專利名稱：電工電子產(chǎn)品低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及試驗?zāi)芰︱炞C技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種電工電子產(chǎn)品低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置。
背景技術(shù)：
環(huán)境試驗是研究周圍使用環(huán)境對材料以及產(chǎn)品功能和性能影響的一類可靠性試驗。溫度作為三大基本環(huán)境因素之一，無時不在影響產(chǎn)品的使用。研究表明，40%的產(chǎn)品現(xiàn)場失效跟溫度有關(guān)。電工電子產(chǎn)品低溫試驗是用來檢驗元件、設(shè)備及其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。低溫試驗的應(yīng)用范圍非常廣泛，航天、船舶、家用電器、電子元器件等電工電子產(chǎn)品都要進行低溫試驗。因此依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)(GB 2423. I)對產(chǎn)品正確的進行低溫試驗對正確評估產(chǎn)品能力至關(guān)重要。能力驗證是利用實驗室間的比對確定實驗室的校準(zhǔn)/檢測能力或檢查機構(gòu)的檢測能力的一項活動。能力驗證活動指任何用于評價實驗室能力的實驗室間的比對和測量審核。例如由國家或區(qū)域的認(rèn)可機構(gòu)及其合作組織、政府部門或行業(yè)組織或其它正式能力驗證計劃的提供者運作的活動。開展能力驗證活動，對涉及檢測/校準(zhǔn)的相關(guān)方具有積極的作用對實驗室而言，是其滿足IS0/IEC 17025標(biāo)準(zhǔn)，進行內(nèi)部質(zhì)量控制及對外的能力證明的需要；對認(rèn)可機構(gòu)，是評價認(rèn)可的實驗室檢測/校準(zhǔn)能力的重要技術(shù)途徑；對實驗室的客戶，是證明實驗室具備某項檢測能力的重要依據(jù)；對政府主管部門，是監(jiān)管實驗室能力及水平的有效措施。由于能力驗證活動在許多行業(yè)中都具有非常顯著的作用，因而，目前無論在國際還是在國內(nèi)，都受到廣泛的關(guān)注。操作能力驗證的裝置要求滿足能力驗證要求的均勻性，并能在整個能力驗證過程中保持穩(wěn)定，以確保能力驗證中出現(xiàn)的不合格不歸咎于操作能力驗證的裝置之間或裝置本身的變異性。這一點對整個能力驗證活動至關(guān)重要，它會直接影響到最終活動的結(jié)果。此外，操作能力驗證的裝置要求便于運輸、成本較低、操作使用方便等，這些特點都對能力驗證活動的順利運作有非常積極意義。目前行業(yè)內(nèi)尚無操作能力驗證的裝置能對低溫試驗?zāi)芰M行驗證。目前行業(yè)內(nèi)僅僅只對低溫試驗設(shè)備進行校準(zhǔn)，普遍采取的驗證方式是依據(jù)相關(guān)低溫試驗設(shè)備檢定規(guī)范， 采用溫度巡檢儀和鉬電阻或熱電偶等傳感器組合的方式對低溫實驗設(shè)備進行校準(zhǔn)。此方式存在如下缺點1)不能設(shè)置能力驗證裝置特性點，本申請中主要是指動作溫度點，即裝置發(fā)生某個動作時所在的某個特定的溫度值，普通的低溫試驗設(shè)備校準(zhǔn)裝置不能設(shè)置固定的動作溫度點，無法獲取固定的溫度讀取點，因此無法對參加能力驗證的實驗室實施能力驗證活動；2)上述裝置同樣存在成本高、體積較大、運輸不便的問題，上述溫度巡檢儀等低溫試驗設(shè)備校準(zhǔn)裝置少則幾千，多則上萬，如此昂貴的校準(zhǔn)設(shè)備不宜用來進行能力驗證活動， 普通的低溫試驗設(shè)備校準(zhǔn)裝置屬于高精密的電子設(shè)備，不適合普通物流運輸，若采用特殊物流，進一步會提高能力驗證活動的成本。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是提供一種能完成電工電子產(chǎn)品低溫試驗?zāi)芰︱炞C的裝置。實現(xiàn)本實用新型目的所采取的技術(shù)方案為一種電工電子產(chǎn)品低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置，包括具有固定的動作溫度點的壓力式溫控器，所述的溫控器上連接有溫度感應(yīng)裝置， 所述的溫控器的負(fù)電壓輸入端依次通過電阻、氖燈連接外部負(fù)電壓輸入端，所述的溫控器的正電壓輸入端連接外部正電壓輸入端。本實用新型還包括盒體，所述的溫控器密封在盒體內(nèi)，所述的溫度感應(yīng)裝置穿出盒體與外界待驗證裝置相連，所述的氖燈、外部正、負(fù)電壓輸入端設(shè)置在盒體上。本實用新型溫控器選擇具有固定的動作溫度點的定溫復(fù)位壓力式溫控器，且所述溫控器的感溫介質(zhì)溫度變化速率< 1°C /min。作為本實用新型的具體實施例，所述的溫度感應(yīng)裝置為毛細(xì)管感溫探頭。本實用新型采用具有固定的動作溫度點的壓力式溫控器，滿足低溫試驗?zāi)芰︱炞C活動對裝置要求能設(shè)置溫度特性點的要求；感溫介質(zhì)溫度變化速率< 1°C /min，在漸變低溫試驗中，可以快速對低溫環(huán)境的溫度變化做出響應(yīng)；采用定溫復(fù)位壓力式溫控器，可以較好滿足能力驗證裝置對穩(wěn)定性和復(fù)現(xiàn)性的要求；同時本裝置結(jié)構(gòu)簡單，體積小，可控制在
0.004m3左右，且裝置內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡單牢靠，各元器件也可經(jīng)受普通的運輸振動，成本低，運輸方便，適合能力驗證活動；壓力式溫控器本身自帶溫度顯示裝置，數(shù)據(jù)讀取方便。
以下結(jié)合附圖
對本實用新型做進一步說明圖I是本實用新型的電路原理圖；圖2是使用本實用新型的電路原理連接圖。
具體實施方式
如圖2所示,本實用新型電工電子產(chǎn)品低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置,包括具有固定的動作溫度點的可恢復(fù)壓力式溫控器6，所述的溫控器6上連接有溫度感應(yīng)裝置3，所述的溫控器6的負(fù)電壓輸入端2依次通過電阻R、氖燈4連接外部負(fù)電壓輸入端N，所述的溫控器6 的正電壓輸入端I連接外部正電壓輸入端L ;所述的外部負(fù)電壓輸入端N為一黑色接線柱， 外部正電壓輸入端L為一紅色接線柱；本實用新型還包括盒體5，所述的溫控器6密封在盒體5內(nèi)，所述的溫度感應(yīng)裝置3穿出盒體5與外界待驗證裝置相連，所述的氖燈4、外部正、 負(fù)電壓輸入端L、N設(shè)置在盒體5上，本實施例中的溫度感應(yīng)裝置為毛細(xì)管感溫探頭。溫控器6選擇具有固定動作溫度點的定溫復(fù)位壓力式溫控器，感溫介質(zhì)溫度變化速率彡rc /min。在本實用新型的低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置的紅色接線柱L與黑色接線柱N之間加載 220V±5%，50Hz±l%的交流電(電阻R的阻值為R = 120KQ左右，電路導(dǎo)線橫截面積I. Omm)，如圖2所示，利用本實用新型的裝置完成低溫試驗?zāi)芰︱炞C的具體步驟為I)預(yù)設(shè)低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置的動作溫度點為Tl，Tl的溫度范圍從-10°C 到_70°C，將低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置的感溫探頭3放入待驗證的試驗箱7中，開啟試驗箱7， 從常溫開始降溫；2)當(dāng)溫控器6檢測到試驗箱7的內(nèi)部溫度下降到上述預(yù)設(shè)的動作溫度點Tl時，即觀察到氖燈4熄滅時，記錄氖燈4熄滅瞬間試驗箱7此時的內(nèi)部溫度值，即記錄待驗證裝置溫度值；
待驗證裝置溫度值-中位值3)計算上述待驗證裝置溫度的Z值，Z，即采用穩(wěn)健
標(biāo)準(zhǔn)IQR值
統(tǒng)計Z比分?jǐn)?shù)法對記錄的待驗證裝置溫度值進行處理，當(dāng)|Z| <2時，判斷待驗證裝置試驗箱7低溫試驗?zāi)芰细?，進而判斷所驗證實驗室具有進行低溫試驗的能力。上述步驟3)中所述的中位值、標(biāo)準(zhǔn)IQR值通過如下方式獲得選擇18個以上(通常為20個以上)的待驗證裝置分別進行步驟I)、2)相應(yīng)得到18個以上的待驗證裝置溫度值，計算上述18個以上的待驗證裝置溫度值的中位值和標(biāo)準(zhǔn)IQR值，標(biāo)準(zhǔn)IQR值即標(biāo)準(zhǔn)化四分位數(shù)間距。下面為本實用新型的低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置的實驗數(shù)據(jù)裝置的均勻性檢驗報告根據(jù)本裝置的設(shè)計要求，訂制1#樣品(低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置)和2#樣品各100 個，從中分別隨機抽取12個用于均勻性檢驗，共24個樣品，每個樣品重復(fù)測試2次。樣品均勻性檢驗結(jié)果數(shù)據(jù)1# 樣品
權(quán)利要求1.一種電工電子產(chǎn)品低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置，其特征在于所述的低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置包括具有固定的動作溫度點的壓力式溫控器，所述的溫控器上連接有溫度感應(yīng)裝置， 所述的溫控器的負(fù)電壓輸入端依次通過電阻、氖燈連接外部負(fù)電壓輸入端，所述的溫控器的正電壓輸入端連接外部正電壓輸入端。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電工電子產(chǎn)品低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置，其特征在于所述的低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置還包括盒體，所述的溫控器密封在盒體內(nèi)，所述的溫度感應(yīng)裝置穿出盒體與外界待驗證裝置相連，所述的氖燈、外部正、負(fù)電壓輸入端設(shè)置在盒體上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電工電子產(chǎn)品低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置，其特征在于所述的溫控器為具有固定的動作溫度點的定溫復(fù)位壓力式溫控器，且所述溫控器的感溫介質(zhì)溫度變化速率≤10C /min。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電工電子產(chǎn)品低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置，其特征在于所述的溫度感應(yīng)裝置為毛細(xì)管感溫探頭。
專利摘要本實用新型公開了一種電工電子產(chǎn)品低溫試驗?zāi)芰︱炞C裝置，它包括具有固定的動作溫度點的壓力式溫控器，所述的溫控器上連接有溫度感應(yīng)裝置，所述的溫控器的負(fù)電壓輸入端依次通過電阻、氖燈連接外部負(fù)電壓輸入端，所述的溫控器的正電壓輸入端連接外部正電壓輸入端。本實用新型采用具有固定的動作溫度點的定溫復(fù)位壓力式溫控器，感溫介質(zhì)溫度變化速率≤1℃/min，滿足低溫試驗?zāi)芰︱炞C實驗的要求，且結(jié)構(gòu)簡單，使用壽命長，成本低、體積小、運輸方便，非常適合能力驗證活動，具有很高的推廣和應(yīng)用價值。
文檔編號G01D18/00GK202350821SQ20112041715
公開日2012年7月25日 申請日期2011年10月27日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月27日
發(fā)明者劉國榮, 劉宗航, 朱珈, 王珊珊, 竹利平, 鐘志剛, 陳偉升, 陳鈞 申請人:廣州威凱檢測技術(shù)有限公司