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一種用于小徑管周向射線檢測的曝光支架的制作方法

文檔序號:10038855閱讀:508來源:國知局
一種用于小徑管周向射線檢測的曝光支架的制作方法
【專利說明】
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及射線檢測設備的技術領域,特別是用于小徑管周向射線檢測的曝光支架的技術領域。
【【背景技術】】
[0002]射線檢測儀能夠測量微量射線性,對于大多數(shù)常用核素具有較高的靈敏度,使用場合為:工業(yè)無損探傷,探測和測定表面沾污;醫(yī)院、職業(yè)病防護領域;地質(zhì)勘探,科學考察,考古勘探;實驗室測定低能放射性核素;裝飾材料石材放射性元素含量等。現(xiàn)有的X射線檢測設備主要用于工業(yè)無損探傷,對給定工件進行射線探傷時,焊縫透照按底片影像質(zhì)量分為不同的檢驗等級,不同的象質(zhì)等級對底片的黑度、靈敏度與不清晰度有不同的規(guī)定。在照相過程中,必須選擇好的透照規(guī)范,使小的缺陷能夠在底片上明顯的辨別出來,主要規(guī)范有:射線源的選擇;透照距離的選擇,焦距大多在600?700mm間;膠片的選擇。
[0003]傳統(tǒng)的射線檢測方法進行射線檢測時,一次能進行1到3個小徑管(外徑Φ 79以下)工件的透照,工作效率不高。一批透照結束后,換上下一批小徑管工件,被透照工件的參數(shù)可能發(fā)生變化,導致檢測結果不一致。
【【實用新型內(nèi)容】】
[0004]本實用新型的目的就是解決現(xiàn)有技術中的問題,提出一種用于小徑管周向射線檢測的曝光支架,工作效率高,射線檢測時每個被透照工件的參數(shù)一致,獲得的底片質(zhì)量好,符合標準要求,使小徑管射線檢測更方便快捷的進行。
[0005]為實現(xiàn)上述目的,本實用新型提出了一種用于小徑管周向射線檢測的曝光支架,包括支撐桿、弧形支架、不銹鋼板、鋼板折邊、掛鉤架;所述支撐桿的數(shù)量為4個,相鄰支撐桿之間安裝有弧形支架,支撐桿間隔90°分布,弧形支架圍成圓形;所述弧形支架圍成的圓形中心處安裝有周向X射線機;所述弧形支架包括弧形上支架和弧形下支架,弧形上支架和弧形下支架之間安裝有若干個不銹鋼板,不銹鋼板間隔設置;所述弧形上支架上設有若干個掛鉤架,掛鉤架位于不銹鋼板內(nèi)側(cè),掛鉤架底部設有托架,托架上放置有受測管件。
[0006]作為優(yōu)選,所述弧形支架的數(shù)量為4個,不銹鋼板的數(shù)量為20個,每個弧形支架上安裝不銹鋼板的數(shù)量為5塊。
[0007]作為優(yōu)選,所述不銹鋼板內(nèi)側(cè)設有鋼板折邊,鋼板折邊設置在不銹鋼板的左、右、下側(cè),鋼板折邊內(nèi)放置膠片。
[0008]作為優(yōu)選,所述支撐桿底部設有固定孔,支撐桿上部設有凹槽,支撐桿通過固定孔、凹槽與弧形支架安裝固定。
[0009]作為優(yōu)選,所述凹槽為長條形,弧形支架在凹槽內(nèi)上下移動。
[0010]作為優(yōu)選,所述受測管件底部設有底座,底座放置在托架上。
[0011]本實用新型的有益效果:本實用新型通過這個工裝的制作能同時進行20個工件的射線檢測,大大提高了工作效率。射線檢測時每個被透照工件的參數(shù)一致,獲得的底片質(zhì)量好,符合標準要求。特別適用與比賽中使用,能充分保證因檢測工藝不一致而造成的比賽不公平。沒有工具的輔助,在進行小徑管射線檢測時,為了透照技術的要求,需要額外的輔助器材。本實用新型能使小徑管射線檢測更方便快捷的進行。
[0012]本實用新型的特征及優(yōu)點將通過實施例結合附圖進行詳細說明。
【【附圖說明】】
[0013]圖1是本實用新型一種用于小徑管周向射線檢測的曝光支架的主視圖;
[0014]圖2是本實用新型一種用于小徑管周向射線檢測的曝光支架的局部放大圖;
[0015]圖3是本實用新型一種用于小徑管周向射線檢測的曝光支架的支撐桿示意圖。
[0016]圖中:1-支撐桿、11-固定孔、12-凹槽、2-弧形支架、21-弧形上支架、22-弧形下支架、3-不銹鋼板、4-鋼板折邊、5-掛鉤架、51-托架、6-周向X射線機、7-受測管件、71-底座。
【【具體實施方式】】
[0017]參閱圖1、圖2和圖3,本實用新型,包括支撐桿1、弧形支架2、不銹鋼板3、鋼板折邊4、掛鉤架5 ;所述支撐桿1的數(shù)量為4個,相鄰支撐桿1之間安裝有弧形支架2,支撐桿1間隔90°分布,弧形支架2圍成圓形;所述弧形支架2圍成的圓形中心處安裝有周向X射線機6 ;所述弧形支架2包括弧形上支架21和弧形下支架22,弧形上支架21和弧形下支架22之間安裝有若干個不銹鋼板3,不銹鋼板3間隔設置;所述弧形上支架21上設有若干個掛鉤架5,掛鉤架5位于不銹鋼板3內(nèi)側(cè),掛鉤架5底部設有托架51,托架51上放置有受測管件7。所述弧形支架2的數(shù)量為4個,不銹鋼板3的數(shù)量為20個,每個弧形支架2上安裝不銹鋼板3的數(shù)量為5塊。所述不銹鋼板3內(nèi)側(cè)設有鋼板折邊4,鋼板折邊4設置在不銹鋼板3的左、右、下側(cè),鋼板折邊4內(nèi)放置膠片。所述支撐桿1底部設有固定孔11,支撐桿1上部設有凹槽12,支撐桿1通過固定孔11、凹槽12與弧形支架2安裝固定。所述凹槽12為長條形,弧形支架2在凹槽12內(nèi)上下移動。所述受測管件7底部設有底座71,底座71放置在托架51上。
[0018]本實用新型工作過程:
[0019]本實用新型一種用于小徑管周向射線檢測的曝光支架在工作過程中,支撐桿1的數(shù)量為4個,弧形支架2也為4塊,方便拆卸和運輸,支撐桿1上的凹槽12可以用來調(diào)節(jié)弧形支架2的高度。弧形支架2內(nèi)部等距間隔焊接不銹鋼板3,不銹鋼板3帶有鋼板折邊4,鋼板折邊4內(nèi)放置膠片?;⌒沃Ъ?上掛有掛鉤架5,掛鉤架5的位置與不銹鋼板3對應,受測管件7放置在掛鉤架5底部的托架51上,膠片在受測管件7后方,受測管件7放置時與膠片貼牢。弧形支架2圍成的圓形中心處安裝有周向X射線機6,按照設定參數(shù)開機曝光,再進行膠片后處理,整個小徑管射線檢測就完成了。
[0020]本實用新型,通過這個工裝的制作能同時進行20個工件的射線檢測,大大提高了工作效率。射線檢測時每個被透照工件的參數(shù)一致,獲得的底片質(zhì)量好,符合標準要求。特別適用與比賽中使用,能充分保證因檢測工藝不一致而造成的比賽不公平。沒有工具的輔助,在進行小徑管射線檢測時,為了透照技術的要求,需要額外的輔助器材。本實用新型能使小徑管射線檢測更方便快捷的進行。
[0021]上述實施例是對本實用新型的說明,不是對本實用新型的限定,任何對本實用新型簡單變換后的方案均屬于本實用新型的保護范圍。
【主權項】
1.一種用于小徑管周向射線檢測的曝光支架,其特征在于:包括支撐桿(1)、弧形支架(2)、不銹鋼板(3)、鋼板折邊(4)、掛鉤架(5);所述支撐桿(1)的數(shù)量為4個,相鄰支撐桿(I)之間安裝有弧形支架(2),支撐桿(1)間隔90°分布,弧形支架(2)圍成圓形;所述弧形支架(2)圍成的圓形中心處安裝有周向X射線機¢);所述弧形支架(2)包括弧形上支架(21)和弧形下支架(22),弧形上支架(21)和弧形下支架(22)之間安裝有若干個不銹鋼板(3),不銹鋼板(3)間隔設置;所述弧形上支架(21)上設有若干個掛鉤架(5),掛鉤架(5)位于不銹鋼板(3)內(nèi)側(cè),掛鉤架(5)底部設有托架(51),托架(51)上放置有受測管件(7)。2.如權利要求1所述的一種用于小徑管周向射線檢測的曝光支架,其特征在于:所述弧形支架(2)的數(shù)量為4個,不銹鋼板(3)的數(shù)量為20個,每個弧形支架(2)上安裝不銹鋼板⑶的數(shù)量為5塊。3.如權利要求1所述的一種用于小徑管周向射線檢測的曝光支架,其特征在于:所述不銹鋼板(3)內(nèi)側(cè)設有鋼板折邊(4),鋼板折邊(4)設置在不銹鋼板(3)的左、右、下側(cè),鋼板折邊(4)內(nèi)放置膠片。4.如權利要求1所述的一種用于小徑管周向射線檢測的曝光支架,其特征在于:所述支撐桿(1)底部設有固定孔(11),支撐桿(1)上部設有凹槽(12),支撐桿(1)通過固定孔(II)、凹槽(12)與弧形支架(2)安裝固定。5.如權利要求4所述的一種用于小徑管周向射線檢測的曝光支架,其特征在于:所述凹槽(12)為長條形,弧形支架(2)在凹槽(12)內(nèi)上下移動。6.如權利要求1至5中任一項所述的一種用于小徑管周向射線檢測的曝光支架,其特征在于:所述受測管件(7)底部設有底座(71),底座(71)放置在托架(51)上。
【專利摘要】本實用新型公開了一種用于小徑管周向射線檢測的曝光支架,包括支撐桿、弧形支架、不銹鋼板、鋼板折邊、掛鉤架;所述支撐桿的數(shù)量為4個,相鄰支撐桿之間安裝有弧形支架,支撐桿間隔90°分布,弧形支架圍成圓形;所述弧形支架圍成的圓形中心處安裝有周向X射線機;所述弧形支架包括弧形上支架和弧形下支架,弧形上支架和弧形下支架之間安裝有若干個不銹鋼板,不銹鋼板間隔設置;所述弧形上支架上設有若干個掛鉤架,掛鉤架位于不銹鋼板內(nèi)側(cè),掛鉤架底部設有托架,托架上放置有受測管件。本實用新型通過工裝的制作,工作效率高,射線檢測時每個被透照工件的參數(shù)一致,獲得的底片質(zhì)量好,符合標準要求,使小徑管射線檢測更方便快捷的進行。
【IPC分類】G01N23/18
【公開號】CN204964422
【申請?zhí)枴緾N201520580523
【發(fā)明人】許云偉, 葉聲濤, 張春有, 張學鋒, 李剛
【申請人】浙江無損檢測工程技術有限公司
【公開日】2016年1月13日
【申請日】2015年8月4日
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