一種電路板測試電路以及終端的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種電路板測試電路以及終端。
【背景技術(shù)】
[0002]PCB (Printed Circuit Board，印制電路板)是電子元器件的支撐體，可采用電子印刷術(shù)在PCB上分布信號走線，避免人工接線。PCB在生產(chǎn)的過程中通常會預(yù)留測試點，即在信號走線的預(yù)設(shè)區(qū)域連接一根導(dǎo)線，導(dǎo)線的另一端作為測試點，以便在調(diào)試或者維修等過程中通過測試點進(jìn)行測試。測試點的數(shù)目較多將影響信號走線的分布難度，甚至破壞信號的完整性，為了解決上述技術(shù)問題，可增大PCB空間。隨著終端技術(shù)的發(fā)展，市場上的終端越來越薄，用戶對終端的電池容量的需求也在增大，給PCB空間帶來了一定限制。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]本實用新型實施例提供一種電路板測試電路以及終端，在不增大PCB空間的情況下，減少信號走線的分布難度。
[0004]本實用新型實施例第一方面提供了一種電路板測試電路，包括PCB以及分布于所述PCB上的傳輸信號的信號走線，其特征在于，所述信號走線上分布有一個或一個以上的加粗的測試段，所述信號走線上的測試段全部或部分裸露于所述PCB表面。
[0005]本實用新型實施例第二方面提供了一種終端，可以包括第一方面提供的電路板測試電路。
[0006]實施本實用新型實施例中，信號走線上分布有一個或一個以上的加粗的測試段，信號走線上的測試段全部或部分裸露于PCB表面，以便于通過測試段進(jìn)行測試。相較在信號走線的預(yù)設(shè)區(qū)域連接一根導(dǎo)線，導(dǎo)線的另一端作為測試點，以便通過測試點進(jìn)行測試，本實用新型實施例可在不增大PCB空間的情況下，減少信號走線的分布難度。
【附圖說明】
[0007]為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本實用新型的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0008]圖1是本實用新型實施例提供的一種電路板測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0009]下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本實用新型的一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├绢I(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護(hù)的范圍。
[0010]本實用新型提供了一種電路板測試電路，可在不增大PCB空間的情況下，減少信號走線的分布難度。以下分別進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0011]請參考圖1，是本實用新型實施例提供的一種電路板測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖，包括PCB以及分布于PCB上的傳輸信號的信號走線，其特征在于，信號走線上分布有一個或一個以上的加粗的測試段，信號走線上的測試段全部或部分裸露于PCB表面。
[0012]信號走線上的測試段全部或部分裸露于PCB表面，以便通過裸露的測試段進(jìn)行測試。例如，可以對測試段的保護(hù)層進(jìn)行切割，將位于保護(hù)層之下的測試段裸露于PCB表面，等等。
[0013]在可選實施例中，測試段在信號走線上的位置位于信號走線與相鄰的最接近的信號走線之間的距離最遠(yuǎn)的位置。
[0014]具體的，可以獲取信號走線在PCB上的分布位置，根據(jù)信號走線在PCB上的分布位置，確定測試段，其中測試段在信號走線上的位置位于信號走線與相鄰的最接近的信號走線之間的距離最遠(yuǎn)的位置。測試段在信號走線上的位置位于信號走線分布的濃密度較低的位置，以便于通過測試段進(jìn)行測試，并減少信號走線的分布難度，不破壞信號的完整性。
[0015]在可選實施例中，信號走線上的測試段全部或部分裸露于PCB表面，具體為:
[0016]信號走線上的測試段全部或部分通過漏銅的方式裸露于PCB表面。
[0017]具體的，信號走線可以由銅(導(dǎo)電體)組成，則可以將測試段的全部或部分銅裸露于PCB表面。
[0018]在可選實施例中，測試段的最大寬度為1.5mm。測試段的寬度大于第一預(yù)設(shè)門限值時，將與該信號走線相鄰的最接近的信號走線導(dǎo)通，破壞信號的完整性，并且測試段的寬度大于第一預(yù)設(shè)門限值時，探針與測試段進(jìn)行接觸的面積固定，通過測試段進(jìn)行測試的工作效率保持不變。另外，加粗的測試段的成本將增高。可以對測試段設(shè)定最大寬度，測試段的最大寬度為1.5_時，通過測試段進(jìn)行測試的工作效率較高，不破壞信號的完整性，同時測試段的成本較低。
[0019]在可選實施例中，測試段的最小寬度為0.5mm。測試段的寬度較小時，探針與測試段接觸的面積較小，無法有效通過測試段進(jìn)行測試，則可以對測試段設(shè)定最小寬度，測試段的最小寬度為0.5mm時，以便提高通過測試段進(jìn)行測試的工作效率。
[0020]在可選實施例中，信號走線上分布有一個或一個以上的加粗的測試段，具體為:
[0021]信號走線的分支數(shù)目為N條時，信號走線上分布的測試段的數(shù)目為N+2個，其中N為自然數(shù)。
[0022]例如，信號走線不存在分支，則在信號走線上分布的測試段的數(shù)目可以為2個，以便通過上述測試段對該信號走線進(jìn)行測試。又如，信號走線的分支數(shù)目為I條時，則在信號走線上分布的測試段的數(shù)目可以為3個，以便通過2個測試段對該信號走線的主線的一端與該信號走線的分支之間的信號走線進(jìn)行測試，通過2個測試段對該信號走線的主線的另一端與該信號走線的分支之間的信號走線進(jìn)行測試，并通過2個測試段對該信號走線的主線進(jìn)行測試。需要指出的是，本實用新型實施例中的信號走線的分支數(shù)目包含但不局限于O條或