本發(fā)明屬于航空發(fā)動(dòng)機(jī)控制系統(tǒng)開(kāi)發(fā)領(lǐng)域技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種航空發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試方法。

背景技術(shù)：

發(fā)動(dòng)機(jī)控制器是發(fā)動(dòng)機(jī)管理系統(tǒng)的控制核心，其基本功能是以發(fā)動(dòng)機(jī)轉(zhuǎn)速和負(fù)荷為基礎(chǔ)，采集傳感器信號(hào)，經(jīng)過(guò)數(shù)學(xué)模型計(jì)算處理后將控制指令發(fā)送至相關(guān)執(zhí)行機(jī)構(gòu)，執(zhí)行預(yù)定的控制功能，從而使發(fā)動(dòng)機(jī)在實(shí)時(shí)工況和外界工作條件下始終處于最佳的燃燒狀態(tài)。

隨著大規(guī)模集成電路的應(yīng)用，現(xiàn)代電子設(shè)備越來(lái)越復(fù)雜，一旦電子設(shè)備出現(xiàn)故障，故障檢測(cè)、故障隔離時(shí)間長(zhǎng)，維修工作量迅速增加，因此它的安全可靠運(yùn)行和快速維修就顯得極為重要。航空發(fā)動(dòng)機(jī)控制器機(jī)內(nèi)測(cè)試(以下簡(jiǎn)稱BIT)旨在依靠控制自身的電路和程序完成故障診斷、故障隔離，它能對(duì)設(shè)備/系統(tǒng)內(nèi)部的故障進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)、診斷和隔離，大大提高控制器中的故障診斷效率和準(zhǔn)確性，從而降低維護(hù)費(fèi)用，提高可靠性。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

根據(jù)以上現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提出一種航空發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試方法，這種測(cè)試方法結(jié)合硬件冗余設(shè)計(jì)及發(fā)動(dòng)機(jī)雙控制器，根據(jù)控制器的運(yùn)行狀態(tài)及駕駛員指令，實(shí)現(xiàn)對(duì)控制器硬件本身、外部輸入、執(zhí)行器的故障診斷、故障隔離。從而保證控制器能夠快速發(fā)現(xiàn)故障，保證控制器在最合理狀態(tài)運(yùn)行，提高發(fā)動(dòng)機(jī)控制的安全性能。。

為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為：一種航空發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試方法，發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試硬件包括輸入信號(hào)處理電路、輸出信號(hào)處理電路、控制器、硬件測(cè)試電路、硬件反饋電路，所述輸入輸出信號(hào)處理電路接收傳感器、開(kāi)關(guān)的信號(hào)，并對(duì)接收到的信號(hào)進(jìn)行處理，將處理過(guò)后的信號(hào)輸入到控制器，控制器根據(jù)接收到的信號(hào)判斷控制器輸入控制部分的正確性，同時(shí)控制器將接收到的信號(hào)通過(guò)軟件計(jì)算處理后輸出到輸出信號(hào)處理電路，輸出信號(hào)處理電路對(duì)輸出信號(hào)進(jìn)行處理后通過(guò)硬件反饋電路反饋到控制器，控制器結(jié)合輸入輸出及反饋信號(hào)判斷輸出控制部分的正確性。所述發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試硬件還包括分別和輸入信號(hào)處理電路連接的多通道模擬輸入電路、多通道數(shù)字輸入電路、多通道頻率輸入電路；多通道模擬輸入獲取發(fā)動(dòng)機(jī)傳感器信號(hào)，多通道數(shù)字輸入獲取發(fā)動(dòng)機(jī)外部離散輸入信號(hào)，多通道頻率輸入獲取曲軸傳感器、凸輪軸傳感器頻率輸入信號(hào)。所述發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試分為三種模式，分別為上電BIT測(cè)試、運(yùn)行BIT測(cè)試、維修BIT測(cè)試；上電BIT測(cè)試旨在控制器正常運(yùn)行之前發(fā)現(xiàn)發(fā)動(dòng)機(jī)控制系統(tǒng)存在的故障；運(yùn)行BIT測(cè)試旨在發(fā)現(xiàn)發(fā)動(dòng)機(jī)控制系統(tǒng)正常運(yùn)行時(shí)存在的故障；維修BIT測(cè)試旨在發(fā)現(xiàn)發(fā)動(dòng)機(jī)控制系統(tǒng)售后維修時(shí)存在的故障。所述上電BIT測(cè)試由控制器自動(dòng)完成或駕駛員手動(dòng)觸發(fā)完成，運(yùn)行BIT測(cè)試則由控制器自動(dòng)循環(huán)檢測(cè)，維修BIT測(cè)試由售后維修人員手動(dòng)觸發(fā)完成。所述發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試包括控制器BIT測(cè)試、輸入信號(hào)BIT測(cè)試、輸入信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試、輸出信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試、執(zhí)行器BIT測(cè)試。在發(fā)動(dòng)機(jī)控制器上電狀態(tài)，BIT測(cè)試系統(tǒng)將進(jìn)行控制器完整的MCU BIT測(cè)試、輸入信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試、輸出信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試；在發(fā)動(dòng)機(jī)控制器處于正常運(yùn)行狀態(tài)，BIT測(cè)試系統(tǒng)將進(jìn)行控制器部分MCU BIT測(cè)試、輸入信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試、輸出信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試、執(zhí)行器BIT測(cè)試；在發(fā)動(dòng)機(jī)控制器處于維修自檢狀態(tài)時(shí)，BIT測(cè)試系統(tǒng)將進(jìn)行控制器完整的MCU BIT測(cè)試、輸入信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試、輸出信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試。該方法包括上電BIT模式、運(yùn)行BIT模式、維修BIT模式；當(dāng)控制器上電后，控制器不斷檢測(cè)上電自檢開(kāi)關(guān)狀態(tài)和維修自檢開(kāi)關(guān)狀態(tài)以判斷進(jìn)入何種BIT模式。當(dāng)控制器進(jìn)入上電BIT模式后，控制器首先對(duì)MCU進(jìn)行檢測(cè)，包括MCU存儲(chǔ)、輸入輸出接口；當(dāng)MCU BIT測(cè)試結(jié)束后，控制器根據(jù)測(cè)試結(jié)果返回相應(yīng)的故障代碼；MCU BIT測(cè)試完成后，控制器使能BIT測(cè)試硬件功能，接著進(jìn)行自身輸入輸出接口進(jìn)行BIT測(cè)試，當(dāng)控制器輸入輸出接口測(cè)試結(jié)束后，控制器根據(jù)測(cè)試結(jié)果返回相應(yīng)的故障代碼，控制器輸入輸出接口測(cè)試完成后，控制器進(jìn)入運(yùn)行BIT模式。當(dāng)控制器進(jìn)入運(yùn)行BIT模式后，控制器實(shí)時(shí)檢測(cè)自檢開(kāi)關(guān)狀態(tài)，當(dāng)自檢開(kāi)關(guān)狀態(tài)有效時(shí)，控制器立即退出運(yùn)行BIT模式，進(jìn)入上電BIT模式；當(dāng)自檢開(kāi)關(guān)無(wú)效時(shí)，控制器繼續(xù)保持運(yùn)行BIT模式。

本發(fā)明有益效果是:本發(fā)明根據(jù)控制器的運(yùn)行狀態(tài)及駕駛員指令，實(shí)現(xiàn)對(duì)控制器硬件本身、外部輸入、執(zhí)行器的故障診斷、故障隔離。從而保證控制器能夠快速發(fā)現(xiàn)故障，保證控制器在最合理狀態(tài)運(yùn)行，提高發(fā)動(dòng)機(jī)控制的安全性能。

附圖說(shuō)明

下面對(duì)本說(shuō)明書(shū)附圖所表達(dá)的內(nèi)容及圖中的標(biāo)記作簡(jiǎn)要說(shuō)明：

圖1是本發(fā)明的具體實(shí)施方式的BIT測(cè)試系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)框圖。

圖2是本發(fā)明的具體實(shí)施方式的發(fā)動(dòng)機(jī)控制器結(jié)構(gòu)圖。

圖3是本發(fā)明的具體實(shí)施方式的運(yùn)行BIT測(cè)試控制器系統(tǒng)信號(hào)流向圖。

圖4是本發(fā)明的具體實(shí)施方式的上電/維修BIT測(cè)試控制器系統(tǒng)信號(hào)流向圖。

圖5是本發(fā)明的具體實(shí)施方式的控制器軟件流程框圖。

圖6是本發(fā)明的具體實(shí)施方式的控制器BIT模式切換過(guò)程。

具體實(shí)施方式

下面對(duì)照附圖，通過(guò)對(duì)實(shí)施例的描述，本發(fā)明的具體實(shí)施方式如所涉及的各構(gòu)件的形狀、構(gòu)造、各部分之間的相互位置及連接關(guān)系、各部分的作用及工作原理、制造工藝及操作使用方法等，作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明，以幫助本領(lǐng)域技術(shù)人員對(duì)本發(fā)明的發(fā)明構(gòu)思、技術(shù)方案有更完整、準(zhǔn)確和深入的理解。

特征1：BIT測(cè)試系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)

發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試硬件由三部分組成：輸入/輸出信號(hào)處理電路、硬件測(cè)試電路、硬件反饋電路。輸入輸出信號(hào)處理電路接收來(lái)自控制器(以下簡(jiǎn)稱MCU)或者傳感器、開(kāi)關(guān)信號(hào)，并對(duì)接收到的信號(hào)進(jìn)行處理，之后將處理過(guò)后的信號(hào)輸入到MCU，MCU根據(jù)接收到的信號(hào)判斷控制器輸入控制部分的正確性，同時(shí)MCU將接收到的信號(hào)通過(guò)軟件計(jì)算處理后輸出到輸出控制硬件電路，輸出控制電路對(duì)輸出信號(hào)進(jìn)行處理后通過(guò)硬件反饋電路反饋到MCU，MCU結(jié)合輸入輸出及反饋信號(hào)判斷輸出控制部分的正確性，從而實(shí)現(xiàn)控制器故障判斷，故障定位。特征2：發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試三種工作模式

發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試分為三種模式，分別為上電BIT測(cè)試、運(yùn)行BIT測(cè)試、維修BIT測(cè)試。上電BIT測(cè)試旨在控制器正常運(yùn)行之前發(fā)現(xiàn)發(fā)動(dòng)機(jī)控制系統(tǒng)存在的故障；運(yùn)行BIT測(cè)試旨在發(fā)現(xiàn)發(fā)動(dòng)機(jī)控制系統(tǒng)正常運(yùn)行時(shí)存在的故障；維修BIT測(cè)試旨在發(fā)現(xiàn)發(fā)動(dòng)機(jī)控制系統(tǒng)售后維修時(shí)存在的故障。上電BIT測(cè)試可以由控制器自動(dòng)完成，也可以由駕駛員手動(dòng)觸發(fā)完成，運(yùn)行BIT測(cè)試則由控制器自動(dòng)循環(huán)檢測(cè)，維修BIT測(cè)試必須由售后維修人員觸發(fā)完成。特征3：軟硬件全覆蓋的控制器BIT測(cè)試

發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試包括控制器MCU BIT測(cè)試、輸入信號(hào)BIT測(cè)試、輸入信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試、輸出信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試、執(zhí)行器BIT測(cè)試。它們根據(jù)控制器不同運(yùn)行狀態(tài)選擇性執(zhí)行，在發(fā)動(dòng)機(jī)控制器上電狀態(tài)，BIT測(cè)試系統(tǒng)將進(jìn)行控制器完整的MCU BIT測(cè)試、輸入信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試、輸出信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試；在發(fā)動(dòng)機(jī)控制器處于正常運(yùn)行狀態(tài)，BIT測(cè)試系統(tǒng)將進(jìn)行控制器部分MCU BIT測(cè)試、輸入信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試、輸出信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試、執(zhí)行器BIT測(cè)試；在發(fā)動(dòng)機(jī)控制器處于維修自檢狀態(tài)時(shí)，BIT測(cè)試系統(tǒng)將進(jìn)行控制器完整的MCU BIT測(cè)試、輸入信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試、輸出信號(hào)硬件調(diào)理電路BIT測(cè)試。

圖1清晰的描述了發(fā)動(dòng)機(jī)控制器BIT測(cè)試系統(tǒng)完整結(jié)構(gòu)圖，其中多通道模擬輸入獲取發(fā)動(dòng)機(jī)傳感器信號(hào)，多通道數(shù)字輸入獲取發(fā)動(dòng)機(jī)外部離散輸入信號(hào)，多通道頻率輸入獲取曲軸傳感器、凸輪軸傳感器、其他頻率輸入信號(hào)；輸入信號(hào)處理電路對(duì)所有輸入信號(hào)進(jìn)行調(diào)理，并將調(diào)理后的信號(hào)輸入到處理器；處理器根據(jù)輸入信號(hào)通過(guò)軟件控制算法得出輸出信號(hào)，輸出信號(hào)經(jīng)過(guò)輸出信號(hào)處理電路、驅(qū)動(dòng)電路驅(qū)動(dòng)執(zhí)行器輸出，同時(shí)將經(jīng)過(guò)輸出信號(hào)處理電路的輸出信號(hào)反饋到處理器進(jìn)行下一步計(jì)算和處理。

圖2描述了發(fā)動(dòng)機(jī)控制器結(jié)構(gòu)，按圖所示，進(jìn)行發(fā)動(dòng)機(jī)控制器各部分的連接：

1)處理器與信號(hào)處理與驅(qū)動(dòng)通過(guò)高速總線連接，信號(hào)調(diào)理與驅(qū)動(dòng)

2)包括開(kāi)關(guān)輸入處理、模擬輸入處理、頻率輸入處理、高邊驅(qū)動(dòng)、低邊驅(qū)動(dòng)、全橋驅(qū)動(dòng)、點(diǎn)火驅(qū)動(dòng)、噴油驅(qū)動(dòng)；

3)制作信號(hào)調(diào)理與驅(qū)動(dòng)到控制器接插件的連接線束，并實(shí)現(xiàn)連接；

4)控制器接插件連接發(fā)動(dòng)機(jī)線束接插件；

5)發(fā)動(dòng)機(jī)線束接插件連接如圖所示的各種傳感器與執(zhí)行器。

連接完成后，控制器硬件系統(tǒng)完成，控制器通過(guò)硬件與控制軟件實(shí)現(xiàn)圖3/圖4所示的系統(tǒng)信號(hào)流向圖，信號(hào)從傳感器依次經(jīng)過(guò)發(fā)動(dòng)機(jī)線束接插件、控制器接插件、信號(hào)調(diào)理與驅(qū)動(dòng)到處理器，在處理器中通過(guò)控制軟件計(jì)算需要的信號(hào)輸出，信號(hào)輸出依次經(jīng)過(guò)信號(hào)調(diào)理與驅(qū)動(dòng)、控制器接插件、發(fā)動(dòng)機(jī)線束接插件，最終達(dá)到執(zhí)行器實(shí)現(xiàn)需要的操作，實(shí)現(xiàn)發(fā)動(dòng)機(jī)控制器功能。

圖5為控制器BIT測(cè)試軟件流程框圖，描述了控制器BIT測(cè)試各個(gè)模式的完整運(yùn)行流程。當(dāng)控制器上電后，控制器不斷檢測(cè)上電自檢開(kāi)關(guān)狀態(tài)和維修自檢開(kāi)關(guān)狀態(tài)以判斷進(jìn)入何種BIT模式。

當(dāng)控制器進(jìn)入上電BIT模式后，控制器首先對(duì)MCU進(jìn)行檢測(cè)，包括MCU存儲(chǔ)、輸入輸出接口；當(dāng)MCU BIT測(cè)試結(jié)束后，控制器根據(jù)測(cè)試結(jié)果返回相應(yīng)的故障代碼；MCU BIT測(cè)試完成后，控制器使能BIT測(cè)試硬件功能，接著進(jìn)行自身輸入輸出接口進(jìn)行BIT測(cè)試，當(dāng)控制器輸入輸出接口測(cè)試結(jié)束后，控制器根據(jù)測(cè)試結(jié)果返回相應(yīng)的故障代碼，控制器輸入輸出接口測(cè)試完成后，控制器進(jìn)入運(yùn)行BIT模式。

當(dāng)控制器進(jìn)入運(yùn)行BIT模式后，控制器實(shí)時(shí)檢測(cè)自檢開(kāi)關(guān)狀態(tài)，當(dāng)自檢開(kāi)關(guān)狀態(tài)有效時(shí)，控制器立即退出運(yùn)行BIT模式，進(jìn)入上電BIT模式；當(dāng)自檢開(kāi)關(guān)無(wú)效時(shí)，控制器繼續(xù)保持運(yùn)行BIT模式。

圖6為控制BIT模式切換過(guò)程，包括上電BIT模式、運(yùn)行BIT模式、維修BIT模式之間的切換。

1.上電BIT模式切換

控制器上電后，控制器檢測(cè)自檢開(kāi)關(guān)狀態(tài)，當(dāng)自檢開(kāi)關(guān)有效時(shí)，控制器進(jìn)入上電BIT模式；當(dāng)自檢開(kāi)關(guān)無(wú)效時(shí)，控制器進(jìn)入等待狀態(tài)，在等待時(shí)間超過(guò)預(yù)先設(shè)定等待時(shí)間時(shí)，控制器直接進(jìn)入上電BIT模式；控制器在運(yùn)行過(guò)程中實(shí)時(shí)檢測(cè)自檢開(kāi)關(guān)狀態(tài)，當(dāng)檢測(cè)到自檢開(kāi)關(guān)有效時(shí)，控制器退出運(yùn)行BIT模式，進(jìn)入上電自檢模式，當(dāng)檢測(cè)到自檢開(kāi)關(guān)無(wú)效時(shí)，控制保持在運(yùn)行BIT模式。

控制器進(jìn)入上電BIT模式后，首先進(jìn)行MCU BIT測(cè)試；MCU BIT測(cè)試完成后進(jìn)行控制器輸入/輸出BIT測(cè)試。

1)MCU BIT測(cè)試

MCU BIT測(cè)試是完成對(duì)控制器MCU功能的檢查，包括MCU Flash、隨機(jī)存儲(chǔ)區(qū)域(以下簡(jiǎn)稱RAM)、非易失性存儲(chǔ)區(qū)域(以下簡(jiǎn)稱NvRam)、輸入/輸出接口。Flash BIT測(cè)試讀取完整的Flash空間數(shù)據(jù)并進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)和計(jì)算，之后與預(yù)先寫(xiě)入Flash的數(shù)據(jù)校驗(yàn)和進(jìn)行比較，以判斷Flash數(shù)據(jù)完整性；RAM BIT測(cè)試是檢查RAM空間的讀寫(xiě)功能，對(duì)RAM空間循環(huán)進(jìn)行讀寫(xiě)操作，比較讀取數(shù)據(jù)與預(yù)先寫(xiě)入數(shù)據(jù)進(jìn)行比較以判斷RAM讀寫(xiě)性；NvRam BIT測(cè)試是檢查NvRAM空間的讀寫(xiě)功能，在對(duì)NvRAM空間進(jìn)行寫(xiě)數(shù)據(jù)操作時(shí)，在寫(xiě)數(shù)據(jù)完成后同時(shí)將本次所寫(xiě)數(shù)據(jù)校驗(yàn)和寫(xiě)入NvRam，之后讀取該片NvRam空間數(shù)據(jù)并計(jì)算讀取數(shù)據(jù)的校驗(yàn)和，并與預(yù)先寫(xiě)入的校驗(yàn)和進(jìn)行比較判斷NvRam讀寫(xiě)性能；MCU輸入輸出接口BIT測(cè)試在控制器輸入輸出測(cè)試時(shí)同時(shí)進(jìn)行。

2)控制器輸入輸出BIT測(cè)試

控制器輸入輸出BIT測(cè)試是完成對(duì)控制器輸入輸出及MCU輸入輸出功能的檢查，包括模擬輸入、數(shù)字輸入、頻率輸入、數(shù)字輸出、頻率輸出。模擬輸入BIT測(cè)試過(guò)程是：控制器獲取模擬信號(hào)，通過(guò)模擬輸入信號(hào)處理電路輸入到MCU，MCU模擬信號(hào)采集模塊對(duì)輸入模擬信號(hào)進(jìn)行采樣，并通過(guò)直接內(nèi)存存取模塊將采樣結(jié)果存放到內(nèi)存指定區(qū)域，MCU根據(jù)采樣結(jié)果通過(guò)軟件控制算法判斷控制器模擬輸入信號(hào)處理電路和MCU模擬輸入接口功能的正確性。數(shù)字輸入BIT測(cè)試過(guò)程是：控制器輸出確定的數(shù)字信號(hào)，該信號(hào)通過(guò)數(shù)字輸出信號(hào)處理電路反饋到MCU數(shù)字輸入引腳和控制器數(shù)字輸入信號(hào)處理電路，MCU通過(guò)比較從數(shù)字輸出信號(hào)處理電路反饋到MCU信號(hào)和經(jīng)數(shù)字輸入信號(hào)處理電路反饋到MCU信號(hào)判斷控制器數(shù)字輸入信號(hào)處理電路、MCU數(shù)字輸入接口、控制器數(shù)字輸出信號(hào)處理電路功能的正確性。頻率輸入BIT測(cè)試過(guò)程是：控制器輸出確定頻率和占空比的頻率信號(hào)，該信號(hào)通過(guò)頻率輸出信號(hào)處理電路反饋到MCU輸入引腳和控制器頻率輸入信號(hào)處理電路，MCU通過(guò)比較從頻率輸出信號(hào)處理電路反饋到MCU信號(hào)和經(jīng)頻率輸入信號(hào)處理電路反饋到MCU信號(hào)判斷控制器頻率輸入信號(hào)處理電路、MCU頻率輸入接口、控制器頻率輸出信號(hào)處理電路功能的正確性。數(shù)字輸出BIT測(cè)試過(guò)程是：控制器輸出確定電平的數(shù)字信號(hào)，該信號(hào)通過(guò)數(shù)字輸出信號(hào)處理電路反饋到MCU輸入引腳，MCU檢測(cè)輸入數(shù)字信號(hào)的電平狀態(tài)，并與指定電平進(jìn)行比較判斷MCU數(shù)字輸出和控制器數(shù)字輸出信號(hào)處理電路功能的正確性。頻率輸出BIT測(cè)試過(guò)程是：控制器輸出確定頻率和占空比的頻率信號(hào)，該信號(hào)通過(guò)頻率輸出信號(hào)處理電路反饋到MCU輸入引腳，MCU捕獲輸入頻率信號(hào)的頻率和占空比，并與指定頻率和占空比進(jìn)行比較判斷MCU頻率輸出和控制器頻率輸出信號(hào)處理電路功能的正確性。

2.運(yùn)行BIT模式切換

當(dāng)控制器上電BIT完成后，控制器進(jìn)入運(yùn)行BIT模式，在運(yùn)行BIT模式，完成MCU指令集、MCU時(shí)鐘、傳感器輸入、執(zhí)行器輸出BIT測(cè)試。傳感器輸入BIT測(cè)試對(duì)水溫傳感器、進(jìn)氣壓力傳感器、進(jìn)氣溫度傳感器、操縱桿位置傳感器、節(jié)氣門(mén)位置傳感器進(jìn)行測(cè)試。執(zhí)行器輸出BIT測(cè)試對(duì)噴油器、點(diǎn)火線圈、電子節(jié)氣門(mén)進(jìn)行測(cè)試。MCU指令集BIT測(cè)試過(guò)程為：通過(guò)軟件算法實(shí)時(shí)得出以系統(tǒng)時(shí)間為基準(zhǔn)的隨機(jī)數(shù)，將此隨機(jī)數(shù)作為加、減、乘、除、位操作運(yùn)算的輸入，以固定時(shí)間為周期的進(jìn)行以上各種運(yùn)算，并判斷運(yùn)算結(jié)果的正確性以判斷MCU指令集的完整性。MCU時(shí)鐘BIT測(cè)試過(guò)程為：以固定時(shí)間為周期的進(jìn)行MCU時(shí)鐘與控制器外部硬件時(shí)鐘比較，通過(guò)比較結(jié)果判斷MCU時(shí)鐘的準(zhǔn)確性。傳感器BIT測(cè)試過(guò)程為：MCU獲取傳感器信號(hào)，并通過(guò)軟件算法將該信號(hào)轉(zhuǎn)換為具有實(shí)際意義的物理值，將得到的物理值與控制器根據(jù)當(dāng)前狀態(tài)結(jié)合軟件算法計(jì)算得到的物理值進(jìn)行比較以判斷傳感器信號(hào)的正確性。執(zhí)行器輸出BIT測(cè)試過(guò)程為：在執(zhí)行器輸出有效時(shí)，控制器的執(zhí)行器輸出驅(qū)動(dòng)硬件會(huì)實(shí)時(shí)檢測(cè)執(zhí)行器狀態(tài)，MCU通過(guò)讀取執(zhí)行器狀態(tài)判斷執(zhí)行器的正確性。

3.維修BIT測(cè)試切換

當(dāng)控制器上電后，控制器檢測(cè)到維修自檢開(kāi)關(guān)狀態(tài)有效時(shí)，控制器進(jìn)入維修BIT模式；當(dāng)控制器檢測(cè)到維修開(kāi)關(guān)狀態(tài)無(wú)效時(shí)，控制器進(jìn)入超時(shí)等待，當(dāng)?shù)却龝r(shí)間超過(guò)預(yù)先設(shè)定值后，控制器進(jìn)入上電BIT狀態(tài)。控制器進(jìn)入維修BIT模式后，控制器進(jìn)行上電BIT測(cè)試和運(yùn)行BIT測(cè)試的全部?jī)?nèi)容。

上面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了示例性描述，顯然本發(fā)明具體實(shí)現(xiàn)并不受上述方式的限制，只要采用了本發(fā)明的方法構(gòu)思和技術(shù)方案進(jìn)行的各種非實(shí)質(zhì)性的改進(jìn)，或未經(jīng)改進(jìn)將本發(fā)明的構(gòu)思和技術(shù)方案直接應(yīng)用于其它場(chǎng)合的，均在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求書(shū)所限定的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。