一種高效sim卡測(cè)試電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及自動(dòng)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種高效S頂卡測(cè)試電路。
【背景技術(shù)】
[0002]S頂卡，是移動(dòng)通信領(lǐng)域唯一的客戶身份標(biāo)識(shí)。它在芯片卡上存儲(chǔ)了數(shù)字移動(dòng)電話客戶的信息，加密密鑰等內(nèi)容，可供移動(dòng)通信網(wǎng)絡(luò)對(duì)客戶身份進(jìn)行鑒別，并對(duì)客戶通話時(shí)的語(yǔ)音信息進(jìn)行加密。
[0003]在對(duì)S頂卡的測(cè)試過(guò)程中，需要由電源對(duì)S頂卡進(jìn)行供電，一般的，一個(gè)電源僅能夠給一個(gè)檢測(cè)支路(檢測(cè)支路連接S頂卡以對(duì)S頂卡通電檢測(cè))供電，假如電源為多個(gè)檢測(cè)支路供電以同時(shí)測(cè)試多顆S頂芯片，那么這一批被測(cè)的S頂芯片中如果有一個(gè)是不良芯片，此時(shí)不良芯片電流過(guò)大，會(huì)拉低了其他檢測(cè)支路的工作電流，從而其他待檢測(cè)S頂芯片被誤測(cè)成不良品，降低了測(cè)試良率。故而，目前的SIM卡測(cè)試電路一般僅都采用一個(gè)電源為一個(gè)檢測(cè)支路供電。
[0004]然而，目前SIM卡檢測(cè)設(shè)備中能夠?yàn)闄z測(cè)支路供電的電源是有限的，一般是通過(guò)DSP電路來(lái)為各個(gè)檢測(cè)支路供電，而S頂卡檢測(cè)設(shè)備中的DSP電路通常為八個(gè)，這也就意味著SIM卡檢測(cè)設(shè)備最多一次性能夠檢測(cè)八個(gè)SIM卡，其效率較為低下，從而導(dǎo)致單位時(shí)間內(nèi)產(chǎn)出低、芯片測(cè)試成本增加。
[0005]另一方面，目前DSP電路的供電端一般能夠提供的電流比較大，可達(dá)到2A，而S頂卡的工作電流(即檢測(cè)支路的工作電流)通常為10mA，因此，目前采用一個(gè)DSP電路來(lái)為一個(gè)檢測(cè)支路供電實(shí)際上也造成了一種檢測(cè)資源的浪費(fèi)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本實(shí)用新型的目的在于避免上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足之處而提供一種能夠有效利用SIM卡測(cè)試設(shè)備中的電源資源，提高測(cè)試效率的SIM卡測(cè)試電路。
[0007]本實(shí)用新型的目的通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
[0008]提供了一種高效S頂卡測(cè)試電路，包括DSP電路和至少兩路測(cè)試支路，每路測(cè)試支路的取電端經(jīng)可控開關(guān)從DSP電路取電，所述可控開關(guān)在其對(duì)應(yīng)的檢測(cè)支路檢測(cè)到S頂卡存在故障時(shí)斷開。
[0009]其中，每路DSP電路連接八路測(cè)試電路。
[0010]其中，所述可控開關(guān)是光耦繼電器。
[0011]其中，還包括控制電路，所述控制電路與所述可控開關(guān)連接。
[0012]其中，所述控制電路基于MAX4820型繼電器驅(qū)動(dòng)器實(shí)現(xiàn)。
[0013]其中，所述檢測(cè)支路設(shè)置有濾波電路，所述濾波電路包括并聯(lián)于檢測(cè)支路的GND端的電容和并聯(lián)于檢測(cè)支路的VCC端的電容。
[0014]本實(shí)用新型的有益效果:本實(shí)用新型提供了一種高效S頂卡測(cè)試電路，該測(cè)試電路采用的DSP電路通過(guò)可控開關(guān)為檢測(cè)支路供電，可控開關(guān)在其對(duì)應(yīng)的檢測(cè)支路檢測(cè)到SIM卡存在故障時(shí)斷開，因此避免了當(dāng)一個(gè)芯片是不良芯片時(shí)拉低其他芯片的電流的問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)一個(gè)電源同時(shí)為多個(gè)檢測(cè)支路供電，即同時(shí)測(cè)試多個(gè)SIM卡，有效的利用了 SIM卡測(cè)試設(shè)備中的電源資源，提高測(cè)試效率。
【附圖說(shuō)明】
[0015]利用附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明，但附圖中的實(shí)施例不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的任何限制，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)以下附圖獲得其它的附圖。
[0016]圖1為本實(shí)用新型一種尚效SIM卡測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)不意圖。
[0017]圖2為本實(shí)用新型一種高效S頂卡測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0018]在圖1和圖2中包括有:
[0019]I一一DSP電路、2—一可控開關(guān)、3—一測(cè)試電路、4一一濾波電路。
【具體實(shí)施方式】
[0020]結(jié)合以下實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述。
[0021]本實(shí)用新型一種高效S頂卡測(cè)試電路3的【具體實(shí)施方式】，如圖1所示，包括DSP電路I (DPS:Devices Power Supply設(shè)備電源)和八路測(cè)試電路3，每路測(cè)試支路的取電端經(jīng)可控開關(guān)2從DSP電路I取電，所述可控開關(guān)2在其對(duì)應(yīng)的檢測(cè)支路檢測(cè)到S頂卡存在故障時(shí)斷開。其中，可控開關(guān)2是光耦繼電器。可控開關(guān)2由控制電路控制其通/斷。如圖2所示，所述控制電路基于MAX4820型繼電器驅(qū)動(dòng)器實(shí)現(xiàn)，用于提供八路控制信號(hào)，以控制八個(gè)可控開關(guān)2的通/斷。
[0022]上述該測(cè)試電路3采用的DSP電路I通過(guò)可控開關(guān)2為檢測(cè)支路供電，可控開關(guān)2在其對(duì)應(yīng)的檢測(cè)支路檢測(cè)到SIM卡存在故障時(shí)斷開，因此避免了當(dāng)一個(gè)芯片是不良芯片時(shí)拉低其他芯片的電流的問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)一個(gè)電源同時(shí)為多個(gè)檢測(cè)支路供電，即同時(shí)測(cè)試多個(gè)SIM卡，有效的利用了 SIM卡測(cè)試設(shè)備中的電源資源，提高測(cè)試效率。
[0023]另外，本實(shí)施例采用光耦繼電器是由于光耦繼電器的開關(guān)時(shí)間比機(jī)械繼電器的開關(guān)時(shí)間快，在實(shí)際的測(cè)試中因?yàn)樾枰l繁的進(jìn)行繼電器的切換，使用光耦繼電器可以節(jié)省測(cè)試時(shí)間；光耦繼電器的體積小，容易進(jìn)行PCB的布局。具體的，根據(jù)實(shí)際的情況，可以選用合適的可控開關(guān)2，例如機(jī)械式繼電器。
[0024]特別的，本實(shí)施例的檢測(cè)支路設(shè)置有濾波電路4，所述濾波電路4包括并聯(lián)于檢測(cè)支路的GND端的電容和并聯(lián)于檢測(cè)支路的VCC端的電容。使測(cè)試機(jī)提供給被測(cè)芯片的電源更加穩(wěn)定，提高了測(cè)試的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。
[0025]最后應(yīng)當(dāng)說(shuō)明的是，以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)方案，而非對(duì)本實(shí)用新型保護(hù)范圍的限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作了詳細(xì)地說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案的實(shí)質(zhì)和范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種高效S頂卡測(cè)試電路，其特征在于:包括DSP電路和至少兩路測(cè)試支路，每路測(cè)試支路的取電端經(jīng)可控開關(guān)從DSP電路取電，所述可控開關(guān)在其對(duì)應(yīng)的檢測(cè)支路檢測(cè)到SIM卡存在故障時(shí)斷開。2.如權(quán)利要求1所述的一種高效SIM卡測(cè)試電路，其特征在于:所述DSP電路連接八路測(cè)試電路。3.如權(quán)利要求1所述的一種高效SIM卡測(cè)試電路，其特征在于:所述可控開關(guān)是光耦繼電器。4.如權(quán)利要求1所述的一種高效S頂卡測(cè)試電路，其特征在于:還包括控制電路，所述控制電路與所述可控開關(guān)連接。5.如權(quán)利要求4所述的一種高效SIM卡測(cè)試電路，其特征在于:所述控制電路基于MAX4820型繼電器驅(qū)動(dòng)器實(shí)現(xiàn)。6.如權(quán)利要求1所述的一種高效S頂卡測(cè)試電路，其特征在于:所述檢測(cè)支路設(shè)置有濾波電路，所述濾波電路包括并聯(lián)于檢測(cè)支路的GND端的電容和并聯(lián)于檢測(cè)支路的VCC端的電容。
【專利摘要】本實(shí)用新型提供了一種高效SIM卡測(cè)試電路，該測(cè)試電路采用的DSP電路通過(guò)可控開關(guān)為檢測(cè)支路供電，可控開關(guān)在其對(duì)應(yīng)的檢測(cè)支路檢測(cè)到SIM卡存在故障時(shí)斷開，因此避免了當(dāng)一個(gè)芯片是不良芯片時(shí)拉低其他芯片的電流的問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)一個(gè)電源同時(shí)為多個(gè)檢測(cè)支路供電，即同時(shí)測(cè)試多個(gè)SIM卡，有效的利用了SIM卡測(cè)試設(shè)備中的電源資源，提高測(cè)試效率。
【IPC分類】H04M1/24
【公開號(hào)】CN204887137
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520371283
【發(fā)明人】陳永洪
【申請(qǐng)人】廣東利揚(yáng)芯片測(cè)試股份有限公司
【公開日】2015年12月16日
【申請(qǐng)日】2015年6月2日