專利名稱：液晶盒的傾角測定方法和裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及向液晶屏封入了垂直取向(VA)模式的液晶(以下稱"VA液晶")或水 平取向(IPS :面內切換)模式的液晶(以下稱"IPS液晶")的狀態(tài)下的該液晶盒的傾角測 定方法和裝置。 本發(fā)明尤其涉及在具有多疇結構的VA液晶盒中，該液晶盒的傾角測定方法和裝置。
背景技術：
圖9示出VA液晶盒的多疇結構。在向相對置的玻璃基片11、12之間注入了液晶 的液晶盒的各像素區(qū)域中，在一個玻璃基片12上的取向膜的表面或底層設置突起狀的結 構物31。根據該構成，一像素內的各區(qū)域(稱為"疇")中的液晶分子a的取向在各個疇中 向不同方向傾斜。 在沒有電壓時，各液晶分子a因結構物31而相對于基片面在各個疇中向不同方向 稍微傾斜(該角度稱為"傾角"，尤其指未施加電壓時的傾角，也稱為"預傾角")。如果施加 電壓，則液晶分子向預先傾斜的方向大幅度傾斜。由于在像素中的各個疇中該傾斜方向為 不同的方向，所以獲得視野角寬的優(yōu)良的液晶顯示器。 作為現有的VA液晶盒的傾角測定方法，在液晶盒的兩面上配置了偏振元件和檢 測元件的狀態(tài)下，從配置了偏振元件的一側向液晶盒照射具有單一波長的光束。此時，一邊 使偏振元件和檢測元件各自的透射軸相互間維持預定的角度(例如正交或平行)， 一邊在 液晶盒的明視方向上使該液晶盒傾斜。由此，在各傾斜角下測定在檢測元件側檢測到的液 晶盒的透射光強度的視角依賴性，基于其對稱點的角度確定液晶分子的預傾角(所謂晶體 旋轉法)。作為參考文獻，參照日本特開2008-58865號公報、國際公開第01/22029號出版 物。 但是，在上述的現有方法中，由于一邊改變液晶盒的角度一邊多次測定液晶盒的 透射光強度，所以測定需要時間。 另外，在具有多疇結構的液晶盒的場合，用上述現有方法的宏觀光學系統(tǒng)不能測 定許多疇上的平均傾角(即，有時個別疇的傾斜被抵銷)。于是，如果按疇測定傾角，則必須 使用顯微光學系統(tǒng)，使測定光斑與疇的大小一致。因此，需要精密的顯微光學系統(tǒng)。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于提供只需一次測定液晶盒的透射光強度即可、且無需顯微光學 系統(tǒng)的液晶盒的傾角測定方法和裝置。 在本部分中，括號內的附圖標記表示后述的"具體實施方式
"中對應構成要素的附 圖標記，但無意于用這些附圖標記限定權利要求書的范圍。 本發(fā)明的液晶盒的傾角測定方法是，從光源(21)的光取出線偏振分量的光；把該 偏振分量的光照在液晶盒(23)上以使得該光的光軸(B)與液晶盒(23)的法線成傾斜的角度(9 );基于透過液晶盒(23)后出射的光中的與上述線偏振分量成直角方向的、即在與光 的傳輸方向垂直的面內成直角的方向的偏振分量中的光強度，求出光強度透射率(Tc);用 該光強度透射率(Tc)、液晶的正常光折射率(no)和異常光折射率(ne)、角度(9)以及液 晶的厚度(d)，求出液晶的傾角(e)。 根據該方法，把角度(e)設定成預定值，只需一次測定就可以求出液晶的傾角 (e)。 也可以是，上述求液晶的傾角(13)的工序包括作為上述傾斜的角度(9 )的函數 (稱為第一函數)，求上述液晶的傾角(P)與把傾斜的液晶在上述液晶盒中的與光的行進 方向垂直的面內投影時該投影面內的液晶的傾角')的關系的第一工序；以及作為上 述光強度透射率(Tc)的函數(稱為第二函數)，求上述液晶的傾角(P)與上述投影面內的 液晶的傾角')的關系的第二工序。 也可以是，上述第一函數包含液晶的折射率(n)作為變量，上述第二函數包含上 述正常光折射率(no)與異常光折射率(ne)的折射率差(An)和在液晶內部的光路長度 (d')分別作為變量。 液晶盒(23)在一個像素內包含多個疇(D)，只要液晶是在各個疇(D)中向不同方 向傾斜的液晶盒(23)，優(yōu)選地，光強度透射率(Tc)包含液晶盒(23)的所有疇的面積中的、 傾角(P)朝著與光軸(B)不平行的方向的疇的面積所占的比例作為系數(A)。通過考慮該 系數(A)，在光照射到液晶盒(23)的范圍內，可以不相互抵消而求出朝向不同方向的傾角 (e)。
通過用透過液晶盒(23)后出射的原樣的光的光強度除透過液晶盒(23)后出射的 光中的、與偏振分量正交的偏振分量中的光強度，可以計算上述光強度透射率(Tc)。
另外，也可以通過用透過液晶盒(23)后出射的光中的、與偏振分量成直角方向的 偏振分量中的光強度與透過液晶盒(23)后出射的光中的、與偏振分量平行的方向的偏振 分量中的光強度的合計值，除透過液晶盒(23)后出射的光中的、與偏振分量正交的偏振分 量中的光強度，計算上述光強度透射率(Tc)。 本發(fā)明的液晶盒的傾角測定方法，也可以通過使液晶的正常光折射率(no)和異 常光折射率(ne)作為波長(A)的函數、用角度(e)以及液晶的厚度(d)，以液晶分子的傾 角(e)作為參數，求光強度透射率(Tc)與波長(A)的關系(Tc(A， p));通過針對多個 波長(A)測定光強度透射率(Tc)，對其測定點(A，Tc)適用上述關系Tc(A， P)，求出傾 角(P)。該方法可以通過針對多個波長測定光強度透射率(Tc)，適用光強度透射率(Tc) 與波長(A)的關系(Tc(A， P))，更正確地求出傾角(P)。 本發(fā)明的傾角測定裝置，包括從光源(21)的光取出線偏振分量的偏振元件
(22) ;能夠把該偏振元件(22)的光照在液晶盒(23)上以使得該光的光軸(B)與液晶盒
(23) 的法線成傾斜的角度(9)的光軸設定裝置；取出透過液晶盒(23)后出射的光的、與 偏振分量成直角方向(在與光的行進方向垂直的面內成直角的方向)的偏振分量的檢測元 件(24);測定透過檢測元件(24)后出射的光的光強度透射率(Tc)的檢測器(26);用該光 強度透射率(Tc)，液晶的正常光折射率(no)和異常光折射率(ne)、角度(9)以及液晶的 厚度(d)，求出液晶的傾角(e)的數據處理裝置(27)。 也可以是，上述數據處理裝置包括作為上述傾斜的角度(9 )的函數(稱為第一函數)，求上述液晶的上述傾角(e)與把傾斜的液晶在上述液晶盒中的與光的行進方向垂 直的面內投影時該投影面內的液晶的傾角')的關系的第一處理裝置；以及作為上述 光強度透射率(Tc)的函數(稱為第二函數)，求上述液晶的傾角(P)與上述投影面內的液 晶的傾角')的關系的第二處理裝置。 也可以是，上述第一函數包含液晶的折射率(n)作為變量，上述第二函數包含上 述正常光折射率(no)與異常光折射率(ne)的折射率差(An)和在液晶內部的光路長度 (d')分別作為變量。 另外，也可以，本發(fā)明的傾角測定裝置，還包括把透過檢測元件(24)后出射的光 分光的分光器(25);數據處理裝置(27)把液晶的正常光折射率(no)和異常光折射率(ne) 作為波長(A)的函數存儲、用角度(e)以及液晶的厚度(d)，以液晶分子的傾角(P)作 為參數，求光強度透射率(Tc)與波長(A )的關系(Tc ( A ， |3))，通過對針對多個波長(入) 測定的光強度透射率(Tc)的測定點適用該關系，求出傾角。 象以上那樣，根據本發(fā)明，具有無需顯微光學系統(tǒng)，即使是宏觀斑的光學系統(tǒng)也可 以進行液晶的傾角測定的優(yōu)良效果。 本發(fā)明的上述或其它的優(yōu)點、特征、和效果可以通過以下的結合附圖進行的實施 方式的說明更清楚地理解。


圖1是實施預傾角測定方法的測定裝置的構成圖。 圖2是根據實施預傾角測定方法的另一實施方式的測定裝置的構成圖。 圖3是示出在多疇垂直取向(MVA)模式的液晶盒中，沒有電壓時的像素內的傾斜
方向的平面圖。 圖4是畫出從光軸B看到的液晶分子al a4的方向的示意圖。
圖5是示出在玻璃基片11、12之間填充的液晶中的光的行進方式的光路圖。
圖6是畫出液晶內部的傳輸光的光軸B與各坐標軸x、y、z的坐標圖。
圖7是用來說明本發(fā)明的測定順序的流程圖。 圖8是以液晶的傾角13為參數，計算了波入A與光強度透射率Tc的關系Tc(入， 的曲線圖。 圖9是示出在相對置的玻璃基片11、12之間設置了突起狀的結構物的液晶盒的多
疇結構的剖面圖。(附圖標記說明) 11、 12 :玻璃基片；21 :光源；22 :偏振元件；23 :VA液晶盒；24 :檢測元件；25 :單色 鏡；26 :檢測器；27 :數據處理裝置
具體實施例方式〈裝置構成> 圖1是實施本發(fā)明的預傾角測定方法的測定裝置的構成圖。 該測定裝置具有鹵燈等的光源21、從光源21出射的光取出線偏振光的偏振元件 22、在樣品設置臺上設置的VA液晶盒23、從通過了 VA液晶盒23的光取出線偏振光的檢測元件24、用來從通過了檢測元件24的光獲得單色光的單色鏡25、檢測從單色鏡25出射的
光的強度的檢測器26、以及數據處理裝置27。另外，也可以取代單色鏡25而配置多色鏡。
另外，在使用單色鏡25時，也可以使單色鏡25位于偏振元件22與光源21之間。 向VA液晶盒23照射從光源21出射的光時，不限定照射光斑的大小。無須收縮成
如只包含一個疇那樣的小的光斑。 偏振元件22的偏振方向設置成產生使光的電場與入射面(包含光的行進方向和 液晶盒的法線y的面)平行地振動的偏振光(P偏振光)。由于檢測元件24的偏振方向設 置成與包含光的行進方向和液晶盒的法線y的面垂直的方向，所以可以以所謂"交叉尼科 耳"的狀態(tài)檢測出通過了檢測元件24的光。 偏振元件22和檢測元件24被固定在一個框架上，通過用馬達旋轉該框架，可以改 變向VA液晶盒23入射的入射角e。馬達的旋轉角的數據與檢測器26的輸出信 號一起被 輸入數據處理裝置27。 另外，為了改變向VA液晶盒23入射的入射角e ，也可以采用固定框架，使承載VA 液晶盒23的樣品設置臺傾斜的機構。 圖2示出測定裝置的變形例。該測定裝置與圖1的裝置的不同之處在于，偏振元 件22的偏振方向設置成產生使光的電場與入射面(包含光的行進方向和液晶盒的法線y 的面)垂直地振動的偏振光(s偏振光)。由于檢測元件24的偏振方向設置成與偏振元件 22垂直的方向，所以可以以所謂"交叉尼科耳"的狀態(tài)檢測出通過了檢測元件24的光。
〈測定原理> 圖3是示出在多疇垂直取向(MVA)模式的液晶盒中，沒有電壓時的像素內的傾斜 方向的平面圖。 四方的框表示一個像素P，其中分成四個疇D1 D4。在此，如果定義角度，則以向 上為0度，按順時針方向數90度、180度、270度。四個疇D1 D4中的右上的疇D1位于 0 90度的區(qū)域，右下的疇D2位于90 180度的區(qū)域，左下的疇D3位于180 270度的 區(qū)域，左上的疇D4位于270 360度(0度)的區(qū)域。 在右上的疇Dl中預傾斜的液晶分子al在右上45度的方向上取向；在右下的疇D2 中預傾斜的液晶分子a2在右下135度的方向上取向；在左下的疇D3中預傾斜的液晶分子 a3在左下225度的方向上取向；在左上的疇D4中預傾斜的液晶分子a4在左上315度的方 向上取向。這樣，在各個疇中，使液晶分子的取向在四個方向上傾斜。 在圖3的例子中，液晶以90度間隔在四個方向上傾斜，但光學系統(tǒng)的光軸沿它們 中的一個方位傾斜。把該傾斜了的光軸稱為"光軸B"。具體地說，從左上315度方向朝著 右下135度方向照射光。如果這樣，從光軸B看到的液晶分子al a4的方向如圖4所示。
在圖4中，液晶盒在上下玻璃基片11、12之間填充液晶分子。以與玻璃基片11、12 的面垂直的法線方向為y，以與光軸B垂直且與玻璃基片11、12的面平行的方向為x。液晶 分子在與四個預傾斜方向對應的上述方向上取向。如果從光軸B看，液晶分子al在x-y面 內向左傾斜。如果從光軸B看，液晶分子a3在x-y面內向右傾斜。如果從光軸B看，液晶 分子a2、a4不傾斜。 圖5是示出在玻璃基片11、12之間填充的液晶中的光的行進方式的光路圖。以與 玻璃基片11、12垂直的方向為y，以包含光軸B且與玻璃基片11、12的面平行的方向為z，光以在y-z平面內從y軸傾斜角度e而入射。如果液晶的折射率為n，則液晶內部的光軸 傾斜角e'用 (式1) sin 9 = nsin e ' 表示。另外，如果玻璃基片11、12間的距離(盒間隙)為d，則在液晶內部的光路 長度d'用
(式2) ^ = -^
COS夕 表示。 圖6是畫出液晶內部的傳輸光的光軸B與各坐標軸x、 y、 z的坐標圖。液晶分子 a3，相對于玻璃基片11、 12的法線方向y，在x-y面內傾斜角度P 。液晶分子al，相對于方 向y，在x-y面內傾斜角度-P。角度13用
(式3) - = tan—J — 表示。光軸B，相對于方向y，在y-z面內傾斜角度e '。 在此，定義與光軸B垂直的平面x-y'。然后，把位于平面x-y的液晶分子a3向平 面x-y'投影。把該投影的液晶分子記為a3'。液晶分子a3'相對于y'軸在平面x-y' 上傾斜角度P '。角度P '表示從光軸B的方向看到的液晶分子的軸偏離，用
(式4)
_1 X ^ , = tan """^r 表示。 另外，如果考慮平面x-y'與平面x-y所成的角度為90度-e '，則液晶分子a3'
在平面x-y'上的坐標y'與在平面x-y上的坐標y關系為 (式5) y' = ysin 9 ' 于是，如果代入上述(式1)、(式4)、(式5)，則角度|3 '與角度|3的關系為
(式6) 々'=tan ~^^T^7 廣 y sin ^
tan ;g =tan "1ST^" 另一方面，入射的偏振光為s偏振光(圖2)時，液晶的折射率n用
(式7)
"。
m。2 sin2- + "e2cos2々
表示，入射的偏振光為P偏振光(圖1)時，液晶的折射率n用(式8)
表示。在此，"s偏振光"指使光的電場與入射面(包含光的行進方向和液晶盒的法線y的面；y-z面)垂直地振動的偏振光，"p偏振光"指使光的電場與上述入射面平行地振動的偏振光。圖1的設置符合P偏振光，圖2的設置符合s偏振光。另外，no是液晶的正常光折射率，ne是液晶的異常光折射率，都是液晶的常數。入射角9是測定系統(tǒng)固有的常數。 在光的偏振光為s偏振光時，用這些式(6)和(7)理解|3與|3 '的關系。在光的偏振光為P偏振光時，用這些式(6)和(8)理解13與13 '的關系。 由于本發(fā)明的測定方法的目的是確定13 ，所以只要知道|3與|3 '的另一個關系式，就可以使用方程式確定P 。
式，則如
于是，以下求P ' 、 P與光強度透射率Tc的關系。
如果計算瓊斯矩陣(Jones matrix)，導出交叉尼科耳狀態(tài)的光強度透射率Tc的
(式9) r = X sin
sm
2戶' 所示。在此，折射率差An是傾斜入射時的異常光線(extraordinarywave)的折射率ne與正常光線(ordinary wave)的折射率no之差。d'如前所述是光在液晶內部的光路長度。A是在液晶內部的光的波長。但關于系數A，后面說明。 如果光軸B與液晶分子a3的夾角為9a(參照圖6)，則角度9a與光的入射角9 '與液晶分子的傾角P之間有
(式10) 9 a = cos—1 (cos 9 ' cos P ) 的關系，如果使用該角度9 a，則可使用液晶的正常光折射率no、液晶的異常光折射率ne，以式11
(式ll)
6 O
2
co化 給出折射率差An。該式對于p偏振光(圖1)、s偏振光(圖2) 二者都可以適用。這樣，折射率差An成為|3的函數。 在式9中，由于Tc是可以用檢測器26測定的量，所以式9是表示P與P '的關系的式子。于是，如果把式6和式7(或式6和式8)合并，把兩個關系式聯合求解，就可以 求出P 。 在此對前面的系數A進行說明，A是多疇垂直取向(MVA)模式的液晶盒中的、傾角 P與光軸B不平行的液晶分子的存在比例。S卩，在各像素內，如圖4所示，存在傾角13與光 軸B平行的液晶分子a2、a4和傾角P與光軸B不平行的液晶分子al、a3。傾角P與光軸 B平行的液晶分子a2、a4，在式9中，P ' =0，不透過光。 這是，從直觀上看，沿圖4所示的光軸B的方向入射的光不會被液晶分子a2、a4改 變偏振狀態(tài)，而是原樣通過液晶盒。由于本發(fā)明的測定裝置被設定成交叉尼科耳狀態(tài)，所以 原樣通過液晶盒的光被檢測元件24完全擋住。因此，傾角13與光軸B平行的液晶分子a2、 a4對光的透過沒有幫助。 系數A可以說是"液晶內部的所有液晶分子中的、傾角13與光軸B不平行的液晶 分子的存在比例"。如果液晶分子在液晶盒內均勻地分布，則該"比例"可以說成"液晶盒的 所有疇的面積中的、存在傾角P與光軸B不平行的液晶分子的疇的面積的比例"。
如果如圖4所示， 一個像素P分成四個疇Dl D4，在各疇Dl D4中存在相同數 目的液晶分子，每隔90度朝著不同的方向，則成為
(式12) 系數A =(液晶分子al a4中的液晶分子al、 a3所占的比例)=0. 5。
〈測定順序>
(1)測定順序 基于流程圖(圖7)說明根據本發(fā)明的測定順序。 首先，在圖1或圖2的測定裝置中，設置作為樣品的液晶盒23，用來自光源21的白 色光進行預定范圍的光斑照射，把入射角9設定在某個值。優(yōu)選地，從25度 80度的范 圍內選擇入射角e 。 優(yōu)選"25度 80度的范圍"的理由是，一般地，偏振元件即使性能好，消光比也為 10—5左右。因此?？紤]到如果光強度透射率Tc〈10—4，則因背景噪聲而測定變得困難。于 是，在下述的表1的條件下，在預傾角=1度時，作為光強度透射率Tc < 10—4以上的入射角 9 ，設定以25度為下限值。 另外，盒表面(玻璃)的反射率，在9 = 80度時，對于s偏振光為約54X，對于p 偏振光為約23% (假定玻璃的折射率為1.5)，但由于一旦超過80度，反射率就急劇增加，
所以作為入射角e ，設定以80度為上限值。如果入射角e與該范圍相比過大，則液晶盒
23表面處的反射增大，透射光強度減小，測定的S/N變差。
例如，把入射角9設定為45度。 另外，用單色鏡25設定的波長優(yōu)選從可見光波段中選定。 首先，對于液晶盒進行基準測定。向液晶盒照射光時，也有在液晶盒23表面處的 反射，除了表面處的反射以外還有濾色基片的吸收等，所以如果求絕對的光透射率，則計算 處理變得復雜。于是，(a)從圖1、2的裝置構成只除去檢測元件24，求出光強度作為基準； 或者(b)在圖1、2的裝置構成中使檢測元件24成為平行尼科耳狀態(tài)和交叉尼科耳狀態(tài)，分 別測定光強度，把兩種光強度的合計值作為基準(步驟SO)。把該基準光強度記為R。
然后，測定交叉尼科耳狀態(tài)下的光強度(步驟Sl)。用基準光強度R除該測定值，把其商作為Tc，作為下面的計算的基礎。 液晶盒的盒間隙d、異常光線的折射率ne和正常光線的折射率no是液晶盒的常數。入射角9是如上所述地設定的值，系數A也是常數。把這些值代入式9 式11而求出P '，可以用式6 式8求出傾角13 (步驟S2、S3)。具體而言，可以針對向VA液晶盒23照射從光源21出射的光的光斑范圍內存在的液晶分子，求出傾角13的平均值。
(2)測定順序2-分光測定_ 液晶的異常光線的折射率ne和正常光線的折射率no是波長A的函數。入射角9 、盒間隙d、系數A與波長無關，是已知的值。于是，把這些值代入式9 式11，以液晶分子的傾角P作為參數，求光強度透射率Tc與波長A的關系Tc(A， 13)。
例如，作為液晶的異常光折射率ne、正常光折射率no，
表l
ne = 1.606， no = 1. 502(入=450nm時)
ne = 1. 589， no = 1. 493(入=550nm時)
ne = 1. 580， no = 1. 488(入=650nm時) 使用表l的數據，入射角9 =45度，盒間隙(1 = 3.2iim，系數A二0.5，假定傾角P為l度、2度和3度，計算了波長A與光強度透射率Tc的關系Tc(A ， P)，如圖8所示的曲線那樣。 如果用該曲線圖，針對多個波長測定光強度透射率Tc，把該測定點畫在該曲線圖上，并進行擬合，則可以正確地求出傾角P。 以上，說明了本發(fā)明的實施方式，但本發(fā)明不限于上述實施方式。例如，在到此為止的說明中，液晶盒是在一個像素內分成多個疇，在各個疇中在不同方向上傾斜，但即使在不具有疇、在單一方向上傾斜的液晶盒的場合，通過使光軸在與傾斜方向不同的方向上傾斜，也可以進行同等的測定。此時，上述系數A的值為"1"。除此之外，在本發(fā)明的范圍內可以進行各種變更。
權利要求
一種液晶盒的傾角測定方法，其特征在于從光源取出線偏振分量的光；把該偏振分量的光照在液晶盒上以使得該光的光軸與上述液晶盒的法線成傾斜的角度；測定透過上述液晶盒后出射的光中的、在與光的行進方向垂直的面內與上述偏振分量成直角方向的偏振分量中的光強度，求出光強度透射率；用該光強度透射率、上述液晶的正常光折射率和異常光折射率、上述傾斜的角度以及上述液晶的厚度，求出上述液晶的傾角。
2. 如權利要求1所述的液晶盒的傾角測定方法，其特征在于求出上述液晶的傾角的工序包括作為上述傾斜的角度的函數，求出上述液晶的上述傾角與把傾斜的液晶在上述液晶盒中的與光的行進方向垂直的面內投影時該投影面內的液晶的傾角的關系的第一工序；以及作為上述光強度透射率的函數，求出上述液晶的上述傾角與把傾斜的液晶在上述液晶盒中的與光的行進方向垂直的面內投影時該投影面內的液晶的傾角的關系的第二工序。
3. 如權利要求2所述的液晶盒的傾角測定方法，其特征在于上述第一工序中的函數包含液晶的折射率作為變量，上述第二工序中的函數包含上述正常光折射率與異常光折射率的折射率差和在液晶內部的光路長度分別作為變量。
4. 如權利要求1或2所述的液晶盒的傾角測定方法，其特征在于上述液晶盒在一個像素內包含多個疇，上述液晶按上述各個疇朝著不同的方向傾斜，上述光強度透射率包含上述液晶盒的所有疇的面積中的、傾角朝著與上述光軸不平行的方向的疇的面積所占的比例作為系數。
5. 如權利要求1或2所述的液晶盒的傾角測定方法，其特征在于上述光軸與上述液晶盒的法線所成的傾斜的角度在25度 80度的范圍內。
6. 如權利要求1或2所述的液晶盒的傾角測定方法，其特征在于上述光強度透射率是，用透過上述液晶盒后出射的光的光強度除透過上述液晶盒后出射的光的、與上述偏振分量成直角方向的偏振分量中的光強度而得到的。
7. 如權利要求6所述的液晶盒的傾角測定方法，其特征在于用透過上述液晶盒后出射的光的、與上述偏振分量成直角方向的偏振分量中的光強度與透過上述液晶盒后出射的光的、與上述偏振分量平行的方向的偏振分量中的光強度的合計值，求出透過上述液晶盒后出射的光的光強度。
8. 如權利要求1或2所述的液晶盒的傾角測定方法，其特征在于用作為波長的函數的上述液晶的正常光折射率和異常光折射率的數據、上述角度以及上述液晶的厚度，求以液晶分子的傾角作為參數的光強度透射率與波長的關系；通過針對多個波長測定上述光強度透射率，對其測定點適用上述關系，求出傾角。
9. 一種液晶盒的傾角測定裝置，其特征在于包括從光源取出線偏振分量的偏振元件；能夠把該偏振元件的光照在液晶盒上以使得該光的光軸與上述液晶盒的法線成傾斜的角度的光軸設定裝置；取出透過上述液晶盒后出射的光的、在與光的行進方向垂直的面內與上述偏振分量成直角方向的偏振分量的檢測元件；測定透過上述檢測元件后出射的光的光強度的檢測器；基于上述檢測器檢測出的光強度計算光強度透射率，用上述液晶的正常光折射率和異常光折射率、上述角度以及上述液晶的厚度，求出上述液晶的傾角的數據處理裝置。
10. 如權利要求9所述的液晶盒的傾角測定裝置，其特征在于上述數據處理裝置包括作為上述傾斜的角度的函數，求出上述液晶的上述傾角與把傾斜的液晶在上述液晶盒中的與光的行進方向垂直的面內投影時該投影面內的液晶的傾角的關系的第一處理裝置；以及作為上述光強度透射率的函數，求出上述液晶的上述傾角與把傾斜的液晶在上述液晶盒中的與光的行進方向垂直的面內投影時該投影面內的液晶的傾角的關系的第二處理裝置。
11. 如權利要求io所述的液晶盒的傾角測定方法，其特征在于上述第一處理裝置中的函數包含液晶的折射率作為變量，上述第二處理裝置中的函數包含上述正常光折射率與異常光折射率的折射率差和在液晶內部的光路長度分別作為變
12. 如權利要求9或10所述的液晶盒的傾角測定裝置，其特征在于還包括把透過上述檢測元件后出射的光分光的分光器；上述數據處理裝置，用作為波長A的函數的上述液晶的正常光折射率和異常光折射率、上述角度以及上述液晶的厚度，以液晶分子的傾角作為參數，求出光強度透射率與波長的關系，通過對針對多個波長測定的光強度透射率的測定點適用該關系，確定傾角。
全文摘要
提供一種液晶盒的傾角測定方法和裝置，可以無需顯微光學系統(tǒng)，且只需一次測定液晶盒的透射光強度。從光源(21)的光取出線偏振分量的光；把該偏振分量的光照在液晶盒(23)上以使得該光的光軸(B)與液晶盒(23)的法線成傾斜的角度(θ)；基于透過液晶盒(23)后出射的光的與偏振分量成直角方向的偏振分量中的光強度，求出光強度透射率(Tc)；用該光強度透射率(Tc)、液晶的正常光折射率(no)和異常光折射率(ne)、角度(θ)以及液晶的厚度(d)，求出液晶的傾角(β)。
文檔編號G02F1/13GK101726884SQ20091020908
公開日2010年6月9日 申請日期2009年10月30日 優(yōu)先權日2008年10月30日
發(fā)明者杉田一纮, 銅田知廣 申請人:大塚電子株式會社