電子芯片的測(cè)試系統(tǒng)、方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種電子芯片的測(cè)試系統(tǒng)、方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著電子芯片種類的不斷增加，需要在電子芯片量產(chǎn)過(guò)程中保障電子芯片的性能。電子芯片的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(Automatic Test Equipment，簡(jiǎn)稱為ATE)是一種自動(dòng)測(cè)試電子芯片性能的設(shè)備，主要包括測(cè)試電子芯片的漏電、電氣特性、高低壓、內(nèi)部邏輯布局、引腳開(kāi)/關(guān)、時(shí)鐘范圍或者接收性能等。圖1是根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的電子芯片的測(cè)試設(shè)備的示意圖，如圖1所示，為了測(cè)試電子芯片的圖像處理性能，該測(cè)試設(shè)備是將不同高分辨率的圖像存儲(chǔ)在flash里面，通過(guò)嵌入式系統(tǒng)再寫(xiě)入雙倍速率同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器(Double Date Rate,簡(jiǎn)稱為DDR)，以便于達(dá)到相應(yīng)的傳輸速率，然后通過(guò)嵌入式系統(tǒng)打包圖像數(shù)據(jù)，通過(guò)外部接口將其發(fā)送至待測(cè)芯片。但是，現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試設(shè)備需要存儲(chǔ)一幀圖像到flash，但flash的數(shù)據(jù)傳輸速率很慢，所以必須通過(guò)嵌入式系統(tǒng)將圖像存到DDR，以實(shí)現(xiàn)高速率傳送圖像數(shù)據(jù)?，F(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試設(shè)備存在以下缺點(diǎn):
[0003]1)需要通過(guò)軟件來(lái)實(shí)現(xiàn)嵌入式系統(tǒng)訪問(wèn)flash接口和DDR接口，增加軟件開(kāi)發(fā)周期和工作量。
[0004]2)更換待測(cè)圖像模式時(shí)需要把數(shù)據(jù)寫(xiě)入flash，工序繁復(fù)，增加出錯(cuò)幾率。
[0005]3)嵌入式系統(tǒng)接口不夠靈活，如果接口更換，嵌入式系統(tǒng)也必須相應(yīng)的更換，導(dǎo)致開(kāi)發(fā)周期長(zhǎng)，成本更高。
[0006]4)實(shí)現(xiàn)flash接口和DDR接口的開(kāi)發(fā)難度和風(fēng)險(xiǎn)很大，如果軟件開(kāi)發(fā)的接口時(shí)序有問(wèn)題，或是硬件的高速線布線不合理，一個(gè)比特?cái)?shù)據(jù)錯(cuò)誤就會(huì)導(dǎo)致整個(gè)圖像數(shù)據(jù)錯(cuò)誤。
[0007]針對(duì)相關(guān)技術(shù)中電子芯片的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備因其內(nèi)部帶有flash、DDR存儲(chǔ)模塊，導(dǎo)致自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的硬件成本較高、軟件開(kāi)發(fā)周期較長(zhǎng)的問(wèn)題，目前尚未提出有效的解決方案。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電子芯片的測(cè)試系統(tǒng)、方法及裝置，以至少解決相關(guān)技術(shù)中電子芯片的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備因其內(nèi)部帶有f lash、DDR存儲(chǔ)模塊，導(dǎo)致自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的硬件成本較高、軟件開(kāi)發(fā)周期較長(zhǎng)的技術(shù)問(wèn)題。
[0009]根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種電子芯片的測(cè)試系統(tǒng)，包括:計(jì)算機(jī)，通過(guò)數(shù)據(jù)接口與待測(cè)芯片相連接，用于識(shí)別待測(cè)芯片的顯示參數(shù)，生成與顯示參數(shù)相匹配的測(cè)試圖像，并將測(cè)試圖像發(fā)送至待測(cè)芯片，其中，測(cè)試圖像為用于測(cè)試待測(cè)芯片的圖像；以及控制器，與待測(cè)芯片相連接，用于對(duì)待測(cè)芯片利用測(cè)試圖像進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程進(jìn)行控制，并檢測(cè)待測(cè)芯片的測(cè)試結(jié)果。
[0010]進(jìn)一步地，該系統(tǒng)還包括:芯片探測(cè)電路，分別與待測(cè)芯片、數(shù)據(jù)接口相連接，用于識(shí)別待測(cè)芯片輸出的電平信號(hào)，并在待測(cè)芯片初始化成功輸出高電平時(shí)，通過(guò)數(shù)據(jù)接口向計(jì)算機(jī)發(fā)送芯片探測(cè)信號(hào)，其中，芯片探測(cè)信號(hào)為用于通知計(jì)算機(jī)存在待測(cè)芯片的信號(hào)。
[0011]進(jìn)一步地，控制器與芯片探測(cè)電路相連接，用于在更換待測(cè)芯片時(shí)控制芯片探測(cè)電路持續(xù)地向計(jì)算機(jī)輸出芯片探測(cè)信號(hào)。
[0012]進(jìn)一步地，該系統(tǒng)還包括:信號(hào)接口，計(jì)算機(jī)通過(guò)信號(hào)接口識(shí)別待測(cè)芯片的顯示參數(shù)，并對(duì)與待測(cè)芯片之間的通信鏈路進(jìn)行鏈路調(diào)訓(xùn)。
[0013]根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一方面，還提供了一種電子芯片的測(cè)試方法，包括:計(jì)算機(jī)識(shí)別待測(cè)芯片的顯示參數(shù);計(jì)算機(jī)生成與顯示參數(shù)相匹配的測(cè)試圖像，其中，測(cè)試圖像為用于測(cè)試待測(cè)芯片的圖像；以及計(jì)算機(jī)將測(cè)試圖像發(fā)送至待測(cè)芯片，其中，待測(cè)芯片利用測(cè)試圖像進(jìn)行測(cè)試。
[00? 4]進(jìn)一步地，計(jì)算機(jī)在識(shí)別待測(cè)芯片的顯示參數(shù)之前，該方法還包括:計(jì)算機(jī)檢測(cè)是否接收到芯片探測(cè)電路輸出的芯片探測(cè)信號(hào)，其中，芯片探測(cè)電路在檢測(cè)到待測(cè)芯片初始化成功輸出高電平時(shí)向計(jì)算機(jī)發(fā)送芯片探測(cè)信號(hào)，芯片探測(cè)信號(hào)為用于通知計(jì)算機(jī)存在待測(cè)芯片的信號(hào)，其中，計(jì)算機(jī)在檢測(cè)到接收到芯片探測(cè)電路輸出的芯片探測(cè)信號(hào)時(shí)，識(shí)別待測(cè)芯片的顯示參數(shù)。
[0015]進(jìn)一步地，芯片探測(cè)電路輸出芯片探測(cè)信號(hào)的條件包括以下任意一種條件:芯片探測(cè)電路檢測(cè)到待測(cè)芯片初始化成功后輸出的高電平;芯片探測(cè)電路檢測(cè)到控制器發(fā)送的控制信號(hào)，其中，控制信號(hào)為在控制器檢測(cè)到需要更換待測(cè)芯片時(shí)向芯片探測(cè)電路發(fā)送的，用于控制芯片探測(cè)電路持續(xù)地輸出芯片探測(cè)信號(hào)的信號(hào)。
[0016]進(jìn)一步地，計(jì)算機(jī)在識(shí)別待測(cè)芯片的顯示參數(shù)之后，該方法還包括:計(jì)算機(jī)對(duì)與待測(cè)芯片之間的通信鏈路進(jìn)行鏈路調(diào)訓(xùn)，其中，在通信鏈路調(diào)訓(xùn)成功時(shí)，計(jì)算機(jī)利用通信鏈路將測(cè)試圖像發(fā)送至待測(cè)芯片。
[0017]進(jìn)一步地，計(jì)算機(jī)在生成與顯示參數(shù)相匹配的測(cè)試圖像的同時(shí)，該方法還包括:計(jì)算機(jī)調(diào)整測(cè)試圖像的分辨率;計(jì)算機(jī)調(diào)整測(cè)試圖像的輸出模式。
[0018]根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一方面，還提供了一種電子芯片的測(cè)試裝置，包括:識(shí)別模塊，用于計(jì)算機(jī)識(shí)別待測(cè)芯片的顯示參數(shù);生成模塊，用于計(jì)算機(jī)生成與顯示參數(shù)相匹配的測(cè)試圖像，其中，測(cè)試圖像為用于測(cè)試待測(cè)芯片的圖像；以及發(fā)送模塊，用于計(jì)算機(jī)將測(cè)試圖像發(fā)送至待測(cè)芯片，其中，待測(cè)芯片利用測(cè)試圖像進(jìn)行測(cè)試。
[0019]進(jìn)一步地，該裝置還包括:檢測(cè)模塊，用于計(jì)算機(jī)檢測(cè)是否接收到芯片探測(cè)電路輸出的芯片探測(cè)信號(hào)，其中，芯片探測(cè)電路在檢測(cè)到待測(cè)芯片初始化成功輸出高電平時(shí)向計(jì)算機(jī)發(fā)送芯片探測(cè)信號(hào)，芯片探測(cè)信號(hào)為用于通知計(jì)算機(jī)存在待測(cè)芯片的信號(hào)，其中，計(jì)算機(jī)在檢測(cè)到接收到芯片探測(cè)電路輸出的芯片探測(cè)信號(hào)時(shí)，識(shí)別待測(cè)芯片的顯示參數(shù)。
[0020]進(jìn)一步地，芯片探測(cè)電路輸出芯片探測(cè)信號(hào)的條件包括以下任意一種條件:芯片探測(cè)電路檢測(cè)到待測(cè)芯片初始化成功后輸出的高電平;芯片探測(cè)電路檢測(cè)到控制器發(fā)送的控制信號(hào)，其中，控制信號(hào)為在控制器檢測(cè)到需要更換待測(cè)芯片時(shí)向芯片探測(cè)電路發(fā)送的，用于控制芯片探測(cè)電路持續(xù)地輸出芯片探測(cè)信號(hào)的信號(hào)。
[0021]進(jìn)一步地，該裝置還包括:調(diào)訓(xùn)模塊，用于計(jì)算機(jī)對(duì)與待測(cè)芯片之間的通信鏈路進(jìn)行鏈路調(diào)訓(xùn)，其中，在通信鏈路調(diào)訓(xùn)成功時(shí)，計(jì)算機(jī)利用通信鏈路將測(cè)試圖像發(fā)送至待測(cè)芯片。
[0022]進(jìn)一步地，該裝置還包括:第一調(diào)整模塊，用于計(jì)算機(jī)調(diào)整測(cè)試圖像的分辨率;第二調(diào)整模塊，用于計(jì)算機(jī)調(diào)整測(cè)試圖像的輸出模式。
[0023]在本發(fā)明實(shí)施例中，采用計(jì)算機(jī)替代傳統(tǒng)電子芯片的測(cè)設(shè)設(shè)備中的嵌入式系統(tǒng)的方式，無(wú)需開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)嵌入式系統(tǒng)的軟硬件，通過(guò)計(jì)算機(jī)識(shí)別待測(cè)芯片的顯示參數(shù)，生成與顯示參數(shù)相匹配的測(cè)試圖像，并將測(cè)試圖像發(fā)送至待測(cè)芯片，實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)芯片的測(cè)試，達(dá)到了快速準(zhǔn)確地對(duì)電子芯片進(jìn)行測(cè)試的目的，從而實(shí)現(xiàn)了節(jié)省成本、縮短研發(fā)周期的技術(shù)效果，進(jìn)而解決了相關(guān)技術(shù)中電子芯片的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備因其內(nèi)部帶有flash、DDR存儲(chǔ)模塊，導(dǎo)致自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的硬件成本較高、軟件開(kāi)發(fā)周期較長(zhǎng)的技術(shù)問(wèn)題。
【附圖說(shuō)明】
[0024]此處所說(shuō)明的附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0025]圖1是根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的電子芯片的測(cè)試設(shè)備的示意圖；
[0026]圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的電子芯片的測(cè)試系統(tǒng)的示意圖；
[0027]圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選地電子芯片的測(cè)試系統(tǒng)的示意圖；
[0028]圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的電子芯片的測(cè)試系統(tǒng)的工作流程圖；
[0029]圖5是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的電子芯片的測(cè)試方法的流程圖；以及
[0030]圖6是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的電子芯片的測(cè)試裝置的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0031]為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分的實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都應(yīng)當(dāng)屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0032]需要說(shuō)明的是，本發(fā)明的說(shuō)明書(shū)和權(quán)利要求書(shū)及上述附圖中的術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”等是用于區(qū)別類似的對(duì)象，而不必用于描述特定的順序或先后次序。應(yīng)該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當(dāng)情況下可以互換，以便這里描述的本發(fā)明的實(shí)施例能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序?qū)嵤?。此外，術(shù)語(yǔ)“包括”和“具有”以及他們的任何變形，意圖在于覆蓋不排他的包含，例如，包含了一系列步驟或單