一種螺旋式測試探針的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及測試探針，具體是一種用于孵化機(jī)控制柜電路測試的螺旋式測試探針。
【背景技術(shù)】
[0002]公知的，測試探針被廣泛用于各種電路的測試設(shè)備中，主要由針桿、針筒與壓簧構(gòu)成，采用膠合或壓鉚方式組裝成一體，測試探針在使用時(shí)經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)壓簧或針桿損壞的情況，此時(shí)必須更換整根測試探針；對(duì)于一些特殊行業(yè)，尤其是對(duì)孵化機(jī)控制柜的電路進(jìn)行測試時(shí)，測試探針需焊接在印制板上，在更換損壞的測試探針時(shí)，必須熔解焊盤進(jìn)行二次焊接，如果某一個(gè)位置的測試探針發(fā)生多次損壞，焊盤就必須多次熔焊，而印制板的焊盤一般只能承受2?3次熔焊，極易導(dǎo)致印制板電路的損壞，損壞后很難修復(fù)，維護(hù)成本較高。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的在于提供一種螺旋式測試探針，該測試探針可進(jìn)行拆解，僅僅對(duì)損壞的針桿或壓簧進(jìn)行更換，無需熔解焊盤，避免損壞測試印制板電路。
[0004]本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:
[0005]—種螺旋式測試探針，包括針筒、針桿與壓簧，針桿上設(shè)有凸臺(tái)，所述針筒一端封閉、另一端開口 ；所述測試探針還包括導(dǎo)套，導(dǎo)套的一端與針筒的開口端螺紋連接，另一端設(shè)有卡擋部；針筒內(nèi)腔與導(dǎo)套內(nèi)腔共同形成容納針桿與壓簧的容腔，壓簧設(shè)于針桿的凸臺(tái)上方；所述卡擋部與針桿的凸臺(tái)形成配合。
[0006]本實(shí)用新型的有益效果是，設(shè)置與針筒螺紋配合的導(dǎo)套，針筒內(nèi)腔與導(dǎo)套內(nèi)腔共同形成容納針桿與壓簧的容腔，當(dāng)針桿或壓簧損壞時(shí)，只需擰出導(dǎo)套，將針筒與導(dǎo)套分離，更換損壞的針桿或壓簧后再裝配針筒與導(dǎo)套即可，無需熔解焊盤，避免損壞測試印制板電路，操作簡單，維護(hù)成本低，能夠延長整個(gè)測試電路的使用壽命。
【附圖說明】
[0007]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說明:
[0008]圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0009]圖2是本實(shí)用新型的爆炸示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0010]結(jié)合圖1與圖2所示，本實(shí)用新型提供一種螺旋式測試探針，包括針筒1、針桿2與壓簧3，針桿2上設(shè)有凸臺(tái)2a，所述針筒1 一端封閉、另一端開口，針筒1的封閉端設(shè)有用于與印制板焊接的凸頭la ;所述測試探針還包括導(dǎo)套4，導(dǎo)套4的一端與針筒1的開口端螺紋連接，另一端設(shè)有卡擋部4a，可在導(dǎo)套4外壁設(shè)置外螺紋，針筒1內(nèi)壁設(shè)置與外螺紋相配合的內(nèi)螺紋實(shí)現(xiàn)螺紋連接；針筒內(nèi)腔與導(dǎo)套內(nèi)腔共同形成容納針桿2與壓簧3的容腔，針桿2與壓簧3設(shè)于所述容腔內(nèi)，壓簧3設(shè)于針桿的凸臺(tái)2a上方；所述卡擋部4a與針桿2的凸臺(tái)2a形成配合，對(duì)針桿2伸出導(dǎo)套后起到限位作用。
[0011]使用時(shí)，針筒1上的凸頭la與印制板焊接，壓簧3壓縮抵壓針桿2，使針桿2抵觸在被測的器件上，導(dǎo)通電路即可開始測試工作；當(dāng)針桿2或壓簧3損壞時(shí)，只需擰出導(dǎo)套4，將針筒1與導(dǎo)套4分離，更換損壞的針桿或壓簧后再裝配針筒與導(dǎo)套即可，無需熔解焊盤，避免損壞測試印制板電路，操作簡單，維護(hù)成本低，能夠延長整個(gè)測試電路的使用壽命。
[0012]以上所述，僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并非對(duì)本實(shí)用新型作任何形式上的限制；任何熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案范圍情況下，都可利用上述揭示的方法和技術(shù)內(nèi)容對(duì)本實(shí)用新型技術(shù)方案做出許多可能的變動(dòng)和修飾，或修改為等同變化的等效實(shí)施例。因此，凡是未脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所做的任何簡單修改、等同替換、等效變化及修飾，均仍屬于本實(shí)用新型技術(shù)方案保護(hù)的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種螺旋式測試探針，包括針筒(1)、針桿(2)與壓簧(3)，針桿(2)上設(shè)有凸臺(tái)(2a)，其特征在于，所述針筒(1) 一端封閉、另一端開口 ；所述測試探針還包括導(dǎo)套(4)，導(dǎo)套(4)的一端與針筒(1)的開口端螺紋連接，另一端設(shè)有卡擋部(4a);針筒內(nèi)腔與導(dǎo)套內(nèi)腔共同形成容納針桿(2)與壓簧(3)的容腔，壓簧(3)設(shè)于針桿的凸臺(tái)(2a)上方；所述卡擋部(4a)與針桿的凸臺(tái)(2a)形成配合。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開一種螺旋式測試探針，包括針筒、針桿與壓簧，針桿上設(shè)有凸臺(tái)，所述針筒一端封閉、另一端開口；所述測試探針還包括導(dǎo)套，導(dǎo)套的一端與針筒的開口端螺紋連接，另一端設(shè)有卡擋部；針筒內(nèi)腔與導(dǎo)套內(nèi)腔共同形成容納針桿與壓簧的容腔，壓簧設(shè)于針桿的凸臺(tái)上方；所述卡擋部與針桿的凸臺(tái)形成配合；當(dāng)針桿或壓簧損壞時(shí)，只需擰出導(dǎo)套，將針筒與導(dǎo)套分離，更換損壞的針桿或壓簧后再裝配針筒與導(dǎo)套即可，無需熔解焊盤，避免損壞測試印制板電路，操作簡單，維護(hù)成本低，能夠延長整個(gè)測試電路的使用壽命。
【IPC分類】G01R1/067
【公開號(hào)】CN204989254
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520564277
【發(fā)明人】朱元龍, 劉曼, 陸振華
【申請(qǐng)人】蚌埠依愛電子科技有限責(zé)任公司
【公開日】2016年1月20日
【申請(qǐng)日】2015年7月29日