微量水分測(cè)定儀抗干擾裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種抗干擾裝置，特別是微量水分測(cè)定儀抗干擾裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]卡爾-費(fèi)休庫(kù)侖法用于精確測(cè)量樣品中微量水分含量，基于卡爾-費(fèi)休庫(kù)侖滴定法原理，精確測(cè)定液體、固體中的微量水分，并采用了微計(jì)算機(jī)控制，其分析速度快，精度高，液晶屏中文顯示，自動(dòng)打印，雙CPU設(shè)計(jì)，空白電流自動(dòng)扣除功能且有儀器故障自診，菜單選擇等功能，以達(dá)到更好的操作與使用效果，具有操作簡(jiǎn)單，全自動(dòng)等特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于電力、石油、化工制藥、食品等領(lǐng)域。
[0003]微量水分測(cè)定儀，測(cè)試樣品含水量小于10ppm時(shí)，其結(jié)果很易受光的干擾，日光對(duì)電解池的照射可使卡爾-費(fèi)休產(chǎn)生過(guò)碘反應(yīng)，多余碘的產(chǎn)生將參與樣品中水的氧化還原反應(yīng)，使被測(cè)樣品的含水量偏小，影響測(cè)試結(jié)果。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型的技術(shù)任務(wù)是針對(duì)以上現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供微量水分測(cè)定儀抗干擾
目.ο
[0005]本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題的技術(shù)方案是:微量水分測(cè)定儀抗干擾裝置，其特征在于:包括柱狀體、遮光單元和固定夾，所述柱狀體上下開(kāi)口，柱狀體上設(shè)有弧形缺口，柱狀體壁有空腔，空腔上端開(kāi)口，下端密閉，所述空腔內(nèi)部設(shè)有遮光單元，所述的遮光單元包括升降部分、不透光遮光簾和半透光遮光簾。所述的升降部分為內(nèi)外兩個(gè)，升降部分包括上環(huán)、下環(huán)、拉絲和拉手，所述拉絲一端與上環(huán)固定，另一端穿過(guò)空腔上端開(kāi)口，與拉手連接；其中一個(gè)升降部分的上環(huán)與下環(huán)之間連接不透光遮光簾，另一個(gè)升降部分的上環(huán)與下環(huán)之間連接半透光遮光簾，所述不透光遮光簾和半透光遮光簾上均設(shè)有與柱狀體弧形缺口相配套的缺口。
[0006]上述柱狀體采用亞克力材料制成。
[0007]上述兩升降部分之間設(shè)有分隔板。
[0008]上述固定夾為兩個(gè)，分別通過(guò)連接件固定安裝在柱狀體外壁上。
[0009]與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本實(shí)用新型具有以下突出的有益效果:
[0010]1、遮光簾分為不透光和半透光兩種，在進(jìn)行水分測(cè)定實(shí)驗(yàn)時(shí)，操作者可以根據(jù)光照強(qiáng)度對(duì)實(shí)驗(yàn)的影響程度選擇使用遮光簾，遮光簾完全按照電解池結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，罩遮全面，有效解決了光照對(duì)水分測(cè)定實(shí)驗(yàn)的影響，確保了實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0011]2、柱狀體上設(shè)有弧形缺口，方便電解池罩套用、拆卸，同時(shí)操作者可以通過(guò)弧形缺口隨時(shí)觀察電解池內(nèi)部試劑顏色的變化，大大提高了檢測(cè)效率，便于廣泛的推廣使用。
【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1是本實(shí)用新型主體結(jié)構(gòu)示意圖。
[0013]圖2是圖1B-B剖視圖。
【具體實(shí)施方式】
[0014]下面結(jié)合說(shuō)明書附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說(shuō)明。
[0015]如圖1、2所示，本實(shí)用新型包括柱狀體1、遮光單元和固定夾。
[0016]所述柱狀體I上下開(kāi)口，柱狀體I上設(shè)有弧形缺口 2，柱狀體I壁有空腔3，空腔3上端開(kāi)口，下端密閉。
[0017]所述空腔3內(nèi)部設(shè)有遮光單元，所述的遮光單元包括升降部分、不透光遮光簾5和半透光遮光簾10。所述的升降部分為內(nèi)外兩個(gè)，升降部分包括上環(huán)6、下環(huán)9、拉絲8和拉手7，所述拉絲8 一端與上環(huán)6固定，另一端穿過(guò)空腔3上端開(kāi)口，與拉手7連接。其中一個(gè)升降部分的上環(huán)與下環(huán)之間連接不透光遮光簾5，另一個(gè)升降部分的上環(huán)與下環(huán)之間連接半透光遮光簾10，所述不透光遮光簾5和半透光遮光簾10上均設(shè)有與柱狀體I弧形缺口相配套的缺口，圖中未標(biāo)識(shí)。將遮光簾設(shè)計(jì)成不透光和半透光兩種，在進(jìn)行水分測(cè)定實(shí)驗(yàn)時(shí)，操作者可以根據(jù)光照強(qiáng)度對(duì)實(shí)驗(yàn)的影響程度選擇使用遮光簾，遮光簾完全按照電解池結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，罩遮全面，有效解決了光照對(duì)水分測(cè)定實(shí)驗(yàn)的影響，確保了實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0018]優(yōu)化方案中，兩升降部分之間設(shè)有分隔板4，方便將兩升降部分分開(kāi)。
[0019]所述柱狀體I采用亞克力材料制成。
[0020]所述固定夾為兩個(gè)，分別通過(guò)連接件固定安裝在柱狀體I外壁上，圖中未標(biāo)識(shí)，通過(guò)固定夾將拉絲8夾緊，實(shí)現(xiàn)對(duì)拉絲8的限位。
[0021]具體操作實(shí)施時(shí)，根據(jù)光照對(duì)實(shí)驗(yàn)的影響程度選擇使用遮光簾，拉動(dòng)拉手7將遮光簾升起，實(shí)現(xiàn)對(duì)電解池的全面罩遮，最后通過(guò)固定夾將拉絲8夾緊即可，操作簡(jiǎn)單，使用效果好。
[0022]需要說(shuō)明的是，本實(shí)用新型的特定實(shí)施方案已經(jīng)對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了詳細(xì)描述，對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不背離本實(shí)用新型的精神和范圍的情況下對(duì)它進(jìn)行的各種顯而易見(jiàn)的改變都在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.微量水分測(cè)定儀抗干擾裝置，其特征在于:包括柱狀體、遮光單元和固定夾，所述柱狀體上下開(kāi)口，柱狀體上設(shè)有弧形缺口，柱狀體壁有空腔，空腔上端開(kāi)口，下端密閉，所述空腔內(nèi)部設(shè)有遮光單元，所述的遮光單元包括升降部分、不透光遮光簾和半透光遮光簾；所述的升降部分為內(nèi)外兩個(gè)，升降部分包括上環(huán)、下環(huán)、拉絲和拉手，所述拉絲一端與上環(huán)固定，另一端穿過(guò)空腔上端開(kāi)口，與拉手連接；其中一個(gè)升降部分的上環(huán)與下環(huán)之間連接不透光遮光簾，另一個(gè)升降部分的上環(huán)與下環(huán)之間連接半透光遮光簾，所述不透光遮光簾和半透光遮光簾上均設(shè)有與柱狀體弧形缺口相配套的缺口。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微量水分測(cè)定儀抗干擾裝置，其特征在于:所述柱狀體采用亞克力材料制成。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微量水分測(cè)定儀抗干擾裝置，其特征在于:所述兩升降部分之間設(shè)有分隔板。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微量水分測(cè)定儀抗干擾裝置，其特征在于:所述固定夾為兩個(gè)，分別通過(guò)連接件固定安裝在柱狀體外壁上。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了微量水分測(cè)定儀抗干擾裝置，屬于分析儀器加工制造專業(yè)技術(shù)領(lǐng)域，其特征在于：包括柱狀體、遮光單元和固定夾，所述柱狀體上下開(kāi)口，柱狀體上設(shè)有弧形缺口，柱狀體壁有空腔，空腔上端開(kāi)口，下端密閉，所述空腔內(nèi)部設(shè)有遮光單元，所述的遮光單元包括升降部分、不透光遮光簾和半透光遮光簾。與現(xiàn)有技術(shù)相比較，具有罩遮全面，有效解決了光照對(duì)水分測(cè)定實(shí)驗(yàn)的影響，確保了實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性的特點(diǎn)。
【IPC分類】G01N27/44
【公開(kāi)號(hào)】CN204694674
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520310656
【發(fā)明人】姚圣榮
【申請(qǐng)人】淄博庫(kù)侖分析儀器有限公司
【公開(kāi)日】2015年10月7日
【申請(qǐng)日】2015年5月14日