電路板及其多功能射頻測試座的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及射頻通信領(lǐng)域，尤其涉及一種電路板及其多功能射頻測試座。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著移動通信終端產(chǎn)品的超薄化和大屏化發(fā)展，在產(chǎn)品有限的內(nèi)部空間中需要容 置電池、電路板、顯示屏、天線等眾多功能性模塊，要保證盡量大的電池容量，就意味著在現(xiàn) 有的設(shè)計空間中，留給電路板的空間越來越小，如何在有限的電路板空間上集成更多的功 能是目前移動通信終端產(chǎn)品設(shè)計中需要考慮的問題。為方便調(diào)試，在電路板電路布局時，一 般會預(yù)留較多數(shù)量的調(diào)試點，用于產(chǎn)線調(diào)試，所述調(diào)試點的存在無疑會占用一部分的電路 板面積，不利于有限空間下的電路布局。此外，為方便進行射頻性能測試，電路板上還預(yù)留 有射頻測試座。所述調(diào)試點和射頻測試座的設(shè)置均是為了方便產(chǎn)線調(diào)試，因此不能去除，為 了節(jié)省電路板布局空間，需要對所述調(diào)試點和射頻測試座的布局進行優(yōu)化。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 鑒于W上情況，有必要提供一種多功能射頻測試座。
[0004] 另，還有必要提供一種應(yīng)用該多功能射頻測試座的電路板。
[0005] -種多功能射頻測試座，用于無線終端產(chǎn)品射頻性能測試或基帶調(diào)試時的測試信 號輸出，該多功能射頻測試座包括基座、絕緣層、輸入端、輸出端和中也導(dǎo)體，該基座為一由 導(dǎo)電金屬材料制成的兩端開口且中空的圓柱形凸臺結(jié)構(gòu)，該基座內(nèi)壁及底端上設(shè)置有絕緣 層，該輸入端從該基座的底端引入，并沿該基座內(nèi)壁上的絕緣層垂直向上延伸一段距離后 水平伸出，構(gòu)成一息臂，該輸出端與該輸入端相互對稱地設(shè)置，該輸出端的息臂下端設(shè)有一 凸點，該中也導(dǎo)體為一與該基座同圓也的圓形金屬片，其一端與該輸入端的息臂連接，另一 端在該輸入端的息臂的彈力作用下與該輸出端上的凸點彈性接觸。
[0006] 一種電路板，包括射頻功率放大器和基帶芯片，該電路板還包括多功能射頻測試 座，該多功能射頻測試座包括基座、絕緣層、輸入端、輸出端和中也導(dǎo)體，該基座為一由導(dǎo)電 金屬材料制成的兩端開口且中空的圓柱形凸臺結(jié)構(gòu)，該基座內(nèi)壁及底端上設(shè)置有絕緣層， 該輸入端從該基座的底端引入，并沿該基座內(nèi)壁上的絕緣層垂直向上延伸一段距離后水平 伸出，構(gòu)成一息臂，該輸出端與該輸入端相互對稱地設(shè)置，該輸出端的息臂下端設(shè)有一凸 點，該中也導(dǎo)體為一與該基座同圓也的圓形金屬片，其一端與該輸入端的息臂連接，另一端 在該輸入端的息臂的彈力作用下與該輸出端上的凸點彈性接觸。
[0007] 所述多功能射頻測試座通過將所述基座作為基帶調(diào)試信號的輸出點，有效減少了 單獨基帶調(diào)試點的存在，提升了該電路板的空間利用率。
【附圖說明】
[0008] 圖1為本發(fā)明較佳實施例的多功能射頻巧IJ試座的俯視圖。
[0009] 圖2為圖1所示多功能射頻測試座的II-II剖面圖。
[0010] 圖3為本發(fā)明較佳實施例的電路板的原理框圖。
[0011] 主要元件符號說明
如下【具體實施方式】將結(jié)合上述附圖進一步說明本發(fā)明。
【具體實施方式】
[0012] 請參閱圖1，本發(fā)明較佳實施例提供一種多功能射頻測試座100,該射頻測試座 100設(shè)置于無線終端產(chǎn)品的電路板上，可兼容射頻性能測試W及基帶調(diào)試功能，用于無線終 端產(chǎn)品射頻性能測試或基帶調(diào)試時的測試信號輸出。
[0013] 請結(jié)合參閱圖2,該射頻測試座100包括基座10、絕緣層20、輸入端30、輸出端40 和中也導(dǎo)體50。該基座10為一由導(dǎo)電金屬材料制成的兩端開口且中空的圓柱形凸臺結(jié)構(gòu)， 其頂端直徑小于底端直徑，從而在該基座10底端內(nèi)部形成一較大的容置空間11。該基座 10內(nèi)壁及底端上設(shè)置有絕緣層20。該輸入端30為一金屬導(dǎo)電片，該輸入端30從該基座10 底端引入該容置空間11，并沿該基座10內(nèi)壁上的絕緣層20垂直向上延伸一段距離后水平 伸出，構(gòu)成一息臂。該輸出端40與該輸入端30相互對稱地設(shè)置于該容置空間11內(nèi)，并從 該基座10底端引出，該輸出端40的息臂下端設(shè)有一凸點41。該中也導(dǎo)體50為一圓形金屬 片，其一端與該輸入端30的息臂連接，另一端在該輸入端30的息臂的彈力作用下與該輸出 端40上的凸點41彈性接觸，該中也導(dǎo)體50與該基座10同圓也設(shè)置?？蒞理解，對于高頻 信號而言，該基座10和該中也導(dǎo)體50之間等效為一電容；而對于低頻信號，該基座10和該 中也導(dǎo)體50之間等效為開路。
[0014] 請結(jié)合參閱圖3,本發(fā)明還提供一種應(yīng)用該多功能射頻測試座的電路板200,該電 路板200包括多功能射頻測試座100、射頻功率放大器60和基帶芯片70。在對該電路板200 進行射頻性能測試時，該多功能射頻測試座100的中也導(dǎo)體50與該射頻功率放大器60的 射頻輸出端PA_0UT連接，用于輸出射頻測試信號，該基座10通過一電容C接地，根據(jù)電容 通交流阻直流、通高頻阻低頻的特性，在射頻性能測試時，該基座10即為射頻信號的參考 地。當射頻測試插頭插入該多功能射頻測試座100時，射頻測試插頭的探針頂開該中也導(dǎo) 體50與該多功能射頻測試座100的輸出端40的連接，從而使射頻測試信號從該中也導(dǎo)體 50輸出。在對該電路板200進行基帶調(diào)試時，該基座10與該基帶芯片70的調(diào)試接口Debug 連接，對于低頻的調(diào)試信號，該基座10與地之間的電容C相當于開路，因此，該基座10即為 基帶信號的調(diào)試點，用于輸出基帶調(diào)試信號。
[0015] 所述多功能射頻測試座100通過合理利用該基座10,實現(xiàn)基帶芯片調(diào)試的功能， 有效減少了單獨調(diào)試點的存在，提升了電路板200的空間利用率。
[0016] W上所述，僅為本發(fā)明的較佳實施例，并非是對本發(fā)明作任何形式上的限定。另 夕F，本領(lǐng)域技術(shù)人員還可在本發(fā)明精神內(nèi)做其它變化，當然，該些依據(jù)本發(fā)明精神所做的變 化，都應(yīng)包含在本發(fā)明所要求保護的范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1. 一種多功能射頻測試座，用于無線終端產(chǎn)品射頻性能測試或基帶調(diào)試時的測試信號 輸出，其特征在于：該多功能射頻測試座包括基座、絕緣層、輸入端、輸出端和中心導(dǎo)體，該 基座為一由導(dǎo)電金屬材料制成的兩端開口且中空的圓柱形凸臺結(jié)構(gòu)，該基座內(nèi)壁及底端上 設(shè)置有絕緣層，該輸入端從該基座的底端引入，并沿該基座內(nèi)壁上的絕緣層垂直向上延伸 一段距離后水平伸出，構(gòu)成一懸臂，該輸出端與該輸入端相互對稱地設(shè)置，該輸出端的懸臂 下端設(shè)有一凸點，該中心導(dǎo)體為一與該基座同圓心的圓形金屬片，其一端與該輸入端的懸 臂連接，另一端在該輸入端的懸臂的彈力作用下與該輸出端上的凸點彈性接觸。2. 如權(quán)利要求1所述的多功能射頻測試座，其特征在于：所述基座通過一電容接地。3. 如權(quán)利要求2所述的多功能射頻測試座，其特征在于：當所述多功能射頻測試座用 于射頻性能測試時，該中心導(dǎo)體為射頻性能測試點，用于輸出射頻測試信號，該基座為射頻 測試信號的參考地。4. 如權(quán)利要求2所述的多功能射頻測試座，其特征在于：當所述多功能射頻測試座用 于基帶調(diào)試時，該基座為基帶調(diào)試點，用于輸出基帶調(diào)試信號。5. -種電路板，包括射頻功率放大器和基帶芯片，其特征在于：該電路板還包括如權(quán) 利要求1-4任意一項所述的多功能射頻測試座。6. 如權(quán)利要求5所述的電路板，其特征在于：所述射頻功率放大器包括射頻輸出端，該 射頻輸出端與所述多功能射頻測試座的輸入端連接。7. 如權(quán)利要求5所述的電路板，其特征在于：所述基帶芯片包括調(diào)試接口，該調(diào)試接口 與所述多功能射頻測試座的基座連接。
【專利摘要】一種多功能射頻測試座，用于射頻性能測試或基帶調(diào)試時的測試信號輸出，包括基座、絕緣層、輸入端、輸出端和中心導(dǎo)體，該基座為一由導(dǎo)電金屬材料制成的兩端開口且中空的圓柱形凸臺結(jié)構(gòu)，該基座內(nèi)壁及底端上設(shè)置有絕緣層，該輸入端從該基座的底端引入，并沿該基座內(nèi)壁上的絕緣層垂直向上延伸一段距離后水平伸出，構(gòu)成一懸臂，該輸出端與該輸入端相互對稱地設(shè)置，該輸出端的懸臂下端設(shè)有一凸點，該中心導(dǎo)體為一與該基座同圓心的圓形金屬片，其一端與該輸入端的懸臂連接，另一端在該輸入端的懸臂的彈力作用下與該輸出端上的凸點彈性接觸。另，本發(fā)明還提供一種應(yīng)用該多功能射頻測試座的電路板。該多功能射頻測試座提升了該電路板的空間利用率。
【IPC分類】H04B17/20, H04B17/10
【公開號】CN104901750
【申請?zhí)枴緾N201410083063
【發(fā)明人】王曉冬, 沙波
【申請人】深圳富泰宏精密工業(yè)有限公司, 群邁通訊股份有限公司
【公開日】2015年9月9日
【申請日】2014年3月7日