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觸控面板及其觸控檢測方法以及顯示裝置與流程

文檔序號:11133347閱讀:503來源:國知局
觸控面板及其觸控檢測方法以及顯示裝置與制造工藝

本發(fā)明的實(shí)施例涉及一種觸控面板、顯示裝置以及觸控檢測方法。



背景技術(shù):

目前,隨著觸控技術(shù)的不斷發(fā)展,觸控技術(shù)在手機(jī)、平板、筆記本電腦等電子產(chǎn)品中的應(yīng)用日益廣泛。通常,觸控技術(shù)包括光學(xué)式、電阻式、電容式、電磁式觸控技術(shù)等不同的技術(shù)方向。

壓力觸控技術(shù)可感知觸控操作的壓力,并對應(yīng)不同的操作指令,從而調(diào)出不同的對應(yīng)功能,豐富了用戶在進(jìn)行觸控交互時(shí)的層次并提高了使用體驗(yàn)。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明至少一實(shí)施例提供一種觸控面板、顯示裝置以及觸控檢測方法。該觸控面板包括襯底基板、多個(gè)發(fā)射器組以及接收器。該觸控面板利用在垂直于觸摸面的方向上排布的多個(gè)發(fā)射器以及與多個(gè)發(fā)射器組對應(yīng)設(shè)置并用于接收多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的光線的接收器來感測觸控操作的壓力大小,從而實(shí)現(xiàn)壓力觸控。該觸控面板結(jié)構(gòu)簡單,無需采用各種觸控電極以及引線,從而可減少甚至消除觸控電極上的電信號對顯示面板的干擾,還可減少甚至消除觸控電極以及引線上對顯示面板的光透過率的影響。

本發(fā)明至少一個(gè)實(shí)施例提供一種觸控面板,其包括:襯底基板,具有一觸摸面;多個(gè)發(fā)射器組,每個(gè)所述發(fā)射器組包括多個(gè)發(fā)射器;以及接收器,所述發(fā)射器被配置為發(fā)射光線,所述接收器與所述發(fā)射器組對應(yīng)設(shè)置并被配置為接收與所述接收器對應(yīng)設(shè)置的所述發(fā)射器組中所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的光線,所述發(fā)射器組設(shè)置在所述襯底基板遠(yuǎn)離所述觸摸面的一側(cè),且所述發(fā)射器組中的所述多個(gè)發(fā)射器沿垂直于所述觸摸面的方向排布。

例如,在本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控面板中,所述接收器包括多個(gè)子接收器,各所述發(fā)射器組中的不同發(fā)射器發(fā)出的光線由不同的子接收器接收。

例如,本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控面板還包括:遮光層,所述遮光層設(shè)置在所述襯底基板和所述發(fā)射器組之間,所述遮光層被配置為防止來自觸摸面的與所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的光線波長相同的光射入所述接收器。

例如,在本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控面板中,所述遮光層為光子晶體層。

例如,本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控面板還包括:多個(gè)光子晶體突觸,間隔設(shè)置在所述光子晶體層遠(yuǎn)離所述觸摸面的一側(cè)。

例如,在本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控面板中,所述發(fā)射器被配置為發(fā)射紅外光線。

例如,在本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控面板中,所述光子晶體層的帶隙范圍為780nm-2500nm。

例如,在本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控面板中,所述襯底基板包括顯示面板。

例如,在本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控面板中,所述多個(gè)發(fā)射器組包括沿第一方向排列的行發(fā)射器組和沿第二方向排列的列發(fā)射器組,所述第一方向垂直于所述第二方向。

例如,本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控面板還包括設(shè)置所述襯底基板上的呈矩陣排列的多個(gè)自電容電極。

例如,本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控面板還包括設(shè)置所述襯底基板上的多個(gè)觸控驅(qū)動(dòng)電極和多個(gè)觸控感應(yīng)電極。

例如,在本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控面板中,所述接收器還包括光電轉(zhuǎn)換器件,所述觸控面板還包括與所述光電轉(zhuǎn)換器件對應(yīng)設(shè)置的放大電路以及與所述放大電路相通信的分析電路。

本發(fā)明至少一實(shí)施例提供一種顯示裝置,其包括上述任一項(xiàng)所述的觸控面板。

本發(fā)明至少一實(shí)施例提供一種觸控檢測方法,其用于上述的觸控面板,包括:使用所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)射與所述觸控面平行的光線,并使光線射入對應(yīng)設(shè)置的所述接收器中;以及檢測所述接收器是否接收到光線以判斷是否有觸控操作發(fā)生。

例如,本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控檢測方法還包括:檢測所述接收器接收到的光強(qiáng)以判斷所述觸控操作的壓力的大小。

例如,在本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控檢測方法中,所述接收器包括多個(gè)子接收器,各所述發(fā)射器組中的不同發(fā)射器發(fā)出的光線由不同的子接收器接收,所述方法還包括:檢測同一所述發(fā)射器組中所述多個(gè)發(fā)射器一一對應(yīng)設(shè)置的所述多個(gè)子接收器中接收到光線的所述子接收器的個(gè)數(shù)以判斷所述觸控操作的壓力大小。

例如,在本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控檢測方法中,所述接收器包括光電轉(zhuǎn)換器件,所述方法還包括:利用所述接收器中的所述光電轉(zhuǎn)換器件將所述接收器接收的光線轉(zhuǎn)換為感應(yīng)電流;放大所述感應(yīng)電流;以及檢測放大后的所述感應(yīng)電流的大小來判斷所述接收器是否接收到光線以及接收到的光強(qiáng)。

例如,本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控檢測方法還包括:根據(jù)所述觸控操作的壓力的大小產(chǎn)生不同的觸控命令。

附圖說明

為了更清楚地說明本公開實(shí)施例的技術(shù)方案,下面將對實(shí)施例的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅涉及本公開的一些實(shí)施例,而非對本公開的限制。

圖1為本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種觸控面板的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2為本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種觸控面板被觸摸時(shí)的示意圖;

圖3為本發(fā)明一實(shí)施例提供的另一種觸控面板被觸摸時(shí)的示意圖;

圖4為本發(fā)明一實(shí)施例提供的另一種觸控面板的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖5為本發(fā)明一實(shí)施例提供的另一種觸控面板被觸摸時(shí)的示意圖;

圖6為本發(fā)明一實(shí)施例提供的另一種觸控面板被觸摸時(shí)的示意圖;

圖7為本發(fā)明一實(shí)施例提供的另一種觸控面板被觸摸時(shí)的示意圖;

圖8為本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種觸控面板判斷觸摸操作的示意圖;

圖9為本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種分析電路的示意圖;

圖10為本發(fā)明一實(shí)施例提供的另一種觸控面板的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖11為本發(fā)明一實(shí)施例提供的另一種觸控面板被觸摸時(shí)的示意圖;

圖12為本發(fā)明一實(shí)施例提供的另一種觸控面板被觸摸時(shí)的示意圖;

圖13為本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種觸控面板的平面示意圖;

圖14為本發(fā)明一實(shí)施例提供的另一種觸控面板的平面示意圖;

圖15為本發(fā)明一實(shí)施例提供的另一種觸控面板的平面示意圖;

圖16為本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種觸控檢測方法的流程圖;以及

圖17為本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種觸控面板的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為使本公開實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合本公開實(shí)施例的附圖,對本公開實(shí)施例的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。顯然,所描述的實(shí)施例是本公開的一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;谒枋龅谋竟_的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在無需創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本公開保護(hù)的范圍。

除非另外定義,本公開使用的技術(shù)術(shù)語或者科學(xué)術(shù)語應(yīng)當(dāng)為本公開所屬領(lǐng)域內(nèi)具有一般技能的人士所理解的通常意義。本公開中使用的“第一”、“第二”以及類似的詞語并不表示任何順序、數(shù)量或者重要性,而只是用來區(qū)分不同的組成部分。“包括”或者“包含”等類似的詞語意指出現(xiàn)該詞前面的元件或者物件涵蓋出現(xiàn)在該詞后面列舉的元件或者物件及其等同,而不排除其他元件或者物件?!斑B接”或者“相連”等類似的詞語并非限定于物理的或者機(jī)械的連接,而是可以包括電性的連接,不管是直接的還是間接的。

隨著觸控技術(shù)的不斷發(fā)展,人們對利用壓力感知從而產(chǎn)生操作指令的觸控方式有了強(qiáng)烈需求。然而,本申請的發(fā)明人發(fā)現(xiàn),通常的壓力觸控面板是在原來觸控面板上額外增加一個(gè)用于壓力觸控的觸控電極結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)壓力觸控,其結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜并且不利于觸控產(chǎn)品的輕薄化。另一方面,通常的紅外式觸控面板是通過利用物體或手指阻擋紅外線的傳播路徑使得紅外線接收器產(chǎn)生變化來感測觸控操作,然而,由于缺少濾光裝置,外界環(huán)境光中紅外波段會(huì)干擾該紅外式觸控面板對觸控操作的判斷,其精度較差。

本發(fā)明實(shí)施例提供一種觸控面板、顯示裝置以及觸控檢測方法。該觸控面板包括襯底基板、多個(gè)發(fā)射器組以及接收器。襯底基板具有一觸摸面,每個(gè)發(fā)射器組包括多個(gè)發(fā)射器。發(fā)射器用于發(fā)射光線,接收器與發(fā)射器組對應(yīng)設(shè)置并用于接收與其對應(yīng)設(shè)置的發(fā)射器中多個(gè)發(fā)射器組發(fā)出的光線。發(fā)射器組設(shè)置襯底基板遠(yuǎn)離觸摸面的一側(cè),且發(fā)射器中的多個(gè)發(fā)射器沿垂直于觸摸面的方向排布。由此,該觸控面板提供一種新型的壓力觸控面板,利用在垂直于觸摸面的方向上排布的多個(gè)發(fā)射器以及與多個(gè)發(fā)射器組對應(yīng)設(shè)置并用于接收多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的光線的接收器來感測觸控操作的壓力大小,從而實(shí)現(xiàn)壓力觸控。該觸控面板結(jié)構(gòu)簡單,無需采用各種觸控電極以及引線,從而可減少甚至消除觸控電極上的電信號對顯示面板的干擾,還可減少甚至消除觸控電極以及引線上對顯示面板的光透過率的影響。

下面結(jié)合附圖對本發(fā)明實(shí)施例提供的觸控面板、顯示裝置以及觸控檢測方法進(jìn)行說明。

實(shí)施例一

本實(shí)施例提供一種觸控面板,如圖1所示,該觸控面板包括襯底基板110、多個(gè)發(fā)射器組120以及接收器130。襯底基板110具有一觸摸面111,該觸摸面111為發(fā)生觸控操作時(shí)被手指或觸控筆觸摸的一面。每個(gè)發(fā)射器組包括多個(gè)發(fā)射器,如圖1所示,發(fā)射器組120包括第一發(fā)射器121以及第二發(fā)射器122。接收器130與發(fā)射器組120對應(yīng)設(shè)置并用于接收發(fā)射器組120中多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的光線,例如,接收器130可接收第一發(fā)射器121和第二發(fā)射器122發(fā)出的光線。發(fā)射器組120設(shè)置在襯底基板110遠(yuǎn)離觸摸面板111的一側(cè),并且發(fā)射器組120中的第一發(fā)射器121和第二發(fā)射器122沿垂直于觸摸面111的方向上排布,例如,第一發(fā)射器121與第二發(fā)射器122沿垂直于觸摸面111的方向上依次設(shè)置。需要說明的是,上述的對應(yīng)設(shè)置是指發(fā)射器發(fā)出的光線能被對應(yīng)設(shè)置的接收器所接收。另外,第一發(fā)射器121和第二發(fā)射器122沿垂直于觸摸面111的方向上排布并不嚴(yán)格要求第一發(fā)射器121和第二發(fā)射器122的連線嚴(yán)格垂直于觸摸面111。

例如,在本發(fā)明一實(shí)施例提供的觸控面板中,各發(fā)射器發(fā)射的光線平行于觸摸面,如圖1所示,第一發(fā)射器121發(fā)射的光線平行于觸摸面111,第二發(fā)射器122發(fā)射的光線平行于觸摸面111。

在本實(shí)施例提供的觸控面板中,由于發(fā)射器組中多個(gè)發(fā)射器沿垂直于觸摸面排布,并且接收器接收與之對應(yīng)設(shè)置的發(fā)射器中多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的光線。如圖2-3所示,當(dāng)發(fā)生觸控操作時(shí),手指或觸控筆按壓觸摸面111會(huì)導(dǎo)致襯底基板110產(chǎn)生一定的形變,并且隨著觸控操作的壓力的增加,襯底基板110產(chǎn)生的形變的量也增加。例如,如圖1所示,當(dāng)沒有觸控操作發(fā)生時(shí),襯底基板110沒有形變,發(fā)射器組120中第一發(fā)射器121和第二發(fā)射器122發(fā)出的光線進(jìn)入接收器130;如圖2所示,當(dāng)觸控操作的壓力較小時(shí),襯底基板110產(chǎn)生的形變只阻止第一發(fā)射器121發(fā)出的光線進(jìn)入接收器130;如圖3所示,當(dāng)觸控操作的壓力較大時(shí),襯底基板110產(chǎn)生的形變同時(shí)阻止第一發(fā)射器121和第二發(fā)射器122發(fā)出的光線進(jìn)入接收器130。因此,接收器130接收到的光線因觸控操作的壓力而變化,從而可通過接收器接收到的光線的變化來判斷觸控操作的有無以及觸控操作的壓力大小。由此,本實(shí)施例可提供一種新型的壓力觸控面板。并且該觸控面板結(jié)構(gòu)簡單,無需采用各種觸控電極以及引線,從而可減少甚至消除觸控電極上的電信號對顯示面板的干擾,還可減少甚至消除觸控電極以及引線上對顯示面板的光透過率的影響。另外,由于光傳播的速度較快,不會(huì)被顯示面板尺寸、觸控電極電阻等因素影響,本實(shí)施例提供的觸控面板可應(yīng)用于大尺寸甚至超大尺寸的觸控產(chǎn)品中。

需要說明的是,接收器可為一個(gè),在這種情形下,接收器與多個(gè)發(fā)射器組對應(yīng)設(shè)置,也就是說,多個(gè)發(fā)射器組可共用一個(gè)接收器,此時(shí),可以通過判斷接收器接收到的輻射量或光子的量來判斷觸控操作的壓力的大小,例如,接收器接收到的輻射量或光子的量越大,觸控操作的壓力就越大。當(dāng)然,接收器也可為多個(gè),在這種情形下,多個(gè)接收器與多個(gè)發(fā)射器組一一對應(yīng)設(shè)置,由此,可通過判斷接收到光線的接收器的位置來判斷觸控操作的位置,例如,當(dāng)多個(gè)接收器和多個(gè)發(fā)射器組一一對應(yīng)設(shè)置并在行或列方向上排列,可根據(jù)接收到光線的接收器所在的行或列來判斷觸控操作的位置;并且可根據(jù)該接收器接收到的輻射量或光子的量來判斷觸控操作的壓力的大小。

例如,在本實(shí)施例一示例提供的觸控面板中,如圖1-3所示,接收器130包括多個(gè)子接收器,例如,接收器130包括第一接收器131以及第二接收器132。各發(fā)射器組中的不同發(fā)射器發(fā)出的光線由不同的子接收器接收,也就是說,接收器130中的多個(gè)子接收器和與接收器130對應(yīng)設(shè)置的發(fā)射器組120中的多個(gè)發(fā)射器一一對應(yīng)設(shè)置。例如,如圖1-3所示,在對應(yīng)設(shè)置的發(fā)射器組120和接收器130中,第一發(fā)射器121與第一子接收器131對應(yīng)設(shè)置,第一發(fā)射器121發(fā)出的光線被第一子接收器131接收;第二發(fā)射器122與第二子接收器132對應(yīng)設(shè)置,第二發(fā)射器122發(fā)出的光線被第二子接收器132接收。由此,接收器可通過判斷接收到光線的子接收器的個(gè)數(shù)來判斷觸控操作的壓力的大小。例如,如圖1所示,當(dāng)沒有觸控操作時(shí),接收器130中的第一子接收器131接收到第一發(fā)射器121發(fā)出的光線,第二子接收器132接收到第二發(fā)射器122發(fā)出的光線,此時(shí),接收器130中接收到光線的子接收器的個(gè)數(shù)為2;當(dāng)有觸控操作發(fā)生時(shí),并且觸控壓力較小時(shí),接收器130中的第一子接收器131沒有接收到光線,第二子接收器132接收到第二發(fā)射器122發(fā)出的光線,此時(shí),接收器130中接收到光線的子接收器的個(gè)數(shù)為1;當(dāng)有觸控操作發(fā)生時(shí),并且觸控壓力較大時(shí),接收器130中的第一子接收器131和第二子接收器132都沒有接收到光線,此時(shí),接收器130中接收到光線的子接收器的個(gè)數(shù)為0。由此,可通過判斷接收到光線的子接收器的個(gè)數(shù)(例如,0、1或2)來判斷觸控操作的壓力的有無以及大小。

需要說明的是,上述的接收器也可為一個(gè)完整的接收器,即,不包括多個(gè)子接收器。通過判斷接收器接收到的輻射量或光子的量來判斷觸控操作的壓力的大小。

例如,在本實(shí)施例一示例提供的觸控面板中,發(fā)射器可發(fā)射紅外光線,相應(yīng)地,接收器用于接收紅外光線。

例如,在本實(shí)施例一示例提供的觸控面板中,襯底基板包括顯示面板。由此,該觸控面板可實(shí)現(xiàn)顯示功能。顯示面板可為液晶顯示面板、有機(jī)發(fā)光二極管(OLED)顯示面板或電子紙等。

例如,在本實(shí)施例一示例提供的觸控面板中,襯底基板包括柔性顯示面板。由此,該襯底基板更容易因觸控操作而變形,從而方便本實(shí)施例提供的觸控面板實(shí)現(xiàn)觸控。當(dāng)然,襯底基板也可包括剛性的顯示面板,只要該顯示面板可在觸控操作的壓力產(chǎn)生形變即可。

實(shí)施例二

在實(shí)施例一的基礎(chǔ)上,本實(shí)施例提供一種觸控面板,如圖4所示,該觸控面板包括襯底基板110、多個(gè)發(fā)射器組120以及接收器130。襯底基板110具有一觸摸面111,該觸摸面111為發(fā)生觸控操作時(shí)被手指或觸控筆觸摸的一面。發(fā)射器組120包括第一發(fā)射器121、第二發(fā)射器122以及第三發(fā)射器133。接收器130包括第一子接收器131、第二子接收器132以及第三接收器133。各發(fā)射器組中的不同發(fā)射器發(fā)出的光線由不同的子接收器接收,也就是說,第一發(fā)射器121與第一子接收器131對應(yīng)設(shè)置,第一發(fā)射器121發(fā)出的光線被第一子接收器131接收;第二發(fā)射器122與第二子接收器132對應(yīng)設(shè)置,第二發(fā)射器122發(fā)出的光線被第二子接收器132接收;第三發(fā)射器123與第三子接收器133對應(yīng)設(shè)置,第三發(fā)射器123發(fā)出的光線被第三子接收器133接收。由此,本實(shí)施例通過設(shè)置第三發(fā)射器123以及第三子接收器133,可增加用于判斷觸控操作的壓力大小的壓力等級。例如,當(dāng)觸控面板中發(fā)射器組中的多個(gè)發(fā)射器的個(gè)數(shù)為2個(gè)時(shí),該觸控面板可識別兩個(gè)壓力等級,對應(yīng)發(fā)射器組中一個(gè)發(fā)射器被阻擋和兩個(gè)發(fā)射器被阻擋的情況;而本實(shí)施例提供的觸控面板可識別三個(gè)壓力等級。例如,如圖5所示,當(dāng)觸控操作的壓力較小時(shí),襯底基板110產(chǎn)生的形變只阻止第一發(fā)射器121發(fā)出的光線進(jìn)入接收器130;如圖6所示,當(dāng)觸控操作的壓力較大時(shí),襯底基板110產(chǎn)生的形變同時(shí)阻止第一發(fā)射器121和第二發(fā)射器122發(fā)出的光線進(jìn)入接收器130;如圖7所示,當(dāng)觸控操作的壓力更大時(shí),襯底基板110產(chǎn)生的形變同時(shí)阻止第一發(fā)射器121、第二發(fā)射器122以及第三發(fā)射器123發(fā)出的光線進(jìn)入接收器130。因此,可通過接收器接收到的光線的變化來判斷觸控操作的壓力大小,并提供三個(gè)壓力等級。需要說明的是,本發(fā)明實(shí)施例提供的觸控面板中的多個(gè)發(fā)射器的個(gè)數(shù)不限于兩個(gè)、三個(gè)。例如,當(dāng)觸控面板需要更多的壓力等級時(shí),可根據(jù)襯底基板的形變能力和發(fā)射器的尺寸以及排列精度來設(shè)置同一發(fā)射器組中發(fā)射器的個(gè)數(shù)。

例如,在本實(shí)施例一示例提供的觸控面板中,如圖4-7所示,該觸控面板還包括遮光層140。遮光層140設(shè)置在襯底基板110和發(fā)射器組120之間,用于防止來自襯底基板110的觸摸面111的與發(fā)射器組120中多個(gè)發(fā)射器(例如,第一發(fā)射器121、第二發(fā)射器122以及第三發(fā)射器133)發(fā)出的光線波長相同的光(例如,外界環(huán)境光中與多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的光線波長相同的光)射入接收器130。由此,本實(shí)施例提供的觸控面板可避免來自觸摸面的與多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的光線波長相同的光對觸控感測的干擾,從而可提高觸控的準(zhǔn)確性和靈敏度。

例如,在本實(shí)施例一示例提供的觸控面板中,遮光層可為光子晶體層。由于光子晶體可使波長落入該光子晶體的光子帶隙范圍的入射光被完全反射,不能穿過光子晶體,從而可根據(jù)多個(gè)發(fā)射器發(fā)射出的光線的波長來設(shè)置光子晶體層的光子帶隙從而可避免來自觸摸面的與多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的光線波長相同的光對觸控感測的干擾。

例如,在本實(shí)施例一示例提供的觸控面板中,發(fā)射器用于發(fā)射紅外光線,遮光層為光子晶體層,并且該光子晶體層的帶隙范圍為780nm-2500nm。當(dāng)然,本發(fā)明實(shí)施例包括但不限于此,發(fā)射器還可發(fā)射其他波長的光線,與此對應(yīng)地,光子晶體層的帶隙范圍包括發(fā)射器發(fā)射的光線的波長。

例如,在本實(shí)施例一示例提供的觸控面板中,接收器包括光電轉(zhuǎn)換器件,光電轉(zhuǎn)換器件可將照射到光電轉(zhuǎn)換器件上的光轉(zhuǎn)換為電流。此時(shí),該觸控面板還包括與上述的光電轉(zhuǎn)換器件對應(yīng)設(shè)置的放大電路,用于放大光電轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生的電流,以及與放大電路相通信的分析電路,用于根據(jù)放大后的電流分析觸控操作的有無、壓力的大小以及觸控位置。

例如,如圖8所示,接收器130包括第一子接收器131、第二子接收器132以及第三子接收器133;第一子接收器131包括第一光電轉(zhuǎn)換器件1310,第一光電轉(zhuǎn)換器件1310可將第一子接收器131接收到的第一發(fā)射器121發(fā)出的光線轉(zhuǎn)化為電流;第二子接收器132包括第二光電轉(zhuǎn)換器件1320,第二光電轉(zhuǎn)換器件1320可將第二子接收器132接收到的第二發(fā)射器122發(fā)出的光線轉(zhuǎn)化為電流;第三子接收器133包括第三光電轉(zhuǎn)換器件1330,第三光電轉(zhuǎn)換器件1330可將第三子接收器133接收到的第三發(fā)射器123發(fā)出的光線轉(zhuǎn)化為電流。該觸控面板還包括與第一光電轉(zhuǎn)換器件1310對應(yīng)設(shè)置的第一放大電路171,與第二光電轉(zhuǎn)換器件1320對應(yīng)設(shè)置的第二放大電路172以及與第三光電轉(zhuǎn)換器件1330對應(yīng)設(shè)置的第三放大電路173;第一放大電路171、第二放大電路172以及第三放大電路173分別用于放大各光電轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生的電流;以及與各放大電路相通信的分析電路180,分析電路180用于根據(jù)放大后的電流分析觸控操作的有無、壓力的大小以及觸控位置。

例如,如圖9所示,分析電路180可包括三極管181、上拉電阻182以及計(jì)數(shù)器183。三極管181包括基極1810、集電極1811以及發(fā)射極1812;基極1810與放大后的電流相連,集電極1811與脈沖信號相連,例如,3.3V的電壓脈沖,發(fā)射極1812可與計(jì)數(shù)器183相連。當(dāng)三極管181的基極1810有電流輸入時(shí)會(huì)使得三極管181(N型)形成更大壓降,從而導(dǎo)致輸入的脈沖信號的幅值下降,例如,當(dāng)集電極1811輸入3.3V的電壓脈沖時(shí),發(fā)射極1812的輸出信號的幅值可降到1.5V之下,此時(shí)可判斷光電轉(zhuǎn)換器件上有光線照射。而三極管181的基極1810沒有電流輸入時(shí),三極管181的壓降可僅為三極管181的固有壓降,發(fā)射極1812的輸出信號的幅值為正常幅值(輸入的脈沖信號的幅值減去三極管的固有壓降),此時(shí)可判斷光電轉(zhuǎn)換器件上沒有光線照射,并且計(jì)數(shù)器183可統(tǒng)計(jì)各發(fā)射器組中輸出信號的幅值正常的次數(shù)或幅值下降的次數(shù)。由此,分析電路可通過分析放大后的電流的情況來判斷各發(fā)射器組中被阻擋的發(fā)射器發(fā)出的光線的數(shù)量,從而判斷觸控操作的有無、壓力的大小以及觸控操作的位置。需要說明的是,上述是以三極管為N型三極管來進(jìn)行描述,當(dāng)然,本發(fā)明實(shí)施例包括但不限于此,三極管也可采用P型三極管。

實(shí)施例三

在實(shí)施例一的基礎(chǔ)上,本實(shí)施例提供一種觸控面板,如圖10-12所示,該觸控面板還包括設(shè)置在襯底基板110和發(fā)射器組120之間的光子晶體層140以及多個(gè)光子晶體突觸145,多個(gè)光子晶體突觸145間隔設(shè)置在光子晶體層140遠(yuǎn)離觸摸面111的一側(cè)。多個(gè)光子晶體突觸145用于阻斷發(fā)射器組120與接收器130之間的光線。由于光子晶體突觸145的體積較小,可提高本實(shí)施例提供的觸控面板的精度。

例如,在本實(shí)施例一示例提供的觸控面板中,發(fā)射器用于發(fā)射紅外光線,遮光層為光子晶體層,并且該光子晶體層的帶隙范圍為780nm-2500nm。

實(shí)施例四

在實(shí)施例一至三的基礎(chǔ)上,本實(shí)施例提供一種觸控面板,如圖13所示,多個(gè)發(fā)射器組130包括沿第一方向排列的行發(fā)射器組1201以及沿第二方向排列的列發(fā)射器組1202,第一方向垂直于第二方向。

在本實(shí)施例提供的觸控面板中,行發(fā)射器組1201和列發(fā)射器1202發(fā)射的光線可交叉定義一個(gè)觸控區(qū)域,當(dāng)觸控操作發(fā)生在這個(gè)觸控區(qū)域中時(shí),被觸控位置對應(yīng)的行發(fā)射器組以及列發(fā)射器組中發(fā)射器發(fā)出的光線會(huì)被阻擋,從而可根據(jù)該行發(fā)射器和該列發(fā)射器的信息確定觸控操作在觸控區(qū)域中的位置。由此,本實(shí)施例提供的觸控面板不僅可實(shí)現(xiàn)壓力觸控還可實(shí)現(xiàn)對觸控操作的定位,無需設(shè)置額外的用于觸控操作定位的觸控電極結(jié)構(gòu),從而可減少甚至消除觸控電極上的電信號對顯示面板的干擾,還可減少甚至消除觸控電極以及引線上對顯示面板的光透過率的影響。

需要說明的是,本發(fā)明實(shí)施例包括但不限于此,發(fā)射器組也可只包括行發(fā)射器組或列發(fā)射器組,此時(shí),觸控操作的定位可依靠其他觸控結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)。

例如,如圖14所示,本實(shí)施例提供的觸控面板還可包括設(shè)置在襯底基板110上呈矩陣排列的多個(gè)自電容電極150,以實(shí)現(xiàn)對觸控操作的定位。多個(gè)自電容電極150可通過導(dǎo)線160引出。

例如,如圖15所示,本實(shí)施例提供的觸控還可包括設(shè)置在襯底基板110上的多個(gè)觸控驅(qū)動(dòng)電極151以及多個(gè)觸控感應(yīng)電極152,以實(shí)現(xiàn)對觸控操作的定位。

實(shí)施例五

本實(shí)施例提供一種顯示裝置,包括上述實(shí)施例中任一項(xiàng)的觸控面板。由于該顯示裝置包括上述實(shí)施例中任一項(xiàng)所描述的觸控面板,因此該顯示裝置具有與其包括的觸控面板的有益效果相對應(yīng)的有益效果,可參見上述實(shí)施例中相關(guān)的描述,本發(fā)明實(shí)施例在此不再贅述。

該顯示裝置可以為:手機(jī)、平板電腦、電視機(jī)、顯示器、筆記本電腦、數(shù)碼相框、導(dǎo)航儀等任何具有顯示功能的產(chǎn)品或部件。另外,對于該顯示裝置中的其他結(jié)構(gòu)或部件可參考通常設(shè)計(jì),本發(fā)明實(shí)施例在此不再贅述。

實(shí)施例六

本實(shí)施例提供一種用于觸控面板的觸控檢測方法,該觸控面板包括襯底基板、多個(gè)發(fā)射器組以及接收器。襯底基板具有一觸摸面,每個(gè)發(fā)射器組包括多個(gè)發(fā)射器。發(fā)射器用于發(fā)射光線,接收器與發(fā)射器組對應(yīng)設(shè)置并用于接收與其對應(yīng)設(shè)置的發(fā)射器中多個(gè)發(fā)射器組發(fā)出的光線。發(fā)射器組設(shè)置襯底基板遠(yuǎn)離觸摸面的一側(cè),且發(fā)射器中的多個(gè)發(fā)射器沿垂直于觸摸面的方向排布,如圖16所示,該觸控檢測方法包括以下步驟S601-S602。

步驟S601:使用多個(gè)發(fā)射器發(fā)射與觸控面平行的光線并使光線射入對應(yīng)設(shè)置的接收器中。

例如,可使用多個(gè)發(fā)射器發(fā)射紅外光線。

步驟S602:檢測接收器是否接收到光線以判斷是否有觸控操作發(fā)生。

例如,當(dāng)接收器接沒有接收到光線,可判斷有觸控操作發(fā)生,當(dāng)接收器接收到的光線的輻射量不足,可判斷有觸控操作發(fā)生;當(dāng)接收器接可以接收到光線且光線的輻射量正常,可判斷沒有觸控操作發(fā)生。需要說明的是,上述的輻射量正常是指發(fā)射器組中多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的光線都成功入射對應(yīng)設(shè)置的接收器中時(shí),該接收器接收到的光線的輻射量。

例如,本實(shí)施例一示例提供的觸控檢測方法還包括檢測接收器接收到的光線的輻射量以判斷觸控操作的壓力的大小。由此,本實(shí)施例提供觸控檢測方法可檢測觸控操作的壓力大小。

例如,可通過光電轉(zhuǎn)換器件將接收器接收的光線轉(zhuǎn)換為電流,根據(jù)電流的大小來判斷接收器所接收到的光線的輻射量,從而判斷觸控操作的壓力大小。

例如,在本實(shí)施例一示例提供的觸控檢測方法中,該接收器包括多個(gè)子接收器,各發(fā)射器組中的不同發(fā)射器發(fā)出的光線由不同的子接收器接收,也就是說,接收器中的多個(gè)子接收器與接收器對應(yīng)設(shè)置的發(fā)射器組中的多個(gè)發(fā)射器一一對應(yīng)設(shè)置,所述觸控檢測方法還包括:檢測同一所述發(fā)射器組中所述多個(gè)發(fā)射器一一對應(yīng)設(shè)置的所述多個(gè)子接收器中接收到光線的所述子接收器的個(gè)數(shù)以判斷所述觸控操作的壓力大小。

例如,在本實(shí)施例一示例提供的觸控檢測方法中,接收器還包括光電轉(zhuǎn)換器件,該觸控檢測方法還包括:利用接收器中的所述光電轉(zhuǎn)換器件將接收器接收的光線轉(zhuǎn)換為感應(yīng)電流;放大感應(yīng)電流(例如,通過放大電路放大感應(yīng)電流);以及檢測放大后的感應(yīng)電流的大小來判斷接收器是否接收到光線以及接收到的光線的輻射量,從而判斷觸控操作的有無以及觸控操作的壓力大小。

例如,在本實(shí)施例一示例提供的觸控檢測方法中,還包括:根據(jù)觸控操作的壓力的大小產(chǎn)生不同的觸控命令。例如,當(dāng)采用本實(shí)施例提供的觸控檢測方法的觸控面板具有三個(gè)壓力等級時(shí),當(dāng)觸控操作的壓力為第一壓力等級時(shí),產(chǎn)生第一觸控命令,當(dāng)觸控操作的壓力為第二壓力等級時(shí),產(chǎn)生第二觸控命令,當(dāng)觸控操作的壓力為第三壓力等級時(shí),產(chǎn)生第三觸控命令。

實(shí)施例七

本實(shí)施例提供一種觸控面板,如圖17所示,其包括襯底基板110、光子晶體層140以及光感觸控單元190。襯底基板110包括觸摸面111,光感觸控單元190包括多個(gè)光線發(fā)生器191和與其對應(yīng)設(shè)置的光線感測器192。光子晶體層140設(shè)置在襯底基板110和光感觸控單元190之間,用于防止來自襯底基板110的觸摸面111的與光線發(fā)生器191發(fā)出的光線波長相同的光(例如,外界環(huán)境光中與光線發(fā)生器發(fā)出的光線波長相同的光)射入光線感測器。由此,本實(shí)施例提供的觸控面板可避免來自觸摸面的與光線發(fā)生器發(fā)出的光線波長相同的光對觸控感測的干擾,從而可提高觸控的準(zhǔn)確性和靈敏度。需要說明的是,上述的光感觸控單元可包括上述實(shí)施例中的多個(gè)發(fā)射器組和接收器,并且上述的光線發(fā)生器和光線感測器可分別為上述實(shí)施例中的發(fā)射器和接收器。當(dāng)然,本發(fā)明實(shí)施例包括但不限于此,上述的光感觸控單元也可為通常的不具有壓力識別功能的紅外式觸控單元。

例如,在本實(shí)施例一示例提供的觸控面板中,光線發(fā)生器用于發(fā)射紅外光線,并且該光子晶體層的帶隙范圍為780nm-2500nm。當(dāng)然,本發(fā)明實(shí)施例包括但不限于此,光線發(fā)生器還可發(fā)射其他波長的光線,與此對應(yīng)地,光子晶體層的帶隙范圍包括光線發(fā)生器發(fā)射的光線的波長。

有以下幾點(diǎn)需要說明:

(1)本發(fā)明實(shí)施例附圖中,只涉及到與本發(fā)明實(shí)施例涉及到的結(jié)構(gòu),其他結(jié)構(gòu)可參考通常設(shè)計(jì)。

(2)在不沖突的情況下,本發(fā)明同一實(shí)施例及不同實(shí)施例中的特征可以相互組合。

以上所述,僅為本公開的具體實(shí)施方式,但本公開的保護(hù)范圍并不局限于此,任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本公開揭露的技術(shù)范圍內(nèi),可輕易想到變化或替換,都應(yīng)涵蓋在本公開的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此,本公開的保護(hù)范圍應(yīng)以所述權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。

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