shè)置有反射鏡4511，若干豎直布置的準(zhǔn)直孔4512，準(zhǔn)直孔4512孔徑從0.1mm-5mm之間的任意值，如可以有0.1mm、0.2mm、0.5mm、1mm、2mm、5mm等等，當(dāng)然也可以更大或者更小，準(zhǔn)直孔4512與準(zhǔn)直孔4512之間的距離為6-12mm，如6mm、8mm、9mm、12mm等等，準(zhǔn)直孔4512的底部設(shè)置有濾光片，圖中有兩個5mm的準(zhǔn)直孔，其中一個未設(shè)置濾光片，另一個設(shè)置有濾光片，準(zhǔn)直塊451能夠在直線電機452的驅(qū)動下，到達如下位置：1、攝像頭43經(jīng)準(zhǔn)直塊451上的反射鏡4511透過檢測孔411拍到位于樣品臺41上樣品的觀察位置；2、任一準(zhǔn)直孔4512位于x射線源42與檢測孔411之間的檢測位置，x射線源42發(fā)出的x射線能夠通過準(zhǔn)直孔4512照射到位于樣品臺41上樣品。檢測倉40底部、導(dǎo)軌453一側(cè)還設(shè)置有前擋塊453與后擋塊454，用于限制準(zhǔn)直塊451的運動行程。

攝像頭43，鏡頭對準(zhǔn)觀察窗401，當(dāng)攝像頭43位于觀察位置時，能夠通過反射鏡4511觀察到位于樣品臺41上樣品；優(yōu)選為水平設(shè)置，此時，反射鏡4511應(yīng)與水平面成45°夾角設(shè)置。但攝像頭43可以以一定角度設(shè)置，此時，反射鏡4511也需根據(jù)入射角等于反射角的原理調(diào)整角度保證能拍到樣品臺41。

顯示屏9，設(shè)置殼體1前端，用于顯示攝像頭43拍攝的圖像及檢測結(jié)果，顯示屏9與水平面成30°-60°角傾斜設(shè)置，以方便使用者觀看屏幕。

作為變形直線電機452也可以是電機加上滾珠絲桿傳動副。

上述xrf樣品檢測裝置中x射線源42設(shè)置在檢測倉40底部，x射線源42發(fā)射的x射線以垂直角度照射到樣品上，提高了檢測精度。同時，通過設(shè)置具有反射鏡4511的準(zhǔn)直部件45，在需要通過攝像頭43觀察樣品位置時(需要將檢測位置中心對準(zhǔn)樣品檢測孔411中心)，通過直線電機452使準(zhǔn)直塊451處于觀察位置，此時可通過攝像頭43觀察樣品，且拍攝的圖像不產(chǎn)生變形失真，產(chǎn)品成像和位置的調(diào)整更為精確，樣品位置調(diào)整結(jié)束后，再通過直線電機452使準(zhǔn)直塊451處于檢測位置，此時通過x射線源42發(fā)生x射線就可以進行x射線檢測，不影響x射線檢測的功能。

以上述依據(jù)本發(fā)明的理想實施例為啟示，通過上述的說明內(nèi)容，相關(guān)工作人員完全可以在不偏離本項發(fā)明技術(shù)思想的范圍內(nèi)，進行多樣的變更以及修改。本項發(fā)明的技術(shù)性范圍并不局限于說明書上的內(nèi)容，必須要根據(jù)權(quán)利要求范圍來確定其技術(shù)性范圍。