用于對被測設(shè)備進(jìn)行測試的測試裝置和方法
【專利摘要】一種用于對被測設(shè)備進(jìn)行測試的測試裝置被配置為接收來自被測設(shè)備的響應(yīng)信號并將一個或多個校正函數(shù)應(yīng)用于接收到的響應(yīng)信號，以至少部分地對被測設(shè)備的缺陷進(jìn)行校正。該測試裝置被配置為由此獲得被測設(shè)備的經(jīng)校正的響應(yīng)信號，并對經(jīng)校正的響應(yīng)信號進(jìn)行評估以判斷被測設(shè)備。
【專利說明】
用于對被測設(shè)備進(jìn)行測試的測試裝置和方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明的實施例設(shè)及用于對被測設(shè)備進(jìn)行測試的測試裝置。本發(fā)明的進(jìn)一步的實 施例設(shè)及用于對被測設(shè)備進(jìn)行測試的方法。本發(fā)明的進(jìn)一步的實施例設(shè)及用于對被測設(shè)備 進(jìn)行測試的測試儀。其它實施例設(shè)及計算機(jī)程序和用于對被測設(shè)備進(jìn)行測試的方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 為了使功耗最小化，RF功率放大器在邊際電源電壓等級處操作。運驅(qū)使他們被壓 縮，導(dǎo)致強(qiáng)的互調(diào)產(chǎn)物?；鶐/Q輸入的數(shù)字預(yù)失真(DPD)緩解運種影響。針對進(jìn)一步的功率 減小，電源電壓可W動態(tài)地跟蹤RF包絡(luò)，也稱之為包絡(luò)跟蹤化T)。數(shù)字預(yù)失真通常作為包含 兩個測試步驟的直接測試的一部分來執(zhí)行。在第一步驟中，從設(shè)備對固定的測試波形的響 應(yīng)計算其非線性。在第二步驟中，針對每個被測設(shè)備計算、下載并應(yīng)用單獨預(yù)失真的波形， W便測量預(yù)失真后剩余的非線性。該第二步驟引起顯著的測試時間損失，尤其在多點測試 中，因為針對被測設(shè)備必須按順序執(zhí)行下載。當(dāng)對被測設(shè)備進(jìn)行測試和判斷時，該測試時間 損失導(dǎo)致高的時間工作量。
[000引此外，產(chǎn)品系列中、產(chǎn)品批中或相同類型的DUT可W包括單個DUT之間的偏差，例如 制作或材料公差、誤差或失敗。因此，DUT可能展示異常的行為，即，對同一信號輸入的異常 響應(yīng)。例如DUT的印刷電路板上諸如污垢之類的定性的寄生效應(yīng)也可能導(dǎo)致行為的偏差。
[0004] 因此，例如，存在減小運種測試的測試時間的需求。減小測試時間將有助于提高對 被測設(shè)備進(jìn)行測試的測試儀的測試能力，并且因此導(dǎo)致對被測設(shè)備進(jìn)行測試的測試儀的更 高的工作量。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明的目標(biāo)是提供允許對被測設(shè)備進(jìn)行更省時的測試的概念。
[0006] 該目標(biāo)由獨立權(quán)利要求的主題解釋。
[0007] 本發(fā)明的進(jìn)一步的有益修改是從屬權(quán)利要求的主題。
[0008] 本發(fā)明的實施例設(shè)及用于對被測設(shè)備進(jìn)行測試的測試裝置。該測試裝置被配置為 接收來自被測設(shè)備的響應(yīng)信號并將一個或多個校正函數(shù)應(yīng)用于接收到的響應(yīng)信號，W至少 部分地對被測設(shè)備的缺陷進(jìn)行校正。由此，獲得被測設(shè)備的經(jīng)校正的響應(yīng)信號。該測試裝置 被配置為對經(jīng)校正的響應(yīng)信號進(jìn)行評估，W根據(jù)經(jīng)校正的響應(yīng)信號判斷被測設(shè)備。
[0009] 發(fā)明人已經(jīng)發(fā)現(xiàn)，被配置為對接收到的被測設(shè)備的響應(yīng)進(jìn)行校正并根據(jù)經(jīng)校正的 響應(yīng)信號判斷被測設(shè)備可W消除傳統(tǒng)的基于預(yù)失真的測試的第二測試步驟。不同于(例如， 基于第一測量結(jié)果)對測試波形進(jìn)行預(yù)失真，其響應(yīng)被校正W預(yù)測對經(jīng)預(yù)失真的信號的預(yù) 期響應(yīng)，而無需實際將經(jīng)預(yù)失真的波形應(yīng)用于被測設(shè)備。通過消除基于預(yù)失真的測試的第 二測試步驟并因此消除將經(jīng)預(yù)失真的波形單獨上載到每個被測設(shè)備的需要，可W節(jié)省大量 的測試時間，導(dǎo)致測試儀(可能是測試系統(tǒng)）的更高的工作量。
[0010] 作為示例，經(jīng)校正的響應(yīng)信號可W通過頻譜分析被評估并與與被測設(shè)備的輸入信 號的相應(yīng)的評估結(jié)果相比較。輸入信號和經(jīng)校正的輸出信號之間的偏差(例如，頻譜偏差） 可W被評估，W決定被測是被是否滿足預(yù)定要求(例如，某個線性等級）。
[0011] 本發(fā)明的另外的實施例設(shè)及一種對被測設(shè)備進(jìn)行測試的測試裝置。該測試裝置被 配置為接收來自被測設(shè)備的響應(yīng)信號并確定一個或多個校正函數(shù)的至少一個校正參數(shù)。當(dāng) 一個或多個校正函數(shù)被應(yīng)用于接收到的響應(yīng)信號時，一個或多個校正函數(shù)被適應(yīng)為至少部 分地對被測設(shè)備的缺陷進(jìn)行校正。該測試裝置還被配置為對至少一個校正參數(shù)進(jìn)行評估W 判斷被測設(shè)備。
[0012] 通過對至少一個校正參數(shù)進(jìn)行評估而不是對經(jīng)校正的響應(yīng)信號進(jìn)行評估，（作為 示例)可W通過確定該至少一個參數(shù)是否在預(yù)定邊界內(nèi)來執(zhí)行判斷被測設(shè)備。
[0013] 另外的實施例設(shè)及用于對被測設(shè)備進(jìn)行測試的方法。該方法包括接收來自被測設(shè) 備的響應(yīng)信號。將一個或多個校正函數(shù)應(yīng)用于接收到的響應(yīng)信號，W至少部分地對被測設(shè) 備的缺陷進(jìn)行校正，并由此獲得經(jīng)校正的響應(yīng)信號。對經(jīng)校正的響應(yīng)信號進(jìn)行評估W判斷 被測設(shè)備。
[0014] 另外的實施例設(shè)及用于對被測設(shè)備進(jìn)行測試的方法。接收來自被測設(shè)備的響應(yīng)信 號。確定一個或多個校正函數(shù)的至少一個校正參數(shù)，使得當(dāng)一個或多個校正函數(shù)被應(yīng)用于 接收到的響應(yīng)信號時，一個或多個校正函數(shù)被適應(yīng)為至少部分地對被測設(shè)備的缺陷進(jìn)行校 正。對至少一個校正參數(shù)進(jìn)行評估W判斷被測設(shè)備。
[0015] 本發(fā)明的另外的實施例設(shè)及用于對被測設(shè)備進(jìn)行測試的方法和計算機(jī)程序。
【附圖說明】
[0016] 將參考附圖更詳細(xì)地描述本發(fā)明的實施例，在附圖中：
[0017]圖1示出用于被測設(shè)備(DUT)的測試裝置的方框示意圖；
[001引圖2示出DUT的非線性壓縮模型的示意框圖；
[0019] 圖3示出用于對被測設(shè)備進(jìn)行測試的測試儀的方框示意圖；
[0020] 圖4示出包括測試裝置的測試儀130'的方框示意圖；
[0021] 圖5示出作為DUT的反向壓縮模型的校正模型的示意框圖；
[0022] 圖6示出用于確定DUT的模型Μ的方法的示意框圖；
[0023] 圖7示出用于實現(xiàn)基于預(yù)失真模型和DUT的模型獲得期望的響應(yīng)信號的方法的算 法的框圖；
[0024] 圖8示出預(yù)失真模型和DUT模型的幅度到幅度調(diào)制和幅度到相位調(diào)制的方框示意 圖；
[0025] 圖9示出精確預(yù)測預(yù)失真效應(yīng)的假設(shè)的基于校正的測試算法的示意框圖；
[0026] 圖10示出描繪基于預(yù)失真的測試和基于校正的測試之間的相似性和差異的示意 框圖；
[0027] 圖11示出用于對DUT執(zhí)行基于預(yù)失真的測試過程的方法和用于對DUT執(zhí)行基于校 正的測試的方法之間的示意性比較；
[00%]圖12示出用于對被測設(shè)備進(jìn)行測試的方法的示意圖。
【具體實施方式】
[0029] 在詳細(xì)描述本發(fā)明的實施例之前，應(yīng)當(dāng)指出相同的或功能上等同的元件被提供相 同的參考標(biāo)號并且對具有相同參考標(biāo)號的元件的重復(fù)描述被省略。因此，所提供的針對具 有相同參考標(biāo)號的元件描述是可互換的。一些說明設(shè)及包括幅度和相位的信號。
[0030] 隨后，拉下和希臘字符被用于設(shè)及幅度和相位的量。具體地，激勵幅度和相位被表 示為s[n]和σ[η]，而響應(yīng)幅度和相位被表示為r[n]和P[n]。索引P表示經(jīng)預(yù)失真的波形，索 引m表示經(jīng)建模的波形，索引C表示經(jīng)校正的波形。
[0031] 在下文中，多個模型被用于描述可W是本發(fā)明的實施例的一部分的裝置的功能。 一些實施例被配置為被可連接到被測設(shè)備。被測設(shè)備和裝置可W接收或處理信號，其中被 測設(shè)備被配置為接收并輸出物理(模擬或數(shù)字)信號。相反，被配置為對接收到的信號進(jìn)行 處理（例如，使用軟件）的測試儀或測試裝置可W被配置為：當(dāng)基于運種接收到的或經(jīng)處理 的信號進(jìn)行處置或計算時，使用運些信號的數(shù)字表示執(zhí)行處理。數(shù)字表示例如可W通過W 下方式被接收:對物理信號進(jìn)行采樣并通過將用例信號用采樣值進(jìn)行表示。因為物理信號 可W被轉(zhuǎn)換為其數(shù)字表示，并且數(shù)字表示可W被轉(zhuǎn)換為物理信號，對本領(lǐng)域技術(shù)人員顯而 易見的是，當(dāng)描述對信號進(jìn)行處理的裝置的功能時，物理信號和其物理表示可W被用作等 同物。因此，在下文中，術(shù)語信號和信號的數(shù)字表示被用作等同物。
[0032] 一些圖設(shè)及模型評估者，其被配置為對設(shè)備(例如，DUT或校正或類似物）的模型進(jìn) 行評估。待評估的響應(yīng)的模型例如可W是相應(yīng)的設(shè)備的行為的數(shù)學(xué)表示。在下文中，當(dāng)引用 待評估的相應(yīng)的模型是，聲明模型和模型評估者可W被用作同義詞。
[0033] 圖1示出用于對被測設(shè)備(DUTH02進(jìn)行測試的測試裝置100的示意框圖。測試裝置 100被配置為從DUT 102接收響應(yīng)信號103。所接收的響應(yīng)信號103例如包括幅度r和相位P。 測試裝置100被配置為對所接收的響應(yīng)信號103應(yīng)用一個或多個校正函數(shù)(例如，c(r[n]) 和/或丫（r[η]) )，W至少部分地對DUT的缺陷（imperfection)進(jìn)行校正。校正函數(shù)c(;r[η]) 和/或丫（r[n])例如可W是依賴于實際的時間步長η(其中，η在η = 1，...，Ν內(nèi)）和在先的時 間步長1，...，Ν-1的函數(shù)。時間步長例如可W是對信號進(jìn)行采樣期間的采樣步長。r被寫成 粗體的符號r[n]用于指示r[n]是包括r[n]的在先時間步長的矢量，其中r[n]表示在時間步 長η處的幅度。
[0034] 裝置100被配置為例如在運送DUT之前的質(zhì)量測試期間實現(xiàn)對DUT的缺陷的判斷， 或確定可W被用于隨后對DUT的操作（例如，均衡）的校正參數(shù)。DUT的缺陷例如可W包括靜 態(tài)非線性、動態(tài)非線性或靜態(tài)和動態(tài)非線性的組合。當(dāng)DUT是RF功率放大器時，運種非線性 的影響是放大器的輸出信號103相對于放大器的應(yīng)當(dāng)被放大的輸入信號101失真。理想的放 大器W常數(shù)因子m倍對輸入信號101的激勵幅度s[n]進(jìn)行放大，使得相應(yīng)的輸出信號103(響 應(yīng)信號）的幅度r[n]可W被表示為r[n]=m· s[n]，而輸入信號101的相位〇[n]保持不變，使 得所接收的響應(yīng)信號103的相位P[n]等于輸入信號101的相位〇[n]，運可W被表示為P[n] = 曰[η]。因子m也可W被稱為增益因子。被壓縮的放大器展示減小的增益，被建模為幅度到幅 度調(diào)制，其可W被表示為r = m(s)和相移。相移可W被建模為幅度到相位調(diào)制，其可W被表 示為ρ-〇=μ(3)，其中P-0表示相移。對于任何合理的壓縮，函數(shù)r=m(s)是光滑的、嚴(yán)格單調(diào) 的并且因此是可逆的。幅度到幅度調(diào)審ijr=m(s)和幅度到相位調(diào)制ρ-〇 = μ(3)兩者各自是輸 入信號101的幅度s[n]的函數(shù)。對于小的幅度s[n]，增益的減小和相移兩者可W接近于零。 對于分別增加的幅度，增益的減小(壓縮)和相移將通常開始隨著幅度s[n]的增加而非線性 地增加。因此，壓縮誘發(fā)的增益減小和相移通常是靜態(tài)非線性的(尤其是當(dāng)從屬m(s)和/或μ (S)處于主靜態(tài)中）并且近似地僅依賴于幅度s[n]。
[0035] 動態(tài)非線性（例如，溫度相關(guān)性)將可能向所接收的DUT 102(放大器）的輸出（響 應(yīng))信號103增加進(jìn)一步的非理想性。功率放大器中的溫度取決于累積的信號功率(可W被 表示為信號的幅度平方），被熱敏電阻減小。因此，運種動態(tài)非線性不僅取決于瞬時激勵幅 度s[n]，還取決于最近的幅度s[n]，s[n-l]...，即，非線性可W與頻率相關(guān)狀態(tài)(最近的幅 度)相混合。運種系統(tǒng)可W使用Volterra級數(shù)來描述，其允許對非線性動態(tài)系統(tǒng)的完全通用 建模。Volterra級數(shù)對不同時間步長的考慮使得對頻率相關(guān)性的考慮成為可能。作為示例， 針對幅度到幅度調(diào)制示出下式：
[0036]
[0037] 針對線性頻率相關(guān)性的FIR濾波器（即，第一加和）W及針對靜態(tài)非線性的泰勒級 數(shù)（即，索引i，y，...，k相等)是Volterra級數(shù)的特殊情形。代替延遲采樣的產(chǎn)物，也可W使 用其它的專用基函數(shù)：
[00；3 引
[0039] 其中f，g，h表示其它專用基函數(shù)。
[0040] 合適的基函數(shù)的候選包括對數(shù)、指數(shù)或S函數(shù)(sigmoid)項。例如，通過應(yīng)用工程判 斷，可W確定合理地小的、充分覆蓋的Volterra項的子集。應(yīng)當(dāng)選擇可接受的Volterra系數(shù) 的數(shù)目，使得模型138被充分校正，其中Volterra項和/或系數(shù)的超支導(dǎo)致可能過高的計算 工作量。實施例示出利用地5、7、10、12或15Volterra項和/或系數(shù)的測試裝置。
[0041] 上述方法可W被應(yīng)用于完全通用Volterra級數(shù)，其也可W用簡練的形式來表示：
[0042]
[0043] 其中基函數(shù)為
[0044] Tj[n]=Tj(s[n])，0k[n] = 0k(s[n])
[0045] 激勵幅度歷史矢量為
[0046] s[n] = [s[n]，s[n-l]，s[n-2]，. . . ]/
[0047] 其中Μ表示用于DUT的模型。
[004引如果用激勵幅度歷史矢量s[n]替代瞬時激勵幅度s[n]，則該通用形式還覆蓋由圖 2中所解釋的方程式描述的靜態(tài)模型，并且仍然覆蓋一般情形。
[0049]測試裝置100被配置為對所接收的具有r和P的響應(yīng)信號103應(yīng)用一個或多個校正 函數(shù)(例如，c(r[n])和/或r(r[n]))，W至少部分地對DUT102的靜態(tài)和/或動態(tài)非線性的缺 陷進(jìn)行校正。通過應(yīng)用一個或多個校正函數(shù)c(r[n])和/或丫（r[n])，獲得經(jīng)校正的響應(yīng)信 號105。經(jīng)校正的響應(yīng)信號105包括幅度。和相位P。。測試裝置100被配置為對經(jīng)校正的響應(yīng) 信號105進(jìn)行評估W對DUT 102進(jìn)行判斷。例如可W通過對一個或多個標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評估來執(zhí)行 評估。標(biāo)準(zhǔn)可W是通過向所接收的響應(yīng)信號103應(yīng)用校正函數(shù)來確定或評估的在輸入信號 101的一個或多個頻率處的幅度壓縮的相對值(例如，50 %、100 %或1，000 %)或絕對值(例 如，0.1V、5V或100V)、所接收的響應(yīng)信號103的頻率的穩(wěn)定性或DUT 102的相位響應(yīng)。評估還 可W包括對DUT 102的輸入信號101(或其經(jīng)縮放的或W其它方式被處理的版本）與經(jīng)校正 的響應(yīng)信號105的比較。當(dāng)經(jīng)校正的響應(yīng)信號105相對于DUT 102的輸入信號101在某個偏差 區(qū)間內(nèi)時，DUT可W被判斷為滿足要求(DUT 102可W被判斷為"好的(ok)")。
[0050]可替代地，校正函數(shù)c(r[n])和/或r(r[n])可W被形成，作為基函數(shù)的線性加和：
[0053] Cjn]是具有索引j并且被加權(quán)因子C神日權(quán)的基函數(shù)?；瘮?shù)的線性加和等于J加權(quán) 的基函數(shù)的加和(其中j = l至J)。相位校正函數(shù)丫（r[n])可W被形成，作為輸入信號101的 相位σ[η]與加權(quán)相位基函數(shù)Γ k[n](每一者被加權(quán)因子丫 k加權(quán))的線性和的加和，其中相位 基函數(shù)的線性加和包括K個基函數(shù)和加權(quán)因子，其中k=l至K。加權(quán)因子C神日丫 k是可W適應(yīng) 的校正參數(shù)，使得每個基函數(shù)Cjn]和rk[n]W及基函數(shù)的加和被配置為對所接收的響應(yīng)信 號103進(jìn)行校正。
[0054] 作為對所接收的響應(yīng)信號103進(jìn)行校正和對所獲得的經(jīng)校正的響應(yīng)信號105進(jìn)行 評估的替代，裝置100可W被配置為例如基于DUT的響應(yīng)對加權(quán)因子(分別為校正參數(shù)Cj和 丫 k)進(jìn)行評估。運可W實現(xiàn)校正參數(shù)C神日丫 k對于參數(shù)的預(yù)定義的范圍的比較。作為示例，裝 置100可W被配置為在C1處于2和3之間并且γ 3處于5和7之間的情形下判斷滿足規(guī)格的 DUT102。換言之，所計算的校正函數(shù)被應(yīng)用于所接收的響應(yīng)信號103, W至少部分地對DUT的 缺陷(例如，靜態(tài)或動態(tài)非線性)進(jìn)行校正。
[0055] 裝置100被配置為例如根據(jù)W下公式確定時間步長η處經(jīng)校正的響應(yīng)信號105的幅 度rc[n]:
[0化6]
[0057] 并根據(jù)W下公式確定響應(yīng)的相位pc[n]:
[0化引
[0059] 校正參數(shù)C神日丫 k例如可W通過迭代地確定均方根誤差線性地傳播誤差ε?；瘮?shù) Cj[n]是所接收的響應(yīng)信號103的幅度r[n]的函數(shù)，其可W被看成W下公式：
[0060] Cj[n] =Cj(r[n])
[0061] 相位基函數(shù)也是所接收的響應(yīng)信號103的幅度r[n]的函數(shù)，其可W被看成W下公 式：
[0062] Γ k[n]= Γ k(r[n])
[0063] 為了確定校正函數(shù)和/或校正參數(shù)W對所接收的響應(yīng)信號103進(jìn)行校正，裝置100 可W利用描述所接收的響應(yīng)信號103的目標(biāo)狀態(tài)或所期望的響應(yīng)信號的相應(yīng)信號，當(dāng)沒有 誤差或缺陷或者誤差或缺陷在可容許的范圍內(nèi)時期望DUT 102輸出該相應(yīng)信號。基于所接 收的響應(yīng)信號103的目標(biāo)狀態(tài)(或所期望的響應(yīng)信號），測試裝置100可W評估目標(biāo)狀態(tài)和經(jīng) 校正的響應(yīng)信號105之間的偏差，W對DUT 102進(jìn)行判斷。然而，所期望的響應(yīng)信號可W在 DUT 102的輸入信號101存在預(yù)失真的情況下被確定，而DUT的實際響應(yīng)信號可W在DUT 102 的輸入信號101的沒有預(yù)失真的情況下被確定，或至少在沒有將預(yù)失真適應(yīng)到正確測試的 DUT的情況下被確定。
[0064] 可W由測試裝置100利用DUT 102的模型來確定所預(yù)期的輸出信號，運允許對具有 幅度rpm和相位化m的經(jīng)建模的輸出信號的數(shù)學(xué)確定，如將在圖3中所描述的。當(dāng)測試裝置100 被配置為利用DUT 102的模型及DUT 102的所預(yù)期的缺陷的模型時，測試裝置可W被配 置為確定所期望的(預(yù)期的）響應(yīng)信號和經(jīng)校正的響應(yīng)信號105之間的偏差。
[0065] 校正函數(shù)可W被適應(yīng)為通過適應(yīng)校正函數(shù)或校正參數(shù)并因此執(zhí)行校正來降低或 減小所期望的響應(yīng)信號和經(jīng)校正的響應(yīng)信號105之間的偏差。例如，校正函數(shù)或校正參數(shù)可 W被適應(yīng)為補償預(yù)失真的缺失(或發(fā)出到當(dāng)前被測的DUT 102的預(yù)失真的適應(yīng)）。
[0066] 因此，減小關(guān)于C神日丫 k的均方根誤差可W作為簡單的二次優(yōu)化問題來執(zhí)行，其可 W被表示為W下公式：
[0067]
[0074]其中C是包括幅度基校正函數(shù)Cjn](j = l. . .J，時間步長n=l. . .N)的值的矩陣， 其中C是所有加權(quán)相關(guān)因子cj(j = l. . .J)的矢量，并且其中rpm是幅度rpm[n](n=l. . .N)的矢 量。Γ是包括相位基校正函數(shù)Tk[nKk=l. . .K，時間步長n=l. . .N)的值的矩陣，其中Ppm是 所有加權(quán)校正因子Cj( j = l . . . J)的矢量，并且其中Ppm是相位Ρριη[η](η=1···Ν)的矢量。
[0075] 線性方程式系統(tǒng)的解是
[0076] c = (C'C)-Vrpm
[0077] W 及
[007引 丫 =( Γ' Γ )-ir'Ppm
[0079] 測試裝置100被配置為基于所接收的響應(yīng)信號103確定至少一個校正參數(shù)并對經(jīng) 校正的響應(yīng)信號105進(jìn)行評估，W避免將第二和/或單獨的測試信號應(yīng)用于DUT 102。換言 之，在計算方程式的解的同時，被測設(shè)備102在優(yōu)化循環(huán)之外，運允許測試裝置100與針對給 定的DUT 102的單個捕獲的響應(yīng)信號103-起工作。
[0080] 作為軟件中執(zhí)行的后期處理，DUT的非線性可W由測試裝置來校正。相比于計算預(yù) 失真的波形和將經(jīng)預(yù)失真的波形上載到DUT(在硬件中）方面的重新執(zhí)行，運可W節(jié)省測試 時間并可W允許覆蓋更多溫度相關(guān)和頻率相關(guān)的非線性。溫度相關(guān)和頻率相關(guān)的非線性可 W由Velterra模型來描述。
[0081] DUT的建模例如可W使用笛卡爾坐標(biāo)或極坐標(biāo)來實現(xiàn)。由于基于預(yù)失真的測試和/ 或判斷通常在(采樣的)基帶域執(zhí)行并且由于放大器的壓縮取決于激勵包絡(luò)幅度s[n]，在基 帶采樣η處在極坐標(biāo)中（即，在激勵幅度s[n]和相位σ[η]方面)而不是在激勵的笛卡爾坐標(biāo) Is[n巧日Qs[n]中對RF被測設(shè)備（即放大器)進(jìn)行建?？赡苁欠奖愕?，變換為
[0089] 針對執(zhí)行基于軟件的測試W判斷被測設(shè)備102或確定DUT 102的校正參數(shù)W實現(xiàn) 校正，DUT 102的模型可W被用于在工作站或計算機(jī)(例如，可W是被配置為對DUT 102進(jìn)行 測試的測試儀的一部分)處模擬DUT的行為。例如，通過對具有線性或非線性壓縮模型的RF 功率放大器進(jìn)行建模，運種模型例如可W模擬或評估DUT的行為，使得模型可W被模型評估 器(例如，可W是測試儀的一部分)使用。
[0090] 在下文中，出于解釋的原因部分地使用模型描述來解釋測試裝置的功能。因此，W 下的圖2-9部分地描述DUT的示例性模型、預(yù)失真算法和/或校正算法。
[0091] 圖2示出將由測試儀測試和/或判斷的DUT的非線性壓縮模型506的示意框圖。通過 基于輸入信號的表示508計算DUT輸出信號的表示203,模型506可W被用于確定校正函數(shù)的 參數(shù)并允許模擬DUT的行為。換言之，模型506可W被用于通過對相應(yīng)的行為進(jìn)行建模來相 對于輸入信號對DUT的輸出信號進(jìn)行建模。
[0092] 被應(yīng)用于模型506的輸入信號的表示508表示時間步長η處的幅度s[n]和相位曰 [η]。由于DUT是真實的W及由于非理想的RF功率放大器，DUT是具有減小的增益的被壓縮的 放大器。DUT的壓縮可W被建模為幅度到幅度調(diào)制204,其可W被描述為函數(shù)m(s)。幅度到幅 度調(diào)制204導(dǎo)致輸出信號的表示203,其表示輸出信號的幅度r[n]。幅度r[n]可W被確定規(guī) 則 r[n]=m(s[n])確定。
[0093] DUT的壓縮還導(dǎo)致輸入信號關(guān)于輸出信號的相移。運可W由函數(shù)μ(3)表示，μ(3)代 表對幅度到相位調(diào)制206的建模，其中μ(3)也依賴于幅度s[n](是其相應(yīng)的表示）。輸出信號 的相位P[n]可W被表示為相位σ[η]被移位(被添加）W幅度到相位調(diào)制206的附加的相位μ (S)，表示為Ρ[η] = 〇[η]+μ(3)。換言之，DUT的壓縮可W由DUT的壓縮模型506來建模，W通過 基于(虛擬的)輸入信號和對DUT進(jìn)行建模的函數(shù)或函數(shù)組計算(虛擬的)輸出信號來執(zhí)行預(yù) 測、模擬和/或類似操作。因此，非線性函數(shù)m(s)和/或μ(3)可W導(dǎo)致非線性壓縮模型506。
[0094] DUT的靜態(tài)模型的簡單表示例如可W包含泰勒級數(shù)擴(kuò)展的第一少量項。該簡單表 示可W被形成為：
[0095] r[n] =m(;r[n]) =mi;r[n]+nKr2[n]+m：3r3[n] [η]
[0096] 針對表示203的幅度，W及
[0097] ρ[η]=σ[η]+μ(3[η]) =〇[n]+yis[n]+y2s2[n]+y3s3[n]
[009引針對表示203的相位。
[0099] 指數(shù)或S函數(shù)可W被用于W更少量的項對幅度壓縮進(jìn)行建模。作為示例，幅度壓縮 可W被建模為：
[0100]
[0101] 笛卡爾到極坐標(biāo)轉(zhuǎn)換的模型208可W被用于把W具有幅度Is[n]和相位Qs[n]的笛 卡爾坐標(biāo)表示的輸入信號212的表示轉(zhuǎn)換為極坐標(biāo)中的表示208。換言之，除了表示的類型 (笛卡爾或極坐標(biāo)）W外，同相分量Is[n]和正交相分量Qs[n]表示的信號等同于由s[n]和r [η]表示的信號。
[0102] 極坐標(biāo)到笛卡爾坐標(biāo)轉(zhuǎn)換的模型214被配置為將W極坐標(biāo)描述的表示203轉(zhuǎn)換為 輸出信號的表示216。表示216描述或表達(dá)笛卡爾坐標(biāo)中具有同相分量Is[n巧日正交相分量Qs [η]的DUT的(虛擬的)輸出信號。
[0103] 轉(zhuǎn)換208和216運兩個模型執(zhí)行信號的數(shù)學(xué)轉(zhuǎn)換而保持信號本身不變。在下文中， 用極坐標(biāo)來表示信號。
[0104] 圖3示出用于對被測設(shè)備102進(jìn)行測試的測試儀300的方框示意圖。測試儀300包括 測試裝置300,其例如可W等同于測試裝置100。測試儀被配置為連接到DUT 102, W將輸入 信號101提供至DUT 102并接收響應(yīng)信號103。測試儀300還被配置為將所接收的響應(yīng)信號 103提供至測試裝置310。測試裝置310被配置為對所接收的響應(yīng)信號103應(yīng)用一個或多個校 正函數(shù)并基于所接收的響應(yīng)信號103確定至少一個校正參數(shù)。
[0105] 為清楚起見，將校正函數(shù)描繪為包含DUT 102的校正模型的校正模型評估器312 (由塊C指示）。校正模型評估器312被配置為對所接收的響應(yīng)信號103應(yīng)用一個或多個校正 函數(shù)。測試儀300可W被配置為把所接收的響應(yīng)信號數(shù)字化并提供表示(例如，經(jīng)采樣的數(shù) 據(jù)）。換言之，校正模型評估器可W對所接收的響應(yīng)信號或其表示應(yīng)用一個或多個校正函 數(shù)。校正模型評估器312描繪校正函數(shù)對所接收的響應(yīng)信號103的應(yīng)用。
[0106] 測試裝置310被配置為提供經(jīng)校正的響應(yīng)信號314,如果測試裝置310等同于測試 裝置100,經(jīng)校正的響應(yīng)信號314可w等同于經(jīng)校正的響應(yīng)信號105。
[0107] 校正模型312例如可W包括動態(tài)查找表或具有一項或多項的二項式，其例如可W 考慮導(dǎo)致所接收的響應(yīng)信號103的偏差的模型范圍內(nèi)、生產(chǎn)線或很多DUT的變化或差異。校 正模型可能還考慮生產(chǎn)期間可能發(fā)生的DUT的一個或多個潛在的缺陷。假設(shè)，校正模型不考 慮無缺陷，測試裝置310可W被配置為通過利用查找表對被認(rèn)為可接受的變化內(nèi)的接收到 的響應(yīng)信號103進(jìn)行校正。被看做可接受的變化例如可W是最大或最小相位壓縮或延遲。
[0108] 在該示例中，在測試裝置310不能夠充分地對所接收的響應(yīng)信號103進(jìn)行校正的情 況中，運可W被標(biāo)識為提示，即不能夠被校正的相應(yīng)的DUT102顯示誤差或缺陷并且可能被 判斷為不好?？商娲鼗虺酥?，測試裝置310還可W被配置為確定完全或幾乎完全地對 所接收的響應(yīng)信號進(jìn)行校正的校正參數(shù)。指示非常小的偏差（即，幅度和/或相位壓縮在預(yù) 定范圍內(nèi)）的校正參數(shù)可W被用作提示，即檢修或修復(fù)工作可能是適當(dāng)?shù)摹．?dāng)DUT 102顯示 可能不滿足相應(yīng)的DUT的規(guī)格的偏差時，其可W被測試裝置310所標(biāo)識。
[0109] 測試裝置310被配置為基于所期望的響應(yīng)信號316確定校正模型評估器312的一個 或多個校正函數(shù)。所期望的響應(yīng)信號316包括幅度rpm和相位Ppm。
[0110] 所期望的響應(yīng)信號316可W由測試儀300通過基于輸入信號101確定經(jīng)預(yù)失真的波 形322或其表示并通過用模型評估器318(由塊Μ指示）計算經(jīng)建模的經(jīng)預(yù)失真的輸出信號 324來獲得，其中模型評估器318被配置為修改類似于期望的（例如，無誤差)DUT的經(jīng)預(yù)失真 的波形322。換言之，模型評估器被配置為模擬所期望的DUT。模型評估器可W被實現(xiàn)為電路 或表示運種電路的軟件代碼。測試儀300可W被配置為對所接收的響應(yīng)信號103與所期望的 響應(yīng)信號316進(jìn)行比較。
[0111] 所期望的響應(yīng)信號316因此可能是在對DUT 102執(zhí)行基于預(yù)失真的測試時將獲得 的信號，使得從基于校正的測試獲得的結(jié)果與基于預(yù)失真的測試可W是可比的?？商娲?， 所期望的響應(yīng)信號316例如可W是輸入信號101的延遲版本。測試儀300被配置為基于所期 望的響應(yīng)信號316(例如，通過使所期望的響應(yīng)信號316和經(jīng)校正的輸出信號314之間的誤差 最小化(例如通過使用均方根誤差計算器和參數(shù)調(diào)節(jié)器326))確定校正模型評估器312的校 正函數(shù)。在參數(shù)調(diào)節(jié)器方面，均方根誤差計算器326可W被配置為將校正函數(shù)適應(yīng)為使經(jīng)校 正的輸出信號314和所期望的輸出信號316之間的誤差最小。當(dāng)測試裝置310等同于測試裝 置100時，經(jīng)校正的輸出信號314可W是經(jīng)校正的輸出信號105。
[0112] 取決于校正函數(shù)的復(fù)雜性，例如，泰勒或Volterra級數(shù)的項數(shù)，所期望的響應(yīng)信號 316和經(jīng)校正的輸出信號314之間的誤差可W被減小或最小化，其中增加的校正函數(shù)的項數(shù) 可能導(dǎo)致計算復(fù)雜度的增加和對所期望的響應(yīng)信號316的更詳細(xì)的建模(其相應(yīng)的數(shù)字表 示），并因此導(dǎo)致進(jìn)一步減小的誤差。
[0113] 模型評估器318(DUT 102的非線性模型）可W被配置為實現(xiàn)DUT102的行為的數(shù)學(xué) 壓縮(或壓縮模型），使得經(jīng)預(yù)失真的輸入信號322可W在數(shù)學(xué)上被確定。
[0114] 換言之，相比于原始測試波形(其可W是DUT 102的輸入信號101或其數(shù)字表示）的 延遲版本，理想的預(yù)失真可W使對經(jīng)預(yù)失真的波形的經(jīng)建模的響應(yīng)的誤差最小化。在通用 動態(tài)非線性的情況下，（由于因果關(guān)系的原因）由例如延遲塊328實現(xiàn)的延遲例如可能對獲 得可實現(xiàn)的預(yù)失真是必要的。
[0115] 除了由物理方式引起的、由延遲塊328建模的延遲之外，增益被設(shè)置為1的理想RF 功率放大器提供的輸出信號等于該放大器的輸入信號。因此，（由模型評估器318使用的模 型建模的）放大器的非線性行為旨在通過W下操作被減小或最小化:通過用一個或多個預(yù) 失真函數(shù)(其功能作為圖3中的預(yù)失真塊332(由塊P指示)被描繪)對輸入信號101的數(shù)字表 示進(jìn)行預(yù)失真(預(yù)均衡），使得模型評估器318所用的DUT 102的模型轉(zhuǎn)錄的DUT 102的失真 被補償(被抵消或被減?。Ｍㄟ^確定均方根誤差(例如，通過均方根誤差計算器336)并通過 適應(yīng)依賴于由均方根誤差計算器336提供的均方根誤差的預(yù)失真塊332,延遲的輸入信號 334和經(jīng)建模的輸出信號324之間的偏差可W被減小或最小化。
[0116] 在一般情形中，求解非凸的優(yōu)化問題可能是困難的，因為不管預(yù)失真模型或塊332 如何被參數(shù)化，其參數(shù)通過設(shè)備模型318都非線性地映射到經(jīng)延遲的輸入信號334和經(jīng)建模 的經(jīng)預(yù)失真的信號324之間的誤差或偏差。但是，對于任何實際的預(yù)失真方案，可W確定用 于獲得預(yù)失真模型或塊322和設(shè)備318的方法。當(dāng)模型評估器318的模型可逆時，存在直接的 解決方案P = M^i，使得均方根誤差計算器336的偏差或均方根可W被減小到零。當(dāng)相應(yīng)的計 算器336的非線性模型對可選的延遲d可逆時，將選擇預(yù)失真P來使非線性反向，P=M^iAd， 其中Ad是延遲d的延遲運算符。在運種情形中，對經(jīng)預(yù)失真的激勵(描繪為經(jīng)預(yù)失真的信號 322或其數(shù)字表示）的經(jīng)建模的響應(yīng)rpm等同于原始的、經(jīng)延遲的激勵s[n-d]、〇[n-d]。
[0117] 因此，所期望的響應(yīng)信號316例如可W是經(jīng)預(yù)失真的經(jīng)建模的輸出324或輸入信號 101的延遲版本334。假如，所期望的響應(yīng)信號316是輸入信號101的延遲版本334,包括幅度 rpm和相位化m的所期望的響應(yīng)信號316還可W被表示為包括幅度s[n-d和相位0[n-d]的信 號。
[0118] 測試儀300的框圖描繪可逆非線性的校正(示出為優(yōu)化問題）。測試儀300可W被配 置為連接到一個或多個DUT 102,例如，在包括DUT 102的測試機(jī)架方面。通過運種配置，一 個或多個DUT可W在一個測試周期中被測試。通過將輸入信號101應(yīng)用到每個DUT 102并針 對每個DUT 102單獨地適應(yīng)校正函數(shù)(校正塊312)，（例如，基于經(jīng)校正的信號314)可W實現(xiàn) 針對每個DUT 102的單獨的判斷結(jié)果，而針對所有DUT 102的期望的響應(yīng)信號316可W基于 所有DUT 102共用的模型318。
[0119] 通過對所接收的響應(yīng)信號103進(jìn)行校正并通過基于校正執(zhí)行判斷，可W跳過將(單 獨的）經(jīng)預(yù)失真的波形上載到DUT。當(dāng)將(通用)輸入信號101同時應(yīng)用到若干個DUT時，可W 通過評估(校正)接收到的每個DUT的響應(yīng)信號103來執(zhí)行對每個DUT的單獨的判斷。運種實 施例的優(yōu)勢例如可W是可W減小針對一個和/或若干個DUT的上載時間，因為可W節(jié)省經(jīng)預(yù) 失真的波形的連續(xù)上載。
[0120] 圖4示出包括測試裝置410的測試儀400的方框示意圖。測試裝置410例如可W是測 試裝置100或310中的一者。測試儀400被配置為提供(例如，計算)所期望的響應(yīng)信號402,其 是DUT 102的輸入信號101的延遲版本，并且例如可W是信號334或其數(shù)字表示。
[0121] 輸入信號101(或其數(shù)字表示)通過使用延遲塊328被延遲，使得除了延遲之外，幅 度s[n-d]和相位〇[n-d]等于輸入信號101的幅度S和相位曰。
[0122] 因此，相對于圖3,圖4描繪簡化的優(yōu)化問題。該簡化基于DUT 102的非線性是可逆 的導(dǎo)致經(jīng)延遲的輸入信號和所期望的響應(yīng)信號之間的誤差接近零(取決于均方根誤差的步 長)運一假設(shè)，使得預(yù)失真P和模型Μ的計算可W被省略。
[0123] 可逆非線性的優(yōu)點因此可W是既不需要計算預(yù)失真映射Ρ也不需要計算非線性模 型Μ。校正參數(shù)（系數(shù)Mcj和/或{:丫 k}可W直接擬合到原始的、經(jīng)延遲的激勵s[n-d]、〇[n- d]，運可W由優(yōu)化問題規(guī)定：
[0135] 而通過計算(C=M-i · Δ d)的矩陣Μ的直接求逆可能包括針對通用Volterra模型的 高的計算工作量。
[0136] 對于運種情形，維度等于模型擬合的步驟，運意味著相同的計算工作量。
[0137] 圖5示出校正模型評估器502的示意框圖。校正模型評估器例如可W是校正模型評 估器312并且被配置為接收響應(yīng)信號503或其數(shù)字表示并提供經(jīng)校正的信號504或其數(shù)字表 示。經(jīng)校正的信號504例如可W是經(jīng)校正的信號105。換言之，校正模型評估器502是用于對 所接收的響應(yīng)信號203進(jìn)行校正的可能的實現(xiàn)。
[0138] 校正模型評估器所使用的校正模型被描繪為反向的DUT的壓縮模型506。壓縮模型 506在圖2中被描述并且包括可逆的幅度到幅度失真m(s)。因此，校正模型評估器504的校正 模型被適應(yīng)為對壓縮模型506進(jìn)行反向。例如，校正模型評估器可W被配置為實現(xiàn)或計算校 正算法c(r)=m-i(r)和/或丫（rc)=-y(。），其是圖9中所描述的預(yù)失真的鏡像(反向）版本 并且因此具有相同的計算復(fù)雜度。反向的壓縮取決于所接收的具有r、P的響應(yīng)信號203而不 是具有s、〇的輸入信號101。經(jīng)校正的輸出信號105的幅度可W根據(jù)W下確定規(guī)則被確定：
[0139] Γ〇[η] = c(r[n]) =m^^(r[n])
[0140] 其中相移可W根據(jù)W下確定規(guī)則被確定：
[0141] Pc[n]-p[n]= γ (γ〇[π] ) =-μ0-〇[η])
[0142] 由于靜態(tài)的（可逆的)非線性(其使得相應(yīng)的用于預(yù)失真的模型Ρ或用于校正的C的 反演成為可能），校正函數(shù)c(.)和丫（.）可能與預(yù)失真函數(shù)相同，使得相應(yīng)的方程式系統(tǒng)可 W被反演并且左乘或右乘可W導(dǎo)致相同的解。
[0143] c(.) =p(.) =m_i(.)
[0144] γ (.) =jt( .) =-μ( ·)
[0145] 在DUT的計算方面，執(zhí)行靜態(tài)非線性的逆需要包含壓縮模型的DUT模型Μ。
[0146] 圖6示出用于配置使用待校正的DUT 604的模型的模型評估器602的方法的示意框 圖。模型評估器602例如可W是模型評估器318"DUT 604可W是無誤差的或至少被判斷為 "好的"的DUT。換言之，DUT 604例如可W是參考DUT，使得對其它DUT的判斷可W通過將該其 它DUT與模型評估器602的模型（其是參考DUT的模型)進(jìn)行比較來執(zhí)行。DUT 606被配置為在 接收輸入信號101時提供信號響應(yīng)606。當(dāng)DUT 606是DUT 102時，響應(yīng)信號流入可W是響應(yīng) 信號103。
[0147] 方法可W包括確定DUT 604的模型(模型M)。將輸入信號101應(yīng)用到DUT 604允許對 具有幅度r和相位P的輸出（響應(yīng))信號606或其數(shù)字表示的接收。
[0148] 輸入信號101還可W被輸入到粗調(diào)，使其被模型評估器602適應(yīng)?？蒞從模型評估 器608接收經(jīng)建模的具有幅度rm和相位Pm的輸出信號608或其數(shù)字表示。DUT 604的輸出信號 606和模型的經(jīng)建模的輸出信號608之間的偏差(例如，通過用均方根誤差計算器612計算均 方根誤差)允許針對幅度值的適應(yīng)參數(shù){mj和針對相位值的hk}的確定或適應(yīng)。適應(yīng)參數(shù)可 W被用于適應(yīng)或修改模型評估器602的模型并被用于減小或最小化輸入信號606和經(jīng)建模 的輸出信號608之間的偏差，使得最終模型包括相對于真實DUT的可接受的偏差/誤差。
[0149] DUT 604的模型覆蓋非線性壓縮模型，使得模型的擬合可W包括非線性壓縮模型 的直接擬合。可W通過W下操作計算模型系數(shù)mj和Wk:向DUT 606應(yīng)用激勵s[n]、σ[η](η = 1. . .Ν)，并通過均方根誤差計算器612使偏差(例如，均方根幅度和相位誤差)最小化來將所 接收的DUT 604的響應(yīng)信號606擬合到經(jīng)建模的響應(yīng)608(表示為r=m(s)和Ρ = σ+μ(3))。
[0150] 例如相應(yīng)地由模型評估器602使用的模型Μ可W被表示為：
[0151]
[0152] 因為r[n]和Ρ[η]被建模為基函數(shù)值Tjn](幅度項）、0k[n](相位項）的加權(quán)的線性 和，系數(shù)叫和Wk可W通過解兩個線性方程式系統(tǒng)來計算：
[0153；
[0154]和/或
[0155]
[0156] 模型評估器602的模型Μ可W被用于確定所期望的響應(yīng)信號，其用于校正待測試儀 判斷的DUT，例如，如圖2中所描繪的。
[0157] 圖7示出實現(xiàn)用于基于預(yù)失真模型704和模型評估器706評估的DUT的模型獲得期 望的響應(yīng)信號702的方法的算法的框圖。例如可W由根據(jù)圖6的算法獲得的模型保持不變， 其中預(yù)失真模型704通過W下方式被適應(yīng):通過減小輸入信號101(或其數(shù)字表示）的經(jīng)延遲 的版本708(例如，通過延遲塊712)和基于經(jīng)預(yù)失真的輸入信號獲得的經(jīng)建模的輸出信號之 間的偏差或誤差，確定用于W幅度(PJ)和相位(Kk)的形式調(diào)整預(yù)失真模型704的參數(shù)PJ和 化。當(dāng)信號708和702之間的誤差被充分減小時，模型評估器706的輸出信號被認(rèn)為是所期望 的響應(yīng)信號702。
[0158] 針對靜態(tài)非線性(如圖2中所示），幅度到幅度調(diào)制m(sp)可W被反向，而附加的幅 度到相位失真μ(3ρ)可W簡單地被減去，如下文中所描述的。
[0159] 當(dāng)延遲塊712是延遲快32別寸，所期望的響應(yīng)信號例如可W是所期望的響應(yīng)信號 316,使得圖7中所描繪的算法例如可W由圖3中所示出的測試儀300來實現(xiàn)。
[0160] 圖8示出用于獲得所期望的響應(yīng)信號801的方法的方框示意圖，所期望的響應(yīng)信號 801例如可W是所期望的響應(yīng)信號316,具有由預(yù)失真模型評估器802實現(xiàn)的幅度到幅度調(diào) 制和幅度到相位調(diào)制，其中預(yù)失真模型評估器802例如可W等同于預(yù)失真塊332。具有幅度 sp[n]和相位〇ρ[η]的預(yù)失真塊的輸出信號(或其數(shù)字表示)被模型評估器804接收，模型評估 器804例如可W是模型評估器318。換言之，預(yù)失真被示出為反演的壓縮模型，使得圖8可W 被描述為測試儀300被配置提供的功能的一部分。
[0161] 由于p(s)=nfi(s)，所期望的響應(yīng)信號801的幅度rpm等于輸入信號101(或其數(shù)字 表示）的幅度。還由于被表示為-μ(3ρ)的幅度到相位調(diào)制3I(Sp)是可逆的，所期望的響應(yīng)信號 801的相位化m等于輸入信號101的相位0,其中所期望的響應(yīng)信號801由經(jīng)建模的、經(jīng)預(yù)失真 的輸出信號形成。用于靜態(tài)預(yù)失真的算法可W被表示為：
[0162]
[0163] 對于通用Volterra模型，該基于預(yù)失真的方法可能是難的或者甚至非常困難得， 而基于校正的方法擴(kuò)展地很好，運意味著利用易于管理的計算量來生成Volterra模型。所 計算的預(yù)失真波形Sp[n]、〇p[n]可W被應(yīng)用于被測設(shè)備，其中響應(yīng)rpm[n]、Ppm[n]然后被捕獲 并被上載到工作站，并且被評定性能。
[0164] 圖9示出精確預(yù)測預(yù)失真的效果的假設(shè)的基于校正的測試算法的示意框圖，其作 為優(yōu)化問題而示出。圖3所描繪的真實的基于校正的測試可從假設(shè)的基于校正的測試得到。 換言之，根據(jù)圖9的概念可構(gòu)成用于改變根據(jù)本發(fā)明的概念的基礎(chǔ)。圖9的假設(shè)字符將解釋 選擇作為期望的響應(yīng)信號的經(jīng)建模的經(jīng)預(yù)失真的輸出信號作為輸入信號的延遲版本的適 當(dāng)?shù)慕频目煽啃浴?br>[0165] 為了證明用校正替代預(yù)失真的正確性，對原始激勵(輸入信號s、〇)的DUT響應(yīng)信號 ：1"、口的經(jīng)校正的響應(yīng)信號。、0。應(yīng)等于（至少近似)對經(jīng)預(yù)失真的激勵3。、〇。的〇1]1'響應(yīng)。、口。。 DUT響應(yīng)rp、Pp的經(jīng)建模的版本rpm、Ppm可W被優(yōu)化為近似原始激勵s、〇的延遲版本。
[0166] 信號902或其數(shù)字表示表示從預(yù)失真塊332接收預(yù)失真波形時DUT 102m(a的模型） 的響應(yīng)，且被認(rèn)為是包含幅度。和相位化的經(jīng)預(yù)失真的響應(yīng)信號。與此相反，經(jīng)校正的響應(yīng) 信號314是通過先將輸入信號101輸入到DUT 102并使用校正模型評估器312的校正函數(shù)對 DUT輸出103進(jìn)行校正獲得的。
[0167] 擬合校正模型評估器312的（準(zhǔn)確的）校正模型C將需要并要求設(shè)備模型M，因為預(yù) 失真系數(shù)W和化可W從模型評估器318來計算，而經(jīng)校正的響應(yīng)信號314(其可W是經(jīng)校正的 響應(yīng)信號314)，其目的是將所建模的被測設(shè)備102m匹配到經(jīng)預(yù)失真的激勵Sp、〇p而不是模型 Μ的響應(yīng)。所期望的DUT 102的響應(yīng)902對于經(jīng)預(yù)失真的激勵sp、Op例如可能是未知的，因為基 于校正的測試的整個目的是避免具有激勵Sp、〇p的基于預(yù)失真的測試獲得響應(yīng)rp、Pp。作為 可能的下一最佳近似，經(jīng)校正的響應(yīng)。、0。應(yīng)當(dāng)將具有rpm、Ppm的經(jīng)建模的響應(yīng)316近似到預(yù) 失真。
[0168] 換言之，圖3中所描繪的基于校正的測試旨在減小經(jīng)校正的響應(yīng)信號314和經(jīng)建模 的經(jīng)預(yù)失真的信號之間的偏差，使得執(zhí)行(真實的)基于校正的測試允許避免將經(jīng)預(yù)失真的 (單獨的）波形上載至DUT 102。運還使得能夠避免向DUT應(yīng)用經(jīng)預(yù)失真的激勵并且實現(xiàn)圖3 中所描繪的基于校正的測試。
[0169] 因此可能不需要DUT的非線性模型。校正模型可W直接擬合到期望的響應(yīng)。
[0170] 對預(yù)失真的激勵Sp、〇p的經(jīng)建模的響應(yīng)rpm、化m可W通過預(yù)失真映射332(由塊P指 示)來計算，它可W由DUT 102和通過上述方法獲得的用于相應(yīng)計算器318(由塊Μ指示）的非 線性模型的設(shè)計者來設(shè)計。
[0171] 圖10示出描繪具有相反順序的DUT和逆DUT模型的基于預(yù)失真的測試和基于校正 的測試之間的相似性和差異的示意框圖。
[0172] 圖10上側(cè)描繪的基于預(yù)失真的測試旨在通過塊1002反演模型Μ(由DUT的"Ρ"指 示），并且在將經(jīng)預(yù)失真的信號輸入到DUT 102之前對激勵信號101進(jìn)行預(yù)失真，其中逆模型 Μ被用于預(yù)失真。與此相反，圖10下側(cè)描繪基于校正的測試，首先將輸入信號101輸入到DUT 102,然后試圖W塊1004(由"C"指示)使用DUT 102的經(jīng)反演的模型對接收到的響應(yīng)信號進(jìn) 行校正。由于經(jīng)預(yù)失真的激勵需要針對每個DUT 102單獨計算并然后被應(yīng)用到每個單獨的 DUT 102,而在基于校正的測試中相同的輸入信號可被應(yīng)用到同時測試的所有的DUT，且響 應(yīng)可W被單獨校正，可W顯著節(jié)省測試時間。
[0173] 就DUT 102的行為完全與所建模的一樣（即，D=M)來說，預(yù)失真和校正在數(shù)學(xué)上是 等同的，因為適用于具有相等的輸入和輸出域的任何可逆映射M。當(dāng)考慮可 逆函數(shù)y = f (X)及其反函數(shù)x = fi(y)時，將它們插入到彼此得到y(tǒng) = f (廠i(y))和x =廠i(f (X))，掲示了f (fi(.))和〇(f (.))兩者是相同的映射且因此是相等的，因為它們的輸入和 輸出域相等。對于未建模的DUT行為，D聲M，M-i和D的順序不能顛倒。運一假設(shè)的有效性可W 通過實驗證明，W進(jìn)一步證明工程直覺，其表明對于DUT 102的小壓縮來說預(yù)失真和校正之 間的差異足夠小。此外，基于預(yù)失真的測試和基于的校正測試對DUT 102應(yīng)用略微不同的激 勵波形。預(yù)失真可W是加寬了 DUT輸入101的頻譜的非線性映射，而基于校正的方法可W加 寬DUT輸出頻譜。為了減小運種差異，基于校正的測試可W使用的典型經(jīng)預(yù)失真的作為波形 激勵(其通常不適合于單獨的DUT)。
[0174] 由于運兩個原因，基于校正的測試的精確度可W通過將經(jīng)校正的波形rc、Pc與對經(jīng) 預(yù)失真的激勵波形Sp、Op的響應(yīng)r。、f>。的性能相比較來進(jìn)行驗證。
[0175] 換句話說，當(dāng)幅度到幅度失真可逆時(例如，當(dāng)僅存在靜態(tài)非線性時），反向是準(zhǔn)確 的。在基于校正的測試中，反向（校正)在DUT之后，而在基于預(yù)失真的測試，反向（預(yù)失真)在 DUT之前。
[0176] 圖11示出用于對DUT執(zhí)行基于預(yù)失真的測試過程的傳統(tǒng)方法1102和用于對DUT執(zhí) 行基于校正的方法1104之間的示意比較。基于預(yù)失真的測試的測試目標(biāo)例如可W是在應(yīng)用 預(yù)失真時確定剩余的非線性。直接的測試方法(被稱為基于預(yù)失真的測試)包括步驟1102a- 1102h。在1102a中，用固定的、真實的測試激勵(例如，來自任意波形生成器(AWG))對被測設(shè) 備進(jìn)行激勵。在步驟1102b中其響應(yīng)被上載到工作站。在步驟1102c中，工作站將非線性壓縮 模型擬合到測試激勵和所接收的響應(yīng)。在步驟ll〇2d中，工作站例如使用測試儀300的預(yù)失 真塊332計算經(jīng)預(yù)失真的波形，W試圖使DUT的非線性反向。在步驟1102e中，把經(jīng)預(yù)失真的 波形下載到AWG并使用AWG將其應(yīng)用到DUT，AWG在步驟1102f中運行經(jīng)預(yù)失真的波形。對經(jīng)預(yù) 失真的波形的響應(yīng)然后在步驟110?中被上載到工作站并基于諸如鄰信道功率比(A化R)之 類的性能參數(shù)被判斷。因此，針對所有的DUT，經(jīng)預(yù)失真的波形必須被單獨計算和下載，運增 加了相當(dāng)大的測試時間，尤其在多點測試中當(dāng)下載連續(xù)發(fā)生時增加的測試時間更多。
[0177] 在方法1104中，不同于運行附加的經(jīng)預(yù)失真的測試波形，預(yù)失真的效果通過作為 工作站上的后處理步驟的校正DUT對未校正的測試波形的響應(yīng)來預(yù)測。在第一步驟1104a 中，未校正測試波形在DUT上運行(反饋到DUT)。在第二步驟1104b中，DUT對波形的響應(yīng)被上 載到工作站(例如，測試裝置300)。在步驟1104c中，校正函數(shù)被確定或被適應(yīng)。步驟1104c例 如可W由測試裝置310執(zhí)行，使得在步驟1104d中由執(zhí)行該方法的測試儀(例如，工作站)獲 得經(jīng)校正的響應(yīng)信號。然后例如使用與用于基于預(yù)失真的測試相同的算法（例如，ACLR)判 斷對經(jīng)預(yù)失真的測試波形的預(yù)測的響應(yīng)。
[0178] 在相應(yīng)的DUT上執(zhí)行的DUT步驟1106的數(shù)目對基于預(yù)失真的測試和基于校正的測 試還可W是相似或等同的。計算步驟1108的數(shù)目對基于預(yù)失真的測試是Ξ個(擬合預(yù)失真 模型、預(yù)失真和判斷），并且對基于校正的測試也是Ξ個(擬合校正模型、校正和判斷）。相對 于基于預(yù)失真的測試1102,基于校正的測試形式1104的有利的區(qū)別在于，針對基于校正的 巧聯(lián)1104數(shù)據(jù)傳送步驟1112的數(shù)目只有一個，即在步驟1104b中將DUT的響應(yīng)信號上載到測 試裝置時。相反，基于預(yù)失真的測試可能需要Ξ個數(shù)據(jù)傳送步驟，即，在步驟1102b中將DUT 響應(yīng)上載到相應(yīng)的測試裝置時，在步驟1102e中將經(jīng)預(yù)失真的波形下載到AWG(或DUT)時和 在步驟110?中將DUT的響應(yīng)上載到相應(yīng)的測試裝置時。尤其步驟1102e可能需要并且單獨 測試每個DUT的波形，從而需要大量的測試時間用于上傳經(jīng)預(yù)失真的波形，而不在上載期間 實際測試DUT?；谛Ｕ臏y試1104可W在不需要單獨下載測試波形情況下執(zhí)行。
[0179] 換言之，通過使用用于執(zhí)行基于校正的測試的方法1104,用于下載和運行經(jīng)預(yù)失 真的波形W及捕獲設(shè)備的響應(yīng)的測試時間可W被消除。所提出的基于校正的測試方法因此 可W完全消除運種耗費時間的步驟。
[0180] 通過執(zhí)行基于校正的測試，可W比執(zhí)行基于預(yù)失真的測試實現(xiàn)快得更多的測試時 間，因為它們無需下載和運行特定于設(shè)備的經(jīng)預(yù)失真的基帶波形。然后通過/失敗確定(判 斷）可W基于對所有設(shè)備共用的單個測試激勵的響應(yīng)，并因此可W保持在任意波形發(fā)生器 中預(yù)加載。
[0181] 作為一個附加的好處，基于校正的測試可容易地擴(kuò)展到任何類型的頻率相關(guān)的非 線性，例如，如Volterra模型所描述的。
[0182] 可能仍需保持基于預(yù)失真的測試，W用于驗證基于校正的測試的適用性運一特 性。
[0183] 換言之，圖11示出傳統(tǒng)的基于預(yù)失真的測試和所提出的基于校正的測試的比較， 基于校正的測試可消除下載和運行二次的、費時的經(jīng)預(yù)失真的波形的需要。
[0184] 雖然前述的解釋表明，基于校正的測試針對精確建模的設(shè)備可能是準(zhǔn)確的，所提 出的方法的精確度可W基于實際的設(shè)備數(shù)據(jù)被驗證，因為沒有模型是完美的?；谛Ｕ?測試可被描述為(真的)基于預(yù)失真的測試的近似，使得基于實際設(shè)備數(shù)據(jù)的驗證可W確保 基于校正的測試的可靠性。例如可W由針對一個或多個DUT的基于預(yù)失真的測試執(zhí)行驗證。
[0185] 換言之，通過執(zhí)行基于校正的測試1104,執(zhí)行對原始的測試波形的響應(yīng)的校正，而 不是利用預(yù)失真波形運行第二測試。
[0186] 作為優(yōu)勢，基于校正的測試實現(xiàn)快速的測試時間，運可能會更顯著更快。經(jīng)校正的 響應(yīng)或校正函數(shù)的校正參數(shù)代替經(jīng)預(yù)失真的波形被用來判斷DUT。運可W消除第二測試步 驟，使其顯著縮短測試時間。判斷可W包括判斷幅度或振幅，W及經(jīng)校正的響應(yīng)信號的相 位?？商娲鼗蛄硗獾?，例如在某個參數(shù)范圍內(nèi)，校正函數(shù)的校正參數(shù)可W被判斷。
[0187] 圖12示出根據(jù)本發(fā)明的實施例的用于對被測設(shè)備進(jìn)行測試的方法1200的示意圖。 在步驟1202中，從DUT 102接收響應(yīng)信號103并計算校正函數(shù)。步驟120?可W是步驟1202的 子步驟并包括計算基函數(shù)Cj和/或rk。在步驟1202b(其可W是步驟1202的子步驟）中，確定 校正參數(shù)C j和/或丫 k，使得校正函數(shù)(包括基函數(shù)Cj和/或Γ kW及校正參數(shù)cj和/或丫 k)對所 接收的響應(yīng)信號103的應(yīng)用被配置為相對于所期望的響應(yīng)信號1212(其例如可W是所期望 的響應(yīng)信號316、402、702或802、激勵的延遲版本或經(jīng)建模的響應(yīng)rpm、化m中的一者)對所接 收的響應(yīng)信號103進(jìn)行校正。在步驟1204a中，基于步驟1202b中計算的校正參數(shù)對DUT進(jìn)行 判斷。當(dāng)一個或多個校正參數(shù)cj、Tk超過某個預(yù)定限制時，可W執(zhí)行失敗決定（可選的判 斷）。在步驟1206中，將校正函數(shù)(基函數(shù)Cj、rk和校正參數(shù)C神日丫 k)應(yīng)用于所接收的響應(yīng)信 號103W相對于所期望的響應(yīng)信號1212對其進(jìn)行校正。在步驟1207中，確定所期望的響應(yīng)信 號。執(zhí)行校正1206,使得經(jīng)校正的DUT輸出信號105近似于所期望的響應(yīng)信號1212。在步驟 1204b中，基于經(jīng)校正的DUT輸出信號105判斷DUT 102。
[0188] 在用于預(yù)失真映射的步驟1214中，通過基于步驟1211處計算或提供的預(yù)失真模型 基于激勵(具有s、o的輸入信號101)確定經(jīng)預(yù)失真的激勵sp、〇p，從而獲得經(jīng)建模的響應(yīng)信號 rpm，化m。在步驟1216中，基于經(jīng)預(yù)失真的激勵Sp、〇p并基于可在步驟1218中由DUT的設(shè)計者提 供的DUT的模型確定所期望的響應(yīng)信號1212。
[0189] 可在步驟1204a和/或步驟1204b中對DUT進(jìn)行判斷。在步驟1204a中，判斷基于所確 定的校正系數(shù)C神日丫 k，其中步驟1204b中基于經(jīng)校正的DUT輸出信號的判斷可W利用信號分 析(例如，對DUT的輸入和輸出信號的幅度和/或相位進(jìn)行比較），而不是確定在某個預(yù)定范 圍內(nèi)的校正參數(shù)。
[0190] 雖然在裝置的上下文中描述了一些方面，顯然的是，運些方面也表示對相應(yīng)的方 法的描述，其中塊或設(shè)備對應(yīng)于方法步驟或方法步驟的特征。類似地，在方法步驟的上下文 中描述的方面也表示相應(yīng)裝置的相應(yīng)的塊或項或特征。
[0191] 取決于某些實現(xiàn)要求，本發(fā)明的實施例可W在硬件或軟件中實現(xiàn)。該實現(xiàn)可W使 用數(shù)字存儲介質(zhì)（例如，軟盤、DVD、CD、ROM、PROM、EPROM、邸PROM、或化ASH存儲器)來執(zhí)行，數(shù) 字存儲介質(zhì)上存儲有電子可讀控制信號，其與可編程計算機(jī)系統(tǒng)協(xié)作(或能夠與之協(xié)作）， 使得相應(yīng)的方法被執(zhí)行。
[0192] 根據(jù)本發(fā)明的一些實施例包括具有電子可讀控制信號的數(shù)據(jù)載體，該電子可讀控 制信號能夠與可編程計算機(jī)系統(tǒng)協(xié)作，使得本文所描述的方法之一被執(zhí)行。
[0193] -般地，本發(fā)明的實施例可W被實現(xiàn)為具有程序代碼的計算機(jī)程序產(chǎn)品，當(dāng)計算 機(jī)程序產(chǎn)品在計算機(jī)上運行時程序代碼可操作來執(zhí)行方法之一。
[0194] 其它實施例包括存儲在機(jī)器可讀載體上的、用于執(zhí)行本文所描述的方法之一的計 算機(jī)程序產(chǎn)品。
[01M]換言之，本發(fā)明的方法的實施例因此是具有程序代碼的計算機(jī)程序，當(dāng)計算機(jī)程 序在計算機(jī)上運行時，程序代碼用于執(zhí)行本文所描述的方法之一。
[0196] 本發(fā)明的方法的另外的實施例因此是數(shù)據(jù)載體(或數(shù)字存儲介質(zhì)、或計算機(jī)可讀 介質(zhì)），數(shù)據(jù)載體包括存儲在其上的用于執(zhí)行本文所描述的方法之一的計算機(jī)程序。
[0197] 本發(fā)明的方法的另外的實施例因此是表示用于執(zhí)行本文所描述的方法之一的計 算機(jī)程序的數(shù)據(jù)流或信號序列。數(shù)據(jù)流或信號的序列例如可W被配置為經(jīng)由數(shù)據(jù)通信連接 (例如，經(jīng)由互聯(lián)網(wǎng)）被傳輸。
[0198] 另外的實施例包括被配置為或被適應(yīng)為執(zhí)行本文所描述的方法之一的處理裝置 (例如，計算機(jī))或可編程邏輯設(shè)備。
[0199] 另外的實施例包括其上安裝有用于執(zhí)行本文所描述的方法之一的計算機(jī)程序的 計算機(jī)。
[0200] 在一些實施例中，可編程邏輯設(shè)備（例如，現(xiàn)場可編程口陣列）可W被用于執(zhí)行本 文所描述的方法的所有功能或一些功能。在一些實施例中，現(xiàn)場可編程口陣列可W與微處 理器協(xié)作，W執(zhí)行本文所描述的方法之一。一般地，方法優(yōu)選地由硬件裝置執(zhí)行。
[0201] 上述實施例對于本發(fā)明的原理僅是示意性的。應(yīng)當(dāng)理解的是，本文所描述的布置 和細(xì)節(jié)的修改和變化對本領(lǐng)域技術(shù)人員將是顯而易見的。因此本發(fā)明旨在僅由如下的專利 權(quán)利要求書限制，而非由通過描述和說明本文的實施例呈現(xiàn)的具體細(xì)節(jié)來限制。
【主權(quán)項】
1. 用于對被測設(shè)備DUT(102)進(jìn)行測試的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置 (100、310、410)被配置為： 接收來自所述DUT( 102)的響應(yīng)信號（103); 將一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]); γ(Γ[η]))應(yīng)用于所接收到的響應(yīng)信號（103)，以至 少部分地對所述DUT( 102)的缺陷進(jìn)行校正，由此獲得所述DUT( 102)的經(jīng)校正的響應(yīng)信號 (105、314、504); 對所述經(jīng)校正的響應(yīng)信號（105、314、504)進(jìn)行評估，以判斷所述DUT(102)。2. 用于對被測設(shè)備DUT(102)進(jìn)行測試的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置 (100、310、410)被配置為： 接收來自所述DUT( 102)的響應(yīng)信號（103); 確定一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]); γ (r[n]))的至少一個校正參數(shù)(cj，γ k)，使得當(dāng) 所述一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]); γ (r[n]))被應(yīng)用于所接收到的響應(yīng)信號（103)時，所 述一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]); γ (r[n]))被適應(yīng)為至少部分地對所述DUT(102)的缺陷 進(jìn)行校正；以及 對所述一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]); γ (r[n]))的至少一個校正參數(shù)(cj，γ k)進(jìn)行評 估，以判斷所述DUT(102)。3. 如權(quán)利要求1或2所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述裝置被配置為將所述校 正函數(shù)(c(r[n]); γ(Γ[η]))應(yīng)用于所述接收到的響應(yīng)信號（103)，其中所述校正函數(shù)(c(r [η]); γ (r[n]))被適應(yīng)為至少部分地對所述DUT(102)的缺陷進(jìn)行校正，所述缺陷包括所述 DUT (102)的輸入信號（101)和所述DUT (102)的、基于所述輸入信號（101)的所述接收到的響 應(yīng)信號（103)之間的所述DUT( 102)的靜態(tài)非線性。4. 如權(quán)利要求1-3中的一者所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置（100、 310、410)被配置為將所述校正函數(shù)（c(r[n]) ; y(r[n]))應(yīng)用于所述接收到的響應(yīng)信號 (103)，其中所述校正函數(shù)(c(r[n]); γ (r[n]))被適應(yīng)為至少部分地對所述DUT(102)的缺 陷進(jìn)行校正，所述缺陷包括所述DUT(102)的輸入信號（101)和所述DUT(102)的、基于所述輸 入信號（101)的所述接收到的響應(yīng)信號（103)之間的所述DUT( 102)的動態(tài)非線性。5. 如權(quán)利要求1-4中的一者所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置（100、 310、410)還被配置為基于所述DUT(102)的期望的響應(yīng)信號（316、402、702、802、1212)和所 述DUT(102)的所述接收到的響應(yīng)信號（103)確定所述一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]) ; γ (r [η]))。6. 如權(quán)利要求5所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置（100、310、410)被 配置為基于所述DUT(102)的所述期望的響應(yīng)信號（316、402、702、802、1212)和所述01^ (102)的所述接收到的響應(yīng)信號（103)確定所述一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]) ; y(r[n])); 使得當(dāng)與所述DUT( 102)的所述接收到的響應(yīng)信號（103)和所述DUT(102)的所述期望的 響應(yīng)信號（316、402、702、802、1212)之間的偏差相比時，所述0171(102)的經(jīng)校正的響應(yīng)信號 (105、314、504)和所述DUT(102)的所述期望的響應(yīng)信號（316、402、702、802、1212)之間的偏 差被減小。7. 如權(quán)利要求1 _6中的一者所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置（100、 310、410)還被配置為使用至少一個基函數(shù)（Cb rk)確定所述一個或多個校正函數(shù)（c(r [n]);y(r[n]))〇8. 如權(quán)利要求7所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置（100、310、410)被 配置為基于基函數(shù)(C〇的線性加和確定幅度校正，其中所述基函數(shù)(CJ根據(jù)以下確定規(guī)則： Cj[n]=Cj(r[n]) 或基于基函數(shù)（rk)的線性加和確定相位校正，其中所述基函數(shù)（rk)根據(jù)以下確定規(guī) 則： Γ k[n]= Γ k(r[n]) 其中Cjn]表示時間η處具有索引j的針對幅度校正的基函數(shù)； r [η ]表示時間步長η處所述DUT (102)的所述接收到的響應(yīng)信號的歷史幅度； 其中rk[n]表示時間步長η處具有索引k的針對相位校正的基函數(shù)。9. 如權(quán)利要求7或8中的一者所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置（100、 310、410)被配置為確定所述一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]); γ (r[n]))，使得所述一個或多 個校正函數(shù)(c(r[n]); γ (r[n]))包括定義所述至少一個基函數(shù)(Cj; rk)的權(quán)重的校正參數(shù) (Cj，γ k)〇10. 如權(quán)利要求1 -9中的一者所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置（100、 310、410)被配置為基于以下確定規(guī)則獲得所述經(jīng)校正的響應(yīng)信號（105、314、504)的幅度 (r c)，其中rc[n]表示時間索引η處所述經(jīng)校正的響應(yīng)信號（105、314、504)的幅度； c (r [η ])表示時間索引η處所述DUT (102)的所述接收到的響應(yīng)信號（103)的矢量化的幅 度的全部幅度校正函數(shù)c; 表示與時間索引η處具有索引j的所述幅度基函數(shù)Cjn]相對應(yīng)的具有索引j的所述幅 度校正參數(shù)； 并且其中J表示幅度校正參數(shù)的數(shù)目和校正函數(shù)(?)的數(shù)目。11. 如權(quán)利要求1-10中的一者所述的測試裝置（1〇〇、310、410)，其中所述測試裝置 (100、310、410)被配置為基于以下確定規(guī)則確定所述經(jīng)校正的響應(yīng)信號（105、314、504)的 相位： p \ιι，\~ -//]十y^:%ry[:w.丨 ;?; 其中Pc [ η ]表示時間索引η處所述經(jīng)校正的響應(yīng)信號的所述相位； γ (r [η])表示時間索引η處所述DUT (102)的所述接收到的響應(yīng)信號（103)的矢量化的 幅度的全部幅度校正函數(shù)γ ; γ k表示與時間索引η處具有索弓丨k的所述相位基函數(shù)Γ j[η]相對應(yīng)的具有索弓|k的所述 相位校正參數(shù)； 并且其中K表示相位校正參數(shù)（yk)的數(shù)目和校正函數(shù)（?！?的數(shù)目。12. 如權(quán)利要求9所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置(100、310、410)還 被配置為根據(jù)以下確定規(guī)則確定所述一個或多個幅度校正參數(shù)( Cj):使得所述DUT(102)的所述經(jīng)校正的響應(yīng)信號（105、314、504)的幅度和所述DUT(102)的 所述期望的響應(yīng)信號(316、402、702、802、1212)的幅度之間的偏差被減??； 其中C表示針對時間索引1至N所述幅度基函數(shù)&[.]至CK.]的值的矩陣； c表示所述幅度校正參數(shù)(c j )的矢量； rpm表示所述DUT (10 2)的所述期望的響應(yīng)信號的所述幅度的矢量，其針對時間索引η = 1 至Ν對時間索引n處所述期望的響應(yīng)信號rpm[n]的幅度(rpm)進(jìn)行矢量化。13. 如權(quán)利要求12所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置（100、310、410) 被配置為根據(jù)以下確定規(guī)則確定所述一個或多個幅度校正參數(shù)( Cj): c=(C，C)-VrPm14. 如權(quán)利要求9或12所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置（100、310、 410)還被配置為根據(jù)以下確定規(guī)則確定所述一個或多個相位校正參數(shù)（γ k):使得所述DUT(102)的所述經(jīng)校正的響應(yīng)信號（105、314、504)的相位(pc)和所述DUT (1〇2)的所述期望的響應(yīng)信號(316、4〇2、7〇2、8〇2、1212)的相位(0[?)之間的偏差被減??； 其中Γ表示針對時間索引1至N所述相位基函數(shù)Γ :至?!^的值的矩陣； γ表示所述相位校正參數(shù)（γιΟ的矢量； Pt?表示所述DUT (102)的所述期望的響應(yīng)信號的所述相位的矢量，其針對時間索引η = 1 至Ν對時間索引n處所述期望的響應(yīng)信號ppm[n]的相位(ppm)進(jìn)行矢量化。15. 如權(quán)利要求14所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置（100、310、410) 被配置為根據(jù)以下確定規(guī)則確定所述一個或多個相位校正參數(shù)（γk): γ = ( r' r )-1 r' ppm16. 如權(quán)利要求5-15中的一者所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述DUT (102)的所 述期望的響應(yīng)信號（316、402、702、802、1212)是所述0171(102)的輸入信號（101)的延遲版 本。17. 如權(quán)利要求5-15中的一者所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述DUT (102)的所 述期望的響應(yīng)信號（316、402、702、802、1212)是所述0171(102)的經(jīng)建模的輸出信號（324、 702)，該經(jīng)建模的輸入信號(324、702)將基于輸入到所述DUT(102)的經(jīng)預(yù)失真的信號（322) 被獲得； 其中所述測試裝置（1〇〇、310、410)被配置為確定所述一個或多個校正函數(shù)((：&[11]); Y(r[n]))，使得所述經(jīng)校正的輸出信號在預(yù)定容差范圍內(nèi)近似于所述經(jīng)建模的輸出信號。18. 如權(quán)利要求7-17中的一者所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置 (100、310、410)被配置為基于Volterra級數(shù)確定所述一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]) ; γ (r [η]))，使得所述校正函數(shù)(c(r[n]); γ (r[n]))包括(J;K)個數(shù)目的Volterra系數(shù)。19. 如權(quán)利要求18所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置（100、310、410) 被配置為基于Volterra級數(shù)確定所述一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]); γ (r[n]))，使得所述 一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]); γ (r[n]))包括小于或等于15的(J;K)個數(shù)目的Volterra系 數(shù)。20. 如權(quán)利要求1-19中的一者所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置 (100、310、410)被配置為基于預(yù)失真模型和所述輸入信號（101)確定經(jīng)預(yù)失真的信號 (322)。21. 如權(quán)利要求20所述的測試裝置（100、310、410)，其中所述測試裝置（100、310、410) 被配置為基于所述經(jīng)預(yù)失真的信號（322)和所述DUT(102)的模型確定所述DUT(102)的所述 經(jīng)建模的輸出信號（324)，使得所述經(jīng)建模的輸出信號近似于當(dāng)將所述經(jīng)預(yù)失真的信號 (322)應(yīng)用于所述DUT(102)時將獲得的信號。22. -種用于對被測設(shè)備DUT(102)進(jìn)行測試的測試儀，其中所述測試儀(300、400)被配 置為連接到至少一個DUT(102)并將輸入信號（101)輸入到所述DUT(102);其中所述測試儀 (300、400)包括如權(quán)利要求1所述的測試裝置(100、310、410)。23. -種用于對被測設(shè)備DUT(102)進(jìn)行測試的測試儀，其中所述測試儀(300、400)被配 置為連接到至少一個DUT(102)并將輸入信號（101)輸入到所述DUT(102);其中所述測試儀 (300、400)包括如權(quán)利要求2所述的測試裝置(100、310、410)。24. -種用于對被測設(shè)備DUT(102)進(jìn)行測試的方法（1200)，其中所述方法包括： 接收來自所述DUT( 102)的響應(yīng)信號（103); 將一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]); γ(Γ[η]))應(yīng)用于所接收到的響應(yīng)信號（103)，以至 少部分地對所述DUT(102)的缺陷進(jìn)行校正，由此獲得經(jīng)校正的響應(yīng)信號（105、314、504); 對所述經(jīng)校正的響應(yīng)信號（105、314、504)進(jìn)行評估以判斷所述DUT(102)。25. -種用于對被測設(shè)備DUT(102)進(jìn)行測試的方法（1200)，其中所述方法包括： 接收來自所述DUT( 102)的響應(yīng)信號（103); 確定一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]); γ (r[n]))的至少一個校正參數(shù)(cj，γ k)，使得當(dāng) 所述一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]); γ (r[n]))被應(yīng)用于所述接收到的響應(yīng)信號（103)時， 所述一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]); γ (r[n]))被適應(yīng)為至少部分地對所述DUT(102)的缺 陷進(jìn)行校正；以及 對所述一個或多個校正函數(shù)(c(r[n]); γ (r[n]))的至少一個校正參數(shù)(cj，γ k)進(jìn)行評 估，以判斷所述DUT(102)。26.-種用于執(zhí)行如權(quán)利要求24-25中的一個權(quán)利要求所述的方法的計算機(jī)程序。
【文檔編號】G01R31/319GK106068460SQ201480077041
【公開日】2016年11月2日
【申請日】2014年1月30日 公開號201480077041.9, CN 106068460 A, CN 106068460A, CN 201480077041, CN-A-106068460, CN106068460 A, CN106068460A, CN201480077041, CN201480077041.9, PCT/2014/51831, PCT/EP/14/051831, PCT/EP/14/51831, PCT/EP/2014/051831, PCT/EP/2014/51831, PCT/EP14/051831, PCT/EP14/51831, PCT/EP14051831, PCT/EP1451831, PCT/EP2014/051831, PCT/EP2014/51831, PCT/EP2014051831, PCT/EP201451831
【發(fā)明人】約亨·里瓦爾
【申請人】愛德萬測試公司