顆粒物的光電檢測(cè)裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及顆粒物檢測(cè)，尤其涉及氣體中顆粒物的光電檢測(cè)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]由于人們的環(huán)保意識(shí)的逐漸加強(qiáng)，對(duì)粉塵濃度，PM2.5等關(guān)注度越來(lái)越大，對(duì)粉塵測(cè)量的方法也多樣化。傳統(tǒng)的稱重法，由于操作復(fù)雜，已經(jīng)不太適用于一些實(shí)時(shí)監(jiān)控的場(chǎng)入口 ο
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，本實(shí)用新型提供了一種靈敏度高、探測(cè)下限低的顆粒物的光電檢測(cè)裝置。
[0004]本實(shí)用新型的實(shí)用新型目的通過(guò)以下技術(shù)方案得以實(shí)現(xiàn):
[0005]—種顆粒物的光電檢測(cè)裝置，所述顆粒物的光電檢測(cè)裝置包括:
[0006]光源，所述光源發(fā)出的測(cè)量光傾斜地射入腔體內(nèi)；
[0007]腔體，所述腔體的相對(duì)的兩側(cè)具有通孔；進(jìn)氣口和出氣口設(shè)置在所述腔體上；
[0008]光反射器件，所述光反射器件固定在所述腔體上，使所述通孔成為盲孔；射入所述腔體內(nèi)的測(cè)量光在各盲孔底部的光反射器件間來(lái)回反射；
[0009]探測(cè)器，所述探測(cè)器用于將接收到的所述腔體內(nèi)的散射光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳送到分析單元；
[0010]分析單元，所述分析單元通過(guò)處理所述電信號(hào)，從而獲得腔體內(nèi)氣體中顆粒物的含量。
[0011]根據(jù)上述的顆粒物的光電檢測(cè)裝置，優(yōu)選地，所述腔體為長(zhǎng)方體。
[0012]根據(jù)上述的顆粒物的光電檢測(cè)裝置，可選地，與所述探測(cè)器的光敏面相對(duì)的腔體的側(cè)壁上另具有通孔，光發(fā)射器件固定在腔體上，使該通孔成為盲孔。
[0013]根據(jù)上述的顆粒物的光電檢測(cè)裝置，優(yōu)選地，所述另具有的通孔形成于所述腔體的開口。
[0014]根據(jù)上述的顆粒物的光電檢測(cè)裝置，優(yōu)選地，所述通孔的深度與內(nèi)徑之比大于2。
[0015]根據(jù)上述的顆粒物的光電檢測(cè)裝置，可選地，所述腔體上設(shè)有出光口，所述腔體內(nèi)經(jīng)過(guò)來(lái)回反射后的測(cè)量光從所述出光口射出腔體。
[0016]根據(jù)上述的顆粒物的光電檢測(cè)裝置，優(yōu)選地，處于所述腔體同側(cè)的各光反射器件是一個(gè)光反射器件的不同部分。
[0017]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有以下有益效果:
[0018]在有限的體積下增大了光程，且測(cè)量光在各光反射器件間的反射光距離探測(cè)器近，提高了散射光強(qiáng)度，從而提高了檢測(cè)裝置的靈敏度，降低了探測(cè)下限；
[0019]通孔的長(zhǎng)徑比的設(shè)計(jì)，有效地防止了由于光反射器件被污染而產(chǎn)生的散射光對(duì)測(cè)量的不利影響，進(jìn)一步提高了靈敏度；
【附圖說(shuō)明】
[0020]參照附圖，本實(shí)用新型的公開內(nèi)容將變得更易理解。本領(lǐng)域技術(shù)人員容易理解的是:這些附圖僅僅用于舉例說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)方案，而并非意在對(duì)本實(shí)用新型的保護(hù)范圍構(gòu)成限制。圖中:
[0021]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例2的顆粒物的光電檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)圖。
【具體實(shí)施方式】
[0022]圖1和以下說(shuō)明描述了本實(shí)用新型的可選實(shí)施方式以教導(dǎo)本領(lǐng)域技術(shù)人員如何實(shí)施和再現(xiàn)本實(shí)用新型。為了教導(dǎo)本實(shí)用新型技術(shù)方案，已簡(jiǎn)化或省略了一些常規(guī)方面。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該理解源自這些實(shí)施方式的變型或替換將在本實(shí)用新型的范圍內(nèi)。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該理解下述特征能夠以各種方式組合以形成本實(shí)用新型的多個(gè)變型。由此，本實(shí)用新型并不局限于下述可選實(shí)施方式，而僅由權(quán)利要求和它們的等同物限定。
[0023]實(shí)施例1:
[0024]本實(shí)用新型實(shí)施例的氣體中顆粒物的光電檢測(cè)裝置，所述氣體中顆粒物的光電檢測(cè)裝置包括:
[0025]光源，如激光器，所述光源傾斜地固定在腔體上，使得光源發(fā)出的測(cè)量光傾斜地射入腔體內(nèi)；
[0026]腔體，如長(zhǎng)方體形腔體，所述腔體兩端開口，所述腔體的相對(duì)的兩側(cè)具有多個(gè)通孔；通孔的深度與內(nèi)徑之比大于2，如通孔的深度為10mm，內(nèi)徑為5mm，進(jìn)氣口和出氣口設(shè)置在所述腔體上；
[0027]光反射器件，如光反射鏡，所述光反射器件固定在所述腔體上，使所述通孔成為盲孔，同時(shí)封閉所述腔體的遠(yuǎn)離光源的開口端；處于所述腔體同側(cè)的各光反射器件是一個(gè)光反射器件的不同部分；傾斜地射入所述腔體內(nèi)的測(cè)量光在各盲孔底部的光反射器件間來(lái)回反射，測(cè)量在腔體內(nèi)來(lái)回多次反射，從而在腔體有限的體積內(nèi)增大了光程，相應(yīng)地增大了散射光信號(hào)；
[0028]探測(cè)器，所述探測(cè)器固定在腔體的臨著光源的開口側(cè)，用于將接收到的所述腔體內(nèi)的散射光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳送到分析單元；
[0029]分析單元，所述分析單元通過(guò)處理所述電信號(hào)，從而獲得腔體內(nèi)氣體中顆粒物的含量。
[0030]本實(shí)用新型實(shí)施例的上述的顆粒物的光電檢測(cè)裝置的制造方法，所述制造方法包括以下步驟:
[0031](A1)在腔體的相對(duì)的兩側(cè)加工出通孔；
[0032](A2)將光反射器件固定在所述腔體上，使各通孔成為盲孔；
[0033](A3)光源固定在所述腔體上，使傾斜射入所述腔體內(nèi)的光源發(fā)出的測(cè)量光在各盲孔底部的光反射器件間來(lái)回反射。
[0034]實(shí)施例2:
[0035]圖1示意性地給出了本實(shí)用新型實(shí)施例的顆粒物的光電檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)圖，如圖1所示，所述氣體中顆粒物的光電檢測(cè)裝置包括:
[0036]光源5，如激光器，所述光源傾斜地固定在腔體上，使得光源發(fā)出的測(cè)量光傾斜地射入腔體內(nèi)；
[0037]腔體1，如長(zhǎng)方體形腔體，所述腔體兩端開口，所述腔體的相對(duì)的兩側(cè)具有多個(gè)通孔2，通孔的深度與內(nèi)徑之比大于2，如通孔的深度為10mm，內(nèi)徑為4mm，進(jìn)氣口、出氣口、出光口(設(shè)有玻片以隔離腔體內(nèi)外，防止漏氣)設(shè)置在所述腔體上；
[0038]光反射器件3、4、7，如光反射鏡，所述光反射器件固定在所述腔體上，使所述通孔成為盲孔，同時(shí)封閉所述腔體的遠(yuǎn)離光源的開口端；傾斜地射入所述腔體內(nèi)的測(cè)量光在各盲孔底部的光反射器件3、7間來(lái)回反射，最后從所述出光口射出。測(cè)量光在腔體內(nèi)來(lái)回多次反射，從而在腔體有限的體積內(nèi)增大了光程，相應(yīng)地增大了散射光信號(hào)，部分散射光被直接收集在探測(cè)器光敏面上，部分被與所述光敏面相對(duì)的腔體上的光反射器件4反射后(間接地)收集在探測(cè)器光敏面上；
[0039]探測(cè)器6，所述探測(cè)器固定在腔體的臨著光源的開口側(cè)，用于將接收到的所述腔體內(nèi)的散射光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳送到分析單元；
[0040]分析單元，所述分析單元通過(guò)處理所述電信號(hào)，從而獲得腔體內(nèi)氣體中顆粒物的含量。
[0041]本實(shí)用新型實(shí)施例的上述的顆粒物的光電檢測(cè)裝置的制造方法，所述制造方法包括以下步驟:
[0042](A1)在腔體的相對(duì)的兩側(cè)加工出通孔；
[0043](A2)將光反射器件固定在所述腔體上，使各通孔成為盲孔；
[0044](A3)光源固定在所述腔體上，使傾斜射入所述腔體內(nèi)的光源發(fā)出的測(cè)量光在各盲孔底部的光反射器件間來(lái)回反射。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種顆粒物的光電檢測(cè)裝置，其特征在于:所述顆粒物的光電檢測(cè)裝置包括: 光源，所述光源發(fā)出的測(cè)量光傾斜地射入腔體內(nèi)； 腔體，所述腔體的相對(duì)的兩側(cè)具有通孔；進(jìn)氣口和出氣口設(shè)置在所述腔體上； 光反射器件，所述光反射器件固定在所述腔體上，使所述通孔成為盲孔；射入所述腔體內(nèi)的測(cè)量光在各盲孔底部的光反射器件間來(lái)回反射； 探測(cè)器，所述探測(cè)器用于將接收到的所述腔體內(nèi)的散射光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳送到分析單元； 分析單元，所述分析單元通過(guò)處理所述電信號(hào)，從而獲得腔體內(nèi)氣體中顆粒物的含量。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顆粒物的光電檢測(cè)裝置，其特征在于:所述腔體為長(zhǎng)方體。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顆粒物的光電檢測(cè)裝置，其特征在于:與所述探測(cè)器的光敏面相對(duì)的腔體的側(cè)壁上另具有通孔，光發(fā)射器件固定在腔體上，使該通孔成為盲孔。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顆粒物的光電檢測(cè)裝置，其特征在于:所述另具有的通孔形成于所述腔體的開口。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顆粒物的光電檢測(cè)裝置，其特征在于:所述通孔的深度與內(nèi)徑之比大于2。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顆粒物的光電檢測(cè)裝置，其特征在于:所述腔體上設(shè)有出光口，所述腔體內(nèi)經(jīng)過(guò)來(lái)回反射后的測(cè)量光從所述出光口射出腔體。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顆粒物的光電檢測(cè)裝置，其特征在于:處于所述腔體同側(cè)的各光反射器件是一個(gè)光反射器件的不同部分。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種顆粒物的光電檢測(cè)裝置，所述顆粒物的光電檢測(cè)裝置包括：光源，所述光源發(fā)出的測(cè)量光傾斜地射入腔體內(nèi)；腔體，所述腔體的相對(duì)的兩側(cè)具有通孔；進(jìn)氣口和出氣口設(shè)置在所述腔體上；光反射器件，所述光反射器件固定在所述腔體上，使所述通孔成為盲孔；射入所述腔體內(nèi)的測(cè)量光在各盲孔底部的光反射器件間來(lái)回反射；探測(cè)器，所述探測(cè)器用于將接收到的所述腔體內(nèi)的散射光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳送到分析單元；分析單元，所述分析單元通過(guò)處理所述電信號(hào)，從而獲得腔體內(nèi)氣體中顆粒物的含量。本實(shí)用新型具有靈敏度高、探測(cè)下限低等優(yōu)點(diǎn)。
【IPC分類】G01N15/06, G01N21/01
【公開號(hào)】CN205067285
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520835665
【發(fā)明人】田鵬, 于志偉, 王大偉, 楊效, 楊鳳琴, 盛潤(rùn)坤
【申請(qǐng)人】杭州澤天科技有限公司
【公開日】2016年3月2日
【申請(qǐng)日】2015年10月26日