一種封裝材料的水汽透過率測試設備及方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種封裝材料的水汽透過率測試設備及方法。該設備包括測試腔體、拍攝設備及測試電路，其中，測試腔體內(nèi)設置承載平板/架和拍攝設備，測試電路連接至承載平板/架，用于電連接承載平板/架上的待測試物體，并對待測試物體進行電性測試；拍攝設備用于在測試電路對待測試物體進行電性測試的至少部分時間內(nèi)，對待測試物體進行光學測試。通過這種設備和方法，實現(xiàn)了一臺設備上可以同時進行電學測試和光學測試的目的，降低成本，提高工作效率。
【專利說明】
一種封裝材料的水汽透過率測試設備及方法
技術領域
[0001]本發(fā)明涉及材料透濕性測量技術領域，特別是一種封裝材料的水汽透過率測試設備及方法。
【背景技術】
[0002]OLED器件具有對比度高、色域廣、柔性、輕薄、節(jié)能等突出優(yōu)點，在顯示領域有著光明的前景，但是，OLED器件中用于形成金屬陰極的活潑金屬對空氣中的水汽和氧氣非常敏感，非常容易與滲透進來的水汽發(fā)生反應，影響電荷的注入。另外，滲透進來的水汽和氧氣還會與有機材料發(fā)生化學反應，這些反應是引起OLED器件性能下降、OLED器件壽命縮短的主要因素，因此，封裝技術尤其是封裝材料的透濕性對OLED器件非常重要。目前，對封裝材料的透濕性測試方法主要包括對封裝材料的水汽透過濾的電性測試和光學測試，但是，在現(xiàn)有技術中，這兩種測試方法只能進行單一測定，一種設備只能進行一種測試，成本高，效率低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明主要提供一種封裝材料的水汽透過率測試設備及方法，旨在解決一種設備對封裝材料的水汽透過濾只能進行一種測試方法而產(chǎn)生的成本高、效率低的問題。
[0004]為解決上述技術問題，本發(fā)明采用的一個技術方案是:提供一種封裝材料的水汽透過率測試設備，該設備包括:測試腔體、拍攝設備及測試電路，
[0005]其中，測試腔體內(nèi)設置承載平板/架和所述拍攝設備；
[0006]測試電路連接至所述承載平板/架，用于電連接所述承載平板/架上的待測試物體，并對待測試物體進行電性測試；
[0007]拍攝設備用于在測試電路對待測試物體進行電性測試的至少部分時間內(nèi)，對待測試物體進行光學測試。
[0008]其中，進一步包括:
[0009]光源；
[0010]其中，承載平板/架安放待測試物體的區(qū)域透光，且位于光源與拍攝設備的光路之間。
[0011]其中，進一步包括:
[0012]承載平板/架設置有連接/接插待測試物體的電極，電極與測試電路連接。
[0013]其中，電極包括正負電極，分別位于承載平板/架兩端。
[0014]其中，電性測試包括測試待測試物體電壓、電流及電阻中至少一種。
[0015]其中，光學測試包括測試待測試物體的透光率、透光陰影、發(fā)光缺陷中至少一種。
[0016]為解決上述技術問題，本發(fā)明采用的另一個技術方案是:提供一種封裝材料的水汽透過率測試方法，該方法包括:
[0017]提供測試腔體、拍攝設備及測試電路，測試腔體內(nèi)設置承載平板/架和拍攝設備，測試電路連接至承載平板/架，用于電連接承載平板/架上的待測試物體；
[0018]利用測試電路對待測試物體進行電性測試，且利用拍攝設備在測試電路對待測試物體進行電性測試的至少部分時間內(nèi)對，對待測試物體進行光學測試。
[0019]其中，進一步包括:
[0020]對待測試物體進行光學測試包括:
[0021]提供光源，使得承載平板/架位于光源與拍攝設備的光路之間；
[0022]利用拍攝設備采集自光源發(fā)出、并透過待測試物體的光線。
[0023]本發(fā)明的有益效果是:區(qū)別于現(xiàn)有技術的情況，本發(fā)明提供一種包括測試腔體、拍攝設備及測試電路的設備，其中，測試腔體內(nèi)設置承載平板/架和拍攝設備，測試電路連接至承載平板/架，用于電連接承載平板/架上的待測試物體，并對待測試物體進行電性測試；拍攝設備用于在測試電路對待測試物體進行電性測試的至少部分時間內(nèi)，對待測試物體進行光學測試，通過該設備及方法，實現(xiàn)了一臺設備上可以同時進行電學測試和光學測試的目的，降低成本，提高工作效率。
【附圖說明】
[0024]圖1是本發(fā)明封裝材料的水汽透過率測試裝置一實施方式的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0025]圖2是本發(fā)明封裝材料的水汽透過率測試裝置另一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0026]圖3是本發(fā)明封裝材料的水汽透過率測試方法一實施方式的流程示意圖。
【具體實施方式】
[0027]為使本領域的技術人員更好地理解本發(fā)明的技術方案，下面結(jié)合附圖和【具體實施方式】對本發(fā)明所提供的一種封裝材料的水汽透過率測試設備及方法做進一步詳細描述
[0028]參閱圖1，本發(fā)明一種封裝材料的水汽透過率測試設備包括:測試腔體10、拍攝設備11、測試電路12及光源13。
[0029]其中，測試腔體10為一個恒溫恒濕的環(huán)境，本實施方案以恒溫恒濕箱為例。
[0030]測試腔體10內(nèi)設置承載平板/架101，在本實例中，承載平板/架101為一塊整體的平板/架。承載平板/架101上放置待測試物體102，測試電路12連接至承載平板/架101，用于電連接待測試物體102，其中待測試物體102為活潑金屬，導電性良好并易于與水蒸氣和氧氣發(fā)生反應。
[0031]此外，承載平板/架1I上設置有電極13，用于連接/接插待測試物體1 2，電極1 3有正負電極，分別設置在承載平板/架101兩端，與待測試物體102兩端連接/接插，電極103與測試電路12連接。此時，測試電路12、電極103和待測試物體102形成一個電流回路，當測試電路12通電時，電流從電極103和待測試物體102中通過，根據(jù)待測試物體102電流、電壓和電阻中至少一個的變化值，測試待測試物體102的電學特性。
[0032]進一步地，拍攝設備11用于在測試電路12對待測試物體102進行電性測試的至少部分時間內(nèi)，對待測試物體102進行光學測試。光源13發(fā)出的光線被拍攝設備11接收，形成光路，拍攝設備11和光源13分別置于待測試物體102兩邊，且光源13和拍攝設備11之間形成的光路通過待測試物體102。
[0033]其中，承載平板/架101上放置待測試物體102的區(qū)域透光，光源13發(fā)出的光線通過承載平板/架101的透光區(qū)域穿透待測試物體102，被拍攝設備11接收，拍攝設備11可獲得包括但不限于待測試物體102的透過光強度及區(qū)域的信息，測試出待測試物體102的透光率、透光陰影、發(fā)光缺陷中至少一種的光學特性。
[0034]參閱圖2，本發(fā)明封裝材料的水汽透過率測試設備另一實施方式包括:
[0035]在圖1所示技術方案的基礎上，在承載平板/架201上安裝一個密封罩24，把待測試物體202與空氣隔開，其中密封罩24包括金屬覆蓋層241、蓋板243及兩者之間的密封膠242。金屬覆蓋層241設置于承載平板/架201上，數(shù)量為二，分別位于承載平板/架201兩端并與待測試物體202兩端的電極203連接，蓋板243位于待測試物體202和拍攝設備21之間，蓋住待測試物體202，兩者之間涂滿密封膠242，其中，金屬覆蓋層201為導電性良好的金屬，密封膠242具有多孔性，蓋板243透光性良好，本實施案例蓋板243以玻璃蓋板為例。
[0036]使用時，測試電路22通電，與金屬覆蓋層241、電極203和待測試物體202形成電流回路;打開光源23及拍攝設備21，光源23發(fā)出光線，經(jīng)過承載平板/架201上的透光區(qū)域照射到待測試物體202。與此同時，恒溫恒濕箱20里包含水蒸氣和氧氣的空氣通過具有多孔性的密封膠242進入密封罩24內(nèi)，與待測試物體202接觸，并發(fā)生反應，隨著時間的延續(xù)，待測試物體202逐漸變薄直至局部進而全部透光。在此過程中，待測試物體202的電流、電阻及電壓發(fā)生變化，可以此測出待測試物體的電流、電阻及電壓中至少一項電學特性;與此同時，隨著待測試物體202的變薄并透光，光源23發(fā)出的光線可穿透待測試物體202，進而通過玻璃蓋板243被上方的拍攝設備21接收，拍攝設備21可獲得包括但不限于待測試物體202的透過光強度及區(qū)域的信息，以此測試待測試物體202的透光率、透光陰影、發(fā)光缺陷中至少一種的光學特性。
[0037]對于測試待測試物體202的發(fā)光缺陷等來說，光源23可以省略，拍攝設備21直接獲取待測試物體202的發(fā)光情況。
[0038]可以看出，在本發(fā)明實施案例中，在一個恒溫恒濕箱20內(nèi)，上述裝置在對待測試物體202進行電學特性測試的時候可同時對待測試物體進行光學特性測試，實現(xiàn)了一臺設備上可以同時進行電學測試和光學測試的目的，降低了成本，提高了工作效率。
[0039]本實施案例中待測試物體202為活性金屬，在其他實施案例中，上述設備亦可將OLED樣品作為待測試物體202，進行OLED樣品的在恒溫恒濕環(huán)境下對水蒸氣和氧氣的耐久性測試，此時，OLED樣品與電極203連接，測試電路22通電，OLED樣品發(fā)光，發(fā)出的光線穿過玻璃蓋板243被上方的拍攝設備21接收，恒溫恒濕箱20內(nèi)的水蒸氣和氧氣穿過密封膠242與OLED樣品的金屬電極發(fā)生反應或破壞有機層，隨著時間的延續(xù)，OLED樣品的發(fā)光區(qū)域逐漸失效，暗點區(qū)域數(shù)量變多、面積變大，上方的拍攝設備21記錄變化的圖像，以此測試出OLED樣品對水蒸氣和氧氣的耐久性。
[0040]參閱圖1和圖3，本發(fā)明還提供了一種封裝材料的水汽透過率測試方法，該方法使用圖1實施例中的裝置，包括:
[0041]S1:提供測試腔體10、拍攝設備11及測試電路12，測試腔體10內(nèi)設置承載平板/架101和拍攝設備11，測試電路12連接至承載平板/架101，用于電連接承載平板/架101上的待測試物體102;
[0042]S2:利用測試電路12對待測試物體102進行電性測試，且利用拍攝設備11在測試電路12對待測試物體102進行電性測試的至少部分時間內(nèi)對，對待測試物體102進行光學測試。
[0043]其中，進一步包括:
[0044]對待測試物體102進行光學測試包括:
[0045]提供光源13，使得承載平板/架101位于光源13與拍攝設備11的光路之間；
[0046]利用拍攝設備11采集自光源13發(fā)出、并透過待測試物體12的光線。
[0047]S3:隨著時間的延續(xù)，記錄待測試物體102電流、電阻、電壓的數(shù)據(jù)變化，同時記錄拍攝設備11拍攝的圖像信息。
[0048]S4:根據(jù)S4所記錄的數(shù)據(jù)及信息計算出待測試物體102的電學特性和光學特性。
[0049]以上所述僅為本發(fā)明的實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍。
【主權項】
1.一種封裝材料的水汽透過率測試設備，其特征在于，包括:測試腔體、拍攝設備及測試電路； 其中，所述測試腔體內(nèi)設置承載平板/架和所述拍攝設備； 所述測試電路連接至所述承載平板/架，用于電連接所述承載平板/架上的待測試物體，并對所述待測試物體進行電性測試； 所述拍攝設備用于在所述測試電路對所述待測試物體進行電性測試的至少部分時間內(nèi)，對所述待測試物體進行光學測試。2.根據(jù)權利要求1所述的設備，其特征在于，進一步包括: 光源； 其中，所述承載平板/架安放所述待測試物體的區(qū)域透光，且位于所述光源與所述拍攝設備的光路之間。3.根據(jù)權利要求1所述的設備，其特征在于，進一步包括: 所述承載平板/架設置有連接/接插所述待測試物體的電極，所述電極與所述測試電路連接。4.根據(jù)權利要求3所述的設備，其特征在于，所述電極包括正負電極，分別位于所述承載平板/架兩端。5.根據(jù)權利要求1至4任一項所述的設備，其特征在于，所述電性測試包括測試所述待測試物體電壓、電流及電阻中至少一種。6.根據(jù)權利要求1至4任一項所述的設備，其特征在于，所述光學測試包括測試所述待測試物體的透光率、透光陰影、發(fā)光缺陷中至少一種。7.一種封裝材料的水汽透過率測試方法，其特征在于，包括:提供測試腔體、拍攝設備及測試電路，所述測試腔體內(nèi)設置承載平板/架和所述拍攝設備，所述測試電路連接至所述承載平板/架，用于電連接所述承載平板/架上的待測試物體；利用所述測試電路對所述待測試物體進行電性測試，且利用所述拍攝設備在所述測試電路對所述待測試物體進行電性測試的至少部分時間內(nèi)對，對所述待測試物體進行光學測試。8.根據(jù)權利要求7所述的方法，其特征在于，進一步包括: 所述對所述待測試物體進行光學測試包括: 提供光源，使得所述承載平板/架位于所述光源與所述拍攝設備的光路之間； 利用所述拍攝設備采集自所述光源發(fā)出、并透過所述待測試物體的光線。
【文檔編號】G01N15/08GK106092854SQ201610456983
【公開日】2016年11月9日
【申請日】2016年6月21日
【發(fā)明人】沐俊應
【申請人】武漢華星光電技術有限公司