技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置及輸入數(shù)據(jù)的驗(yàn)證方法，能夠?qū)耐獠慷俗訉?dǎo)入內(nèi)部的數(shù)據(jù)進(jìn)行驗(yàn)證。本發(fā)明的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置具備輸入或輸出數(shù)據(jù)的外部輸入/輸出端子、存儲(chǔ)器陣列(110)以及頁(yè)面緩沖器/讀出電路(170)。頁(yè)面緩沖器/讀出電路(170)存儲(chǔ)從外部輸入/輸出端子輸入的輸入數(shù)據(jù)，所存儲(chǔ)的輸入數(shù)據(jù)可編程至存儲(chǔ)器陣列(110)中。進(jìn)而，半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置具備比較電路(132)，該比較電路(132)對(duì)存儲(chǔ)于頁(yè)面緩沖器/讀出電路(170)中的輸入數(shù)據(jù)與從頁(yè)面緩沖器/讀出電路(170)讀出的輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。據(jù)此，本發(fā)明技術(shù)方案能夠驗(yàn)證輸入數(shù)據(jù)是否被正確存儲(chǔ)于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部件中。

技術(shù)研發(fā)人員：小嶋英充
受保護(hù)的技術(shù)使用者：華邦電子股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2016.07.08
技術(shù)公布日：2017.09.12