本發(fā)明屬于雷達信號處理技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種檢測雜波邊緣雷達目標(biāo)的自適應(yīng)恒虛警方法，適用于自動選擇合適的自適應(yīng)恒虛警CFAR方法判斷雜波均勻性，并最終檢測雷達目標(biāo)。

背景技術(shù)：

在非均勻的雜波背景下，根據(jù)雜波環(huán)境自適應(yīng)地選取恒虛警CFAR方法能夠提高恒虛警CFAR檢測的正確率；自適應(yīng)恒虛警CFAR方法通過擬合參考單元內(nèi)數(shù)據(jù)的分布，判斷雜波均勻性和雜波邊緣位置，選擇相適應(yīng)的CFAR方法。

2000年，Michael等人提出可變性指示(Variability Index,VI)方法，通過前、后參考滑窗的參考單元內(nèi)數(shù)據(jù)的均值和方差來判斷雜波是否均勻；利用前后滑窗中樣本的均值比(mean ratio,MR)判斷前后參考單元分布是否相同；這種方法計算簡單，判斷雜波背景之后使用相適應(yīng)的CFAR方法，能夠極大提高檢測概率，降低虛警。

然而，當(dāng)雷達目標(biāo)非常接近雜波邊緣(位于弱雜波區(qū))，且前后雜波起伏較小時；由于此時可變性指示方法直接選擇單元平均選大恒虛警(GO_CFAR)方法，因此對雷達目標(biāo)的檢測概率非常低，尤其是前后強弱雜波平均電平相差較大、雷達目標(biāo)信雜噪比不大時，檢測概率接近為0，該可變性指示方法幾乎失效。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

針對上述現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本發(fā)明的目的在于提出一種檢測雜波邊緣雷達目標(biāo)的自適應(yīng)恒虛警方法，該種檢測雜波邊緣雷達目標(biāo)的自適應(yīng)恒虛警方法是一種適合雜波邊緣目標(biāo)檢測的自適應(yīng)CFAR方法，并能夠提高判斷雜波邊緣的準(zhǔn)確度以及雷達目標(biāo)在雜波背景下的檢測概率。

為達到上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案予以實現(xiàn)。

一種檢測雜波邊緣雷達目標(biāo)的自適應(yīng)恒虛警方法，包括以下步驟：

步驟1，獲取雷達回波數(shù)據(jù)，所述雷達回波數(shù)據(jù)包含噪聲、雜波和雷達目標(biāo)，且雷達目標(biāo)位于雜波邊緣；設(shè)定雷達回波數(shù)據(jù)包含L個回波數(shù)據(jù)，選取其中第i'個回波數(shù)據(jù)作為待檢測單元，并分別在待檢測單元兩側(cè)分別劃分出一段雷達回波數(shù)據(jù)，劃分出的兩段雷達回波數(shù)據(jù)分別包含N'個回波數(shù)據(jù)，N'<L，N'<i'<L-N'；并且劃分出的兩段雷達回波數(shù)據(jù)分別包括第一單側(cè)參考單元、第一單側(cè)保護單元、第二單側(cè)保護單元和第二單側(cè)參考單元，進而依次得到第一單側(cè)參考單元、第一單側(cè)保護單元、待檢測單元、第二單側(cè)保護單元和第二單側(cè)參考單元；

其中，待檢測單元兩側(cè)各自包括N個回波數(shù)據(jù)，分別為第一單側(cè)保護單元中的N個回波數(shù)據(jù)和第二單側(cè)保護單元中的N個回波數(shù)據(jù)；第一單側(cè)參考單元包含M₁個回波數(shù)據(jù)，第二單側(cè)參考單元包含M₁個回波數(shù)據(jù)；然后分別將第一單側(cè)參考單元記為參考滑窗A，將第二單側(cè)參考單元記為參考滑窗B，參考滑窗A和參考滑窗B各自包含M₁個參考單元，且M₁個回波數(shù)據(jù)與M₁個參考單元一一對應(yīng)；N'＝N+M₁，N和M₁分別為大于0的正整數(shù)；

分別計算參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值、參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值、參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的方差和參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的方差；

步驟2，根據(jù)參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值、參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值、參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的方差和參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的方差，分別計算參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的可變性參數(shù)、參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的可變性參數(shù)和參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值與參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值的比率；

步驟3，分別設(shè)定可變性參數(shù)門限和均值比率門限，并根據(jù)參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的可變性參數(shù)、參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的可變性參數(shù)和參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值與參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值的比率，得到雷達回波數(shù)據(jù)內(nèi)雜波的參考電平；

步驟4，設(shè)定恒虛警檢測門限系數(shù)，然后將雷達回波數(shù)據(jù)內(nèi)雜波的參考電平與設(shè)定的恒虛警檢測門限系數(shù)相乘，并將得到的乘積與待檢測單元內(nèi)的雷達回波數(shù)據(jù)模值相比較，若待檢測單元內(nèi)的雷達回波數(shù)據(jù)模值大于所述得到的乘積值，則表明待檢測單元中包含雷達目標(biāo)；反之若待檢測單元內(nèi)的雷達回波數(shù)據(jù)模值小于或等于所述得到的乘積值，則表明待檢測單元中沒有雷達目標(biāo)。

本發(fā)明的有益效果：本發(fā)明方法利用了改變參考單元數(shù)目前后，參考單元內(nèi)數(shù)據(jù)均值變化參數(shù)來大致判斷雜波邊緣位置；與原可變性指示(VI)算法相比，在保持虛警率不變的前提下，能夠大大提高雷達目標(biāo)在雜波邊緣位置的檢測概率。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明的一種檢測雜波邊緣雷達目標(biāo)的自適應(yīng)恒虛警方法流程示意圖；

圖2為使用本發(fā)明方法進行恒虛警(CFAR)檢測時的簡單流程示意圖；

圖3為使用本發(fā)明方法得到雷達回波數(shù)據(jù)內(nèi)雜波的參考電平的過程示意圖；

圖4(a)為雷達目標(biāo)位于弱雜波區(qū)時雜波和雷達目標(biāo)各自的幅度圖；其中弱雜波區(qū)為K分布雜波尺度參數(shù)a∈[0,1]的區(qū)域；

圖4(b)為圖4(a)中方框處的局部放大圖；

圖5(a)為雷達目標(biāo)位于強雜波區(qū)(K分布雜波尺度參數(shù)a>1)時雜波和雷達目標(biāo)各自的幅度圖；其中強雜波區(qū)為K分布雜波尺度參數(shù)a>1的區(qū)域；

圖5(b)為圖5(a)中方框處的局部放大圖；

圖6(a)為雷達目標(biāo)位于弱雜波區(qū)且M₂＝8時，現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的檢測概率分別隨目標(biāo)離雜波邊緣距離變化的仿真圖；其中弱雜波區(qū)為K分布雜波尺度參數(shù)a∈[0,1]的區(qū)域；

圖6(b)為雷達目標(biāo)位于弱雜波區(qū)且M₂＝16時現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的檢測概率分別隨目標(biāo)離雜波邊緣距離變化的仿真圖；其中弱雜波區(qū)為K分布雜波尺度參數(shù)a∈[0,1]的區(qū)域；

圖7(a)為雷達目標(biāo)位于弱雜波區(qū)且M₂＝8時現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的虛警概率分別隨目標(biāo)離雜波邊緣距離變化的仿真圖；其中弱雜波區(qū)為K分布雜波尺度參數(shù)a∈[0,1]的區(qū)域；

圖7(b)為雷達目標(biāo)位于弱雜波區(qū)且M₂＝16時現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的虛警概率分別隨目標(biāo)離雜波邊緣距離變化的仿真圖；其中弱雜波區(qū)為K分布雜波尺度參數(shù)a∈[0,1]的區(qū)域；

圖8(a)為雷達目標(biāo)位于強雜波區(qū)且M₂＝8時現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的檢測概率分別隨目標(biāo)離雜波邊緣距離變化的仿真圖；其中弱雜波區(qū)為K分布雜波尺度參數(shù)a∈[0,1]的區(qū)域；

圖8(b)為雷達目標(biāo)位于強雜波區(qū)且M₂＝16時現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的檢測概率分別隨目標(biāo)離雜波邊緣距離變化的仿真圖；其中弱雜波區(qū)為K分布雜波尺度參數(shù)a∈[0,1]的區(qū)域；

圖9(a)為雷達目標(biāo)位于強雜波區(qū)且M₂＝8時現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的虛警概率分別隨目標(biāo)離雜波邊緣距離變化的仿真圖；其中弱雜波區(qū)為K分布雜波尺度參數(shù)a∈[0,1]的區(qū)域；

圖9(b)為雷達目標(biāo)位于強雜波區(qū)且M₂＝16時現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的虛警概率分別隨目標(biāo)離雜波邊緣距離變化的仿真圖；其中弱雜波區(qū)為K分布雜波尺度參數(shù)a∈[0,1]的區(qū)域；

圖10(a)為雷達目標(biāo)位于非雜波區(qū)且M₂＝8時現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的檢測概率分別隨雜噪比變化的仿真圖；其中非雜波區(qū)為僅含高斯白噪聲、不含雜波的區(qū)域；

圖10(b)為雷達目標(biāo)位于非雜波區(qū)且M₂＝16時現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的檢測概率分別隨雜噪比變化的仿真圖；其中非雜波區(qū)為僅含高斯白噪聲、不含雜波的區(qū)域；

圖11(a)為雷達目標(biāo)位于非雜波區(qū)且M₂＝8時現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的虛警概率分別隨雜噪比變化的仿真圖；其中非雜波區(qū)為僅含高斯白噪聲、不含雜波的區(qū)域；

圖11(b)為雷達目標(biāo)位于非雜波區(qū)且M₂＝16時現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的虛警概率分別隨雜噪比變化的仿真圖；其中非雜波區(qū)為僅含高斯白噪聲、不含雜波的區(qū)域；

圖12(a)為雷達目標(biāo)位于雜波區(qū)且M₂＝8時現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的檢測概率分別隨雜噪比變化的仿真圖；其中雜波區(qū)為包含高斯白噪聲和雜波、且雜噪比在10-30dB之間的區(qū)域；

圖12(b)為雷達目標(biāo)位于雜波區(qū)且M₂＝16時現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的檢測概率分別隨雜噪比變化的仿真圖；其中雜波區(qū)為包含高斯白噪聲和雜波、且雜噪比在10-30dB之間的區(qū)域；

圖13(a)為雷達目標(biāo)位于雜波區(qū)且M₂＝8時現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的虛警概率分別隨雜噪比變化的仿真圖；其中雜波區(qū)為包含高斯白噪聲和雜波、且雜噪比在10-30dB之間的區(qū)域；

圖13(b)為雷達目標(biāo)位于雜波區(qū)且M₂＝16時現(xiàn)有可變性指示算法和本發(fā)明各自的虛警概率分別隨雜噪比變化的仿真圖；其中雜波區(qū)為包含高斯白噪聲和雜波、且雜噪比在10-30dB之間的區(qū)域。

具體實施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

參照圖1，為本發(fā)明的一種檢測雜波邊緣雷達目標(biāo)的自適應(yīng)恒虛警方法流程示意圖；所述檢測雜波邊緣雷達目標(biāo)的自適應(yīng)恒虛警方法，包括以下步驟：

步驟1，獲取雷達回波數(shù)據(jù)，所述雷達回波數(shù)據(jù)包含噪聲、雜波和雷達目標(biāo)，且雷達目標(biāo)位于雜波邊緣；設(shè)定雷達回波數(shù)據(jù)包含L個回波數(shù)據(jù)，選取其中第i'個回波數(shù)據(jù)作為待檢測單元，并分別在待檢測單元兩側(cè)分別劃分出一段雷達回波數(shù)據(jù)，劃分出的兩段雷達回波數(shù)據(jù)分別包含N'個回波數(shù)據(jù)，N'<L，N'<i'<L-N'；并且劃分出的兩段雷達回波數(shù)據(jù)分別包括第一單側(cè)參考單元、第一單側(cè)保護單元、第二單側(cè)保護單元和第二單側(cè)參考單元，進而依次得到第一單側(cè)參考單元、第一單側(cè)保護單元、待檢測單元、第二單側(cè)保護單元和第二單側(cè)參考單元，所述第一單側(cè)參考單元、第一單側(cè)保護單元、待檢測單元、第二單側(cè)保護單元和第二單側(cè)參考單元待檢測單元從左到右依次排列，如圖2所示。

參照圖2，為使用本發(fā)明方法進行恒虛警(CFAR)檢測時的簡單流程示意圖；在圖2中，待檢測單元兩側(cè)各自包括N個回波數(shù)據(jù)，且待檢測單元兩側(cè)各自包括的N個回波數(shù)據(jù)分別為設(shè)定的恒虛警檢測CFAR的保護單元，并分別記為第一單側(cè)保護單元和第二單側(cè)保護單元，分別為第一單側(cè)保護單元中的N個回波數(shù)據(jù)和第二單側(cè)保護單元中的N個回波數(shù)據(jù)；第一單側(cè)保護單元的左側(cè)為第一單側(cè)參考單元，所述第一單側(cè)參考單元包含M₁個回波數(shù)據(jù)；第二單側(cè)保護單元的右側(cè)為第二單側(cè)參考單元，所述第二單側(cè)參考單元包含M₁個回波數(shù)據(jù)；其中第一單側(cè)參考單元包含的M₁個回波數(shù)據(jù)和第二單側(cè)參考單元包含的M₁個回波數(shù)據(jù)分別為設(shè)定的恒虛警檢測CFAR的參考單元；然后分別將第一單側(cè)參考單元記為參考滑窗A，將第二單側(cè)參考單元記為參考滑窗B，參考滑窗A和參考滑窗B各自包含M₁個參考單元，且M₁個回波數(shù)據(jù)與M₁個參考單元一一對應(yīng)；N'＝N+M₁，N和M₁分別為大于0的正整數(shù)；圖2中D為待檢測單元內(nèi)的雷達回波數(shù)據(jù)模值。

分別計算參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_A1、參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_B1、參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的方差和參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的方差其表達式分別為：

其中，i∈{1,2,…,M₁}，x_Ai為參考滑窗A內(nèi)第i個參考單元的雷達回波數(shù)據(jù)，x_Bi為參考滑窗B內(nèi)第i個參考單元的雷達回波數(shù)據(jù)內(nèi)參考單元的雷達回波數(shù)據(jù)，M₁為參考滑窗A和參考滑窗B各自包含的參考單元個數(shù)，M₁為大于0的正整數(shù)，∑為求和符號。

步驟2，根據(jù)參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_A1、參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_B1、參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的方差和參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的方差分別計算參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的可變性參數(shù)VI_A、參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的可變性參數(shù)VI_B和參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_A1與參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_B1的比率MR，其表達式分別為：

步驟3，分別設(shè)定可變性參數(shù)門限K_VI和均值比率門限K_MR，并根據(jù)參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的可變性參數(shù)VI_A、參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的可變性參數(shù)VI_B和參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_A1與參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_B1的比率MR，得到雷達回波數(shù)據(jù)內(nèi)雜波的參考電平。

具體的，參照圖3，為使用本發(fā)明方法得到雷達回波數(shù)據(jù)內(nèi)雜波的參考電平的過程示意圖；分別設(shè)定可變性參數(shù)門限K_VI和均值比率門限K_MR，本實施例取經(jīng)驗值K_VI＝4.76，K_MR＝1.806；并根據(jù)參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的可變性參數(shù)VI_A、參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的可變性參數(shù)VI_B和參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_A1與參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_B1的比率MR進行如下判斷，其子步驟為：

(3a)若VI_A≤K_VI且VI_B>K_VI，則選擇單側(cè)單元平均恒虛警方法(CACFAR)作為雷達目標(biāo)的檢測方法，并將參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_A1作為雷達回波數(shù)據(jù)內(nèi)雜波的參考電平。

(3b)若VI_A>K_VI且VI_B≤K_VI；則選擇單側(cè)單元平均恒虛警方法(CACFAR)作為雷達目標(biāo)的檢測方法，并將參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_B1作為雷達回波數(shù)據(jù)內(nèi)雜波的參考電平。

(3c)若VI_A>K_VI且VI_B>K_VI，則選擇單元平均選小恒虛警方法(SOCFAR)作為雷達目標(biāo)的檢測方法，并將參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_A1和參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_B1中的較小值作為雷達回波數(shù)據(jù)內(nèi)雜波的參考電平。

(3d)若VI_A≤K_VI、VI_B≤K_VI且則選擇單元平均恒虛警方法(CACFAR)作為雷達目標(biāo)的檢測方法，并將參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_A1和參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_B1的平均作為雷達回波數(shù)據(jù)內(nèi)雜波的參考電平。

(3e)若VI_A≤K_VI、VI_B≤K_VI且MR>K_MR，或VI_A≤K_VI、VI_B≤K_VI且MR<K^-_M¹_R，則將參考滑窗A和參考滑窗B各自包含的參考單元個數(shù)M₁分別減少至M₂，M₂<M₁，M₂為大于0的正整數(shù)。然后分別計算參考滑窗A包含的參考單元個數(shù)減少至M₂時參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_A2，以及參考滑窗B包含的參考單元個數(shù)減少至M₂時參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_B2，其表達式分別為：

i′∈{1，2，…，M₂}，x_Ai'為參考滑窗A內(nèi)第i'個參考單元的雷達回波數(shù)據(jù)，x_Bi'為參考滑窗B內(nèi)第i'個參考單元的雷達回波數(shù)據(jù)，M₂<M₁，M₁為參考滑窗A和參考滑窗B各自包含的參考單元個數(shù)，M₂為大于0的正整數(shù)，∑為求和符號，上標(biāo)-1表示求逆操作。

然后利用參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_A1和參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_B1，計算得到雷達回波數(shù)據(jù)內(nèi)雜波的參考電平。

(3e.1)根據(jù)參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_A1、參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_B1、參考滑窗A包含的參考單元個數(shù)減少至M₂時參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_A2，以及參考滑窗B包含的參考單元個數(shù)減少至M₂時參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_B2，分別計算得到參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值變化參數(shù)CM_A和參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值變化參數(shù)CM_B，

(3e.2)設(shè)定均值變化參數(shù)門限K_CM，本實施例取經(jīng)驗值K_CM＝0.6；若且或CM_B>K_CM，則選擇單側(cè)單元平均恒虛警方法(CACFAR)作為雷達目標(biāo)的檢測方法，并將參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)的均值μ_A1作為雷達回波數(shù)據(jù)內(nèi)雜波的參考電平。

(3e.3)若或CM_A>K_CM，且則選擇單側(cè)單元平均恒虛警方法(CACFAR)作為雷達目標(biāo)的檢測方法，并將參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_B1作為雷達回波數(shù)據(jù)內(nèi)雜波的參考電平。

(3e.4)若或CM_A>K_CM，且或CM_B>K_CM，則選擇單元平均選大恒虛警方法(GOCFAR)作為雷達目標(biāo)的檢測方法，并將參考滑窗A內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_A1和參考滑窗B內(nèi)雷達回波數(shù)據(jù)模值的均值μ_B1中的較大值作為雷達回波數(shù)據(jù)內(nèi)雜波的參考電平；上標(biāo)-1表示求逆操作。

步驟4，設(shè)定恒虛警檢測CFAR門限系數(shù)K₀，本實施例取經(jīng)驗值K₀＝4.5；然后將雷達回波數(shù)據(jù)內(nèi)雜波的參考電平與設(shè)定的恒虛警檢測CFAR門限系數(shù)K₀相乘，并將得到的乘積與待檢測單元內(nèi)的雷達回波數(shù)據(jù)模值相比較，得到恒虛警檢測CFAR檢測結(jié)果：

若待檢測單元內(nèi)的雷達回波數(shù)據(jù)模值大于所述得到的乘積值，則表明待檢測單元中包含雷達目標(biāo)；反之若待檢測單元內(nèi)的雷達回波數(shù)據(jù)模值小于或等于所述得到的乘積值，則表明待檢測單元中沒有雷達目標(biāo)。

通過以下計算機仿真對本發(fā)明效果作進一步驗證說明：

對于恒虛警率檢測時，本身有雷達目標(biāo)并檢測到目標(biāo)稱為檢測概率，本身沒有目標(biāo)檢測到目標(biāo)稱為虛警概率，而本身有雷達目標(biāo)未檢測到目標(biāo)稱為漏警概率；本發(fā)明方法主要是改進原可變性指示算法在雜波邊緣的特性，因此，在雜波邊緣附近人為設(shè)置雷達目標(biāo)，在不同雷達目標(biāo)與雜波邊緣距離和不同雜噪比下用原算法和CM算法分別進行檢測，蒙特卡洛仿真5000次，分別計算檢測概率和虛警概率；仿真時雷達目標(biāo)和雜波環(huán)境的幅度示意分別參見圖4(a)、圖4(b)、圖5(a)和圖5(b)。

仿真條件：設(shè)近距離處為雜波區(qū)，遠距離處為非雜波區(qū)，各采樣10000個距離單元；待檢測單元兩側(cè)各自包含的保護單元個數(shù)N＝16，參考滑窗A和參考滑窗B各自包含的參考單元個數(shù)M₁＝32，參考滑窗A和參考滑窗B各自包含的參考單元個數(shù)M₁分別減少至M₂，M₂＝16或M₂＝8；設(shè)定的設(shè)定可變性參數(shù)門限K_VI＝4.76，設(shè)定的均值比率門限K_MR＝1.806(根據(jù)原可變性指示算法參考文獻選取)；設(shè)定的設(shè)定均值變化參數(shù)門限K_CM＝0.6(根據(jù)經(jīng)驗值選取)；信雜噪比SCNR＝15dB，設(shè)定的恒虛警檢測CFAR門限系數(shù)K₀＝4.5(約15dB)。

仿真1：雷達目標(biāo)離雜波邊緣距離不同時兩種算法性能對比

1.1)為驗證雷達目標(biāo)相對于雜波邊緣位于不同位置時原算法和CM算法檢測的性能，在遠距離弱雜波區(qū)雜噪比6dB(K分布雜波尺度參數(shù)等于1)近距離強雜波區(qū)雜噪比18dB或25dB(K分布雜波尺度參數(shù)分別等于2或3)；雷達目標(biāo)位于弱雜波區(qū)M₂＝8、雷達目標(biāo)位于弱雜波區(qū)M₂＝16和雷達目標(biāo)位于強雜波區(qū)M₂＝8、雷達目標(biāo)位于強雜波區(qū)M₂＝16，檢測概率結(jié)果如圖6(a)、6(b)和圖8(a)、8(b)所示；其中強雜波區(qū)為K分布雜波尺度參數(shù)a>1的區(qū)域，弱雜波區(qū)為K分布雜波尺度參數(shù)a∈[0,1]的區(qū)域。

1.2)為驗證雷達目標(biāo)相對于雜波邊緣位于不同位置時原算法和CM算法檢測的性能，在遠距離弱雜波區(qū)雜噪比6dB(K分布雜波尺度參數(shù)等于1)近距離強雜波區(qū)雜噪比18dB或25dB(K分布雜波尺度參數(shù)分別等于2或3)；雷達目標(biāo)位于弱雜波區(qū)M₂＝8、雷達目標(biāo)位于弱雜波區(qū)M₂＝16和雷達目標(biāo)位于強雜波區(qū)M₂＝8、雷達目標(biāo)位于強雜波區(qū)M₂＝16，虛警概率結(jié)果如圖7(a)、7(b)和圖9(a)、9(b)所示。

由以上仿真可知，當(dāng)雷達目標(biāo)位于雜波邊緣附近時，隨著雷達目標(biāo)的位置變化，CM算法相對于原算法在虛警概率幾乎不變(最大不超過1％)的情況下，大大提高了檢測概率。

仿真2：不同雜噪比下兩種算法性能對比

2.1)為驗證不同雜噪比下兩種算法性能，固定目標(biāo)距離雜波邊緣32個距離單元，設(shè)近距離為雜波區(qū)，雜噪比在10dB-30dB之間變化；遠距離為非雜波區(qū)，僅含噪聲，兩側(cè)的噪聲功率相同；雷達目標(biāo)位于非雜波區(qū)M₂＝8、雷達目標(biāo)位于非雜波區(qū)M₂＝16和雷達目標(biāo)位于雜波區(qū)M₂＝8、雷達目標(biāo)位于雜波區(qū)M₂＝16，檢測概率結(jié)果如圖10(a)、10(b)和圖12(a)、12(b)所示；其中非雜波區(qū)為僅含高斯白噪聲、不含雜波的區(qū)域，雜波區(qū)為包含高斯白噪聲和雜波、且雜噪比在10-30dB之間的區(qū)域。

2.2)為驗證不同雜噪比下兩種算法性能，固定雷達目標(biāo)距離雜波邊緣32個距離單元，設(shè)近距離為雜波區(qū)，雜噪比在10dB-30dB之間變化；遠距離為非雜波區(qū)，僅含噪聲，兩側(cè)的噪聲功率相同；雷達目標(biāo)位于非雜波區(qū)M₂＝8、雷達目標(biāo)位于非雜波區(qū)M₂＝16和雷達目標(biāo)位于雜波區(qū)M₂＝8、雷達目標(biāo)位于雜波區(qū)M₂＝16，檢測概率結(jié)果如圖11(a)、11(b)和圖13(a)、13(b)所示。

由以上仿真可知，當(dāng)雷達目標(biāo)位于雜波邊緣附近，隨雜噪比變化，本發(fā)明相對于原可變性指示算法在虛警概率幾乎不變(最大不超過5％)的情況下，大大提高了檢測概率。

以上所述，僅為本發(fā)明的具體實施方式，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護范圍應(yīng)以所述權(quán)利要求的保護范圍為準(zhǔn)。