一種k波段雷達(dá)測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種K波段雷達(dá)測試系統(tǒng)，包括PXle機(jī)箱和背板，所述PXle機(jī)箱和背板上通信連接有PXle系統(tǒng)控制器、PXle雙通道DAC模塊、K波段IQ上變頻模塊、K波段IQ下變頻模塊和PXle雙通道ADC模塊；所述PXle雙通道DAC模塊輸出端與K波段IQ上變頻模塊連接；所述K波段IQ上變頻模塊輸出端連接到K波段矢量信號輸出接口；所述K波段IQ下變頻模塊輸出端連接到PXle雙通道ADC模塊；所述K波段IQ下變頻模塊輸入端連接到K波段矢量信號輸入接口。本發(fā)明提出了一種K波段雷達(dá)測試系統(tǒng)，K波段雷達(dá)測試系統(tǒng)基于PXI架構(gòu)，可以實(shí)現(xiàn)在一臺設(shè)備中實(shí)現(xiàn)對雷達(dá)收發(fā)信號的測試，同時(shí)可測試?yán)走_(dá)信號的時(shí)域和頻域波形，并可對各種信號數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，實(shí)現(xiàn)對于復(fù)雜雷達(dá)測試。
【專利說明】
一種K波段雷達(dá)測試系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種雷達(dá)波段測試系統(tǒng)，具體涉及一種K波段雷達(dá)測試系統(tǒng)，屬于雷達(dá)波段測試技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]目前對于K波段及以上的雷達(dá)射頻信號測試時(shí)，采用的測試手段大多為依靠幾臺通用儀器分別測試不同的信號和指標(biāo)，存在成本高，測試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一處理，測試界面多，操作復(fù)雜，普通測試人員難以掌握等問題;而現(xiàn)有的采用PXI架構(gòu)的設(shè)備技術(shù)指標(biāo)偏低，難以實(shí)現(xiàn)對K波段射頻信號的測量。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為解決上述問題，本發(fā)明提出了一種K波段雷達(dá)測試系統(tǒng)，K波段雷達(dá)測試系統(tǒng)基于PXI架構(gòu)，可以實(shí)現(xiàn)在一臺設(shè)備中實(shí)現(xiàn)對雷達(dá)收發(fā)信號的測試，同時(shí)可測試?yán)走_(dá)信號的時(shí)域和頻域波形，并可對各種信號數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，實(shí)現(xiàn)對于復(fù)雜雷達(dá)測試。
[0004]本發(fā)明的K波段雷達(dá)測試系統(tǒng)，包括PXle機(jī)箱和背板，所述PXle機(jī)箱和背板上通信連接有PXle系統(tǒng)控制器、PHe雙通道DAC模塊、K波段IQ上變頻模塊、K波段IQ下變頻模塊和PXle雙通道ADC模塊;所述PXle雙通道DAC模塊輸出端與K波段IQ上變頻模塊連接;所述K波段IQ上變頻模塊輸出端連接到K波段矢量信號輸出接口 ；所述K波段IQ下變頻模塊輸出端連接到PXle雙通道ADC模塊;所述K波段IQ下變頻模塊輸入端連接到K波段矢量信號輸入接口。
[0005]進(jìn)一步地，所述K波段矢量信號輸入接口和K波段矢量信號輸出接口分別連接到射頻開關(guān);通過射頻開關(guān)，不同的測試通過射頻開關(guān)進(jìn)行切換，與通用儀器測試需要頻繁接線比較，極大節(jié)省了時(shí)間，而且也降低了因反復(fù)插拔接口導(dǎo)致接口損壞的概率。
[0006]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明的K波段雷達(dá)測試系統(tǒng)，由于采用了高集成度設(shè)計(jì)，減少了測試步驟，所有測試在一臺設(shè)備上完成，大大縮短了測試時(shí)間，可提高測試效率50%以上;測試方法簡單:使用一臺設(shè)備完成全部測試，使用統(tǒng)一界面，容易學(xué)習(xí)，操作簡便；自動化程度高:配合自動化測試軟件，內(nèi)部自帶測試用例，可短時(shí)間完成復(fù)雜測試，并自動生成測試結(jié)果報(bào)告;成本低:相比于目前通用儀器的測試方案，成本可降低40%。
【附圖說明】
[0007]圖1是本發(fā)明的通信結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0008]如圖1所示的K波段雷達(dá)測試系統(tǒng)，包括PXle機(jī)箱和背板，所述PXle機(jī)箱和背板上通信連接有PXle系統(tǒng)控制器、PHe雙通道DAC模塊、K波段IQ上變頻模塊、K波段IQ下變頻模塊和PXle雙通道ADC模塊;所述PXle雙通道DAC模塊輸出端與K波段IQ上變頻模塊連接;所述K波段IQ上變頻模塊輸出端連接到K波段矢量信號輸出接口；所述K波段IQ下變頻模塊輸出端連接到PXle雙通道ADC模塊;所述K波段IQ下變頻模塊輸入端連接到K波段矢量信號輸入接口。
[0009]其中，所述K波段矢量信號輸入接口和K波段矢量信號輸出接口分別連接到射頻開關(guān);通過射頻開關(guān)，不同的測試通過射頻開關(guān)進(jìn)行切換，與通用儀器測試需要頻繁接線比較，極大節(jié)省了時(shí)間，而且也降低了因反復(fù)插拔接口導(dǎo)致接口損壞的概率。
[0010]本發(fā)明的K波段雷達(dá)測試系統(tǒng)，采用PXle機(jī)箱和背板，其是業(yè)界成熟的PXIe平臺，并集成了成熟的模塊;PXIe平臺采用PCIe Gen 4X總線，配備Core2 i7的PXle系統(tǒng)控制器；ADC和DAC模塊均采用成熟的PXIe模塊，采樣速率優(yōu)于625MSPS，垂直分辨率高于12位;K波段IQ上變頻和下變頻模塊基于GaAs MMIC技術(shù)，頻率覆蓋24-26.25GHz。
[0011]以上述依據(jù)本發(fā)明的理想實(shí)施例為啟示，通過上述的說明內(nèi)容，相關(guān)工作人員完全可以在不偏離本項(xiàng)發(fā)明技術(shù)思想的范圍內(nèi)，進(jìn)行多樣的變更以及修改。本項(xiàng)發(fā)明的技術(shù)性范圍并不局限于說明書上的內(nèi)容，必須要根據(jù)權(quán)利要求范圍來確定其技術(shù)性范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種K波段雷達(dá)測試系統(tǒng)，其特征在于:包括PXle機(jī)箱和背板，所述PXle機(jī)箱和背板上通信連接有PXle系統(tǒng)控制器、PHe雙通道DAC模塊、K波段IQ上變頻模塊、K波段IQ下變頻模塊和PXle雙通道ADC模塊;所述PXle雙通道DAC模塊輸出端與K波段IQ上變頻模塊連接;所述K波段IQ上變頻模塊輸出端連接到K波段矢量信號輸出接口 ；所述K波段IQ下變頻模塊輸出端連接到PXle雙通道ADC模塊;所述K波段IQ下變頻模塊輸入端連接到K波段矢量信號輸入接口。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的K波段雷達(dá)測試系統(tǒng)，其特征在于:所述K波段矢量信號輸入接口和K波段矢量信號輸出接口分別連接到射頻開關(guān)。
【文檔編號】G01S7/40GK105842669SQ201610183525
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2016年3月29日
【發(fā)明人】曹震宇
【申請人】智舉電子科技（上海）有限公司