攝像頭測試卡電流/開短路誤差校正方法及該測試卡的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了攝像頭測試卡電流/開短路誤差校正方法及該測試卡。該方法用于校正攝像頭測試卡具備的電流/開短路測試功能。該測試卡包括FPGA主控電路以及與該FPGA主控電路均電性連接的電流檢測回路、開短路檢測回路、圖像測試回路。針對該電流檢測回路，使用小于2mA的電流對被測試芯片進行測試。當(dāng)被測試芯片的管腳多達60個PIN腳以及包含多個高速差分信號時，為保證該開短路檢測回路的開短路測試不影響該圖像測試回路，使用一個高速開關(guān)將被測PIN腳在該圖像測試回路和該開短路檢測回路之間切換。本發(fā)明保證開短路檢測回路不影響圖像測試回路。本發(fā)明提供了一種有效較正補償因回路、芯片、電阻差異帶來的電流/開短路較正方法。本發(fā)明還公開應(yīng)用該方法的該測試卡。
【專利說明】
攝像頭測試卡電流/開短路誤差校正方法及該測試卡
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明涉及一種誤差校正方法，尤其涉及一種攝像頭測試卡電流/開短路誤差校 正方法、該攝像頭。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著影像攝像頭行業(yè)的蓬勃發(fā)展，涉及鏡頭解析力測試、車載攝像領(lǐng)域、手機攝像 頭、運動相機等多個領(lǐng)域。攝像頭在出廠時均需要經(jīng)過各項測試，如電流及開短路測試功 能。攝像頭測試卡具備電流及開短路測試功能，該二功能都為攝像頭檢測中常用功能。電流 的測量除了跟整個系統(tǒng)電路設(shè)計相關(guān)，誤差產(chǎn)生也跟采樣電阻的精度相關(guān)，因此，如何簡 單、快捷的校正攝像頭測試卡電流/開短路誤差是本領(lǐng)域技術(shù)人員的研究重點。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 有鑒于此，本發(fā)明提出一種攝像頭測試卡電流/開短路誤差校正方法及該攝像頭， 其能防止被測試芯片在測試過程中被燒壞，還能保證開短路檢測回路不影響圖像測試回 路。
[0004] 本發(fā)明的解決方案是:一種攝像頭測試卡電流/開短路誤差校正方法，其用于校正 攝像頭測試卡具備的電流/開短路測試功能;該攝像頭測試卡包括FPGA主控電路以及與該 FPGA主控電路均電性連接的電流檢測回路、開短路檢測回路、圖像測試回路;針對該電流檢 測回路，使用小于2mA的電流對被測試芯片進行測試；當(dāng)被測試芯片的管腳多達60個PIN腳 以及包含多個高速差分信號時，為保證該開短路檢測回路的開短路測試不影響該圖像測試 回路，使用一個高速開關(guān)將被測PIN腳在該圖像測試回路和該開短路檢測回路之間切換。
[0005] 作為上述方案的進一步改進，利用該FPGA主控電路的FPGA芯片ID號的唯一性，將 每個攝像頭測試卡的較正補償數(shù)據(jù)存入一個自動補償系統(tǒng)的數(shù)據(jù)庫；當(dāng)后續(xù)板卡測試時， 該自動補償系統(tǒng)將自動補償相應(yīng)攝像頭測試卡的測試數(shù)據(jù)，保障與相同攝像頭測試卡相對 應(yīng)的不同板卡之間的一致性。
[0006] 本發(fā)明還提供一種攝像頭測試卡，其包括FPGA主控電路以及與該FPGA主控電路均 電性連接的開短路檢測回路、圖像測試回路;當(dāng)被測試芯片的管腳多達60個PIN腳以及包含 多個高速差分信號時，為保證該開短路檢測回路的開短路測試不影響該圖像測試回路，使 用一個高速開關(guān)將被測PIN腳在該圖像測試回路和該開短路檢測回路之間切換。
[0007] 作為上述方案的進一步改進，該攝像頭測試卡還包括與該FPGA主控電路電性連接 的電流檢測回路，該電流檢測回路包括雙向電流/功率監(jiān)控器、電源開關(guān)器、穩(wěn)壓器、AD數(shù)據(jù) 采集器;穩(wěn)壓器電性連接AD數(shù)據(jù)采集器，雙向電流/功率監(jiān)控器、電源開關(guān)器、AD數(shù)據(jù)采集器 分別電性連接該FPGA主控電路。
[0008] 進一步地，雙向電流/功率監(jiān)控器采用INA220A芯片，電源開關(guān)器采用 NCP45524IMNTWG-H芯片，穩(wěn)壓器采用LT3080EQ芯片，AD數(shù)據(jù)采集器采用AD5175BRMZ-10芯 片。
[0009]作為上述方案的進一步改進，該圖像測試回路采用傳輸器件。
[0010]進一步地，該傳輸器件設(shè)置有若干接口 ESD保護器件。
[0011] 再進一步地，該傳輸器件采用MC20901芯片，該接口 ESD保護器件采用IP4294CZ10-TBR芯片。
[0012] 作為上述方案的進一步改進，該開短路檢測回路包括低壓CMOS器件、視頻處理器、 模數(shù)轉(zhuǎn)換器;該視頻處理器通過該模數(shù)轉(zhuǎn)換器電性連接該FPGA主控電路，該低壓CMOS器件 電性連接該FPGA主控電路。
[0013] 進一步地，該低壓CMOS器件采用ADG734芯片，該視頻處理器采用TS3DV520ERUAR芯 片，該模數(shù)轉(zhuǎn)換器采用AD5520芯片。
[0014] 本發(fā)明的有益效果為:在1C測試的開短路檢測中，本發(fā)明使用小于2mA的電流對芯 片進行測試，從而杜絕燒壞被測1C的現(xiàn)象發(fā)生；當(dāng)被測試芯片的管腳多達60個PIN腳以及包 含多個高速差分信號時，為保證開短路測試不影響其圖像回路，本發(fā)明使用高速開關(guān)將被 測PIN在圖像測試回路和開短路檢測回路之間切換。
【附圖說明】
[0015] 圖1是本發(fā)明攝像頭測試卡電流/開短路誤差校正方法的構(gòu)思示意圖。
[0016] 圖2是本發(fā)明攝像頭測試卡電流/開短路誤差校正方法的自動補償方式圖。
[0017]圖3是本發(fā)明攝像頭測試卡的電流檢測回路的電路示意圖。
[0018] 圖4是本發(fā)明攝像頭測試卡的圖像測試回路的電路示意圖。
[0019] 圖5是本發(fā)明攝像頭測試卡的開短路檢測回路的電路示意圖。
【具體實施方式】
[0020] 為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對 本發(fā)明進行進一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并 不用于限定本發(fā)明。
[0021] 請一并參閱圖1至圖5，本發(fā)明的攝像頭測試卡包括FPGA主控電路以及與該FPGA主 控電路均電性連接的電流檢測回路、開短路檢測回路、圖像測試回路。
[0022]攝像頭測試卡具備電流及開短路測試功能，該二功能都為攝像頭檢測中常用功 能，電流的測量除了跟整個系統(tǒng)電路設(shè)計相關(guān)，誤差產(chǎn)生也跟采樣電阻的精度相關(guān)。但因當(dāng) 攝像頭測試時待機精度要求達到luA甚至需要O.luA，測試卡本身回路中1C待機電流、漏電 流都將影響攝像頭本身的測量精度，如圖3所示。該電流檢測回路包括雙向電流/功率監(jiān)控 器、電源開關(guān)器、穩(wěn)壓器、AD數(shù)據(jù)采集器。穩(wěn)壓器電性連接AD數(shù)據(jù)采集器，雙向電流/功率監(jiān) 控器、電源開關(guān)器、AD數(shù)據(jù)采集器分別電性連接該FPGA主控電路。
[0023] 在本實施例中，雙向電流/功率監(jiān)控器采用INA220A芯片，電源開關(guān)器采用 NCP45524IMNTWG-H芯片，穩(wěn)壓器采用LT3080EQ芯片，AD數(shù)據(jù)采集器采用AD5175BRMZ-10芯 片。
[0024]本發(fā)明的攝像頭測試卡電流/開短路誤差校正方法，開短路檢測中，1C測試中一般 不能使用較大電流對1C的保護二級管/導(dǎo)通電壓進行測試，否則將燒壞被測的1C，本發(fā)明使 用小于2mA的電流對芯片進行測試。因被測試的管腳多達60個PIN腳，以及包含較多高速差 分信號，為保證開短路測試不影響其圖像回路，本發(fā)明使用高速開關(guān)將被測PIN在圖像測試 回路和開短路檢測回路之間切換，如圖1所示。
[0025]如圖4所示，該圖像測試回路采用傳輸器件。該傳輸器件設(shè)置有若干接口 ESD保護 器件。在本實施例中，該傳輸器件采用MC20901芯片，該接口ESD保護器件采用IP4294CZ10-TBR芯片。
[0026] 如圖5所示，該開短路檢測回路包括低壓CMOS器件、視頻處理器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器。該視 頻處理器通過該模數(shù)轉(zhuǎn)換器電性連接該FPGA主控電路，該低壓CMOS器件電性連接該FPGA主 控電路。在本實施例中，該低壓CMOS器件采用ADG734芯片，該視頻處理器采用 TS3DV520ERUAR芯片，該模數(shù)轉(zhuǎn)換器采用AD5520芯片。
[0027]如圖2所示，本發(fā)明利用該FPGA主控電路的FPGA芯片ID號的唯一性，將每個攝像頭 測試卡的較正補償數(shù)據(jù)存入一個自動補償系統(tǒng)的數(shù)據(jù)庫；當(dāng)后續(xù)板卡測試時，該自動補償 系統(tǒng)將自動補償相應(yīng)攝像頭測試卡的測試數(shù)據(jù)，保障與相同攝像頭測試卡相對應(yīng)的不同板 卡之間的一致性。
[0028]請參閱表1及表2,其中表1為電流校正數(shù)據(jù)，表2為開短路校正數(shù)據(jù)。表1為各個板 卡的電流補償數(shù)據(jù)，表2為各個板卡開短路數(shù)據(jù)的較正數(shù)據(jù)，電流補償數(shù)據(jù)為當(dāng)回路無負(fù)載 時電流數(shù)據(jù)理論應(yīng)歸零。開短路補償數(shù)據(jù)為各個PIN腳當(dāng)其與地短路時理論值應(yīng)歸零。但實 際狀況因回路、芯片、電阻阻值不同所產(chǎn)生的誤差值。
[0029]表1電流校正數(shù)據(jù)
[0031]表2開短路校正數(shù)據(jù)
[0032]
[0033] 綜上所述，本發(fā)明能通過硬件、軟件兩個渠道分別對攝像頭測試卡實現(xiàn)電流/開短 路誤差校正。另外，為了保證整個測試卡的散熱，可在板卡外殼的設(shè)計上對于較大發(fā)熱量的 芯片做了散熱處理，芯片與外殼之間可通過散熱硅脂和散熱硅膠片散熱，如通過帶粘性散 熱硅膠脂進行散熱。
[0034] 以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精 神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1. 一種攝像頭測試卡電流/開短路誤差校正方法，其用于校正攝像頭測試卡具備的電 流/開短路測試功能；該攝像頭測試卡包括FPGA主控電路以及與該FPGA主控電路均電性連 接的電流檢測回路、開短路檢測回路、圖像測試回路;其特征在于:針對該電流檢測回路，使 用小于2mA的電流對被測試芯片進行測試；當(dāng)被測試芯片的管腳多達60個PIN腳以及包含多 個高速差分信號時，為保證該開短路檢測回路的開短路測試不影響該圖像測試回路，使用 一個高速開關(guān)將被測PIN腳在該圖像測試回路和該開短路檢測回路之間切換。2. 如權(quán)利要求1所述的攝像頭測試卡電流/開短路誤差校正方法，其特征在于：利用該 FPGA主控電路的FPGA芯片ID號的唯一性，將每個攝像頭測試卡的較正補償數(shù)據(jù)存入一個自 動補償系統(tǒng)的數(shù)據(jù)庫；當(dāng)后續(xù)板卡測試時，該自動補償系統(tǒng)將自動補償相應(yīng)攝像頭測試卡 的測試數(shù)據(jù)，保障與相同攝像頭測試卡相對應(yīng)的不同板卡之間的一致性。3. -種攝像頭測試卡，其包括FPGA主控電路以及與該FPGA主控電路均電性連接的開短 路檢測回路、圖像測試回路;其特征在于：當(dāng)被測試芯片的管腳多達60個PIN腳以及包含多 個高速差分信號時，為保證該開短路檢測回路的開短路測試不影響該圖像測試回路，使用 一個高速開關(guān)將被測PIN腳在該圖像測試回路和該開短路檢測回路之間切換。4. 如權(quán)利要求3所述的攝像頭測試卡，其特征在于:該攝像頭測試卡還包括與該FPGA主 控電路電性連接的電流檢測回路，該電流檢測回路包括雙向電流/功率監(jiān)控器、電源開關(guān) 器、穩(wěn)壓器、AD數(shù)據(jù)采集器;穩(wěn)壓器電性連接AD數(shù)據(jù)采集器，雙向電流/功率監(jiān)控器、電源開 關(guān)器、AD數(shù)據(jù)采集器分別電性連接該FPGA主控電路。5. 如權(quán)利要求4所述的攝像頭測試卡，其特征在于：雙向電流/功率/電壓監(jiān)控器采用 INA220A芯片，電源開關(guān)器采用NCP45524MNTWG-H芯片，穩(wěn)壓器采用LT3080EQ芯片，AD數(shù)據(jù) 采集器采用AD5175BRMZ-10芯片。6. 如權(quán)利要求3所述的攝像頭測試卡，其特征在于:該圖像測試回路采用傳輸器件。7. 如權(quán)利要求6所述的攝像頭測試卡，其特征在于:該傳輸器件設(shè)置有若干接口 ESD保 護器件。8. 如權(quán)利要求7所述的攝像頭測試卡，其特征在于:該傳輸器件采用MC20901芯片，該接 口 ESD保護器件采用IP4294CZ10-TBR芯片。9. 如權(quán)利要求3所述的攝像頭測試卡，其特征在于:該開短路檢測回路包括低壓CMOS器 件、視頻處理器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器;該視頻處理器通過該模數(shù)轉(zhuǎn)換器電性連接該FPGA主控電路， 該低壓CMOS器件電性連接該FPGA主控電路。10. 如權(quán)利要求9所述的攝像頭測試卡，其特征在于:該低壓CMOS器件采用ADG734芯片， 該視頻處理器采用TS3DV520ERUAR芯片，該模數(shù)轉(zhuǎn)換器采用AD5520芯片。
【文檔編號】G01R31/02GK105866607SQ201610149415
【公開日】2016年8月17日
【申請日】2016年3月16日
【發(fā)明人】鐘岳良, 夏遠洋, 林浩
【申請人】昆山軟龍格自動化技術(shù)有限公司